透射电子显微镜实验讲义

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第七章TEM透射电子显微镜PPT课件

第七章TEM透射电子显微镜PPT课件

由电子光学系统、电源与控制 系统及真空系统三部分组成。
电子光学系统通常称镜筒,是
TEM的核心,它的光路原理与
透射光学显微镜十分相似。其
分为三部分:照明系统、成像
系统和观察记录系统。
(a)
(b)
一、照明系统
(1)电子枪 电子枪是TEM的电子源。 常用的是热阴极三极电子枪,
由发夹形钨丝阴极、阳极和栅 极组成。
➢ 作用:提高像衬度;减小孔径角,从而减小像 差;进行暗场成像; ➢ 光阑孔径:20-120um。
选区光阑(Diffraction lens holders)
➢ 来限定微区,对该微区进行衍射分析; ➢ 光阑孔直径:20-400um。
TEM的型号
Philips CM12透射电镜
加速电压20、40、60、80、100 、 120KV LaB6或W灯丝 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm; 倾转角度α=±20度
具有很大的景深和焦长。
二、成像系统
样品在物镜的物平面上,物镜的像平面是中间镜的物平面, 中间镜的像平面是投影镜的物平面,荧光屏在投影镜的像平 面上。 物镜和投影镜的放大倍数固定,通过改变中间镜的电流来调 节电镜总M。 M越大,成像亮度越低,成像亮度与M2成反比。 高性能TEM大都采用5级透镜放大,中间镜和投影镜有两级。 放大成像操作:中间镜的物平面和物镜的像平面重合,荧光 屏上得到放大像。 电子衍射操作:中间镜的物平面和物镜的后焦面重合,得到 电子衍射花样。
二、成像系统
高倍放大
电子衍射
成像系统光路
三、观察记录系统
观察和记录装置包括荧光屏和照相机结构。 人眼无法观测电子,TEM中的电子信息通过荧光屏和

透射电子显微镜2讲课文档

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部分组成。 • 电子光学系统: (镜筒),是透射电镜的核心。
它由照明系统、成像系统和观察记录系统分为三部分。
• 透射电镜的光路原理:与透射光学显微镜十分相似。
第三页,共85页。
透射电镜光路原理与光镜比较



透统









微成


像 系


图8-1 透射显微镜构造原理和光路
第四页,共85页。
• 具有更高的发射特性:在1600~2300 K,LaB6发射能力比W高4 ~5个数量级。同时,在高温下性能稳定,使用寿命长。
第二十三页,共85页。
③ 场致发射电子枪
• 场致发射原理: • 金属中自由电子克服其表面势垒而逸出所做的功,称电子逸出功
(材料物理常数)。
• 研究表明:当强外电场施加到金属表 面,会使其表面势垒降低,并促使自 由电子逸出表面的几率增加。若势垒 的降低值接近其电子逸出功值(即表 面势垒接近为零),导致隧道效应, 则在常温下也会发射出电子,此现象
i0AT2exp(b) A、b为实验常数 T
第十八页,共85页。
电子枪
1. 电子枪(2)
b. 阳极:阴极发射出热激发电子动能很小,不能满足电镜要求,须 对其加速,以获得所需足够大动能。
• 阳极作用:加速电子。在阴极接负高压,阳极接地。 • 电子速度、波长与加速电压U关系:
v 2eUm
h 2em1 U.5 2 U
还可提高微区分析能力,是透射电镜发展方向。
• HAADF分辨率可达0.08nm,是目前世界世界顶尖级的商业化透 射电镜。
• STEM球差校正器:日本已有二十多台,韩国5台,台湾2台,获得 了大量成果。

透射电镜(TEM)讲义

透射电镜(TEM)讲义

05
TEM操作与注意事项
操作步骤与技巧
01
02
03
04
准备样品
选择适当的样品,进行适当的 处理和固定,以确保观察效果 最佳。
调整仪器参数
根据观察需求,调整透射电镜 的加速电压、放大倍数等参数 ,以达到最佳观察效果。
操作步骤
按照仪器操作手册的步骤进行 操作,包括安装样品、调整焦 距、观察记录等。
技巧
定量分析方法
颗粒统计
对图像中颗粒的数量、大 小和分布进行统计,计算 颗粒的平均尺寸和粒度分 布。
电子衍射分析
利用电子衍射技术分析晶 体结构和相组成,确定晶 格常数和晶面间距。
能谱分析
通过能谱仪测定图像中各 点的元素组成和相对含量, 进行定性和定量分析。
04
TEM图像解析实例
晶体结构分析
利用高分辨的TEM图像,可以观察到晶体内部的原 子排列和晶体结构,如面心立方、体心立方或六方 密排结构等。
掌握操作技巧,如正确使用操 作杆、合理利用观察窗口等, 以提高观察效果和效率。
仪器维护与保养
定期清洁
定期对透射电镜进行清 洁,保持仪器内部和外
部的清洁度。
检查部件
更换消耗品
定期检查透射电镜的部 件,如电子枪、镜筒等,
确保其正常工作。
根据需要,及时更换透射 电镜的消耗品,如真空泵
油、电子枪灯丝等。
保养计划
在操作透射电镜时,应严格遵守操作规程, 确保仪器和人身安全。
THANK YOU
感谢聆听
80%
观察模式
根据观察目的选择不同的观察模 式,如明场、暗场、相位对比和 微分干涉等。
图像解析与解读
01
02
03

