典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)1
射频功率校准系统基于NAT9914的GPIB接口开发
2012年第12期福建电脑射频功率校准系统基于NAT9914的GPIB接口开发鄢仁辉1，许秀英2（1、福建师范大学协和学院信息技术系福建福州3501082、福州大学物理与信息工程学院福建福州350108）【摘要】：为满足射频功率校准系统的需求，本文利用NAT9914芯片设计了一种以sharp lh79520为核心的射频功率校准系统的GPIB接口电路，并详细讨论了GPIB接口功能的软件实现方法，基于此种方法设计的GPIB接口卡已成功应用于射频功率校准系统中，取得了良好的效果。
【关键词】：GPIB；NAT9914；sharp lh79520；射频功率校准系统0.引言随着科学技术的不断发展，在工业生产或科学研究中，都需要可靠而精密的测试手段。
GPIB （通用接口总线）是自动测试系统中各个设备之间相互通信的一种协议，被IEEE和IEC组织承认，并定为IEEE488和IEC165标准。
其作用是将为某一测量目的所选用的各种设备连接起来，在计算机控制下组成一个自动测试系统。
射频功率校准系统[1]是为满足射频功率校准及射频功率检测的需要而开发研制的新型智能化仪器，系统集成度高、使用方便，通过GPIB接口可与PC机进行实时通讯，方便组成集成度高的自动测试系统。
1.射频功率校准系统概述射频功率校准系统采用自顶向下的系统设计思路，开展模块化设计，合理分配指标，定义接口标准，通过模块化的体系结构保证设备的可靠性、可生产性和可维修性，使标准模块可移植用于其它综合测试系统，其主控板框图如图1所描述。
主控单元完成对射频功率校准系统的整机控制，遥控响应，系统管理，以及整机电源管理。
CPU 是以ARM7为内核的32位处理器SHARP LH79 520[2]。
SDRAM为外部数据存储器，有15位地址总线和32位数据总线，最大空间为256Mbit（两片，每片为128Mbit）。
系统可由JTAG口直接进行在线仿真和程序下载。
程序存放于FLASH中，容量为16MB（16bit位宽）。
GPIB、VXI、PXI、LXI仪器自动测试系统的应用及发展
GPIB、VXI、PXI、LXI仪器自动测试系统的应用与发展一、自动测试系统和测试总线的基本概念自动测试系统(Automatic Test System，ATS)指的是以计算机为核心，在程序控制下，自动完成特定测试任务的仪器系统。
与传统测试仪器不同，自动测试系统强调在计算机的控制下，由若干可程控的通用设备共同完成测试任务。
AST首先要解决的关键问题是程控设互相协议的问题，也就是接口总线问题。
测试总线是指可以应用在测试、测量和控制系统中的总线。
在专用测试设备中的总线包括GPIB （General Purpose Interface Bus）、VXI（VMEbus eXtensions for Instrumentation）、PXI（PCI eXtensions for Instrumentation）、LXI(LAN eXtensions for Instrumentation）等总线。
二、基于GPIB总线技术的自动测试系统1、GPIB发展历程最初的GPIB是在1960年代后半期由惠普（当时称为HP-IB）开发的，用于连接和控制惠普制造的可编程仪器。
在引进了数字控制器和可编程测试设备之后，对来自多个厂商的仪器和控制器之间进行标准高速通信接口的需求也应运而生。
在1975年，美国电气与电子工程师学会（IEEE）发布了ANSI/IEEE标准488-1975，即用于可编程仪器控制的IEEE标准数字接口，它包含了接口系统的电气、机械和功能规。
最初的IEEE 488-1975在1978年经过修改，主要是出版声明和附录方面。
现在这个总线已经在全世界围被使用，它有三个名字：•通用接口总线（GPIB）•惠普接口总线（HP-IB）•IEEE 488总线由于最初的IEEE 488文档并没有包含关于使用的语法和格式规的叙述。
这部分工作最终形成了一个附加标准IEEE 488.2，用于IEEE 488（被更名为IEEE 488.1）的代码、格式、协议和通用指令。
程控仪器的GPIB通信设计
ｌ Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ通 信模 块 的硬件 设计
１ ． １ Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ通 信模 块 电路 方 案
１ ． １ ． １ ＧＰ Ｉ Ｂ 通信 接 口电路
许 多集成 电路厂 商为 ＧＰ Ｉ Ｂ接 口生产 了专 门总线驱动芯 片， 典型有 Ｔ Ｉ 公 司的 Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ ０、 Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ １ ／ １ ６ ２ 。 Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ ０为数 据 总线驱动器 ， Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ １ ／ １ ６ ２为控 制总线驱 动器 ， Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ １ 适 用于单控者系统 ， Ｓ Ｎ７ ５ １ ６ ２适用多控者系统。Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ接 口芯按 照与计算机的接 口方式 ， 分为微处理器接 口芯片和 Ｉ Ｓ ＭＰ Ｃ Ｉ 接
２ ０ １ ４ 年 第 ４ 期 （ 总第 １ ３ ６期）
信 息 通 信
Ｉ ＮＦ ＯＲＭ ＡＴＩ ＯＮ ＆ ＣＯＭ ＭＵＮＩ Ｃ ＡＴＩ ＯＮＳ
２ ０ １ ４
（ Ｓ ｕ ｍ． Ｎ ｏ １ ３ ６ ）
程控仪器 的 Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ通信设计
齐健东
（ 海 军 工程 大 学 勤务 学 院 ， 天津 ３ ０ ０ ４ ５ ０）
１ ． １ ． ２ 通信 控 制 处 理 器
机价格昂贵， 不利于推广应用 。在国外， 可程控仪器上 已经普 遍配置了 Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ总线接 口。 在我 国， 许 多大学及研 究所设计 了 多种 Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ的硬件接 口卡和软件平 台， 并开始走 向商业化 。目 前ＧＰ Ｉ Ｂ总线接 口也己逐步 出现在 国产 的仪器 、 仪表及测控系 统中， 并 己成为与计算机互连的主流并行总线的趋势。
・ — －－
１ － ３ Ｇ Ｐ Ｉ Ｂ接 口控 制芯 片 Ｎ Ａ Ｔ ９ ９ １ ４
GPIB总线使用介绍
器件内部接口功能设置
对于某一类器件来说，并不需要将上述十种功能全部 配置，而应根据具体器件来选配接口功能。以下是几种器 件应该配置的接口功能。
器件名称 信号发生器 打印机 纸带读出器 电压表 功率计 RLC表 绘图仪 计算机 作用 听者 听者 讲者 讲者、听者 讲者、听者 讲者、听者 讲者、听者 讲者、听者、控者 所需配置接口功能 AH,L AH,L AH,T,SH AH,L,SH,T,SR,RL[PP,DC,DT] AH,L,SH,T,SR,RL[PP,DC,DT] AH,SH,T,L,SR,DT AH,SH,T,L,SR,DC[PP] AH,L,SH,T,C
