第三章.基于PMU的开短路测试
ic半导体测试基础(中文版)
本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。
一．测试目的Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。
Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外，在测试开始阶段，Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。
二．测试方法Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Open-Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。
首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图3-2），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。
大家知道，当电流流经二极管时，会在其P-N 结上引起大约0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Open管脚引起的电压。
Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。
串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Open引起还是Short导致。
IC测试原理-IC设计必备宝典
半导体电路最初是以晶圆形式制造出来的。晶圆是一个圆形的硅片，在这个半导体 的基础之上，建立了许多独立的单个的电路；一片晶圆上这种单个的电路被称为 die（我前 面翻译成"晶片"，不一定准确，大家还是称之为 die 好了），它的复数形式是 dice.每个 die 都是一个完整的电路，和其他的 dice 没有 电路上的联系。
在一个 Die 封装之后，需要经过生产流程中的再次测试。这次测试称为“Final test” （即我们常说的 FT 测试）或“Package test”。在电路的特性要求界限方面，FT 测试通常执 行比 CP 测试更为严格的标准。 芯片也许会在多组温度条件下进行多次测试以确保那些对 温度敏感的特征参数。商业用途（民品）芯片通常会经过 0℃、25℃和 75℃条件下的测试，
第 3 章 基于 PMU 的开短路测试 更多.. Open-Short Test 也称为 Continuity Test 或 Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引 脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电 源或地发生短路... 第 1 节 测试目的 第 2 节 测试方法
第1节 晶圆的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技 术变得越来越重要。以前许多单个的晶体管现在可以互联加工成一种复 杂的集成的电路形 式，这就是半导体工业目前正在制造的称之为"超大规模（" VLSI，Very Large Scale Integration） 的集成电路，通常包含上百万甚至上千万门晶体管。
电力系统中基于PMU的故障诊断方法研究
电力系统中基于PMU的故障诊断方法研究随着电力系统的规模日益扩大，系统中发生故障的概率也越来越高。
这些故障会导致电力系统停运，给供电企业和用户带来很大的经济损失和不便。
因此，研究故障的诊断方法是电力系统领域的重要研究方向之一。
而基于PMU的故障诊断方法是当前电力系统中研究得比较多的一种方法。
PMU（Phasor Measurement Unit）原名“相量测量装置”，是一种新型的数字化电力测量仪器。
它能够对电力系统中各个关键部位的电压、电流等重要参数进行高精度、高速度的采集。
利用PMU采集的数据，可以对电力系统中发生的各种故障进行实时的监控和诊断。
在电力系统中，各个设备之间是相互关联的。
如果一个设备发生故障，就可能导致系统的其他设备也发生故障，最终导致系统崩溃。
因此，实时监测和诊断系统中的故障是非常必要的。
而PMU作为一种高精度、高速度的电力测量仪器，可以为系统的故障诊断提供重要的数据支持。
基于PMU的故障诊断方法主要包括两个方面：故障诊断算法和监测设备的部署。
首先来看故障诊断算法。
目前已经研究出了多种基于PMU的故障诊断算法，其中比较常用的有基于小波变换的方法、基于模式识别的方法、基于统计学方法等。
这些方法都有各自的优缺点，需要根据实际情况选择合适的方法。
例如，基于小波变换的方法适用于非平稳电力信号的分析；而基于模式识别的方法则适用于识别一些常见的故障模式。
除了算法之外，PMU的部署也是故障诊断的关键。
要想利用PMU对电力系统进行故障诊断，就需要在电力系统中合理地部署PMU设备。
PMU的部署需要考虑多个因素，包括监测的区域、监测的设备、PMU之间的时间同步等。
在部署PMU 时，需要充分考虑这些因素，选择合适的设备位置和数量，以最大限度地发挥PMU的诊断功能。
总体来说，基于PMU的故障诊断方法是电力系统中一种重要的诊断手段。
PMU的高精度、高速度的电力测量功能可以为故障的监测和诊断提供重要的数据支持。
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本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。
一．测试目的Open-Short T est也称为ContinuityT est或Contact T est，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。
Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外，在测试开始阶段，Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。
二．测试方法Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Open-Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。
首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图3-2），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。
大家知道，当电流流经二极管时，会在其P-N结上引起大约0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Open管脚引起的电压。
Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。
串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Open引起还是Short导致。
AUTO HANDLER及测试基础知识
.基于PMU的开短路测试—对地二极 管
• 测试下方连接到地的二极管，用PMU抽取 大约-100uA的反向电流；设置电压下限为1.5V，低于-1.5V（如-3V）为开路；设置电 压上限为-0.2V，高于-0.2V（如-0.1V）为短 路。此方法仅限于测试信号管脚（输入、 输出及IO口），不能应用于电源管脚如VDD 和VSS.