透射电子显微镜 ppt课件

透射电子显微镜  ppt课件
32
一.点分辨本领的测定
将铂、铂-铱或铂-钯等金属或合金,用真 空蒸发的方法获得粒度为5~10埃,间距为2~10 埃的粒子,将其均匀地分布在火棉胶(或碳) 支持膜上,在高放大倍数下拍摄这些粒子的像, 并经光学放大(5倍左右),从照片上找出粒 子间最小的间距,除以总放大倍数,即为相应 电子显微镜的点分辨本领。
荧光屏有较高的分辨率,因此可用光学放 大镜进一步放大。
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二. 成像方式
TEM有两种基本成像模式: 衍射成像——晶体结构同位分析 显微成像——微观组织形貌观察
1. 显微成像
⑴ 高放大倍数成像:中间镜以物镜像为物,投影
镜又以中间镜像为物,成像于荧光屏,结果可
以获得几万至几十万放大倍数电子像。
使用静电透镜(用电场聚焦)需要高 压,给设备的设计和操作带来不便。
故现代电镜中静电透镜只在电子枪中使 用;而聚光镜、物镜、中间镜和投影镜则 都采用电磁透镜(用磁场聚焦),可以通 过改变激磁电流来调节透镜的聚焦能力。
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4、 TEM和光学透射显微镜的异同
相同点: (1)光学成像原理相同; (2)都能用于形貌分析。 不同点: (1)光源不同; (2)聚焦透镜不同; (3)TEM中有中间镜; (4)成像屏幕不同; (5) TEM镜筒中要保持高真空;
晶体样品通过物镜在后焦面上形成 衍射像,调节中间镜焦距,使其物平面 与物镜后焦面重合,可以最终在荧光屏 上形成二次放大的衍射图像。有意义的 衍射像必须明确它是来自样品那个区域 的衍射波,这就是选区衍射。
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一.样品台
1. 功能:承载样品,并使样品能在物镜极靴孔 内平移、倾斜、旋转,以选择感兴趣 的样品区域或位向进行观察分析。

透射电镜的原理与演示ppt培训讲义

透射电镜的原理与演示ppt培训讲义

扫描电镜
光镜、透射电镜及扫描电镜的成像光路图解
四、扫描电镜的结构与成像原理
1. 扫描电镜的基本结构
扫描电镜
电子枪 电磁透镜 电子光学系统 扫描线圈 样品室 信号的收集处理及显示系统 真空系统 供电保护系统等
电子枪 (1~10KV)
显示系统(显象管)
电磁透镜 真空系统
扫描线圈
信号的收集处理系统 样品室
成像原理:
高压电子枪 高速电子束
电磁透镜
样品
电子束发生投射
荧光屏 电能转变成光能
浓淡不同的图像 图像各处浓淡的不同真实反映
了样品不同部位的物质结构
透射电镜照片演示
微管蛋白的免疫荧光照片
透 图像各处浓淡的不同真实反映了样品中不同部位的物质结构 射 电 镜 照 片 演 示
一个植物细胞的透射电镜照片
供电 保护 系统
电磁 透镜
电磁 透镜
电子枪灯丝
电子光学系统
Байду номын сангаас
扫描线圈的 束偏转器
显象管
样品 样品托
探测器 扫描电镜的结构简图
2. 扫描电镜的成像原理
电子枪
电子束 荧光点的亮度 扫描线圈
样品表面上相应点 所发出的次级电子数
电磁透镜 次级电子信号
样品表面
探测器
接 受、 转变成光子
放 大、
光电倍增管 转换成电压信号
以提高真空度
➢降低温度可防止电子的热漂移
样品室
样品放置室
冷阱
液氮罐 金属导杆
铜网 样品
物镜
成像与放大装置 中间镜I
中间镜II 投影镜
放大50倍 放大3倍 放大15倍 放大200倍
500,000倍

