通用量具考试试卷及答案

通用量具考试试卷
1.阿贝原则是指测量轴线在（基本轴线延长线）上。

根据这一原则，千分尺是否符合。

（符合）
2.不论坚挺那种量具，对室温均有要求，如果室温偏离标准温度20℃时，会引起（系统）误差；当室温时高时低时，则引起（随机）误差
3.游标卡尺的圆柱面内测量爪的基本尺寸为（10mm或20mm），当经过修理后的基本尺寸允许为（0.1mm）整数，并在证书上注明。

4．千分尺微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线横划线右边缘应（相切）；若有误差，允许压线不大于（0.05mm）离线不大于（0.1mm）。

5.千分尺校队用的量杆，检定时的室温，对于长度至100mm的为（20±3℃）对于长度大于100mm至500mm的为（20±2℃）
6.回程误差是根据（正反）行程在同一点上两示值只差来确定，取其中绝对值最大的为检定结果。

7.数显卡尺的数字显示器的示值稳定性，在（1h）内不超过（0.01mm）
8.0-3mm的百分表，其整个工作行程范围内的示值误差不超过（14μm）回程误差不超过（3μm）
9.检定75-100mm的1级千分尺，所用量块为（5）等或（2）级，其选用的量块尺寸分别为（A+5.12mm A+10.24mm A+15.36mm A+21.5mm A+25mm）
10.指示表的工作行程示值误差由（正行程）内个受检点误差中的（最大值与最小值）之差确定。

选择题
1.为满足千分尺示值误差的检定，所用量块的准确度为（4等或1级和5等或2级）
2. 2.若有一量具工作面的平面度为0.01mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平
面度采用合适的检定方法为（用刀口尺以光隙法检定）
3.某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以光波干涉法检定时，受检工作面有
3条干涉带，其平面度为（0.001mm）
4.若用平晶检定被测件，测量面上的干涉条纹为圆形时，其测量面的凹凸情况可以这样判
定；在平静中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量中间是（凹）
5.千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平
行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（1块）
计算器
1.用5等量块检定0-25千分尺20mm这一点的示值误差，所用的量块为20mm，量块修正
量为+1μm，千分尺读书为20.003mm，问该点的示值误差为多少？符合哪级千分尺的要求？为什么？
答：示值误差为20.003-20.001=0.002mm
2.用刀口尺检定游标卡尺工作面时，在一对角方位上出现两边有1μm间隙量，而在另一
对角线方位上出现有2微米间隙量，试求该面的平面度？
答：2μm。

两端有间隙时取最大值为平面度。

问答题
1.试述调整立式光学计工作台面与测量杆轴线垂直的方法步骤。

答：在测杆上安装直径为8mm的平面侧帽，在工作台上放置一块尺寸为(5-10)mm的4等量块，调整光学计，使测帽与量块接触，同时使指针指示零位或临近的某一分度，借助工作台调整螺钉将工作台调至与测帽测量面平行，当量块的同一部位一次与平面测帽在相互垂直的四个方位接触，每一方位的接触位置为测帽直径的1/4.在四个方位读书，最大值与最小值之差应符合要求。

2.检定内径百分表的定中心架的正确性，用尺寸为该表测量下线的环规检定，者能否保
证？
答：用尺寸为该表测量下限的环规检定是保证不了定中心架的正确性，因为用这种尺寸的环规检定，只能控制定中心架对测量轴线，不对称引起的内径误差，是随内径的加大而增大，因此除该表测量下限的环规检定外，还必须用尺寸为该表测量上限的环规再检定才能控制。

3.检定游标卡尺示值误差时，根据什么原则确定收检定？125X0.02mm的游标卡尺示值误
差怎么检定？
答：根据均匀分布原则确定受检点
125mm的游标尺示值误差检定尺寸为41.2mm 81.5mm 121.8mm三点。

检定应在螺钉紧固和松开两种状态下进行。

无论尺框紧固与否，卡尺的测量面和基准面与量块表面接触应能正常滑动。

接触式，有微动装置的应使用微动装置。

各点示值误差以该点读数值与量块尺寸只差确定。