GP-IB标准包括接口与总线两部分：接口部分是由各种逻辑电路 组成，与各仪器装置安装在一起，用于对传输的信息进行发送、 接收、编码和译码；总线部分是一条无源的多芯电缆，用做传输 各种消息。将具有GP-IB接口的仪器用GP-IB总线连接起来的标准 接口总线系统如图所示。
4.2.4 GPIB标准接口的总线结构
数据有效 DATA VALID
未准备好接收数据 NOT READY FOR DATA 未收到数据 NOT DATA ACCEPTED 注意 ATTENTION 结束或识别 END OR IDENTIFY 服务请求 SERVICE REQUEST 接口清除 INTERFACE CLEAR 远控可能 REMOTE ENABLE
4.2.1 基于GPIB总线的测试系统
在一个GP-IB标准接口总线系统中，要进行有效的通信联络至少有“讲 者”、“听者”、“控者”三类仪器装置。
讲者是通过总线发送仪器消息的仪器装置（ 如测量仪器、数据采集器、 计算机等），在一个GP-IB系统中，可以设置多个讲者， 但在某一时刻， 只能有一个讲者在起作用。 听者是通过总线接收由讲者发出消息的装置（如打印机、信号源等）， 在一个GP-IB系统中，可以设置多个听者，并且允许多个听者同时工作。 控者是数据传输过程中的组织者和控制者，例如对其他设备进行寻址 或允许“讲者”使用总线等。控者通常由计算机担任，GPIB系统不允许 有两个或两个以上的控者同时起作用。
T6290综测仪产品介绍
T6290
标准差（整体)/(组内） 0.44/0.66 0.18/0.22 0.25/0.64 0.15/0.35 0.11/0.34 0.13/0.19 0.13/0.17 0.11/0.25 0.22/0.43 0.47/0.72 0.36/0.36 0.33/0.51 0.12/0.25 0.50/0.72 0.21/0.26
北京公司： 朝阳区中化地质大厦一层 研发中心
上海总部： 松江区新飞路1500号26栋 生产制造、质量控制
深圳公司： 南山区桃源街道田寮大厦1208 销售、技术支持、仓储、物流
产业经历
T6290申请10项发明专利保护
2014重组成立为准电子，推出T6290产线型综测 仪,并实现规模量产应用 2014年国家重大专项全模综测仪项目 2013年实现LTE/TD/W/GGE多模综测仪产线规模应用 2012年TDD/FDD-LTE综测仪平台发布, TDD/FDD LTE Advanced功能开发 2011年T6280多模信令综测仪发布 2010年LTE/WCDMA/GGE开发。 2009年综测仪在TD生产线规模应用（300台）
• 工厂采购在仪表高峰期从多家仪表租赁商租用仪表，不同厂家CMW500的版本，精
解决工厂租用仪表 的品质保障及一站 式获得解决方案
准度，软件盗版问题，仪表年度校准维护参差不齐，无法管理。 •各租赁厂商提供的测试配件品质堪忧 •T6290租赁仪表每半年原厂检查和校准一次，出库前使用高级源测试指标，保障仪表 的精准性，仪表品质，可用数量，技术支持能力，极大解决由于采购鱼目混杂的租赁 源头的仪表品质不确定和混乱，引发的生产可靠性保障问题
• 与德与振华工厂战略合作，4G项目全线采用T6290生产，在振华长期保持100台左右 的使用量，为魅族，中兴，宇龙，HTC项目做生产，客户反馈良好，得到各界高度 信任。 • ONTIM与中诺工厂ODM华为的项目全线采用T6290生产，中诺及其外协厂（光弘， 德邦）长期保持100台左右的使用量，性能稳定。生产的华为“畅享5”项目获中国 移动2015年千元智能机项目质量第一名。 • 华勤给华为的ODM项目在长城开发虎门新厂的项目自2015年底导入T6290以来，受 到客户的一致好评，目前T6290在该厂保持60台左右的使用量，并不断增加。 • 德赛4G产线指定使用T6290仪表，为TCL/ACTEL，天珑等生产，随着4G产品比重加大， 目前已经增加至30台以上。
GPIB接口学习教程
DUT
硬拷贝 (a）
12
1
24
13
(b）
图9.2 GPIB标准接口总线系统及GPIB24线总线插座
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2. GPIB标准接口的总线结构
总线是一条24芯电缆，其中16条被用作信号线，其余 则被用作逻辑地线及屏蔽线。电缆两端是与图9.2(b)相似 的双列24芯叠式结构插头。
GPIB标准接口总线中的16条信号线按功能可分为以 下三组：
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在一个GPIB标准接口总线系统中，要进行有效的通信 联络，至少有“讲者”、“听者”、“控者”三类仪器装 置。讲者是通过总线发送仪器消息的仪器装置，如测量仪 器、数据采集器、计算机等。听者是通过总线接收由讲者 发出消息的装置，如打印机等。控者是数据传输过程中的 组织者和控制者，通常由计算机担任。一个GPIB系统中， 可以设置多个讲者、听者和控者，不允许有两个或两个以 上的讲者或控者同时起作用，但允许多个听者同时工作。 控者、听者、讲者被称为系统功能的三要素，系统中的某 一个装置可以具有三要素中的一个、两个或全部功功能。 例如，系统中的计算机可以兼顾实现“讲者”、“听者” 与“控者”的功能 。
9.1 智能仪器概述
凡是具有人工智能化的测量仪器均可统称为智能仪器， 如无特别说明，书中的智能仪器特指为独立智能仪器（即 传统智能仪器）。独立智能仪器又称为灵巧仪器（Smart Instruments），它是自身带有微处理器能够独立进行测 试的电子仪器。除此之外，自动测试系统、个人仪器、虚 拟仪器等也是具有人工智能化的测量仪器。本章主要介绍 独立智能仪器。
接口功能包括：遇到故障等情况时，向系统控者提出 服务请求的服务请求功能；系统控者为快速查询请求服务 装置而设置的并行点名功能；用来选择远地工作状态或本 地工作状态的远控本控能力；使装置从总线接收到触发信 息，以便进行触发操作的装置触发功能；能使仪器装置接 收清除信息并返回到初始状态的装置清除功能等。
GP-IB技术
GPIB(通用接口总线，General Purpose Interface Bus)是由IEEE协会(Institute of Electrical and Electronic Engineers)规定的一种ANSI/IEEE488标准。
GPIB为PC机与可编程仪器之间的连接系统定义了电气、机械、功能和软件特性。
在自动测试领域中，GPIB通用接口是测试仪器常用的接口方式，具有一定的优势。
通过GPIB组建自动测试系统方便且费用低廉。
而GPIB控制芯片是自动测试系统中的关键芯片，此类芯片只有国外少数公司能生产，不仅价格昂贵，而且购买不便。
因此，GPIB接口的FPGA 实现具有很大的实用价值。
GPIB 技术是 IEEE488 标准的虚拟仪器早期的发展阶段。
它的出现使电子测量独立的单台手工操作向大规模自动测试系统发展，典型的GPIB 系统由一台PC 机、一块GPIB 接口卡和若干台BPIB 形式的仪器通过GPIB 电缆连接而成。
在标准情况下，一块GPIB 接口可带多达14 台仪器，电缆长度可达40 米。
GPIB 技术可用计算机实现对仪器的操作和控制，替代传统的人工操作方式，可以很多方便地把多台仪器组合起来，形成自动测量系统。