《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
光阑
限制照明区域,减小成像的视场,提高成像的分辨率 。
光路调节器
调节光路中的光束方向和大小,确保光束正确投射到 样品上。
成像系统
Hale Waihona Puke 物镜将样品上的图像第一次放 大并投影到中间镜上。
中间镜
将物镜放大的图像进一步 放大并投影到投影镜上。
投影镜
将中间镜放大的图像最终 放大并投影到荧光屏或成
像设备上。
真空系统
谢谢您的聆听
THANKS
透射电子显微镜技术不断改进,分辨率和放大倍数得到显著提 高。
透射电子显微镜技术不断创新,出现了许多新型的透射电子显 微镜,如高分辨透射电子显微镜、冷冻透射电子显微镜等。
透射电子显微镜的应用领域
生物学
观察细胞、蛋白质、核酸等生物大分子的 结构和功能。
医学
研究病毒、细菌、癌症等疾病的发生、发 展和治疗。
真空泵
01
通过抽气作用维持透射电子显微镜内部的高真空状态。
真空阀门
02
控制真空泵的工作时间和进气流量,以保持透射电子显微镜内
部真空度的稳定。
真空检测器
03
监测透射电子显微镜内部的真空度,当真空度不足时提醒操作
人员进行处理。
03
透射电子显微镜的操作与维护
透射电子显微镜的操作步骤
打开电源
确保实验室电源稳定,打开透射电子显微镜 的电源开关。
记录
对透射电子显微镜的使用和维护情况进行 记录,方便日后追踪和管理。
04
透射电子显微镜的样品制备技术
金属样品的制备技术
电解抛光
通过电解抛光液对金属样品进行抛光 ,去除表面杂质和氧化层,使样品表 面光滑、平整。
离子减薄

透射电子显微镜及其应用讲课讲稿

透射电子显微镜及其应用讲课讲稿

透射电子显微镜及其应用透射电子显微镜及其应用读书报告姓名:孙家宝学号:DG1022076电子科学与工程学院2020年5月7日目录第一章透射电子显微镜 (1)1.1 透射电子显微镜的结构 (1)1.1.1.电子光学部分 (2)1.1.2.真空系统 (4)1.1.3.供电控制系统 (4)1.2 透射电子显微镜主要的性能参数 (4)1.2.1 分辨率 (4)1.2.2 放大倍数 (5)1.2.3 加速电压 (6)1.3 透射电镜的成像原理 (6)1.3.1 透射电镜的成像方式 (6)1.3.2 衬度理论 (7)1.4 透射电镜的电子衍射花样 (7)1.4.1 电子衍射花样 (7)1.4.2电子衍射与X射线衍射相比的优点 (8)1.4.3电子衍射与X射线衍射相比的不足之处 (8)1.4.4选区电子衍射 (8)1.4.5常见的几种衍射图谱 (10)1.4.6单晶电子衍射花样的标定 (10)第二章透射电子显微镜分析样品制备 (12)2.1 透射电镜复型技术(间接样品) (12)2.1.1塑料——碳二级复型 (12)2.1.1萃取复型(半直接样品) (13)2.2 金属薄膜样品的制备 (13)1.2 电子显微镜中的电光学问题 (15)1.2.1 电子射线(束)的特性 (16)第一章透射电子显微镜1.1透射电子显微镜的结构透射电子显微镜(TEM)是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具。

TEM用聚焦电子束作照明源,使用对电子束透明的薄膜试样,以透过试样的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析试样内部的显微组织结构。

图1.1(a)(b)是两种典型的透射电镜的实物照片。

透射电子显微镜的光路原理图如图1.2所示。

透射电镜一般是由电子光学部分、真空系统和供电系统三大部分组成。

(a) Philips CM12透射电镜(b) JEM-2010透射电镜图1.1 透射电子显微镜图1.2透射电子显微镜的光路原图1.3透射电镜电子光学部分示意图1.1.1.电子光学部分整个电子光学部分完全置于镜筒之内,自上而下顺序排列着电子枪、聚光镜、样品室、物镜、中间镜、投影镜、观察室、荧光屏、照相机构等装置。

实验四透射电镜

实验四透射电镜

实验四透射电镜(TEM)一、目的要求(1)了解透射电子显微镜的基本构造、原理与方法;(2)了解透射电子显微镜图谱的基本特征;(3)了解透射电子显微镜中的各种实验技术;(4)掌握透射电子显微镜样品的制样方法;(5)掌握对样品的电子衍射图样进行物相分析。

二、实验原理1.透射电子显微镜的结构与成像原理透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。

透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。

成像方式与光学显微镜相似,只是以电子透镜代替玻璃透镜,放大后的电子像在荧光屏上显示出来。

2.电子衍射物相分析的原理电子衍射的基本原理和X射线衍射原理是一致的,都遵循布拉格方程:2d sinθ=λ,只有在d、θ、λ同时满足方程式时,面网才会产生电子衍射。

由于一种结晶物质的晶体成分、结构类型和点阵常数是一定的,因而当一定波长的电子束和结晶物质样品相互作用时,会产生唯一、与其对应的衍射花样,不可能有两种或多种晶体物质具有完全相同的多晶体衍射花样,也不可能有两种或多种晶体衍射花样对应同一结晶物质。

