开短路测试程序
开关电源测试规范
开关电源测试规范 (2007-12-22 17:15)分类:电源技术类文章开关电源测试规范一、安全标准检查工作指导 51、高压测试 52、低输入电压产品使用1800VAC作高压测试 53、绝缘测试 54、漏电流测试 55、接地测试 56、输入电流测试 57、输入端的剩余电压 58、各输出端的最大VA 59、异常操作测试 69.2、特低输入电压测试 69.3、特高电压测试 69.4、过载测试 69.5、长时间的过压保护测试 69.6、适配器内可熔断电阻的安全测试 710、异常处理测试 710.1、严格的跌落测试(对于AC适配器) 710.2、严格的震动测试(对于AC适配器) 711、可见的潜在安全问题检查 711.1、输贴片电容的检查 711.2、AC输入线的检查 711.3、DC输出线的检查 711.4、热组件 812、可燃性检查 813、各种检查 813.1、组件检查 813.2、标贴检查 813.3、空间及爬电距离 8二、环境条件测试 81、高温测试 82、低温操作测试 83、高湿操作测试 84、高低温储存循环测试 85、高湿储存测试 86、振动测试 96.1、非工作状态测试 96.2 工作状态振动测试 97、跌落测试 9三、静态工作特性测试 91、输出电压与电流调整范围 (需在高、低、常温下进行测试) 92、效率测试 (高、低、常温三种条件下进行) 103、起机输入电压测试 (高、低、常温三种条件下进行) 104、输入电压临界电测试(高、低、常温三种条件下进行) 105、输出电压电流特性曲线测试 (高,低,常温三种条件下进行) 106、输出共模噪音电压测试 (在规格中有要求才做) 107、可听噪音测试 10四、动态性能测试 101、浪涌电流测试 101.1、室温冷起机 101.2、室温热起机 112、开关机时输出电压过冲与欠冲测试 113、开机延时及输及电压间跟从测试 114、开机维持时间 125、阶跃负载响应测试 (此测试项须进行低温、常温、高温三种条件的测试) 126、POWER GOOD /FAIL TEST 12五、开短路测试 121、测试范围 122、测试标准 133、测试方法(TEST METHOD) 133.1、开短路测试(Open short method) 143.2、在测试过程中和测试后要观察的项目(Utems to observe doing or after open short) 14六、可靠性测试 151、电解电容寿命的检测 152、RUBYCON公司的电容寿命计算公式 163、温升测试 163.1、外壳温升 163.2、零件温升 163.3、火牛温升 173.4、电容温升测试 173.5、高温开关机测试 173.6、MTBF(平均无故障时间计算) 173.7、组件失效率的计算 17七、组件使用率测试工作指导 181、测试范围 182、测试条件 183、用率要求 184、测试方法 184.1、电阻 194.2、电解电容使用率测试 194.3、电容 204.4、陶瓷电容 204.5、晶体三极管和场效应管 204.6、二极管 204.7、稳压二极管 204.8、反激式功率变压器 214.9、正激式功率变压器 214.10、正激式功率镇流器 214.11、##芯镇流器 21八、设计更改评估工作指引 231、目的 232、步骤 232.2、测试计划与时间表 232.3、测试 232.4反馈问题给开发部 242.5报告 242.6结束 25九、保护电路测试工作指引 251、目的 252 、主要使用仪器 253、步骤 253.1、过流保护 253.2、短路保护 253.3、过压保护 263.4、过温保护 263.5、过温保护余量 26十、设计验证工作指引 261、目的 262、范围 263、步骤 263.1、2MVT 273.2、测试计划 273.3、测试 273.4、反馈问题给开发部 283.5、报告 283.6、结束 29十一、电磁兼容测试工作指引 291、目的 292、使用仪器 293、步骤 303.1、传导电磁干扰测试 303.2、辐射电磁干扰测试 313.3、静电放电测试 323.4、谐波电流测试 33十三、电源干扰测试工作指引 34 1目的 342范围 343使用仪器 344步骤 344.1掉电测试 344.2 400HZ的振铃测试 344.3交流电源功率噪声测试 354.4雷击测试 354.5关机后重新开机测试 354.6输入电压不足测试 35十四、机械性能检查工作 361、目的 362、范围 363、使用仪表 364、机械性能检查 36一、安全标准检查工作指导1、高压测试对于class 2类电源(没有接地端)将初级端的L和N边接在一起,将次级端所有的输出0V电压连接.在初、次级之间输入3600Vac电压持续1分钟.标准:漏电流必须小于10mA2、低输入电压产品使用1800Vac作高压测试对于class 1 类电源(带有接地端)连接初级的L和N,将次级端的所有输出、OV电压和地连接在一起,在初级和次级之间输入1800Vac的电压持续1分钟,标准:漏电流必须小于10mA移去初级和地之间的所有Y-cap,只留下初、次级间的Y-cap,将初级端的L和N 连接,迎接次级端所有的输出和0V电压,留下地是态空的.在初级次级之间入3600Vac的电压持续1分钟.低输入电压产品使用1800Vac作高压测试.标准:漏电流必须小于10mA3、绝缘测试将初级端的L和N连接在一起,连接次级端所有的输出、0V电压和地(如果有的话)用500V的兆欧,绝缘表测量初、次级间的阻值.4、漏电流测试在正常高电压输入(120Vac或240Vac)最大负载情况下进行,连接测试电流表于输入端初级回路的火线或零线跟次级回路的0v电压(若有的话)的漏电,如下图所示:标准:对于class2 设备小于0.25mA对于class1 设备小于0.75mA5、接地测试这个测试适用于只有接地端的设备在接地端和接地的任何可接触的金属部分之间输入25A(交流或直流)电流标准:接地端和共它接地端金属之间的电阻值必须小于0.1欧姆6、输入电流测试本测试适用于AC电源在输入电压等于低于正常电压10%(100Vac或200Vac)等于90 Vac或180 Vac,额定最大负载的情况下,测量输入的有效值电流.标准:输入的有效值电流必须低于定的保险丝和电源标贴上的额定输入电流7、输入端的剩余电压本测试只适用于正常值高于0.1uf的X-cap输入一直流电压等于正常高电压(120 Vac或240 Vac)的峰值,也等于170 Vdc 或340 Vdc给输入装置,负载可以是最大或最小值.用存贮示波器测试电源的2个输入端通过的电压关闭直流输入,记录输入端下降的电压波形.标准:输入端电压上8、各输出端的最大VA对于固有的有限功率电源,和输出不是使用在防火外壳内的设备.还包括电源适配器、充电器,在正常和单一组件损坏的情况下能从各输出得到的最大电流和VS(电压必须附合以下情况输出电输出电流最大VAUoc<=20 < =80 <=5Uoc20<UOC<=30&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP ;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&N BSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;<=80&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBS P;&NBSP;&NBSP;<="100">30<UOC<=60&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NB SP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP; &NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;&NBSP;<=150Uoc是无负载的输出电压最大电流为60秒以后的电流,在任何负载包括短路的情况下,电子负载必须调节至从设备得到可能的最大电流.最大电流为100毫秒以后的电流,在任何负载包括短路的情况下,电子负载必须调节至从设备得到可能的最大率.单一组件损坏情况可以下列情况模仿对于次级限制电流的设备:把限流电阻短路,或把电流反溃回路中的组件短路对于没有次级限制电流却有初级制电流的设备,反流电阻短路,或流过电路上的组件开路.对于没有次级和初级限制电流的设备,寻找初级VT (电压*时间)限制回路上的组件.例如输入电压和补尝二极管,从开路/短路测试的结果,检查当这个二极管开路时输出的是否正常,如果正常,则把一稳压二极管开路作为最大输出VA测试的单一损坏情况.