GPIB 测量系统的结构和命令简单，主要应用于台式仪器，适合于精确度要求高的，但不要求对计算机高速传输状况时应用。
IEEE 488标准有一个广为人知的名字，叫GPIB(通用接口总线)。
这是一种很受欢迎的接口，用于连接测试测量仪器和计算机，以构成一套ATE(自动测试设备)。
GPIB最初由惠普开发，并在1978年被确认为IEEE标准。
自那时起，IEEE于1978年和1987年分别发布了定义GPIB硬件规范(包括电气参数、机械参数和基础协议参数)的IEEE 488.1标准和定义相关软件规范的IEEE 488.2标准。
数十年来，GPIB受到了仪器厂商的广泛接受和采用。
可以说，GPIB是当今在计算机和测试测量仪器连接中使用最多的接口。
GPIB接口及应用简介
什么叫GPIBGPIB简介GPIB(General-Purpose Interface Bus)-通用接口总线大多数打印机就是通过GPIB线以及GPIB接口与电脑相连。
1965年惠普公司设计HP-IB1975年 HP-IB变成IEEE-488标准1987年被采纳, IEEE 488-1978变成1990年 SCPI规范被引入IEEE 488仪器1992年修订IEEE1993年 NI公司提出HS4881965年, 惠普公司(Hewlett-Packard)设计了惠普接口总线(HP-IB, 用于连接惠普的计算机和可编程仪器.由于其高转换速率(通常可达1Mbytes/s), 这种接口总线得到普遍认可, 并被接收为IEEE标准488-1975和ANSI/IEEE标准. 后来, GPIB比HP-IB的名称用得更广泛. ANSI /IEEE -1987加强了原来的标准, 精确定义了控制器和仪器的通讯方式. 可编程仪器的标准命令(Standard Commands for Programmable Instruments, SCPI)采纳了定义的命令结构,创建了一整套编程命令.多仪器的星型组合和线型组合我们使用一台计算机，通过GPIB控制卡可以实现和一台或多台仪器的听、讲、控功能，并组成仪器系统，使我们的测试和测量工作变得快捷, 简便, 精确和高效。
通过GPIB电缆的连接，可以方便地实现星型组合、线型组合或者二者的组合。
是一种工程控制用的协议。
最初由HP公司提出，目前成为一种国际标准，遵守的协议为IEEE488。
一般被用来使用任何编程语言如VB、Vc、C++实现电脑对仪器的控制。
当然也有某些仪器制造商自己开发的语言支持GPIB。
如keithley公司使用的testpoint，NI公司的labview等。
实现这种控制首先要被控仪器支持GPIB，其次，工控机安装IEEE488卡，并通过gpib线连接两个设备。
—GPIB比串口控制提高了传输速率和同时支持的设备总数。
GPIB简介
GPIB总线标准的历史沿革z1965年，惠普公司（HP）设计出HP-IB仪器接口总线，用于将其自行设计生产的一系列可编程仪器与计算机进行连接;z1975年，美国电气与电子工程师协会（IEEE）采纳了HP-IB技术并将其加以推广。
1978年，IEEE颁布了标准文件IEEE std488-1978，又称为GPIB（General Purpose Interface Bus）总线标准（GPIB是24针接口）;z1979年，国际电工委员会（IEC）承认了这种接口系统，颁布了IEC-625-79和IEC-625-80两个标准文件（IEC-625是25针接口）; z1984年，我国颁布了ZBY207.1-84和ZBY207.2-84两个文本作为标准;z1987年，IEEE488-1978标准提升为IEEE488.1-1987，全称是“用于可编程仪器的IEEE标准数字化接口；z但是，IEEE488.1-1987标准仍存在不足。
为此，IEEE又同时建立了IEEE488.2-1987标准；z1990年4月公布的可编程的仪器命令集SCPI则解决了器件的标准化；z1992年，IEEE488.2-1987标准又进行了新一轮的修改，变更成为IEEE488.2-1992标准。
GPIB仪器的连接方法和工作方式 z GPIB总线一共由16根线组成（未包括8根地回线），其中有8根数据线DB0 to DB7，3根握手线（NRFD、DAV、NDAC），5根总线控制线（ATN、SRQ、IFC、REN和EOI）;z GPIB总线是一种采用异步数据传送方式的双向总线；z GPIB总线上的信息按位（bit）并行、字节（byte）串行的方式传送。
所以称为位并行，字节串行。
GPIB系统连接的基本配置要求z如下图所示，设备可以处于以下任何一种角色之中或者同时扮演几种角色:¾空闲（IDLE），什么事也不做；¾听者（LISTENER），从讲者处接收信息；¾讲者（TALKER），向一个或多个听者发送数据；¾控制器（CONTROLLER）。
测控技术与仪器专业介绍
测控技术与仪器是研究信息的获取和处理，以及对相关要素进行控制的理论与技术；是电子、光学、精密机械、计算机、信息与控制技术多学科互相渗透而形成的一门高新技术密集型综合学科。
过程步骤测控技术与仪器是将自动化系统上的信号加以采集、整理、处理、而后进行显示或者发出控制信号的过程。
英文名称：Measuring andControl Technology and Instrumentations。
采集在信号采集环节，主要是采集对象发出的各种信号，再将这种信号转换成电信号，以便于后续的处理。
对象发出的信号大多数是通过传感器来采集的，包括物理信号（如温度、流量、压力等）和化学信号（如湿度、气味等）两大类，当然还包括不能归为这两类的一些信号，如可靠性、价格等。
而开关量信号（带有数字信号的特征）则主要是靠带有单片机电路的仪器，如无纸记录仪，进行采集。
此外，图像信号自然是由摄像装置来进行采集。
整理在信号的整理阶段，主要是对采集到的电信号进行平整、滤波、模数转换等，转换成便于处理的数字信号。
上述三种信号类型在整理阶段的内容有所不同，比如对传感器传来的信号主要是进行信号放大、平整、滤波和模数转换的过程；而对于开关量信号通过无纸记录仪的采集之后一般都能够转换成所需要的数字信号以待输出到下一个处理环节；对于图像信号，经采集之后主要是用于显示，若还需对图像进行处理，再显示，或者发出控制信号，那么也必须将图像信号转换成数字信号，进行处理，这就是一个复杂的问题。
处理在信号的处理阶段，主要是对数字信号进行处理以便显示，或者发出控制信号。
我们通过显示出来的信号来判断自动化系统上对象的运转是否正常，如果信号显示不正常，就需要对信号进行计算与处理，得到控制信号发送给对象，使对象调整运转的状态以复归正常。
显示控制在显示与控制环节，显示主要是指将数字信号通过便于我们观察的形式显示出来以便我们进行判断，控制主要是指将控制信号传送给并作用于对象的过程。
演示文稿手机射频测试课件
主板测试
在主板测试项目中，需要有测试点、测试夹具、计算 机、可控双路输出电源、可控三用表电表、数据线、 ＧＰＩＢ卡、ＧＰＩＢ线和生产测试程序的配合。在 生产初期，可以测试全部的项目；在生产稳定后，可 根据故障统计，优化测试项目以加快测试速度。该测 试工位的设置，可以将贴片造成的不良品检测出来， 从而提高校准测试工位的效率。
为什么校准之后不立即终测，而要 先整机功能测试？
从提高综合测试仪器利用率角度来考虑工位的设 置，将整机功能测试，放在整机终测之前比较合适。 在整机装配时，如组装键盘、机壳、ＬＣＤ模块、 听筒、主板等，难免会出现不良品。在功能测试时， 该不良品被及时检查出，送到维修工位，而不是进 入整机终测，这就避免了一部分手机的重复测试。
4.主板校准