而两种或两种以上多晶体物质混合物的衍射花样即为组成该物质的单相衍射花样的几何叠加,因此,可以依据所获得的多晶体衍射花样确定晶体物质的种类。

三.实验内容与步骤1. 实验仪器本实验使用的德国Zeiss Libra 200FE透射电镜2. 制样方法(1)粉末样品因为透射电镜样品的厚度一般要求在100nm以下,如果样品厚度100nm,则先要用研钵把样品的尺寸磨到100nm以下,然后将粉末样品溶解在无水乙醇中,用超声分散的方法将样品尽量分散,然后用支持网捞起即可。

(2)薄膜样品制备薄膜样品分为一下几个步骤:A、将样品切成薄片(厚度100—200微米),对韧性材料(如金属),用线锯将样品割成小于200微米的薄片;对脆性材料可以刀将其解理或用金刚石圆盘锯将其切割,或用超薄切片法直接切割。

透射电子显微分析详解PPT课件

透射电子显微分析详解PPT课件
强度降低、焦距变长(由f1变为f2 ) 。
f A RV0 ( NI ) 2
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4
第7页/共63页
2. 照明系统
• 作用:提供亮度高、相干性好、束流稳定的

照明电子束。
• 组成:电子枪和聚光镜
• 钨丝

热电子源
• 电子源 LaB6

场发射源
• 要求:为满足明场和暗场成像需要,照明束
双聚透镜
图13-6 双聚光镜照明系统光路图 聚光镜用来会聚电子枪射出的电子束,以最小的损失照明样品,调 节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光镜系统。 C1-强激磁透镜-控制束斑大小
第15页/共63页
从聚光镜到物镜
第16页/共63页
3. 成像系统
• 由物镜、中间镜(1、2个)和投影镜(1、2个)组成。 • 成像系统的两个基本操作是将衍射花样或图像投影到荧光屏上。 • 通过调整中间镜的透镜电流,使中间镜的物平面与物镜的背焦面重合,可在荧光屏上
第3章 透射电子显微分析
3.1 透射电子显微镜 工作原理及构造 3.2 样品制备 3.3 透射电镜基本成 像操作及像衬度
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透射电子显微电镜子(显TE微M)分可析简方称法透的射种电类镜
• 扫描电子显微镜(SEM)可简称扫描电镜
• 电子探针X射线显微分析仪简称电子探针(EPA或EPMA): 波谱仪(波长色散谱仪,WDS)与能谱仪(能量色散谱仪, EDS)
• 在用电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品之间和距离总是固
定不变的,(即物距L1不变)。因此改变物理学镜放大倍数进行
成像时,主要是改变物镜的焦距和像距(即f 和 L2)来满足成

透射电子显微镜实验讲义

透射电子显微镜实验讲义

透射电⼦显微镜实验讲义⼀、实验名称透射电⼦显微镜⽤于⽆机纳⽶材料的检测。

⼆、实验⽬的1.认知透射电⼦显微镜的基本原理,了解有关仪器的主要结构;2.学习利⽤此项电⼦显微技术观察、分析物质结构的⽅法,主要包括:常规成像、⾼分辨成像、电⼦衍射和能谱分析等;3.重点帮助学⽣掌握纳⽶材料等的微观形貌和结构测试结果的判读,主要包括:材料的尺⼨、⼤⼩均匀性、分散性、⼏何形状,以及材料的晶体结构和⽣长取向等。

三、实验原理透射电⼦显微技术⾃20世纪30年代诞⽣以来,经过数⼗年的发展,现已成为材料、化学化⼯、物理、⽣物等领域科学研究中物质微观结构观察、测试⼗分重要的⼿段,尤其是近20多年来,纳⽶材料研究的快速发展⼜赋予这⼀电⼦显微技术以极⼤的⽣命⼒,可以这样说,没有透射电⼦显微镜,就⽆法开展纳⽶材料的研究。

透射电⼦显微镜在成像原理上与光学显微镜是类似的,所不同的是光学显微镜以可见光做光源,⽽透射电⼦显微镜则以⾼速运动的电⼦束为“光源”。

在光学显微镜中,将可见光聚焦成像的是玻璃透镜;在电⼦显微镜中,相应的电⼦聚焦功能是电磁透镜,它利⽤了带电粒⼦与磁场间的相互作⽤。

在真空系统中,由电⼦枪发射出的电⼦经加速后,通过磁透镜照射在样品上。

透过样品的电⼦被电⼦透镜放⼤成像。

成像原理是复杂的,可发⽣透射、散射、吸收、⼲涉和衍射等多种效应,使得在相平⾯形成衬度(即明暗对⽐),从⽽显⽰出透射、衍射、⾼分辨等图像。

对于⾮晶样品⽽⾔,形成的是质厚忖度像,当⼊射电⼦透过此类样品时,成像效果与样品的厚度或密度有关,即电⼦碰到的原⼦数量越多,或样品的原⼦序数越⼤,均可使⼊射电⼦与原⼦核产⽣较强的排斥作⽤——电⼦散射,使⾯通过物镜光阑参与成像的电⼦强度降低,忖度像变淡。