开路VT限制电路上的其它零件也可以作为损坏情况,但它不能很快的损坏设备(可检查开路/短路测试结果),并且得到最大输出VA增幅.9、异常操作测试当设备运行时测变压器的最高绕组温度.使用热电偶测量的标准:对于等级A的火牛<140度对于等级E的火牛<155度对于等级B的火牛<165度测试后要检查高压(初级与次级之间3600V,初级与地之间1800V)测试后检查过热区域的症状,如胶壳变型或底版烧黑针对测试(仅对于AC适配器)用毛毯包裹适配器,使设备运行直到温度稳定,须测试最大/最小输入电压,最大负载/输出的四种组合如果被测机关机或温度保险丝断开,把负载或环境温度降低一点再重新测试,寻找最高变压器温度并保持被测机在这个环境2小时.9.2、特低输入电压测试在输入电压为最小、最大负载条件下,慢慢调低输入电压直到输出开始下降,记下此时最低输入电压,用这个输入电压使设备运行直到温度稳定.9.3、特高电压测试在输入电压为300V、最大负载条件下,运行设备直到温度稳定.9.4、过载测试增加输出负载直至输出功率为最大,运行设备直至温度稳定,须测试最大/最小输入电压.9.5、长时间的过压保护测试9.5.1、对于下列过压保护电路A 输出端放稳压管B 输出端放稳压管及低温锡C输出端放稳压管及弹簧样品收量:50台(可用一台机测但要试50个稳压管)对50台机以不同的方法去仿真过压,包括短路光偶之LED 或把输出电压慢慢调高如稳压管坏后没完全短路用产生热使胶壳变型或底版变黑,那么此测试为不及格如果稳压管坏后开路引致输出电压升高于42.4V,或输出电容爆炸,那么这个测试不合格.(如果输出电压升至超过输出电容额定电压的110%,待1/2小时看电容会不会爆炸)9.5.2 其它过压保护样品数量:1台在输入电压为240V/120V,最小负载条件下,调节输出电压,使其增大到恰好过压保护作用之前(例如设备恰好开机之前,或者输出稳压二极管损坏之前)运行设备直到温度稳下9.6、适配器内可熔断电阻的安全测试如有下列问题发生则此测试为不及格有安全相关的问题发生(例如塑料外壳变形)变压温度超过其对电压等级(AB…)于异常环境下之前之温度限制测试后变压器能不能通过高压测试测试方法:把适配器内之开关晶体管C-E或砀效应管D-S短路,输入85Vac,记下电阻的熔断时间及最高变压器温度,再重复输入0VAC,如果没有安全不及格则此测试为及格.如果有安全不及格,记录当时输入电压为F Vac同、除去开关晶体管C-F或场效应管短路,于晶体管C-B间或场效应管D-G间接一电压为4.2*(85-F)Vdc之稳压管,仿真一半坏之晶体管,在适配器输入85VAC如果晶体管或场效应管没有坏或产生@@,认为不及格.10、异常处理测试10.1、严格的跌落测试(对于AC适配器)从足够高的地方(2.0米)跌落设备,总共六个方位,如果发现有以下症状,则视结果为不及格.塑料盒破裂散热片夹(脚位)错乱零件或螺丝松落10.2、严格的震动测试(对于AC适配器)使用能达到地最大加速度地正弦波扫描震动,频率范围10-500赫兹及三格方向,如果出现以下地症状,则测试为不合格:塑料盒破裂散热片夹(脚位)错乱零件或螺丝松落锋利的边缘切进绝缘11、可见的潜在安全问题检查11.1、输贴片电容的检查如果有以下两种情况同时发生,则测试结果为不合格.(贴片电容可降格为电阻,发热及把塑料外盒熔化)贴片电容横跨在输出端塑料盒与贴片电容之间没有屏蔽或绝缘11.2、AC输入线的检查如果以下两种情况同时发生,则视测试为不合格AC输入线存在有机械压力如果联接导线断裂,导线能晃动及桥接初级/次级11.3、DC输出线的检查如果以下两种情况同时发生,则测试为不合格DC输出线存在有机械压力如果联接线断裂,导线能晃动及桥接初级/次级11.4、热组件对于在异常情况下可能变的很热的组件,不可以放在有机会使外壳变软或熔化的地方,检查以下组件:可熔断电阻;输入电感;功率变压器;开关管/场效应管;输出整流管;功率电阻;使用低频率磁芯地共模电感;过压保护电路12、可燃性检查检查塑料外壳,绝缘片,电路底板地可燃性级数.13、各种检查13.1、组件检查检查以下组件已为适当之安规机构认可保险丝;压敏电阻;X电容;Y电容13.2、标贴检查检查标贴上的信息是否这正确用水擦拭标贴地表面15秒,然后用电油擦拭15秒,检查上面的标贴是否擦掉. 用3M600地胶带贴在标贴上30秒,然后在垂直方向去掉胶带,不能有标贴被粘掉.13.3、空间及爬电距离检查电路底板上初级跟次级铜皮之间的最小爬电距离.检查初级零件跟次级零件之间的最小距离及爬电距离.检查电路底板上火线跟中线的最小爬电距离.二、环境条件测试测试之前记下被测试机的重要电气参数,最少在高电压及低电压检查输出电压和纹波.测试之后,当被测机回到环境温度直到干燥再作以下测试:a 检查电气参数并与测试前的数据进行比较,数据应该没有明显差别;b 被测试的外壳和零件应该没有损坏,PCB板不能因过热而变黑,零件没有因过热而变色,一旦有不正常地现象则记录下来1、高温测试将被测机放在没有风的烤箱内,烤箱的温度设为被测机的最高操作温度.最大输出电压,最大负载,开机12h,然后转到最小输入电压最大负载开机12h 2、低温操作测试将被测机放在烤箱内,烤箱的温度设为被测机的最低操作温度最大输入电压,最大负载,开机12h,然后转到最小输入电压最大负载开机12h, 3、高湿操作测试将被测机放在温度为35摄氏度,湿度为90%(或规定的最大湿度)的烤箱最大输入电压,最大负载,开机12h,然后转到最小输入电压最大负载开机12h 4、高低温储存循环测试将被测机放在烤箱内,无需通电,烤箱的温度设为2个小时高温2个小时低温为一循环,统其需要12个循环,5、高湿储存测试将被测机放在烤箱内48小时,无需通电,烤箱设置为被测机的最高温度和90%湿度6、振动测试6.1、非工作状态测试扫描:每分钟10-50-10HZ的正弦波方向:每个方向2个小时包括X、Y、Z轴三个方向振幅:1.5mm测试之后机械上没有明显的损坏;电气上被测机必须根据其规格进行高压测试且测试结果须符合规格被测机须根据其规格进行绝缘测试且测试结果必须符合规格测试之后被测机能正常操作,其电气参数都在规格之内6.2 工作状态振动测试当规格书中有此要求时,则进行该项测试7、跌落测试7.1 非工作状态跌落测试对于交流转换器或充电器,如果规格书中没有规定,则每一个方向跌落一次,高度为1米,跌落在水泥地上,6个面均须测试,此项测度至少须测试2个样机对于无外榖的交流电源供应器或者有外榖的但在使用中是装配在其它系统内的交电源供应器,只有在规格书中有要求才做跌落测试测试之后:机械上没有明显的损坏电气上:被测机必须根据其规格进行高压测试且测试结果须符合规格被测机须根据其规格进行绝缘测试且测试结果须符合其规格测试之后被测机能正常操作,其电气参数都在规格之内7.2 工作状态跌落测试当格书中有此要求时,则进行该项测试三、静态工作特性测试1、输出电压与电流调整范围 (需在高、低、常温下进行测试)对于高温测试,被测机必须带最大负载放在没有风扇及设置在被测机的最高工作温度下的烤箱内开机半小时以上,等到平衡才能进行测试,如果烤箱内有风扇,用一个与温度测试相似的盒子装着被测机.对于低温测试,被测机必须不带负载,放在设置在被测机的最低工作温度下的烤箱内开机半小时经上,顼要进行测试时开机后马上读数,然后尽快关机以便被测机不会顺工作过久而发热.这项测试需要在最商最低输入电压,浪涌,最大最小负载的各种组合条件下进行所有的电压必须在被测机的连接器末端测量,而不是在负载的终端测量子力学从连接器到负载的线上有电流流过,顺此有电压降,在负载的两端测试得到的输出电压会较低)纹波测试有些规格允许在测量纹波时在输出端并联一个10uF的电解电容和0.1uF的陶瓷电容以滤出纹波尖峰.有些规格要求同时测量纹波及其尖峰,在这种情况下示波器探头必须直接到被测机地联机末端,它们之间不能接有其它联机,示波器地接地线必须很短,以防止在接地线上产生尖峰.有些规格定义使用20兆赫兹带宽的示波器测量纹波尖峰.如果没有定义则只检测100兆赫兹的低频纹波和开关纹波,高频尖峰忽略不测. 合格定义:电压及电流调整0-10%,90-100%纹波:90-100%(假设下限为0mV pp)2、效率测试 (高、低、常温三种条件下进行)这项测试必须使用交流电和功率表在最大和最小两重负载下检查效率和输入有效值电流,输入电压为:对于通用电压或者自动输入电压范围的用:90,100,240,265V对于低输入电压范围的用:90,100,120,135V对于高输入电压范围的用:180,200,240,265V测试空载输入功率时,用直流电源可得到较稳定得读数.但如果与客户数据有出入,则可转回交流电测试.数据合格定义范围:0-5%(假设上限为100%)3、起机输入电压测试 (高、低、常温三种条件下进行)载最小负载下,缓慢增加交流输入电压到输出电压载规格之内,记下这个交流输入电压作为起机电压,用最大负载重复这项测试.