主板校准主要包括发射机和接收机的射频指标校准。 发射机校准包括：ＡＰＣ校准、包络调整、ＡＦＣ 频率补偿校准、温度补偿校准等。接收机校准包括： ＡＧＣ校准、ＲＳＳＩ校准等。主板校准是手机生 产测试的核心，手机的各项性能指标主要依靠校准 工位调整参数，使之满足产品标准。
校准的项目有哪些呢?
3.主板测试
与传统的ＩＣＴ测试有区别的是手机测试无法提供 大量的测试点。但手机主板本身包括了电源管理电 路、射频收发电路、基带信号处理芯片、中央处理 器、存储器、电源输入口、显示接口、键盘等电路， 接近一个完整的系统，可以用其接口电路对其进行 测试。主板测试主要包括以下几个部分：关机漏电 流、电池校准、充电测试、键盘电路测试和音频电 路测试、振动和振铃电路测试。测试完成后，写入 该工位的生产测试信息。
（优选）手机射频测试课件
手机生产过程与测试
手机生产过程简介 开始——FLASH烧录——SMT贴片——板号写入——主 板测试——主板校准——组装——整机功能测试—— 整机终测——IMEI号写入——包装——结束
GPIB教程
GPIB教程自编译背景人们总是从广泛使用的电子技术中来发明新的仪器的, 移动的时钟指针首先被用在模拟表头上, 从最早的收音机的可变电容、可变电阻和电子管人们又造出了最早的电子仪器, 电视这种显示技术又导致了示波器和分析仪的广泛使用等。
今天高效和强力的卓面和笔记本电脑正在为新型的"假想仪器"铺平道路。
假想仪器是利用计算机的功能和低价的特点, 由人们设计出来的满足特殊需要的、使用计算机作为仪器的一种仪器。
假想仪器的关键在于软件, 应用软件可以使人们造出功能强大的假想仪器, 利用计算机的巨大容量和各种应用方式, 提高仪器的灵活性、再用能力和重构能力等, 通过这样极大的增强了仪器的性能, 而同时又尽量的减少了开发和维护方面的开支。
假想仪器的基础介绍:1965年惠普公司设计了惠普接口总线(HP-IB), 用于把它们的可编程系列仪器和计算机连接起来, 由于这个总线的传输速率比较高(1M字节/秒), 很快就得到了普及, 之后并被作为IEEE的标准IEEE 488-1975, 并演变成了ANSI/IEEE 488.1-1987标准。
现在一般多用的是通用目的接口总线(GPIB)了, 而不用HP-IB。
ANSI/IEEE 488.2-1987标准增强了原来的标准, 它精确的定义了控制器和仪器之间应如何进行通讯, 可编程仪器标准指令(SCPI)采纳了IEEE 488.2定义的指令结构, 并制定了一个独特的可以和任何SCPI仪器一起使用的编程指令集。
GPIB信息类型GPIB是通过接口系统发送出设备相关的信息和接口信息来和其它GPIB设备进行通讯的。
设备相关的信息, 又被称做数据或数据信息, 它包含有设备特征信息, 例如编程指令、测量结果、机器状态和数据文件等。
接口信息是管理总线的, 通常又叫指令或指令信息, 接口信息的作用是对总线进行初始化, 对设备寻址或去设备址, 和设定设备的远程或本地编程模式。
射频测试报告模板
射频测试报告模板篇一：手机硬件RF和电性能测试报告手机硬件RF和电性能测试报告Co.，LtdTel: -875 Fax: -801E-mail:pengguiqiongXX54＠Add: Prayvtech Communications TechnologyParametric Test Report(Revision:A0)Model:(转载于: 小龙文档网:射频测试报告模板)Description: PR1硬件测试报告Amount:2PC Date:xxxx-xx-xx Test Conditions1. PCB： /W:Equipments：CMU200/ Agilent 8960/Keithley2306/ Agilent6631系列Standard Test Condition1. Temperature15—35℃2. Relative humidity 50%—70%3. Test Conclusion:□FALL■PASS Approved:1简介目的适用范围责任程序内容测试数据及测试结果1 简介序言目前国家对手机的质量问题越来越重视，公司对于手机质量的客户满意度和返修率也一致关注。
其中，GSM手机的射频问题仍然是一个影响手机质量、开发进度和生产效率的重要因素。
为了保证产品的品质和性能符合 GSM 规范和国家标准，需要在手机测试方面建立一套完整、科学的测试体系。
为此我们参照 GSM 规范欧洲标准、国家邮电部移动通信技术规范、国家信息产业部通信行业标准以及日常积累的测试经验编写了这份射频测试标准、测试的目的以及硬件相关的测试表格。
本程序书定义了GSM 900MHz 和DCS 1800MHz 移动电话中试过程中的电性能测试标准。
目的本规范的目的是针对研发阶段的GSM手机提供较全面测试指标依据尽量保证研发阶段GSM手机的点测指标满足FTA、CTA与批量生产点测指标要求，使手机的射频问题尽可能在研发阶段暴露出来并在量产前解决。
射频芯片测试
射频芯片测试射频芯片测试是指对射频芯片进行检测和验证，以确保其性能和功能符合设计要求。
射频芯片是一种专用的电子器件，用于处理和发射无线电频率的信号。
它广泛应用于通信、无线电、雷达、卫星接收和其他射频应用中。
射频芯片测试是射频工程师和测试工程师在生产过程中必不可少的一个环节。
射频芯片的测试包括大量的步骤和测试项。
首先，需要对射频芯片进行外观检查，确保产品没有损坏或缺陷。
然后，对射频芯片进行电气参数测试，包括输入输出阻抗、功耗、电平和频率的稳定性等。
接下来，需要对射频芯片进行功能测试，验证其是否按照设计要求工作并与其他设备或系统正常交互。
最后，还需要对射频芯片进行性能测试，比如灵敏度、带宽和动态范围等。
射频芯片测试的方法和设备也是多种多样的。
传统的测试方法包括使用信号发生器和频谱分析仪来生成和分析射频信号。
近年来，随着技术的进步，也出现了一些新的测试方法和设备。
比如，射频矢量信号发生器和矢量网络分析仪可以实现更精确和多功能的测试。
另外，射频测试还需要考虑一些特殊的因素，比如环境干扰和传输损耗等。
射频芯片测试的目的是确保产品的质量和可靠性。
只有通过严格的测试和验证，才能保证射频芯片在实际应用中能够正常工作并满足用户需求。
射频芯片测试的结果也将用于优化产品设计和改进生产工艺。
同时，射频芯片测试还有助于提高生产效率和产品的竞争力。
在进行射频芯片测试时，需要注意一些常见的问题和挑战。
比如，测试设备的精度和灵敏度、测试环境的抗干扰性、测试时间和成本等。
同时，射频芯片的特性和应用也会影响测试方法和测试结果。
因此，在进行射频芯片测试之前，需要进行充分的准备和计划。
总之，射频芯片测试是射频工程师和测试工程师不可或缺的一项工作。
通过严格的测试和验证，可以确保射频芯片的性能和功能符合设计要求，并提高产品的质量和可靠性。
射频芯片测试也是提高生产效率和产品竞争力的关键环节，需要注意一些常见的问题和挑战。
程控仪器GPIB接口与USB打印机转换电路的实现