另外,对于晶体样品⽽⾔,由于⼊射电⼦波长极短,与物质作⽤满⾜布拉格(Bragg)⽅程,产⽣衍射现象,在衍射衬度模式中,像平⾯上图象的衬度来源于两个⽅⾯,⼀是质量、厚度因素,⼆是衍射因素;在晶体样品超薄的情况下(如10nm左右),可使透射电⼦显微镜具有⾼分辨成像的功能,可⽤于材料结构的精细分析,此时获得的图像为相位衬度,它来⾃样品上不同区域透过去的电⼦(包括散射电⼦)的相位差异。

透射电子显微镜实验教学内容

透射电子显微镜实验教学内容

透射电子显微镜实验透射电子显微镜实验一实验目的1.了解透射电子显微镜的工作原理。

2.二实验仪器电子枪聚光镜系统三实验原理透射电子显微镜内部结构图2表示:透射电子显微镜由电子枪(照明源、接地阳极、光阑等)、双聚光镜、物镜、中间镜、投影镜等组成.电子显微镜的热发射电子枪由高温的钨丝尖端发射电子,高级的场发射电子枪在高电场驱动下通过隧道效应发射电子.场发射电子束的亮度显著提高,同时能量分散度(色差)显著减少,使电子束直径会聚到1nm以下仍有相当的束流.双聚光镜将电子枪发出的电子会聚到样品,经过样品后在下表面形成电子的物波,物波经过物镜、中间镜、投影镜在荧光屏或照相底片上形成放大象.为了获得更高的性能,目前生产的新型TEM的结构更为复杂,如透镜有:聚光镜两个,会聚小透镜,物镜,物镜小透镜,三个中间镜,投影镜等.这样的结构可以在很大范围内改变像的放大倍数,并被用来实现扫描透射成像(STEM,需要利用偏转线圈)、微衍射和微分析(加上X射线能谱仪).透射电子显微镜光路图图4图4是透射电子显微镜阿贝成像原理光路图.物波在物镜的焦平面上形成衍射图样,各个衍射波经过透镜汇聚成第一中间像。

改变中间镜、投影镜电流(即改变它们的焦距),将试样下表面的物波聚焦到荧光屏或底片上得到的是显微像(左).当中间镜、投影镜改变焦距将焦平面的衍射图样聚焦到荧光屏或底片上得到的是衍射图样(右).透射电子显微镜的一大优点是:可以同时提供试样的放大像和对应的衍射图样。

得到显微像后在第一中间象处放置选区光阑选出需要的局部图象,再次得到的衍射图样就是和选区(最小选区为几百nm)图像对应的电子衍射图样.先用闪烁的红色箭头表示试样、第一中间象、第二中间象和显微象的形成过程.接着用闪烁的三个圆斑表示物镜焦平面上的衍射图样经过中间镜和投影镜形成衍射图样的过程.实验内容实验的操作内容:开机A1.开总电源后,开冷却水电源,并确认其工作正常A2.按下电镜主机上power方框内的EVAC键,可在20~30分钟达到高真空加高压B1.确认仪器处于高真空状态后,按一下power方框内的COL键B2.置BIAS钮于适当的位置,按一下READY/OFF键,再按一下所选的高压键,高压将逐步达到所选值,从HV/BEAM表上可确认高压已加上。

《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
优点和缺点
透射电子显微镜的优点包括高分辨率、高对比度、高灵敏度、大深度和号称百万倍的放大倍 数。缺点则包括成本高,需要复杂的样品处理和分析技能。
主要部件
透射电子显微镜主要由以下几个部分组成。
电子源
在透射电子显微镜中使用的电子通常来自热丝或发 射枪。电子的产生必须在真空下进行,以避免与气 体分子相互作用。
透镜系统
透射电子显微镜的透镜系统主要包括透镜、压电陶 瓷和扫描线圈等。这些设备可在电子束内部转移和 聚焦电子以生成清晰的图像。
检测器
工作原理
透射电子显微镜将电子束传递到样品中。当电子束穿过样品时,它们与样品中的原子和分子发生相互作用,并 形成一张图像。
1
电子束的生成
通过电子源产生电子束。在常见的电子源
潜在应用
透射电子显微镜在材料科学、生物学和半导体和微 电子学以外,有许多潜在应用。例如,透射电子显 微镜可以用于分析能量存储、生物医学和太阳能等 领域。
结束语
透射电子显微镜是一种强大的工具,可用于分析微观结构、了解材料性质和研究新技术。希望这个PPT课件能 让更多的人了解透射电子显微镜,并鼓励更多的人来研究和应用这项技术。
电子束的准直和聚焦
2
中,通过加热钨丝等材料来产生电子。
使用透镜系统将电子束准直和聚焦,以使
电子束具有较小的纵向、径向直径和透射
度。
3
电子束与样品的相互作用
电子束穿过样品并与样品中的电子云相互
作用,同时使样品产生信号。这些信号被
信号的检测检测器收集并解析透射电子显微镜样品与 电子束相互作用所生成的信号。
应用
透射电子显微镜在各种不同的领域中都有广泛的应用,其中包括材料科学、生物学和半导体和微电子学。