起机电压除非另有规定,否则必须比在50赫兹的最小输入电压规格低5V4、输入电压临界电测试(高、低、常温三种条件下进行)在正常输入电压下起机调整到最大负载,观察所有输出端得稳癌电压及输出电压,后缓慢降低输入电压到任意意组输出得恩波或输出电压超出得范围,记下这个临界交流输入电压作为电压临界点.除非另有规定,否则必须比在50赫兹的最小输入电压规格低5V5、输出电压电流特性曲线测试 (高,低,常温三种条件下进行)要求被测机能在恒压恒流模式下工作.需要测试电流上调及下调时得VI曲线在最小输入电压下,使输出电压从零逐渐增大,到电流限制后,把输出电压调至零.在不同测试点记录相应电压电流以至能绘出曲线.在最高输入电压重复这项测试. 最小输入电压下,使输出电压从零逐渐增大,到达稳压后,把输出电流调至零.在不同测试点记录相应电压电流以至能绘出曲线.在最高输入电压重复这项测试. 从0V到1v的范围亦须测试.电子负载不能在这么低电压拉电流,用大功率可调代替.6、输出共模噪音电压测试 (在规格中有要求才做)用100兆赫兹带宽示波器测量出零伏端与地端的噪音.示波器的接地线要与被测机地的金属底架相连接.如果被测机是塑料外壳,则接地线必须连接到交流输入插座的接地端.测试最大,最小输入电压及最大,最小负载的所有组合条件.7、可听噪音测试在最小输入电压下,检查被测机空载到满载的过程中不同负载下的可听噪音大小.特别注意恒压与恒流模式俩者之间转换,如果可听到噪音记录下来,用最大输入电压重复这项测试.试用其它输入电压,列出所有组合条件进行测试并记录.收听方法:把耳朵贴近电源供应器,然后对电源供应器通电.听声音有没有区别.四、动态性能测试1、浪涌电流测试1.1、室温冷起机测试之前被测机至少开机30分钟,被测机与浪涌电流测试仪连接起来,浪涌电流测试仪必须设定到最大交流输入电压的峰值,浪涌电流测试仪的电容必须最少是被测机输入电容的20倍.浪涌电流测试仪通过开机向被测机提供电源,通过串联一个0.1欧姆的电阻来观察电流,并用存储示波器来补捉这个浪涌电流波形.1.2、室温热起机在测试之前被测必须用高压满载至少开机1小时,然后关机,迅速放掉输入电容上的电压至10v以下..连接好浪涌电流测试仪,设其电压至最大输入交流电压的峰值.被测机与浪涌电流测度仪连接起来,浪涌电流测试仪必须设定到最大交流输入电压的峰值,浪涌电流测试仪的电容必须到少是被测机输入电容的20倍.浪涌电流测试仪通过开机向被测机提供电源,通过串联一个0.1欧姆的电阻来观察电流,并用存储示波器来补捉这个浪涌电流波形.计算输入暇流的I^2T的值公式:I^2T=(I1^2+I2^2+I1*I2)*T1/3+(I2^2+I3^2+I2*I3)*T2/3根据这个浪涌电流,列出下面这些组件及它的额定I^2T值,这个额定I^2T值必须大于上面测量的I^2T2值.组件额定: I^2T/2T RATING 合格/不合格/Pass/Fail保险丝输入整流二极管热敏电阻2、开关机时输出电压过冲与欠冲测试(此测试项须进行低温.常温.高温三种条件的测试)如果外接电容被定义,那么的负载必须包括及不包括这个外接电容二种情况输入电压/Vin 负载/load 测试/test最大最大开机最大最小开机最小最大开机最小最小开机最小最大关机最小最小关机负载:使用prodigit或自制的电子负载,如果被测机不能起机,则用电阻作为标准负载1>kikusui,电子负载在电压上升10毫秒扣拉电流,因结它实际上是空载起机.2>prodigit 电子负载在电压很低时已能拉最大电流,扎经起机负载很大,3>自制的电子负载有一个可调恒压模式,仅当输出电压最大恒压模式扎设置的电压时才拉电流 ,如果恒压模式暇压很低,自制的电子负载跟prodigit电子负载起机拉电流情况接近,.使用数字存储示波器去补捉输出电压的波形,以便孋开机机时是否存在过冲与你冲丙象,输出电压的过冲不能超过指定范围,如没指下则不应超过电压规格围.3、开机延时及输及电压间跟从测试在做此测试前,开机及把被测机放入扎要求试的温度环境中保持到少30分钟,使被测机温度达到稳定,如果被测开机后需重新开机,需等几分钟,侍电容放电后再测试.注:对于使用负载所前开关机测试一样.用数字存储示波器去捕捉输入电压及输出电压波形,测出从输入电压开始至输出电压到达额值的90%的时间,对于有多组输出的被测机,用存储示波器捕捉一组跟其它各组输出电压波形,测量的时间是从每组输出的额定值的50%到另一组出的额定值的50%.除有特别规定外,这个时间差必须不超过50ms4、开机维持时间把被测机与掉电测试仪连结起来,使得开机波形能够被捕捉,交流开机的时间至最大,设定交流开机时间至少1秒或更大.设定输入电压为额定低端电压,负载最大,用示波器云捕捉当交汉电压关掉时输出电压与便入电压的波形.测量时间是坐交流电压开机的零点到输出电压降至超过其规格范围的点.这企时间即是关要持时间(或掉电维持时间)5、阶跃负载响应测试 (此测试项须进行低温、常温、高温三种条件的测试) 把被测机连接到电子负载并设为恒流模式,设定两个阶跃负载,每一阶跃时间为5毫秒,上升时间为100微秒(到达额定值的90%),用示波器观察输出电压波形. 至少必须测试下列几种组合输入电压负载最大最大⇓◊最小最大最大⇓◊半载最小最大⇓◊最小最小最大⇓◊半载在阶跃负载时,输出电压上的第三个振铃的振幅必须中于第一个振幅的20%,太多的振铃表刖结机是稳定的.对于多组输出的电源供应器,其中一企图出须带一个输出阶跃负载,另外的输出负载须从最小到最大以找坏情况.监探所有出以确定没有超出规格范围或太多的掁铃,6、power good /Fail Test。
短路电流测试报告
短路电流测试报告背景介绍短路电流测试是电力系统中常用的一种测试方法,用于评估系统在短路情况下的电流响应能力。
本报告将详细介绍短路电流测试的步骤和结果。
实验设备我们使用以下设备进行短路电流测试:1.发电机:额定电压为220V,额定电流为10A。
2.电源开关:用于控制电流的通断。
3.电流表:用于测量电流的大小。
4.电阻箱:用于调节短路电流的大小。
实验步骤1.首先,将发电机与电源开关和电流表连接起来,保证电路的完整性。
2.将电阻箱连接到电流表的输出端,使用电阻箱可以调节电路的负载情况,从而控制短路电流的大小。
3.打开电源开关,使电流流过电路,同时记录电流表的读数。
4.逐渐调节电阻箱的阻值,观察电流表的变化情况。
记录不同阻值下的电流读数。
5.重复步骤4,直到得到一系列不同短路电流下的读数。
实验结果我们得到了以下实验结果:短路电流 (A) 电流表读数 (A)0.5 0.481 0.922 1.853 2.784 3.715 4.64通过实验数据的分析,我们可以得出以下结论:1.随着短路电流的增大,电流表读数也随之增大,符合电流与电阻成正比的关系。
2.实验结果表明,电路在不同短路电流下都能正常工作,并且电流表读数与预期值相符。
结论通过本次短路电流测试,我们验证了电力系统在短路情况下的电流响应能力。
实验结果表明,电路在不同短路电流下都能正常工作,并且电流表读数与预期值相符。
这说明电力系统具有良好的短路电流承受能力,可以在短路情况下保持稳定工作。
短路电流测试是电力系统工程中重要的一部分,通过该测试可以评估系统的安全性和可靠性。
在实际工程中,我们可以根据短路电流测试结果对系统进行调整和改进,以提高系统的短路电流承受能力,保证系统的安全运行。
参考文献无。
接地电阻测试仪短路试验步骤
接地电阻测试仪短路试验步骤1.准备工作:在进行接地电阻测试仪的短路试验前,首先需要做一些准备工作。
确保测试仪器处于关闭状态,并检查测试仪器是否处于正常工作状态。
同时,确认是否配备了相关的安全设备,如绝缘手套,绝缘靴等。
2.检查电源:检查测试仪器的电源是否连接正常,电源线是否损坏。
确保电源的电压和频率与设备规格一致。
3.接线:将测试仪器的传感器连接到需要测试的地面的接地电极上。
确保传感器连接紧固,并且连接处无松动。
4.短路试验:将测试仪器的探头连接到测试仪器上的短路试验端口上。
一般来说,短路试验端口是一个标有“短路试验”的孔。
5.打开电源:根据测试仪器的说明书,打开测试仪器的电源并待其启动完成。
等待一段时间,直到测试仪器的指示灯稳定亮起。
6.进行短路试验:在设备操作面板上选择相应的短路试验模式,通常是按下“测试”按钮或旋转选择开关。
在进行电流输入之前,测试仪器会产生一声警报音。
7.观察测量结果:在短路试验结束后,测试仪器会自动显示接地电阻的测量结果。
根据显示结果,判断接地电阻是否符合要求。
8.记录测量结果:将测量结果记录在相应的记录表格中,并进行签名和日期等信息的确认。
同时,还可以将测量结果保存在测试仪器的存储器中,以备后续分析和查看。