基于PMU的开短路测试—对地二极 管
基于PMU的开短路测试—电源二极 管
• 测试上方连接到电源的二极管，用PMU驱动大约 100uA的正向电流；设置电压上限为1.5V，高于1.5V （如3V）为开路；设置电压下限为0.2V，低于0.2V （如0.1V）为短路。此方法仅限于测试信号管脚 （输入、输出及IO口），不能应用于电源管脚如 VDD和VSS. • • 电源类管脚结构和信号类管脚不一样，无法照 搬上述测试方法。不过也可以测试其开路情形，如 遵循已知的良品的测量值，直接去设置上下限。
•
•
其它
• 读取&记录 测试 读取和记录是指测量DC和AC参数值并将实测值保存到纸张 页面（通过一个打印机）或磁盘文件的一种测试风格。我们可 以通过这种类型的测试分析每个器件的精确性能。军品规格器 件往往需要这种风格的测试。可以通过测试系统的存储器 （datalogger）或系统窗口来报告这方面的资料。 Go-Nogo测试 Go-Nogo测试则和“读取&记录”相反，器件的那些精确测 量参数不被记录，而只是为每个参数设定pass或fail的界限。测 试通过只是说明器件符合性能要求，但是它距离不合格有多少 裕量则没人知道。很多的生产测试都采用Go-Nogo的测试风格， 因为它的速度比“读取&记录”快得多。
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基于PMU的电力系统不良数据检测与辨识的开题报告
基于PMU的电力系统不良数据检测与辨识的开题报告一、研究背景随着电力系统规模不断扩大以及电网结构越来越复杂，电力系统中的各种异常和故障也不断增加，传统的基于SCADA（Supervisory Control And Data Acquisition，监控与数据采集）数据的故障检测和诊断方法已经不能满足实际需求。
同时，近年来，随着电力系统中 PMU（Phasor Measurement Unit，相量测量装置）数据的普及，PMU 数据已经成为电力系统异常和故障检测的重要数据源之一，其对于电力系统的监测和诊断具有重要作用。
因此，本课题将以 PMU 数据为基础，研究电力系统中不良数据的检测和辨识方法，有效提高电力系统的监测与诊断精度和效率，具有重要的理论和实用价值。
二、研究目的与意义本课题的主要研究目的在于探索基于 PMU 数据的电力系统不良数据检测方法，建立健全的电力系统不良数据辨识和诊断模型，为电力系统监测和诊断提供高效且准确的解决方案。
其涵盖的内容包括：1. PMU 数据的特点及其在电力系统中的应用；2. 电力系统中不良数据的类型和产生原因，以及如何利用 PMU 数据对其进行检测与辨识；3. 不良数据检测和诊断模型的建立和优化方法。
本研究的意义在于：1. 提高电力系统监测和诊断的精度和效率；2. 为电力系统异常和故障的快速发现和诊断提供理论依据和技术支持；3. 推动电力系统监测和诊断技术的进一步发展。
三、研究内容及方法本课题主要包含以下内容：1. PMU 数据的特点及其在电力系统中的应用电力系统中的 PMU 部署及其应用领域，介绍 PMU 数据与 SCADA 数据的主要区别。
2. 电力系统中不良数据的类型和产生原因介绍电力系统中常见的不良数据类型及其产生原因，如何利用 PMU 数据对其进行检测与辨识。
3. 不良数据检测和诊断模型的建立和优化方法建立电力系统不良数据检测模型，并进行优化。
研究方法主要包括：1. 调研和总结相关文献资料，分析电力系统中的 PMU 数据和不良数据类型；2. 构建电力系统不良数据检测和诊断模型，包括：模型的建立和参数的优化；3. 利用实际电力系统数据来验证模型的准确性和可行性。
《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》_中文版C
第二章.半导体测试基础
三．测试系统
测试系统称为 ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量 仪器、信号发生器、模式（pattern）生成器和其他硬件项目的集合体，用于模仿被测器件将会在应 用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。 测试系统硬件由运行一组指令 （测试程序） 的计算机控制， 在测试时提供合适的电压、 电流、 时序和功能状态给 DUT 并监测 DUT 的响应，对比每次测试的结果和预先设定的界限，做出 pass 或 fail 的判断。 测试系统的内脏 图 2-1 显示所有数字测试系统都含有的基本模块，虽然很多新的测试系统包含了 更多的硬件，但这作为起点，我们还是拿它来介绍。 “CPU”是系统的控制中心，这里的 CPU 不同于电脑中的中央处理器，它由控制测 试系统的计算机及数据输入输出通道组成。许多新的测试系统提供一个网络接口用以传输测试 数据；计算机硬盘和 Memory 用来存储本地数据；显示器及键盘提供了测试操作员和系统的接 口。