第二章透射电子显微镜ppt课件

第二章透射电子显微镜ppt课件
b.成像/衍射模式选择。 •投影镜:进一步放大中间镜的 像。
透 射 电 镜 主 体 剖 面 图
三级放大成像示意图
2.1.3 观察记录系统
❖ 观察和记录系统包括荧光屏和照相机构。
❖ 荧光屏涂有在暗室操作条件下,人眼较敏感、发绿 光的荧光物质,有利于高放大倍数、低亮度图像的 聚集和观察。
❖ 照相机构是一个装在荧光屏下面,可以自动换片的 照相暗盒。胶片是一种对电子束曝光敏感、颗粒度 很小的溴化物乳胶底片,为红色盲片,曝光时间很 短,一般只需几秒钟。
的导磁体来吸引部分磁场。
❖电磁式:通过电磁极间 的吸引和排斥来校正磁场。 通过改变两组电磁体的励 磁强度和磁场的方向实现 校正磁场。
消像散器一般安装在透镜的上、 下极靴之间
电磁式消像散示意图
聚光镜消像散调整
2.2.4 光阑(Diaphragm holders and choice of diaphragms)
❖ 新型电镜均采用电磁快门,与荧光屏联动。有的装 有自动曝光装置。现代电镜已开始装有电子数码照 相装置,即CCD相机。
真空系统
❖ 在电子显微镜中,凡是电子运行的 区域都要求有尽可能高的真空度。
电源与控制系统
❖ 电子显微镜需要两个独立的电源,即使电 子加速的小电流高压电源和使电子束聚焦 与成像的大电流低压磁透镜电源。
1. 电子枪
❖ 电子枪是透射电子显微镜的电子源。
❖ 常用的是热阴极三极电子枪,由发夹形钨丝阴极、栅
源电子极帽枪和的阳极组成。
,形阴成极自:阴偏 极灯丝通常用0.03和阴0.极1毫之米栅间的极钨:栅丝极作是成控V制形电。子束 电位差形。状电和发射强度的(也称
为控制极、韦氏圆筒)。
阳极间会阳聚极:阳极使从阴极发射 交叉点的形,电成通子 定获 向得 高较 速高电的子动流能,,也
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一、实验名称透射电子显微镜用于无机纳米材料的检测。

二、实验目的1.认知透射电子显微镜的基本原理,了解有关仪器的主要结构;2.学习利用此项电子显微技术观察、分析物质结构的方法,主要包括:常规成像、高分辨成像、电子衍射和能谱分析等;3.重点帮助学生掌握纳米材料等的微观形貌和结构测试结果的判读,主要包括:材料的尺寸、大小均匀性、分散性、几何形状,以及材料的晶体结构和生长取向等。

三、实验原理透射电子显微技术自20世纪30年代诞生以来,经过数十年的发展,现已成为材料、化学化工、物理、生物等领域科学研究中物质微观结构观察、测试十分重要的手段,尤其是近20多年来,纳米材料研究的快速发展又赋予这一电子显微技术以极大的生命力,可以这样说,没有透射电子显微镜,就无法开展纳米材料的研究。

透射电子显微镜在成像原理上与光学显微镜是类似的,所不同的是光学显微镜以可见光做光源,而透射电子显微镜则以高速运动的电子束为“光源”。

在光学显微镜中,将可见光聚焦成像的是玻璃透镜;在电子显微镜中,相应的电子聚焦功能是电磁透镜,它利用了带电粒子与磁场间的相互作用。

在真空系统中,由电子枪发射出的电子经加速后,通过磁透镜照射在样品上。

透过样品的电子被电子透镜放大成像。

成像原理是复杂的,可发生透射、散射、吸收、干涉和衍射等多种效应,使得在相平面形成衬度(即明暗对比),从而显示出透射、衍射、高分辨等图像。

对于非晶样品而言,形成的是质厚忖度像,当入射电子透过此类样品时,成像效果与样品的厚度或密度有关,即电子碰到的原子数量越多,或样品的原子序数越大,均可使入射电子与原子核产生较强的排斥作用——电子散射,使面通过物镜光阑参与成像的电子强度降低,忖度像变淡。

另外,对于晶体样品而言,由于入射电子波长极短,与物质作用满足布拉格(Bragg)方程,产生衍射现象,在衍射衬度模式中,像平面上图象的衬度来源于两个方面,一是质量、厚度因素,二是衍射因素;在晶体样品超薄的情况下(如10nm左右),可使透射电子显微镜具有高分辨成像的功能,可用于材料结构的精细分析,此时获得的图像为相位衬度,它来自样品上不同区域透过去的电子(包括散射电子)的相位差异。