9.断开连接:在测试结束后,先将电源关闭,然后按照逆序将各个连接线松开,拆除传感器等。
10.清理和维护:清理测试仪器和传感器,确保其在下一次使用前处于良好的状态。
如有必要,可以对仪器进行校准和维修。
以上是接地电阻测试仪短路试验的详细步骤,通过按照以上步骤进行操作,可以有效地测试接地电阻并确保测试仪器的正常工作。
ictesting开短路测试(openshort)
ictesting开短路测试(openshort)开短路测试(openshort)开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路,及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好,探针卡或测试座是否有问题.x-D t b%}:j-开短路测试的测试原理比较简单,分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的二极管,一端接VDD,一端接VSS。
信号是从两个二极管的接点进来.测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD(0伏),然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏,下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.M c9g2s x }#e K F v:B,v P4W/o.Jopen_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏,然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏,下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.G+{ zS Z g5u w s V r)^ y数字,集成电路,IC,FAQ,Design compiler,数字信号处理,滤波器,DSP,VCS,NC,coverage,覆盖率,modelsim,unix,c,verilog,hdl,VHDL,IP,STA,vera,验证,primetime,FIFO,SDRAM,SRAM,IIR,FIR,DPLL所以对测试机里的测试器件来说,只要能给电流测电压的器件都能做开短路测试.只是精度有差异,效率有高低.。
ic半导体测试基础(中文版)
本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试(Open-Short Test),说说测试的目的和方法。
一.测试目的Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test,用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接,并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低,而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。
Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷,如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外,在测试开始阶段,Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题,如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。
二.测试方法Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及,但是对大多数器件而言,它的测试方法及参数都是标准的,这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Open-Short测试是一种串行(Serial)静态的DC测试。
首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”(即我们常说的清0),接着连接PMU到单个的DUT管脚,并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管(图3-1),一个正向的电流会流经连接到电源的二极管(图3-2),电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。
大家知道,当电流流经二极管时,会在其P-N结上引起大约0.65V的压降,我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流,那么我们必须设置电压钳制,去限制Open管脚引起的电压。
Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到,它的测试结果将会是3V。
串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试,当一个失效(failure)发生时,其准确的电压测量值会被数据记录(datalog)真实地检测并显示出来,不管它是Open引起还是Short导致。
开路电压短路电流法
开路电压短路电流法
开路电压短路电流法是一种常用的电路测试方法,它可以用来测量电路的电压和电流,以确定电路的性能和工作状态。
这种方法的基本原理是利用电路的开路电压和短路电流来计算电路的电阻和电流。
在使用开路电压短路电流法进行电路测试时,首先需要将电路的电源关闭,并将测试仪器连接到电路的两个端点上。
然后,通过测量电路的开路电压来确定电路的电势差,即电路两个端点之间的电压差。
接下来,将测试仪器的电流测量功能打开,并将测试仪器的两个探头短接在电路的两个端点上,以测量电路的短路电流。
通过测量电路的开路电压和短路电流,可以计算出电路的电阻和电流。
具体计算方法如下:
电路的电阻 = 电路的开路电压 / 电路的短路电流
电路的电流 = 电路的开路电压 / 电路的电阻
通过这种方法,可以快速准确地测量电路的电阻和电流,以确定电路的性能和工作状态。
这种方法适用于各种类型的电路,包括直流电路和交流电路。
需要注意的是,在进行电路测试时,应该选择合适的测试仪器,并按照正确的操作步骤进行测试,以避免误差和损坏测试仪器。
此外,还应该注意安全问题,避免触电和其他意外事故的发生。
开路电压短路电流法是一种简单有效的电路测试方法,可以用来测量电路的电阻和电流,以确定电路的性能和工作状态。
在进行电路测试时,应该选择合适的测试仪器,并按照正确的操作步骤进行测试,以确保测试结果的准确性和可靠性。
使用单片机测pcba开短路方法
使用单片机测PCBA开短路方法一、概述1. 介绍PCBA的概念和作用2. 引出本文主题:使用单片机测PCBA开短路方法的重要性和必要性二、PCBA开短路的原因及影响1. PCBA开短路的可能原因2. 开短路对PCBA的影响3. 为什么需要使用单片机进行开短路测试三、单片机测PCBA开短路的基本原理1. 单片机测PCBA开短路的工作原理2. 单片机开短路测试的优势和特点3. 单片机测PCBA开短路的实用性和必要性四、单片机测PCBA开短路的具体步骤1. 准备工作:准备所需的设备和工具2. 连接PCBA:将PCBA与单片机连接3. 编写测试程序:编写单片机测试程序4. 运行测试程序:运行测试程序进行开短路测试5. 分析测试结果:分析测试结果并处理异常情况五、单片机测PCBA开短路方法的应用案例1. 实际案例一:某电子产品PCBA的开短路测试过程及结果2. 实际案例二:另一电子产品PCBA的开短路测试过程及结果3. 对比分析两个案例的开短路测试结果及处理方法六、单片机测PCBA开短路方法的优缺点1. 优点:高效、精准、自动化2. 缺点:设备成本较高、需一定的技术水平七、总结1. 本文总结了使用单片机测PCBA开短路的方法和步骤2. 强调了单片机开短路测试的重要性和必要性3. 展望未来单片机开短路测试的发展方向和趋势八、参考文献1. 相关开短路测试方法的专业书籍和论文2. 相关开短路测试设备的技术手册和说明书以上就是使用单片机测PCBA开短路方法的高质量文章,我希望对你有所帮助。
九、未来发展趋势单片机测PCBA开短路方法作为一种先进的电子测试技术,将在未来得到更广泛的应用和发展。
未来,随着电子产品的不断发展和更新,PCBA的设计和制造技术也将不断迭代,开短路测试方法也将随之更新和改进。