栏目编辑李健引言在进行实时控制、数据采集及自动测试等科研过程中，大量使用着各种智能程控仪器，这些仪器通常都配有G PI B接口，在实际使用中，往往要打印输出测量所得到的数据结果，特别是波形常用的方法有三种：一是采用专用的G PI B接口的打印机或绘图仪，但价格较贵，此时虽有大量的性能优异的通用U SB或并行CE N T RO N I C S接口的打印机(包括喷墨及激光打印机)闲置，但却由于接口不同而无法使用，实属可惜；二是采用带有G PI B卡的计算机通过G PI B电缆与仪器相连，在P C机上通过自动测试软件(如L abvi ew软件)的支持，将所测得的数据图形通过P C机输出至通用U S B或并行C EN TRO N I CS接口的打印机上，但用这种方法需用一台带有G PI B卡的计算机且有相应的自动测试软件的支撑，故也不甚方便；三是采用自行开发的G PI B-CEN TRO N I CS 转换装置，但该转换装置只能用于G PI B接口与通用并行CE N TR O N I CS接口打印机的转换，而随着U SB打印机技术的逐渐普及，并行C EN TR O N I CS接口打印机越来越不好买到，而且有些用户的打印机只是U SB接口而非并行口，因此这种G P I B-CEN TRO NI CS转换装置的局限性愈加明显。
有鉴于此，为了实现能将具有G PI B接口的程控仪器直接和U SB打印机相连进行打印，决定设计开发一款G PI B-U SB打印机的转换装置，负责G PI B接口的程控仪器和U S B 打印机的连接。
如图1所示，该转换装置介于两种接口之间，一方面与G PI B接口互连通讯接收智能仪器数据信息;另一方面与U SB接口互连通讯，向打印机传送数据信息。
基于上述思想，并通过试验，证明该方案是行之有效的。
G PI B接口与U SB接口芯片CH375G PI B接口特点G PI B总线接口包括有8根数据线，3根联络线和5根管理线。
gpib芯片
gpib芯片GPIB芯片，全称为General Purpose Interface Bus，即通用目标接口总线，是一种用于仪器间通信和控制的标准接口协议。
GPIB芯片是用于实现GPIB接口的芯片，它集成了一系列功能和电路，使得仪器可以通过GPIB接口与计算机或其他仪器进行通信和控制。
GPIB芯片的主要功能包括：1. GPIB控制器：GPIB芯片集成了GPIB协议的控制器，负责控制GPIB总线上的数据传输和仪器的操作。
控制器可以通过发送命令和查询数据来控制仪器的各种功能和参数。
2. 数据传输：GPIB芯片支持高速的数据传输，可以实现仪器和计算机之间的快速数据交换。
它提供了一种可靠的数据传输方式，可以有效减少数据传输的错误和丢失。
3. 仪器控制：GPIB芯片可以通过发送命令来控制仪器的各种操作，例如设置仪器的参数、进行测量和测试、控制仪器的开关等。
通过仪器控制，可以实现对仪器的灵活和精确的控制。
4. 通信协议：GPIB芯片支持GPIB协议，这是一种开放的、标准化的通信协议，可以实现不同品牌和型号的仪器之间的互联互通。
通过遵循GPIB协议，可以实现多个仪器之间的联网和远程控制。
5. 软件支持：GPIB芯片通常会提供软件开发工具和驱动程序，以便开发人员可以方便地使用GPIB接口进行编程和开发。
这些软件支持可以大大简化软件开发过程，提高开发效率和准确性。
GPIB芯片在科学实验室、工业自动化、测试仪器等领域应用广泛。
它能够实现多个仪器的联网和控制，方便实时监测和远程操作。
同时，GPIB芯片还可以通过连接各种外部设备和传感器，实现更加复杂的实验和测试任务。
在选择GPIB芯片时，需要考虑以下因素：1. 功能和性能：不同的GPIB芯片会提供不同的功能和性能，如数据传输速度、支持的仪器类型和通信协议等。
根据具体的应用需求，选择最适合的芯片。
2. 兼容性：GPIB芯片需要与其他设备和仪器进行配合使用，因此需要考虑其兼容性。
集成电路芯片的射频测试技术
集成电路芯片的射频测试技术摘要：集成电路芯片设计制造，是目前国内电子设备和通信技术领域的热门话题，市场需求旺盛。
在集成电路测试中引入射频测试技术，有助于射频集成电路实现产品优质化和工艺自动化建设，！确保射频集成电路高效准确测试的同时，还能节约大量作业成本，因此得到普遍欢迎。
本文概括论述射频测试技术，功能和发展前景，详细介绍这项技术的作用原理，对射频测试技术进行全面分析，力求为射频集成电路测试提供更加优质的技术应用，促进电子设备和通信技术行业实现更快发展。
关键词：集成电路芯片；射频测试技术；检测引言：射频测试技术是专门用于射频集成电路测试的技术类型，在通信技术和电子设备领域获得了广泛应用，它是提高集成电路质量，加快检测效率的技术保障。
对提升国内集成电路产品质量的现实意义尤为重大。
相关人员还须高效开发利用包括直流在片测试系统，小信号参数测试技术以及测试数据统计技术等在内的射频测试技术应用奉献优质集成电路芯片供应市场需求。
1.射频测试技术与集成电路的其它技术类型不同，射频集成电路具有独具特色的射频测试技术。
目前在电子设备制造领域，网络通信技术领域，设计制造集成电路芯片已经有了突飞猛进的发展，但是，仍然难以满足人们对电子设备急剧上升的功能需求，要求集成电路必须大力提升产能和成品质量，才能有效应对旺盛的市场需求。
国内应用的集成电路种类中，射频集成电路的应用范围是最为普及的，技术人员对射频测试技术进行进一步研发利用，有助于射频集成电路提高产品质量，现实意义十分重大。
但是目前国内在研发集成电路技术方面侧重于设计制造集成电路的工艺方面，测试技术没有得到应有的重视。
作为最关键的射频集成电路技术类型，研发利用射频测试技术对提升国内射频集成电路产品质量意义尤为深远。
2.射频测试技术原理要成功研发利用射频测试技术，首要任务就是对这种技术的原理做到全面了解。
集成电路的优势在于小体积，自重轻，性能优良，有很长的使用寿命，在通信技术以及设计制造电子设备等领域备受青睐，应用范围极广，因此，研发利用集成电路，有助于国家在电子技术方面取得更大发展。
电能表射频电磁场抗扰度自动检测系统
电能表射频电磁场抗扰度自动检测系统丁琦;蔡晋辉;李明;陈春宇【摘要】采用GTEM横电磁波传输室对电能表进行射频电磁场抗扰度试验,需要人工完成电能表液晶屏中数值变化的观察、记录.这种方式工作效率低下,试验结果正确率不高,成为全测试过程自动化的瓶颈.文中利用GPIB卡和相关仪器设备组建了GTEM室;采用网络摄像机、图像处理技术和BP神经网络对试验过程中电能表液晶屏上的数字进行实时识别和记录,极大地降低了实验人员的工作强度,提高了工作效率和数据准确性.【期刊名称】《自动化与仪表》【年(卷),期】2018(033)003【总页数】5页(P42-45,51)【关键词】自动检测系统;电能表;横电磁波传输室;图像处理技术;BP神经网络【作者】丁琦;蔡晋辉;李明;陈春宇【作者单位】中国计量大学计量测试工程学院,杭州310018;中国计量大学计量测试工程学院,杭州310018;浙江省计量科学研究院,杭州310000;浙江三花制冷集团,绍兴312000【正文语种】中文【中图分类】TP277;TM933.4近些年来，国家电网公司加速发展，智能电表的运用也越加广泛，其组成部分包括计量芯片、通讯芯片、微处理器、晶振电路、开关电源等。
由于生活中存在着较多射频电磁场的干扰，如果电能表芯片的布局不合理，开关电源质量不合格，晶振稳定性差，都会影响智能电表与电磁场的兼容性[1]，从而影响电能表的正常工作和准确计量。
因此，根据国家GB/T17626.3—2016《电磁兼容试验和射频电磁场辐射抗扰度试验》的要求，对电能表进行射频电磁场辐射抗扰度试验十分必要。
目前，如何正确、有效、快速地对电能表进行射频电磁场抗扰度试验性能检测，成为研究热点之一。
文献[2]应用电波暗室产生射频电磁场，对电能表进行试验并开发自动测试软件，通过计算机控制电磁场场强变化，但是电波暗室的建造成本和难度都很高，故不宜推广。
文献[3]运用GTEM横电磁波传输室进行电能表射频电磁场的试验，但是在电能表空载时，需要人工记录液晶屏上的数据，工作效率低且容易出错。
芯片测试仪设备操作指南说明书