图1光学显微镜与透射电子显微镜成像原理的比较透射电子显微镜的结构包括主机和辅助系统两大部分,主体部分(图2)包含电子源、照明系统、成像系统和观察记录系统等;辅助系统包含真空系统(机械泵、离子泵等),电路系统(变压器、调整控制),水冷系统等。

以下主要介绍主体部分。

透射电子显微镜中产生电子的装置叫电子枪,电子枪的研发与应用大致经历了三个阶段:钨灯丝、六硼化镧单晶和场发射电子枪,它们所产生电子束的质量越来越好,其亮度分别比普通钨灯丝亮几十倍和上万倍,而且单色性好,尤为适合于高级透射电子显微镜。

电子枪分为热阴极型和场发射型两类,热阴极电子枪的材料主要有钨丝和六硼化镧(LaB6),而场发射电子枪又可以分为热场发射、冷场发射两个分支。

电子枪的功能是产生高速电子,以热阴级电子枪为例(图3),它由处于负高压(或称加速电压)的阴极、栅极(电位比灯丝还要负几百到几千伏,数值可调)和处于0电位的阳极组成,加热灯丝发射电子束,并在阳极加电压使电子加速,经加速而具有高能量的电子从阳极板的孔中射出,电子束能量与加速电压有关,栅极则起到控制电子束形状的作用。

另外,如果在某些金属的表面施加强电场,金属表面可向外逸出电子,依照此原理可制成场发射电子枪,它没有栅极,但由阴极和两个阳极构成,第一个阳极主要使电子发射,第二个阳极使电子加速和会聚。

根据加速电压的数值,由电子枪发射出来的电子,在阳极加速电压(生物样品多采用80~100kV,金属、陶瓷等多采用120kV、200kV、300kV,超高压电镜则高达1000~3000kV)的作用下,经过聚光镜(2~3个电磁透镜)汇聚为电子束照射到样品上。

据此可以理解,由于电子的穿透能力很弱(比X射线弱得多),进行透射电子显微镜检测的样品必须很薄,其厚度与样品成分、加速电压等有关,一般范围在100nm左右(甚至更低)。

此外,整个主机系统必须保持在理想的真空状态,真空系统通常由机械泵、油扩散泵、离子泵、真空测量仪表及真空管道组成,它的作用是抽出镜筒内气体,使镜筒真空度至少要在10~5托及以下,目前最好的真空度可以达到10-10托左右。

如果真空度不理想的话,可产生多种副作用,如电子与空气中气体分子之间的碰撞可引起散射而影响衬度,还会使电子栅极与阳极间高压电离导致极间放电,从而影响电子枪的寿命,残余的气体还会腐蚀灯丝,污染样品。

图2 透射电子显微镜基本构造(1电子枪;2加速管;3阳极室隔离阀;4第一聚光镜;5第二聚光镜;6聚光后处理装置;7聚光镜光阑;8测角台;9样品杆;10物镜;11选区光阑;12中间镜;13投影镜;14投影镜;15光学显微镜;16小荧光屏;17大荧光屏)图3 热阴级电子枪的基本构造图4 热阴级电子枪的灯丝(换成自拍的)图5 照明系统光路图电子枪发射出的电子束有一定的发散角,经后续调节后,可得到发散角很小的平行电子束。

可通过调节会聚镜的电流改变电子束的电流密度(亦称束流)。

在透射电子显微镜的观测过程中,需要亮度高、相干性好的照明电子束。

因此,电子枪发射出来的电子束还要用两个电磁透镜进一步会聚,以提供束斑尺寸不同、近似平行的照明束。

图5为照明系统光路图,一般都采用双聚光系统。

该系统的功能是为下一级成像系统提供一个亮度大、尺寸小的照明光斑,其中聚光镜用于汇聚电子枪射出的电子束,以求最小的损失照明样品,调节照明强度、孔径半角和束斑大小。

在图5中,第一聚光镜常采用短焦距强励磁透镜,它的作用是将从电子枪得到的光斑尽量缩小;第二聚光镜为长焦距弱透镜,它的功能是将第一聚光镜得到的光源会聚到试样上,该透镜通常可对光源起到放大作用。

图6 成像系统光路图(a)衍射模式(b)放大模式成像系统包括样品室、物镜、中间镜、反差光阑、衍射光阑、投射镜以及其他电子光学部件。

它的主要功能是,由于穿过样品的电子携带了样品本身的结构信息,将穿过试样的电子束在透镜后成像或成衍射花样,并经过物镜、中间镜和投影镜接力放大,最终以图像或衍射像的形式显示于荧光屏上。