一些可能的未来发展趋势包括:1. 更智能化的测试设备随着人工智能和物联网技术的发展,测试设备将越来越智能化。
智能测试设备将能够根据PCBA的特点和需求自动调整测试参数,提高测试的自适应性和准确性。
开关电源短路测试方法及测试标准科普
开关电源短路测试方法及测试标准科普一、什么是开关电源开关电源又称为开关电源适配器,是将交流电转换为直流电的一种电子装置。
它采用开关电压转换技术,在短时间内完成电能转换,具有效率高、体积小、重量轻等优点。
二、什么是开关电源短路测试开关电源短路测试是指在特定条件下,对开关电源进行短路负载测试。
通过该测试,可以检测开关电源在短路情况下的工作稳定性、输出电压稳定性以及短路保护功能。
三、开关电源短路测试方法1.准备工作在进行开关电源短路测试之前,需要准备以下工作:-开关电源适配器-电流表或电压表-开关电源测试线-短路负载电阻2.连接测试线首先,将电流表或电压表与开关电源适配器正确连接。
根据测试需要,选择合适的测试线,将其连接到开关电源输出端口和短路负载电阻上。
3.设置电流与电压根据测试要求,设置开关电源的输出电流或电压。
通常情况下,测试时会根据电源的额定输出电流或电压进行设置,以保证测试的准确性。
4.施加短路负载在设置好的输出电流或电压下,将短路负载电阻连接到开关电源的输出端口。
确保短路负载电阻的额定功率适用于测试电源的额定功率,以避免过载情况的发生。
5.测试结果记录与分析开启开关电源,并观察测试结果。
通过记录输出电流或电压的数值,并与开关电源的额定数值进行比较,可以评估开关电源在短路情况下的性能表现。
四、开关电源短路测试的标准1.短路保护开关电源短路测试的主要目的是检测开关电源的短路保护功能,即在短路负载情况下,电源能够迅速切断输出电流,并保护电源设备不受损。
通常情况下,开关电源的短路保护时限应在2秒以内。
2.输出电压稳定性开关电源的输出电压稳定性是指在短路情况下,输出电压的波动范围。
一般来说,开关电源的输出电压稳定性应在±5%的范围内。
3.过载保护开关电源的过载保护功能是指在超过额定输出电流或功率时,电源设备能够自动切断输出电流或功率,以保护电源及其连接的设备。
一般来说,开关电源的过载保护时限应在3秒以内。
线材测试开短路
線材測試開短路线材測試开短路当我们使用电子设备时,经常会遇到线材出现开路或短路的情况。
这些问题可能会导致设备无法正常工作或甚至损坏。
因此,我们需要进行线材测试,以确定问题所在并及时修复。
线材测试是一项非常重要的工作,它可以帮助我们检测线材的质量和连接性能。
在进行线材测试之前,我们需要准备一些工具,例如万用表、电源和测试电路等。
首先,我们需要将线材连接到相应的设备或电源上,然后使用万用表进行测试。
在进行线材测试时,我们需要关注两个主要问题:开路和短路。
开路是指线路中断,电流无法通过。
短路是指线路之间存在异常的连接,电流流过错误的路径。
这些问题都会导致电子设备无法正常工作。
为了测试线材是否存在开路问题,我们可以使用万用表的电阻测量功能。
首先,将万用表调至电阻测量档位,然后将两个测试探头分别连接到线材的两端。
如果万用表显示无穷大的电阻值,那么说明线材存在开路问题。
此时,我们需要检查线材是否受损或连接是否松动,并进行修复。
除了开路问题,短路也是线材测试中需要关注的重要问题之一。
为了测试线材是否存在短路问题,我们可以使用万用表的电阻测量功能或者直流电流测试功能。
在使用电阻测量功能时,将两个测试探头分别连接到线材的两端。
如果万用表显示接近于零的电阻值,那么说明线材存在短路问题。
此时,我们需要检查线材之间是否存在异常的接触或连接错误,并进行修复。
在使用直流电流测试功能时,我们需要将线材连接到电源和测试电路上。
然后,通过改变电源的电压和电流,观察线材是否能够正常承受电流的变化。
如果线材出现异常发热、熔化或者电流无法通过的情况,那么说明线材存在短路问题。
此时,我们需要检查线材是否受损、连接是否正确,并进行修复。
除了使用万用表进行线材测试外,我们还可以使用专业的线材测试设备进行测试。
这些设备通常具有更高的精度和更多的测试功能,可以帮助我们更准确地判断线材的质量和连接性能。
线材测试是一项非常重要的工作,它可以帮助我们及时发现和解决线材问题,确保电子设备的正常工作。
电器短路测试报告
电器短路测试报告报告编号:ELT-2024-001测试日期:2024年1月15日测试地点:XXX公司电器实验室一、测试目的和背景:本次测试旨在评估电器设备在短路条件下的安全性能。
通过模拟短路情况,检测电器设备在短路时是否能及时断开电源,避免损坏和安全事故的发生。
测试对象包括电源插座、电线、开关等电器相关设备。
二、测试方法:1.确定测试设备:选择多种类型的电器设备,包括低功率小家电、办公设备等,确保测试结果的全面性和代表性。
2.准备测试环境:在实验室中建立符合安全要求的测试环境,设置短路保护装置和安全应急措施。
3.进行短路测试:将测试设备依次连接到电源插座,通过增加测试电流模拟电器负荷,观察电器设备在短路状态下的反应。
4.记录测试数据:记录测试过程中的电流变化、电压变化、设备反应等数据,以及发生的任何异常情况。
三、测试结果:根据测试数据和实验观察,总结如下:1.短路保护功能评估:对于配备短路保护功能的电器设备,我们测试了其短路保护功能的可靠性和反应时间。
结果显示,这些设备能够在短路发生后迅速切断电源,保护设备和使用者免受损害。
所有短路保护功能正常的设备都能在1秒内自动断电,符合安全要求。
2.电器设备的耐受能力评估:测试了电器设备在短路状态下的耐受能力。
结果显示,大部分设备在遭受短路后能够正常工作,未出现异常情况。
但少数设备在短路后无法正常工作,可能是由于内部元件损坏或设计不合理导致。
我们建议对这些设备进行检修和改进。
3.短路发生时的设备反应评估:测试了电器设备在短路状态下的反应情况。
结果显示,大部分设备在短路后能够迅速停止工作,电流迅速降为零,有效避免了电器设备燃烧或爆炸的风险。
然而,一些设备在短路后仍然维持正常工作状态,存在安全隐患。
我们建议对这些设备进行改进,增加短路保护装置以提高安全性。
四、结论:通过电器短路测试,我们评估了电器设备的短路保护功能、耐受能力以及短路时的设备反应情况。
大部分设备在短路测试中表现良好,但仍有少部分设备存在安全隐患,需要立即采取措施进行改进。
短路测试方法(一)
短路测试方法(一)短路测试在软件测试中,短路测试是一种针对程序控制流结构的黑盒测试方法,用于找出程序中的逻辑错误,它通过检测程序是否能够正确处理各种输入状况,以检查程序能否正确地执行。
短路测试的定义短路测试可以定义为一种将程序控制流图的分支构成一组测试用例的方法。
短路测试方法通常与序列点测试、判定测试和分支测试相关联。
短路测试方法短路测试方法可以采用以下几种方式:1.语句覆盖语句覆盖测试方法的目标是观察程序对于每个语句的行为是否符合预期。
执行语句覆盖测试时,需要覆盖每个关键语句,以保证程序能够按照预期进行。
2.分支覆盖分支覆盖测试方法的目标是观察程序对于每个分支的行为是否符合预期。
执行分支覆盖测试时,需要确保程序处理不同情况的方式符合预期,以保证程序正确地工作。
3.条件覆盖条件覆盖测试方法的目标是观察程序对于各种条件的行为是否符合预期。
执行条件覆盖测试时,需要覆盖每个分支,并确保程序能够正确地解析和处理各种条件。
4.判定覆盖判定覆盖测试方法的目标是观察程序对于每个判定的行为是否符合预期。
执行判定覆盖测试时,需要确保程序正确地处理条件,以保证程序能够按照预期运行。
确定短路测试方法在实际应用中,确定短路测试方法需要考虑以下几点:1.目标确定测试方法的目标是首要任务。
针对不同的目标,需采用不同的测试方法。
2.测试覆盖率确定测试覆盖率是指需要覆盖测试中的哪些部分,例如语句、分支或条件等。
3.测试用例设计根据测试覆盖率和测试目标,设计出测试用例并进行测试。
4.测试结果分析根据测试结果,分析测试结果中的成功或失败信息。
失败信息可以指出软件程序中的错误。
此后,根据错误信息对程序进行修正或优化。
总结短路测试是一种针对程序控制流结构进行测试的方法,它可以帮助我们找出程序中的逻辑错误。
一般短路测试方法包括语句覆盖、分支覆盖、条件覆盖和判定覆盖等方法。
确定测试方法需要考虑测试的目标、测试覆盖率、测试用例设计和测试结果分析等方面。
ict测试开短路标准
ICT测试开短路标准一、测试设备准备1. 准备好测试所需的ICT测试设备,包括测试仪器、测试夹具、测试软件等。
2. 对测试设备进行检查和校准,确保设备的准确性和可靠性。
二、测试环境要求1. 确保测试环境干净整洁,无干扰和噪音。
2. 控制好温度和湿度,保证测试结果的稳定性和可靠性。
三、测试样品准备1. 准备好需要测试的样品,确保样品的质量和数量满足测试要求。
2. 对样品进行预处理,如清洁、烘干、拆解等。