MechanicsOscillationsElliptical Oscillation of a String PendulumDESCRIPTION OF ELLIPTICAL OSCILLATIONS OF A STRING PENDULUM AS THE SU-PERIMPOSITION OF TWO COMPONENTS PERPENDICULAR TO ONE ANOTHER.UE1050121 06/15 MEC/UDFig. 1: Experiment set-upGENERAL PRINCIPLESDepending on the initial conditions, a suitable suspended string pendulum will oscillate in such a way that the bob’s motion describes an ellipse for small pendulum deflections. If the motion is resolved into two perpendicu-lar components, there will be a phase difference between those components.This experiment will investigate the relationship by measuring the oscillations with the help of two perpendicularly mounted dynamic force sensors. The amplitude of the components and their phase difference will then be evaluated. The phase shift between the oscillations will be shown directly by displaying the oscillations on a dual-channel oscilloscope.Three special cases shed light on the situation:a) If the pendulum swings along the line bisecting the two force sensors, the phase shift φ = 0°.b) If the pendulum swings along a line perpendicular to that bisecting the two force sensors, the phase shift φ = 180°.c) If the pendulum bob moves in a circle, the phase shift φ =oscillation directions of the string pendulum under in-vestigationLIST OF EQUIPMENT1 SW String Pendulum Set 1012854 (U61025)1 SW Stand Equipment Set 1012849 (U61022)1 SW Sensors Set @230 V 1012850 (U61023-230) or1 SW Sensors Set (@115 V 1012851 (U61023-115) 1 USB Oscilloscope 2x50 MHz 1017264 (U112491)SET-UP∙Screw the stand rods with both external and internal threads into the outer threaded sockets of the base plate. ∙Extend both rods by screwing rods with external thread only onto the ends of them.∙Attach double clamps near the top of both stand rods and turn them to point inwards so that the slots are vertical and facing one another.∙Attach both springs from the spring module to the lugs on the cross bar (angled side).∙Hang the large loop of string from the lug on the flat side.Fig. 3 Assembly of spring module∙Connect the springs and vector plate to the hook of a dynamic force sensor with a small loop of string and care-fully pull everything taut.∙Attach the force sensor with the screw tightened by hand. ∙Attach the second force sensor in the same way.Fig. 4 Attachment of dynamic force sensors to spring module∙Pull the string through the eyelet of the spring module (in the middle of the metal disc).∙Thread the end of the string through the two holes of the length adjustment slider.Fig. 5 Set up of string3B Scientific GmbH, Rudorffweg 8, 21031 Hamburg, Germany, ∙Clamp the cross bar into the slots of the two double clamps, suspend a weight from the end of the string and set up the height of the pendulum using the length ad-justment slider.Fig. 6 Attachment of cross bar in double clamp ∙ Connect the force sensors to the inputs for channels A and B of the MEC amplifier board.∙ Connect outputs A and B of the MEC control unit to channels CH1 and CH2 of the oscilloscope.EXPERIMENT PROCEDURE∙Set the oscilloscope time base time/div to 1 s, select a vertical deflection for channels CH1 and CH2 of 50 mV DC and set the trigger to “Edge” mode, “Normal” sweep, “Source CH1” and “Slope +”.