样品室有一套机关设置,以保证样品经常更换时不破坏主机的真空。

实验操作时,样品可在X 轴、Y轴二维方向移动,以便找到所要观察的位置。

图6为成像系统示意图,物镜是主机中最关键的部分,这是因为透射电子显微镜分辨本领的高低主要取决于物镜。

它的功能是将来自样品不同部位、传播方向相同和相位相同的弹性散射电子束会聚于其后焦面上,构成含有试样结构信息的散射花样或衍射花样;将来自试样同一点的不同方向的弹性散射束会聚于其像平面上,构成与试样组织相对应的显微像。

实际上,物镜的任务就是形成第一幅电子像或衍射像,完成物到像的转换并加以放大,要求像差尽可能小而又要有较高的放大倍数(100~200倍)。

顺便提及,目前新一代透射电子显微镜的特点是主要大幅度改善了球差矫正参数,但此类设备使用还不普及,在常见的透射电子显微镜中,物镜光阑可以挡掉大角度散射的非弹性电子,使色差和球差减少,在提高衬度的同时还可以得到样品的更多信息,在选择后焦面上的晶体样品衍射束成像后,可获得明、暗场像。

另外,作为弱激磁长焦距可变率透镜,中间镜可放大1~20倍,它的作用是控制透射电镜总的放大倍数,把上方物镜形成的一次中间像或衍射像投射到投影镜的物平面上,而投影镜则是一种短焦距强磁透镜,它可把经过中间镜形成的二次中间像或衍射像投影到荧光屏上,最终形成放大的电子像或衍射像。

在观察、记录系统中,为方便前期观察,高性能透射电子显微镜除了荧光屏外,还配有用于聚焦的小荧光屏和放大5~10倍的光学放大镜。

荧光屏的分辨率为50~70μm,因此在观察细微结构时要有足够高的放大率,以使荧光屏能分辨并为人眼所能见。

例如,如需要观察0.5nm的颗粒就需要10万倍的电子光学放大,再加10倍的光学放大即可。

本部分最后还将谈一谈利用透射电子显微镜在科学研究中所能解决的主要问题。

(a)(b)图7纳米材料透射电子显微镜观察结果示例图7中两张图片为纳米材料透射电子显微镜的检测结果,从中可以看出,它们是平面投影图像,不同于富有立体感的扫描电子显微镜图像。

其中,图7(a)中的纳米粒子为球形(严格地说为准球形),颗粒尺寸大小较为均一,分散性很好;图7(b)中的纳米材料为棒形,颗粒尺寸大小较为均一,分散性较好。

纳米粒子的粒径分布统计是纳米材料研究中常遇到的问题,尽管现在已有多种分析测试纳米材料粒径分布的方法,如小角X射线散射等,但可信度最高的当属依托透射电子显微镜技术的统计方法。

(a)(b)图8材料的高分辨透射电子显微镜观察结果示例(a)晶体结构(b)自组装结构图8为材料的高分辨透射电子显微镜观察结果,其中图8(a)是晶体材料的高分辨图像,从中可清楚地看见晶格条纹,并可得到晶面间距d值。

至于晶面归属的判断,出处理方法是,先利用高分辨透射电子显微镜图像中的条纹线距离和多晶面时的相关取向,估算出该条纹线对应的晶面,然后再用相同样品的XRD 检测结果进行矫正,对于大多数晶体物质而言,都有XRD检测出的标准数据,如d值等,可信度高。

图8(b)也给出了有序的条纹结构,但此时层间距和层的厚度均明显大于图8(a)中的结果,故图8(b)显示的已不是晶体结构,而是所谓的自组装结构,它是纳米材料研究中的热点问题。

再来了解电子衍射问题,在透射电子显微镜中,来自聚光镜的电子束打到样品上,与样品发生相互作用,当样品薄到一定程度时,电子就可以透过样品。

可将透过去的电子分成两类,一类是继续按照原来方向运动的电子,能量几乎没有改变,称之为直进电子;另一类是运动方向偏离原来方向的电子,称之为散射电子。

就散射电子而言,如果电子的能量有比较大的改变,我们称之为非弹性散射电子;有的电子能量几乎没有改变,可称之为弹性散射电子。

所有这些电子通过物镜后在物镜的后焦面上会形成一种特殊的图像,称之为夫琅禾费衍射花样。

图?对常见电子衍射花样进行了归纳:如果被电子束照射的样品区域是一块单晶,则花样的特点是中中央亮斑加周围其它离散分布、强弱不等的衍射斑,斑点呈规律性分布;如果被电子束照射的样品区域包括许多单晶,则衍射花样的特点是中央亮斑加周围半径不等的一圈圈同心圆亮环;如果被电子束照射的样品区域是非晶,则衍射花样的特点是中央亮斑加从中央到外围越来越暗的弥散光晕。

至于为什么会形成这些花样的原因,可从样品对入射电子的散射来解释:对于晶体样品,由于原子、离子、分子等基本质点排列的周期性,不同质点同一方向上的散射波之间存在固定的相位差,在一些方向上相位差为2π的整数倍,根据波的叠加理论,在这些方向上的散射波会发生加强干涉,称之为衍射。

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