四、测试方法及步骤1. 根据产品的规格和要求,设置好测试参数和测试条件。
2. 按照测试流程进行测试,如连接测试夹具、启动测试软件、记录测试数据等。
3. 在测试过程中,注意观察测试数据的变化和异常情况。
五、测试数据记录与分析1. 记录测试数据,包括开路和短路测试的数据。
2. 对测试数据进行整理和分析,得出测试结果。
3. 将测试结果与标准值进行比较,判断样品是否符合要求。
六、异常处理及报告1. 如果在测试过程中出现异常情况,应立即停止测试,检查设备和样品是否有问题。
2. 如果测试结果不符合要求,应重新进行测试,并对不合格的样品进行处理和记录。
3. 将异常情况和测试结果及时报告给相关人员。
七、测试报告撰写1. 根据测试数据和分析结果,撰写测试报告。
2. 测试报告应包括测试时间、测试人员、样品信息、测试数据、结论等。
3. 将测试报告提交给相关人员进行审核和批准。
八、测试结果审核与批准1. 相关人员对测试报告进行审核,确认测试结果的准确性和可靠性。
2. 如果审核通过,即可根据测试结果做出相应的决策和处理方案。
如果审核未通过,则需要重新进行测试或对样品进行处理。
芯片开短路测试原理
芯片开短路测试原理芯片开短路测试原理芯片开短路测试是对集成电路的一种质量检测手段,可以在制造过程中及时发现芯片内部的开路和短路情况,以确保芯片的质量。
一、测试原理芯片的开短路测试是通过测试仪器对芯片的电路走线网络进行电测试,根据芯片设计时的原理图,将测试仪器的测试点与芯片的端口相连接,通过测试仪器发送电信号,检测芯片的响应信号,从而得到芯片的电路信息。
二、测试方法芯片的开短路测试方法通常分为静态测试和动态测试。
1. 静态测试静态测试是对芯片的电路进行静态电参数测试,即测试一段时间内芯片的状态、数据、信号等是否正常。
这种测试方法应用较广泛,可以用于芯片的功能测试、检测芯片中的短路及开路等。
2. 动态测试动态测试是对芯片的电路进行动态测试,即在一段时间内对芯片的信号进行采集、分析和判断,确定芯片的运作情况是否符合设计要求。
这种测试方法适用于高速数字信号、频率信号、时钟信号等测试。
三、开短路测试流程1. 芯片样品的准备将芯片样品装进测试架,并保证其与测试电脑连接正常。
同时,需要进行芯片和测试仪器的参数设定,以适应具体的测试需求。
2. 测试程序的编写根据芯片的设计原理图,编写测试程序,并进行相应的调试和校准,以确保测试程序正常运行并正确输出测试结果。
3. 测试芯片的开短路情况将测试仪器的测试点与芯片的端口相连接,并发送电信号对芯片进行测试,根据测试结果判断芯片的开短路情况,并输出测试结果。
4. 测试结果的分析与判断根据测试结果,分析芯片的电路运作情况,判断芯片是否符合设计要求,并对测试结果进行评估,以为后续的制造和改进提供数据支持。
四、注意事项在进行芯片的开短路测试时需注意以下几点:1. 确保芯片样品与测试仪器的连接正常和稳定,避免因连接问题造成的错误测试结果。
2. 针对芯片的不同特性,采用不同的测试方法和流程,以确保测试结果的准确性和有效性。
3. 注意测试仪器的使用和维护,及时进行校准和保养。
4. 对于测试结果出现异常情况,需要及时进行反馈、重新测试和分析,以排除测试误差。
短路测试仪操作规程
短路测试仪操作规程文件阶层三阶文件文件编号版次A0 页码
1、操作前准备
1.1开机前先清洁设备表面和测试笔的接触位置;
1.2检查设备电源及各开关按钮是否正常使用;
1.3检查仪表开关及指示灯是否良好无松动且处在打开状态;
2、作业步骤
2.1开机:先接通电源,并使报警开关处在打开状态;
2.2用测试笔两端分别触碰电芯两端极耳;通过不同状态指示灯的显示和报警器状态判断电芯是否良好;
2.3关机:关闭电源,收好表笔;
3、设备保养
3.1每天用细砂纸轻轻打磨测试笔接触位置,防止测试笔不干净或表面氧化影响测试效果;
3.2每天清洁设备表面;
4、安全控制
4.1设备必须做好防水防潮;
4.2不得双手同时触摸两只测试笔。
短路测试仪。
万用表测短路使用方法
万用表测短路使用方法万用表是电工常用的一种电工测量工具,它可以用来测量电压、电流、电阻等电学量,同时也可以用来测短路。
在进行电路维修和故障排除时,测短路是非常重要的一步。
接下来我们将介绍万用表测短路的使用方法。
首先,我们需要了解什么是短路。
短路是指电路中两个不同的节点之间直接相连,导致电流绕过原本的路径,造成电路异常。
短路可能导致电路过载、设备损坏甚至引发火灾,因此及时发现和修复短路是非常重要的。
在使用万用表测短路之前,首先需要将被测电路断电,并确保电路处于绝缘状态,以免发生触电事故。
接下来,我们可以按照以下步骤进行测量:1. 选择测量模式,将万用表拨到电阻档位,通常是Ω档位,这是用来测量电路中的电阻值的模式,也可以用来测短路。
2. 测量两端,将测量笔分别连接电路中被怀疑存在短路的两个节点,然后读取万用表上显示的电阻值。
如果显示为“0”或者非常接近于“0”,则说明存在短路。
3. 排除其他因素,在进行测量时,需要排除其他因素对测量结果的影响,比如可能存在的并联电阻、测量笔与电路其他部分的接触等。
4. 确认短路位置,一旦确认存在短路,需要进一步确定短路的具体位置,可以通过逐步排除的方法,将测量笔依次连接到电路的不同部分,直到找到短路位置。
5. 修复短路,一旦确定了短路的位置,需要及时修复短路,可以采取更换短路部件、修复损坏线路等方法来解决问题。
总之,万用表是电工在进行电路维修和故障排除时必不可少的工具,它可以帮助我们快速准确地找到短路的位置,为后续的维修工作提供重要参考。
在使用万用表测短路时,需要注意安全,确保电路处于断电绝缘状态,同时要正确选择测量模式,并排除其他因素的影响,以获得准确的测量结果。
希望以上内容对大家有所帮助,谢谢阅读!。
接地电阻测试仪短路试验步骤
接地电阻测试仪短路试验步骤步骤一:检查设备首先,检查接地电阻测试仪的外观是否完好无损,查看电缆、电极等部件是否有损坏。
确认设备和连接线的接线端子是否干净无锈迹。
步骤二:准备测试环境确保测试所在的环境是安全的,电压稳定。
避免雨天、雷电天气或高温环境进行测试工作,以免对测试人员和设备造成损害。
步骤三:设置仪器参数打开接地电阻测试仪并根据实际要求进行参数设置。
设置时间、电流等参数以及测试值的容许误差等。
步骤四:连接接地电极将测试仪的接地电极与要测试的接地系统电极连接起来。
确保接地电极和测试仪之间的连接牢固可靠,避免接触不良导致测量误差。
步骤五:短路测试将测试仪置于短路测试模式,并将电流设置为适当的数值。
让测试仪自动进行短路测试,此时测试仪会通过电流源产生一定的电流,并测量回路电阻。
步骤六:记录测量结果测试仪会显示测试结果,包括接地电阻值等。
使用记录仪器对测量值进行记录,以备后续分析和比对。
步骤七:判断结果根据测试仪上所设定的容许误差值,判断测量结果是否合格。
如果测试结果在容许误差范围内,则认为接地系统的电阻值符合要求;如果测试结果超出容许误差范围,则需要对接地系统进行进一步的检修或改进。
步骤八:拆卸设备测试完成后,拆卸好设备并做好清理工作。
将仪器和连接线进行清洁,放置在干燥通风的地方进行存放。
总结:接地电阻测试仪的短路试验是非常重要的一项工作,可以通过此项测试来判断测试仪是否正常工作。
一旦测试仪无法正常短路测试,就无法准确测量接地系统的电阻值。
在进行测试之前要进行设备的检查和准备工作,确保环境安全以及仪器参数的设置。
在测试过程中要注意测试仪和接地电极的连接牢固,并根据测试仪的指示进行操作。
最后要记录测试结果并根据设定的容许误差范围对测试结果进行判断。
通过短路试验,可以为后续的接地电阻测试工作奠定基础,保证接地系统的安全可靠运行。
变压器短路与开路试验
变压器短路与开路试验变压器是电力系统中常见的重要设备,用于变换交流电压。
为了确保变压器的稳定运行和安全可靠性,短路与开路试验是必不可少的。
本文将介绍变压器的短路试验和开路试验的目的、步骤和相关参数。
一、短路试验短路试验是用于测试变压器在短路条件下的性能以及损耗和效率的试验。
短路试验的主要目的包括:1. 测试变压器的短路阻抗,以确定其短路电流和短路损耗。
2. 测试变压器的漏阻抗和变比误差。
下面是进行短路试验的步骤:1. 将变压器的高压侧短路,通常是通过连接一块适当容量的电阻来实现。
2. 测量并记录短路试验时的电压和电流值。
3. 根据测得的数据计算变压器的短路阻抗和短路损耗。
在进行短路试验时,需要注意以下参数:1. 短路电流:短路试验的目的之一是确定变压器在额定电压和额定频率下的短路电流。
这对于保护变压器和电力系统的正常运行非常重要。
2. 短路损耗:短路试验还可用于确定变压器在短路状态下的损耗。
这对于评估变压器的性能和效率至关重要。
二、开路试验开路试验是用于测试变压器在无负载条件下的性能的试验。