图 2-2. PMU 状态模拟图 驱动模式和测量模式（Force and Measurement Modes） 在 ATE 中，术语“驱动（Force） ”描述了测试机应用于被测器件的一定数值的电流 或电压，它的替代词是 Apply，在半导体测试专业术语中，Apply 和 Force 都表述同样的意思。 在对 PMU 进行编程时，驱动功能可选择为电压或电流：如果选择了电流，则测量 模式自动被设置成电压；反之，如果选择了电压，则测量模式自动被设置成电流。一旦选择了 驱动功能，则相应的数值必须同时被设置。 驱动线路和感知线路（Force and Sense Lines） 为了提升 PMU 驱动电压的精确度，常使用 4 条线路的结构：两条驱动线路传输电 流，另两条感知线路监测我们感兴趣的点（通常是 DUT）的电压。这缘于欧姆定律，大家知道， 任何线路都有电阻，当电流流经线路会在其两端产生压降，这样我们给到 DUT 端的电压往往小 于我们在程序中设置的参数。 设置两根独立的（不输送电流）感知线路去检测 DUT 端的电压，反馈给电压源， 电压源再将其与理想值进行比较，并作相应的补偿和修正，以消除电流流经线路产生的偏差。 驱动线路和感知线路的连接点被称作“开尔文连接点” 。
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ic半导体测试基础(中文版)本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。
一．测试目的Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。
Open-Short 测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外，在测试开始阶段，Open-Short 测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket没有正确的连接。
二．测试方法Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Open-Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。
首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图3-2），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。
大家知道，当电流流经二极管时，会在其P-N结上引起大约0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Open管脚引起的电压。
Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。
串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Open引起还是Short导致。
一种基于PMU的配电网故障定位系统及其方法[发明专利]
![一种基于PMU的配电网故障定位系统及其方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/0f670fc13169a4517623a327.png)
专利名称：一种基于PMU的配电网故障定位系统及其方法专利类型：发明专利
发明人：程新功,井洪业,宗西举,张荣臻,李玮玮,王晗
申请号：CN201610203004.9
申请日：20160401
公开号：CN105891673A
公开日：
20160824
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种基于PMU的配电网故障定位系统及其方法，该平台包括若干个变电站外PMU，其分别安装于变电站外的配电网预设节点处；所述变电站外PMU实时获取安装的配电网预设节点的电压电流信息，并同步传送至变电站内PMU；变电站外PMU还连接至同一全球定位系统GPS 上，变电站外PMU还将其自身位置信息传送至变电站内PMU；变电站内PMU安装于出线端；所述变电站内PMU根据接收的变电站外PMU同步传送来的电压电流信息以及变电站外PMU的位置信息进行故障选线和故障测距的计算；变电站内PMU将计算得到的故障选线和故障测距结果传送至云端服务器进行存储和转发。
申请人：济南大学
地址：250022 山东省济南市市中区南辛庄西路336号
国籍：CN
代理机构：济南圣达知识产权代理有限公司
代理人：赵妍
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基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析
基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析摘要：由于电路设计技术的飞速进步，集成电路的测试已成为确保电路可靠性的重要手段。
测试集成电路不仅可以确保其可靠性，还能够有效降低制造成本。