∙Slightly deflect the string pendulum and allow it to oscil-late in a plane which bisects the alignment of the two force sensors (oscillation path a in Fig. 2). Observe the oscilloscope trace and save it.∙Slightly deflect the string pendulum and allow it to oscil-late in a plane which is perpendicular to the one which bi-sects the two force sensors (oscillation path b in Fig. 2). Observe the oscilloscope trace and save it.∙Slightly deflect the string pendulum and allow it to oscil-late in a circle (oscillation path c in Fig. 2). Observe the oscilloscope trace and save it.SAMPLE MEASUREMENT AND EVALUA-TIONWhen the pendulum is oscillating in the plane of the bisecting angle between the sensors, the two sensors will experience symmetric loading (oscillation path a in Fig. 2). The signals from the two force sensors will be in phase, i.e. the phase shift between them will be φ= 0° (Fig. 7).Fig. 7: Oscillation components for a string pendulum swingingalong the line bisecting the two force sensorsWhen the pendulum is oscillating in the plane perpendicular to the bisecting angle between the sensors, the two sensors will experience asymmetric loading (oscillation path b in Fig. 2). The signals from the two force sensors will be wholly out of phase, i.e. the phase shift between them will be φ= 180° (Fig. 8).Fig. 8: Oscillation components for a string pendulum swingingalong the line perpendicular to that bisecting the two force sensorsThe circular oscillation is a superimposition of the oscillations along the plane of the bisecting angle between the sensors and the angle perpendicular to it with a phase shift of φ = 90°(Fig. 9).Fig. 9: Oscillation components for a string pendulum describ-ing a circle。
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84000 测试项目
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射频电路测试原理
清华大学电子工程系
李国林
雷有华
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12.2 滤波器主要技术指标及其测 试方案
滤波器有三个方面的测量参数： （1）传输参数（插入损耗/相位、群迟延、带外抑制）； （2）反射参数（回波损耗、输入/输出阻抗）； （3）计算（3/60dB的带宽、Q值和形状因子）。
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无线局域网的标准
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安捷伦新闻发布
安捷伦新闻发布：北京，2003年4月30日
威宇科技添购安捷伦84000测试系统，构建华东第一条 射频电路测试生产线； 威宇科技选择84000射频测试系统（ATE），原因有：
首先，84000测试系统设计上有容易做程序开发，完整的参数 量测套件，以及优越的系统稳定性等三大优点。 其次，来自于美国硅谷的多家设计公司都要求用84000测试系 统来进行生产，在所能够测试的射频芯片覆盖率上，84000测 试系统也明显优于其它可选方案。
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12.4 功率放大器主要技术指标及 其测试方案
Power Gain ACPR（Adjacent channel power ratio） PAE（Power-added efficiency） MAX2247 2.4GHz SiGe线性功率放大器
12.1 射频集成电路测试基本问题
配置测试系统：PF、LNA、PA、Mixer、VCO、 Modulators and demodulators，工作频率为 800 MHz to 900 MHz，1.9 GHz and 2.4 GHz，或高于2.4 GHz; RFIC性能测试：器件增益/损耗、S参数（增益/损耗、 隔离、匹配、VSWR）、功率（邻道功率和效率）、增益 压缩、混频器转换增益、混频器泄漏、网络噪声系数、 N阶内调制（交调和互调）、振荡器相位噪声、谐波失 真（SOI和TOI）、IQ调制压缩、隔离、寄生信号、功耗、 VSWR和EVM等。 无线系统测试：例如：WLAN（无线局域网）。
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低噪声放大器的噪声系数和增益 测试
右图是使用 346A/B/C通用 噪声源； 若使用SNS噪 声源，则需利 用SNS噪声源 连接器。
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低噪声放大器的噪声系数和增益 测量结果的图表方式显示
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由ESG信号源产生F1和F2信号,利用频谱分析仪观 测2F1-F2信号或2F2-F1信号。
低噪声放大器的IIP3测试
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低噪声放大器的P1dB测试
如下图所示，这是1dB压缩点最普遍的测量方法：利用RF矢量网络 分析仪进行输出功率扫描（F=902.7MHz）。