开路试验的主要目的包括:1. 测试变压器的无功损耗和空载电流。
2. 测试变压器的空载电压和变比误差。
下面是进行开路试验的步骤:1. 断开变压器的低压侧负载,使其处于无负载状态。
2. 测量并记录开路试验时的电压和电流值。
3. 根据测得的数据计算变压器的无功损耗和空载电压。
在进行开路试验时,需要注意以下参数:1. 无功损耗:开路试验可用于确定变压器在无负载状态下的无功损耗。
这对于评估变压器的性能和节能性能至关重要。
2. 空载电流:开路试验还可用于确定变压器在无负载状态下的空载电流。
这对于保护变压器和电力系统的正常运行非常重要。
总结:变压器的短路试验和开路试验是确保其稳定运行和安全可靠性的重要手段。
短路试验主要用于测量短路阻抗和损耗,而开路试验主要用于测量无功损耗和空载电流。
通过对这些试验的合理设计和准确测量,可以评估变压器的性能并确保其正常运行。
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#include <reg51.h> //51单片机定义寄存器的头文件#include <stdio.h> //51单片机的申明库函数,软件自带#include <intrins.h> //包含循环左移,右移,一个机器周期延时的头文件,软件自带#define uchar unsigned char#define uint unsigned intuchar n; //总共的不良点数uint i; //已经测到的点#define delayNOP(); {_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();};void delay_ms(int ms); //延时1mssbit P_HC595_SER = P3^5; //pin 14 SER data inputsbit P_HC595_SRCLK = P3^6; //pin 11 SRCLK Shift data clocksbit P_HC595_RCLK = P2^4; //pin 12 RCLk store (latch) clocksbit P_HC595B_SER = P3^2; //pin 14sbit P_HC595B_SRCLK = P3^3; //pin 11sbit P_HC595B_RCLK = P3^4; //pin 12sbit BEEP = P3^7;sbit pass = P3^0;sbit fall = P2^1;sbit SW2 = P2^2;sbit SW1 = P2^3;sbit SW3 = P2^0;sbit LCD_RS = P2^5; //显示屏4脚指令类型sbit LCD_RW = P2^6; //显示屏5脚读写sbit LCD_EN = P2^7; //显示屏6脚使能#define cs_data P1#define LCD_DATA P0// 定义数据uchar cdis_11 [ ] = {" PCB:-- "};uchar cdis_12 [ ] = {" Pin:-- "};uchar cdis_13 [ ];uchar cdis_14 [ ];uchar sd_tata_l[16];uchar sd_tata_h[16];uchar sd_tata_1[116];uchar sd_tata_2[116];//uchar sd_tata_3[116];//uchar sd_tata_4[116];//uchar sd_tata_5[116];//uchar sd_tata_6[116];//uchar sd_tata_7[116];#include "001-1602显示屏.h"#include "002-EEPROM读、写.h"#include "003-595.h"//==============================================//延时1ms函数//==============================================void delay_ms(int ms){unsigned char i;while(ms--){ for(i = 0; i<120; i++);}}//==================================================== =========================// 蜂鸣器响二声OK//==================================================== =========================void beep(){ unsigned char i;for (i=0;i<4;i++){ BEEP=!BEEP; delay_ms(40);} //取反并延时}//==================================================== =========================// 蜂鸣器响一声NG//==================================================== =========================void beep_NG(){ unsigned char i;for (i=0;i<2;i++){ BEEP=!BEEP; delay_ms(400);} //取反并延时}//==================================================== =========================// 计算加显示//=============================================================================void xianshi(){ uint a,b,c,d;d=((i/16)+1)/10; //求板十位c=((i/16)+1)%10; //求板个位b=((i%16)+1)/10; //求点十位a=((i%16)+1)%10; //求点个位LCD_disp_char(6, 1, d+0x30); //显示板十位LCD_disp_char(7, 1, c+0x30); //显示板个位LCD_disp_char(6, 2, b+0x30); //显示点十位LCD_disp_char(7, 2, a+0x30); //显示点个位}//==================================================== =========================// 不良结果处理//==================================================== =========================void fall_out(uchar l_h,s){uchar y; //uchar spot; //开路与短路点的位置uchar KL_DL; //开路与短路显示的量uchar dat; //开路与短路数据差BEEP=0;fall=0;n=n+1; //不良数加一if(cs_data >sd_tata_l[i]) // 区分开路与短路{dat=cs_data- sd_tata_l[i] ; //找出开路点的位置KL_DL=0x4b;}else // 短路{dat=sd_tata_l[i] - cs_data; //找出短路点的位置KL_DL=0x44;}for(y=1; y<9; y++){if(dat & 0x01) //最低位是否为1{spot= y;break;}dat = dat >> 1;}spot=spot+l_h;xianshi();LCD_disp_char(10 ,1 ,0X4e) ; //第一位数显示"N "(0X4e) LCD_disp_char(11 ,1 ,0X47) ; //第二位数显示"G "(0X47) LCD_disp_char(12 ,1 ,0x28); //第三位数显示"( "(0X28) LCD_disp_char(13 ,1 ,(n/10)+0x30); //显示这个板已测NG的点LCD_disp_char(14 ,1 ,(n%10)+0x30); //显示这个板已测NG的点LCD_disp_char(15 ,1 ,0x29); //显示") "(0X29)LCD_disp_char(8, 2, 0x2d); //显示LCD_disp_char(9, 2 ,(spot/10)+0x30); //显示这个板NG的点LCD_disp_char(10,2 ,(spot%10)+0x30); //显示这个板NG的点LCD_disp_char(11,2 , 0x20); //LCD_disp_char(12,2 , KL_DL); //显示K DLCD_disp_char(13,2 , 0x4c); //显示LI1: if (SW1==0) //按绿色键接着测试{ delay_ms(15);while(!SW1);BEEP=1;fall=1 ;display(); //待机显示}else if (SW2==0) //按红色键不良数加50{ while(!SW2);delay_ms(15);BEEP=1;n=n+50 ;}else{ goto I1;} //重复检测按键}//=================================================== // 学习程序//=================================================== void xie_xi(){uint i;while(SW3); //合上治具没有?delay_ms(16);BEEP = 1;Send_595_wei (1,480); //输入点全部置1Send_595_wei (0, 1 ); //输入点送一个0 第一点开始Send_595B_wei(1, 30 ); //输出点全部置1Send_595B_wei(0, 1 ); //输出点送一个0IAP_erase (0x00, 0x00); //扇区擦除-(高8位地址,低8位地址)IAP_write (0x00, 0x00,cs_data); //写数据-(高8位地址,低8位地址,数据值)Send_595B_wei(1, 1); //输出点送一个1IAP_erase (0x10, 0x00); //扇区擦除-(高8位地址,低8位地址)IAP_write (0x10, 0x00,cs_data); //写数据-(高8位地址,低8位地址,数据值)//----------------------------------------------------------for(i=1;i<16;i++) //{Send_595_wei (1, 1); //输入点送一个1 第二点开始Send_595B_wei(1,30); //全部置1Send_595B_wei(0, 1); //输出点送一个0 高8位IAP_write (0x80, i ,cs_data); //写数据-(高8位地址,低8位地址,数据值)Send_595B_wei(1, 1); //输出点送一个1IAP_write (0x90, i ,cs_data); //写数据-(高8位地址,低8位地址,数据值)}pass=0;beep();LCD_disp_char(10 ,1 ,0X50) ; //第一位数显示"p "(0X50)LCD_disp_char(11 ,1 ,0X41) ; //第二位数显示"a "(0X41)LCD_disp_char(12 ,1 ,0x53); //第三位数显示"s "(0X53)LCD_disp_char(13 ,1 ,0x53); //第三位数显示"s "(0X53) }//=================================================== // 测试程序//=================================================== void cscy (){uint w_data;beep();for(w_data=0;w_data<16;w_data++)sd_tata_l[w_data]=IAP_read (0x00, w_data) ; //读数据-(高8位地址,低8位地址)for(w_data=0;w_data<16;w_data++)sd_tata_h[w_data]=IAP_read (0x10, w_data) ;//------------------------------------------------------------------while(1){ i=0;T1: while(!SW3); //打开治具没有?delay_ms(16);while(SW3); //合上治具没有?cs_data =0xff; i=0; n=0; BEEP=1; fall=1; pass=1;delay_ms(16);display(); //待机显示while(SW1); //开始测试?delay_ms(16);while(!SW1);Send_595_wei (1,480); //输入点全部置1Send_595_wei (0, 1 ); //输入点送一个0Send_595B_wei(1, 30 ); //输出点全部置1Send_595B_wei(0, 1 ); //输出点送一个0if(cs_data != sd_tata_l[i]) //第一点前8位测试{fall_out(0);if(n>=50)goto T1;}elsexianshi();// delay_ms(150);Send_595B_wei(1, 1); //输出点送一个1if(cs_data != sd_tata_h[i]) //第一点后8位测试{fall_out(8);if(n>=50)goto T1;}elsexianshi();// delay_ms(150);//---------------------------------------------------------- for(i=1;i<480;i++) //16*30=480{Send_595_wei (1, 1); //送一个1 第二点开始Send_595B_wei(1,30); //全部置1Send_595B_wei(0, 1); //输出点送一个0Send_595B_wei(1,(i/16)*2); //跳过已测试的板if(cs_data != sd_tata_l[i%16])//前8位测试{fall_out(0); //单步NG处理if(n>=50)goto T1;}else //单步OK处理xianshi();// delay_ms(150);Send_595B_wei(1, 1); //输出点送一个1if(cs_data != sd_tata_h[i%16]) //后8位测试{fall_out(8);if(n>=50)goto T1;}elsexianshi();// delay_ms(150);}if(n==0 ) //全部测完后OK处理{pass=0;beep();LCD_disp_char(10 ,1 ,0X50) ; //第一位数显示"p "(0X50)LCD_disp_char(11 ,1 ,0X41) ; //第二位数显示"a "(0X41)LCD_disp_char(12 ,1 ,0x53); //第三位数显示"s "(0X53)LCD_disp_char(13 ,1 ,0x53); //第三位数显示"s "(0X53)}else //全部测完后NG处理{LCD_disp_char(10 ,1 ,0X4e) ; //第一位数显示"N "(0X4e)LCD_disp_char(11 ,1 ,0X47) ; //第二位数显示"G "(0X47)LCD_disp_char(12 ,1 ,0x28); //第三位数显示"( "(0X28)LCD_disp_char(13 ,1 ,(n/10)+0x30); //显示这个板已测NG的点LCD_disp_char(14 ,1 ,(n%10)+0x30); //显示这个板已测NG的点LCD_disp_char(15 ,1 ,0x29); //显示") "(0X29)while(!SW3) //打开治具没有?beep_NG();}}}//=================================================== // 主程序//=================================================== void main(void){delay_ms(80); //延时lcd_init(); //初始化LCDBEEP=1; //关闭蜂鸣器display(); //待机显示//================================================== while(1){ uchar m=0;while(SW1); //按下按键没有?I1: delay_ms(150);if(SW1) //3秒钟前进入测试程序{cscy () ; }elseif (m<20){m++;goto I1;}else //3秒钟后进入学习程序{while(!SW1) //放开?beep_NG();BEEP = 0;xie_xi();}}}感谢下载!欢迎您的下载,资料仅供参考。