本文提出了一种基于PMU的小型集成电路测试系统的设计方法，该系统具有高精度、高稳定性、快速响应性的特点，同时，其硬件设计成本相对于其他类似产品明显降低，可以满足集成电路测试中对直流参数的需求。
关键词：PMU；小型集成电路；测试系统由于集成电路的技术日新月异，测试的难度也在不断攀升。
目前，测试方法主要是通过使用自动测试仪来完成。
结合我国半导体技术的发展状况来说，芯片测试技术已经远远落后于芯片制造速度，由于高性能测试仪器价格昂贵，这导致电路测试的成本大幅增加。
本文提出了一种全新的电路测试系统，旨在有效地降低集成电路测试的成本，同时满足小微集成电路测试用户对测试精度和速度的需求。
一、模拟集成电路测试仪的总体架构本文旨在探讨模拟集成电路测试仪的直流参数测试板（PAB）的设计原理、性能分析以及功能扩展，其由嵌入式控制器、总线接口电路、PAB板、MAB板和DUT适配板组成，可以满足多种应用场景的需求。
1、PAB电路的工作原理和结构组成为了确保模拟集成电路直流参数测试的准确性，DUT需接受恒流源和恒压源的激励，而PMU单元则负责施加激励，并进行相应的测量。
PAB板由电压源/电流源、钳位器件以及测量器件组成，为了满足测试系统的精确性和成本效益，我们采用了ADI公司的集成PMU外接功率扩展电路的方案来实施设计。
PMU由电压源、电流源、比较电路、钳位电路、测量电路以及补偿电路组成，具备良好的低频测量精度，但是由于功耗有限，因此需要通过额外功率对电路进行扩展。
DUT技术可以通过施加恒流源/恒压源激励来稳定电压/电流，以满足高功率需求，因此，我们使用了由大功率运算放大器和跟随器组成的负反馈电路。
经过对比，可以发现激励响应值与参数手册中的预期值存在差异，从而得出pass/fail的结论。
基于断路器零阻抗特性的PMU量测状态估计方法
基于断路器零阻抗特性的PMU量测状态估计方法陈亮;毕天姝;薛安成;杨奇逊【摘要】互感器和通信系统噪声使得相量测量单元(PMU)量测量存在随机误差,使得PMU无法准确监测系统动态过程,因此提出一种动态过程中基于PMU量测的状态估计方法.针对故障后网络拓扑改变,集中式状态估计不再可行的问题,提出适用于动态过程的分布式状态估计框架;基于零阻抗特性构造了断路器状态未知情况下的非线性虚拟量测方程,进一步提升冗余度;建立了动态过程中计及断路器零阻抗虚拟量测的状态估计模型,推导了雅可比矩阵的具体形式,并采用非线性加权最小二乘(NWLS)对模型进行求解.仿真分析表明该方法不但能够对节点电压相量和断路器电流相量进行估计,同时能够确定状态未知断路器的开合状态,同时算法满足应用的实时性要求.【期刊名称】《电力自动化设备》【年(卷),期】2014(034)005【总页数】6页(P105-110)【关键词】断路器;状态估计;动态过程;零阻抗特性;相量测量单元【作者】陈亮;毕天姝;薛安成;杨奇逊【作者单位】华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206;华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206;华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206;华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室,北京102206【正文语种】中文【中图分类】TM7110 引言同步相量测量单元PMU（Phasor Measurement Unit）能够监测系统动态过程[1-6]，在电力系统动态安全监测中得到了广泛应用。
然而，由于互感器和通信系统噪声的影响，PMU量测量不可避免地存在随机误差，这可能使得PMU无法准确监测系统动态过程，甚至导致控制系统给出错误的控制指令。
因此，针对PMU 量测量，开展系统动态过程的状态估计方法研究对进一步推广基于PMU的应用具有重要价值。
已有计及PMU量测信息的电力系统状态估计研究[7-10]主要针对PMU应用初期系统可观性不足问题，结合测控终端 RTU（Remote Terminal Unit）的量测，进行混合非线性状态估计。
基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析
基于PMU的小型集成电路测试系统实现及性能分析祝新军;纪效礼;何少佳【摘要】文中给出了一种基于精密测量单元的小型集成电路测试系统的设计方法,并对小功率范围进行详细实验验证;该测试系统将电压/电流钳位技术、比较技术、功率扩展技术、恒流源和恒压源技术和四象限驱动技术等多项技术相结合,能够对被测器件(DUT)施加精确地激励值,并准确测量DUT在激励下的响应,该系统同时具备大功率扩展能力满足多种电路测试的需求;系统借助四通道集成仪表放大器电路,结合嵌入式控制器、功率扩展电路以及上位机控制界面共同完成设计,解决了nA级电流无法准确测量的问题,通过优化补偿电路设计,提高电路测试速度;系统性能分析结果表明,文章所设计的小型集成电路测试系统测量精度高、施加激励稳定可靠、响应速度快,相比类似产品节约2/3的硬件设计成本,能够满足集成电路测试中直流参数测试的要求.【期刊名称】《计算机测量与控制》【年(卷),期】2018(026)004【总页数】4页(P52-55)【关键词】集成电路;精密测量单元;直流参数测试;性能分析;嵌入式【作者】祝新军;纪效礼;何少佳【作者单位】绍兴职业技术学院,浙江绍兴312000;桂林电子科技大学机电工程学院,广西桂林541000;桂林电子科技大学机电工程学院,广西桂林541000【正文语种】中文【中图分类】TM1350 引言随着集成电路集成度的不断提高，集成电路的测试难度不断增大。