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通信中常用滤波器主要类型
升余弦滤波器（Raised cosine filter） 平方根升余弦滤波器（Square-root raised cosine filter） 高斯滤波器（Gaussian filter） IS-95 Filters EDGE Filter EDGE (winRC) Filter
无线局域网的两大标准：IEEE802.11和 ETSI HIPERLAN； 标准中采用了不同的调制技术，例如：FSK、MSK、GMSK和OFDM 等调制技术； 无线局域网的射频物理层，包括时域、频域和调制域的分析和 调试。
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射频电路测试原理
第十二讲 典型射频芯片测试介绍与 测量仪器的程控(GPIB)
leiyh@
参考文献
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参考：王子宇译，《射频电路设计--理论与应用》，电子工业出 版社，2002 参考：张之超等译，《无线通信设备与系统设计大全》，人民邮 电出版社, 2004 84000 Product Overview_5965-5272E.pdf RF_TestOfWLAN_china.pdf 典型射频芯片举例：MAX2644（LNA）、MAX2247（PA） 、MAX9996 （Downconversion Mixer）、MAX2660-MAX2673（Upconverters Mixer）、MAX2750-MAX2752（VCO）、MAX2452（I/Q Modulator） ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Measurement Automation_59885591EN.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Data Sheet_59662720E.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Agilent VISA User’s Guide_5188-5722.pdf ..\82350A_GPIB_PCI_Card\Agilent SICL User’s Guide for Windows_E2094-90038.pdf
29dB功率增益； 3.3V，+24dBm输出功率下:
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效率（PAE）为24%； 可以获得低于-32dBc的一阶旁瓣抑制率（ACPR）； 以及低于-55dBc的二阶旁瓣抑制率（ACPR）。
MAX2247 PA
2.4GHz SiGe Linear Power Amplifier （2400 to 2500 GHz） KEY FEATURES：
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Typical Operating Circuit
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2005春季Βιβλιοθήκη 期RF S-Parameters
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MAX2644 Noise Figure
2.4GHz SiGe, High IP3 Low-Noise Amplifier（2400 to 2500 GHz） KEY FEATURES：
Low Noise Figure (2.0dB at 2450MHz)； High Gain: 16dB； Adjustable IIP3 （-8 to -3 dBm）and Bias Current； Low-Power Standby Mode； On-Chip Output Matching； +2.7V to +5.5V Single-Supply Operation； Ultra-Small 6-Pin SC70 Package。
2.4GHz to 2.5GHz Operating Range； Up to +24dBm Linear Output Power (ACPR of Less than 32dBc First-Side Lobe and Less than -55dBc SecondSide Lobe)； 24% PAE at +24dBm Linear Output Power, 3.3V 24% PAE at +21dBm Linear Output Power, 3.0V 29dB Power Gain； On-Chip Power Detector with Buffered Output； Internal 50 Input Matching； Integrated Bias Circuitry； +2.7V to +4.2V Single-Supply Operation； 0.5µA Shutdown Mode； Tiny Chip-Scale Package (1.5mm x 2mm)。
内容
12.1 射频集成电路测试基本问题 12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案 12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案 12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案 12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案 12.6 混频器主要技术指标及其测试方案 12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案 12.8 电子测量自动化 12.9 GPIB总线标准 12.10 VXI总线系统简介 12.11 ATE自动测试系统 第六次实验 典型射频芯片测试 第十二讲 典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控 (GPIB)小结
威宇科技（）是一家外商独资的半导体 后工序企业,已在上海浦东开发区张江高科技园区建立 一个完整的封装设计,组装, 测试企业。
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84000射频集成电路测试系统
安捷伦84000射频集成电路测试系统具有广泛升级空间 的RFIC解决方案，具有2到12个RF测试端口，可以满足 严格的市场需求，对于多功能RFIC、信号收发器、信 号混合器、信号转换器（Mixer）、功率放大器（PA） 和低噪声放大器（LNA）提供了完备的解决方案。 可以测试如噪声图、信号转换增益、双频三阶截取点、 相邻信道能量隔离等多种参数。 同时，84000系统不需要经常地进行校准，且校准过程 极为简单，易于操作，确保系统可以迅速地转产其它 器件。 相对于标准的实验室环境，84000的比对测试结果高达 98%。由于稳定的量产启动周期和迅速的器件转产能力， 84000可以极大地缩短测试时间，从而缩短了产品的上 市周期。