目前，主要依赖于集成电路自动测试仪(Automatic Test Equipment)完成集成电路测试。
ATE的测试原理是通过对被测器件(Device Under Test)施加激励和收集响应信号，与DUT的技术手册参数进行比对，从而判断DUT是否合格[1]。
集成电路测试仪主要应用在晶圆测试(中测)和成品测试(成测)，文章中的集成电路测试系统针对成测中的直流参数测试进行设计。
从半导体技术的发展情况来看，芯片测试技术落后于芯片的制造速率，高性能的测试仪器价格昂贵，大大提高了电路测试的成本[2]。
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本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试（Open-Short Test），说说测试的目的和方法。
一．测试目的
Open-Short Test也称为ContinuityTest或Contact Test，用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。
测试时间的长短直接影响测试成本的高低，而减少平均测试时间的一个最好方法就是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。
Open-Short测试能快速检测出DUT是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bond wire缺失、引脚的静电损坏、以及制造缺陷等。
另外，在测试开始阶段，Open-Short测试能及时告知测试机一些与测试配件有关的问题，如ProbeCard或器件的Socket 没有正确的连接。
二．测试方法
Open-Short测试的条件在器件的规格数或测试计划书里通常不会提及，但是对大多数器件而言，它的测试方法及参数都是标准的，这些标准值会在稍后给出。
基于PMU的Open-Short测试是一种串行（Serial）静态的DC测试。
首先将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”（即我们常说的清0），接着连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管——一个负向的电流会流经连接到地的二极管（图3-1），一个正向的电流会流经连接到电源的二极管（图3-2），电流的大小在100uA到500uA之间就足够了。
大家知道，当电流流经二极管时，会在其P-N结上引起大约0.65V的压降，我们接下来去检测连接点的电压就可以知道结果了。
既然程序控制PMU去驱动电流，那么我们必须设置电压钳制，去限制Open管脚引起的电压。
Open-Short测试的钳制电压一般设置为3V——当一个Open的管脚被测试到，它的测试结果将会是3V。
串行静态Open-Short测试的优点在于它使用的是DC测试，当一个失效（failure）发生时，其准确的电压测量值会被数据记录（datalog）真实地检测并显示出来，不管它是Open引起还是Short导致。
缺点在于，从测试时间上考虑，会要求测试系统对DUT的每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。
对于拥有PPPMU结构的测试系统来说，这个缺点就不存在了。
当然，Open-Short也可以使用功能测试（Functional Test）来进行，我会在后面相应的章节提及。
图3-1.对地二极管的测试
测试下方连接到地的二极管，用PMU抽取大约-100uA的反向电流；设置电压下限为-1.5V，低于-1.5V（如-3V）为开路；设置电压上限为-0.2V，高于-0.2V （如-0.1V）为短路。
此方法仅限于测试信号管脚（输入、输出及IO口），不能应用于电源管脚如VDD和VSS.
图3-2.对电源二极管的测试测试上方连接到电源的二极管，用PMU驱动大约100uA的正向电流；设置
电压上限为1.5V，高于1.5V（如3V）为开路；设置电压下限为0.2V，低于0.2V （如0.1V）为短路。
此方法仅限于测试信号管脚（输入、输出及IO口），不能应用于电源管脚如VDD和VSS.
电源类管脚结构和信号类管脚不一样，无法照搬上述测试方法。
不过也可以测试其开路情形，如遵循已知的良品的测量值，直接去设置上下限。
图3-3是一个Open-Short对地二极管测试的datalog，从中大家可以看到各种测试结果。
图3-3.Open-Short Test datalog。