【精品课件】薄膜的物理气相沉积Ⅰ-热蒸发
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物理气相沉积PPT课件
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成膜机理? 真空蒸发所得到的薄膜,一般都是多晶膜或无定 形膜,经历成核和成膜两个过程。蒸发的原子(或分子)碰撞 到基片时,或是永久附着在基片上,或是吸附后再蒸发而离开 基片,其中有一部分直接从基片表面反射回去。粘附在基片表 面的原子(或分子)由于热运动可沿表面移动,如碰上其它原 子便积聚成团。这种团最易于发生在基片表面应力高的地方, 或在晶体衬底的解理阶梯上,因为这使吸附原子的自由能最小。 这就是成核过程。进一步的原子(分子)淀积使上述岛状的团 (晶核)不断扩大,直至展延成连续的薄膜。
Stranski-Krastanov Mode
Layer Plus Island Growth
衬底
( 2D-3D )
PVD所需实验条件
►高真空 (HV) ►高纯材料 ►清洁和光滑的衬底表面 ►提供能量的电源
PVD的通用实验配置
衬底
真空室 反应气体管道
充气管道
Plume
厚度监控仪 靶材
真空泵
一、蒸发镀膜
提高薄膜纯度的方法: –降低残余气体分压,提高真空度; –提高基片温度,提高沉积速率;
二、溅射镀膜
溅射镀膜是利用电场对辉光放电过程中产生出来的带电离子进行加速,使其获得一 定的动能后,轰击靶电极,将靶电极的原子溅射出来,沉积到衬底形成薄膜的方法。
辉光放电
溅射沉积薄膜原理
Al膜
阳
避免金属 真空 原子氧化
7、薄膜的纯度:
蒸发源纯度的影响: 加热器、坩埚、支撑材料等的污染: 残余气体的影响:
Substrate
残留气体在衬底上形成一单原子层所需时间
生长材料的分子 残留气体分子
Pressure (Torr) 10-4 10-5 10-6 10-7 10-8 10-9 10-10 10-11
物理气相沉积PPT课件
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真空蒸镀的设备相对简单, 工艺操作容易, 可镀材料广, 镀膜纯洁, 广泛用于光 学、电子器件和塑料制品的表面处理。缺点是膜一基结合力弱,镀膜不耐磨, 并有方向性。
.
6
(2)溅射镀
原理是充氩(Ar)气的真空条件下,使氩气进行辉光放电, (Ar) (Ar+),Ar+在电场力的作用下,加速轰击以镀料制作的阴极靶材,靶材 会被溅射出来而沉积到工件表面。
物理气相沉积 技术概述
.
1
一、气相沉积技术概述
近年来表面工程学发展迅速,新的表面涂层技术层出不穷,气相沉积就是发展最 快的新涂层技术之一.
(1).定义: 所谓气相沉积是利用在气相中以物理或化学的反应过程,在工件表面形成 具有特殊性能的金属或化合物涂层的方法.
(2).气相沉积的特点: 可以用来制备具有各种特殊力学性能和物理化学性能(如:高硬度,高耐热,高
溅射镀膜纯度高、均匀,而且基板温度低。因此适用性广, 可沉积纯金
属、合金或化合物。
溅射镀膜的缺点 溅射设备复杂,需要高压装置
入射Ar离子
溅射出的原子
溅射淀积的成膜速度低,真空蒸发镀 膜淀积速率为0.1~5μm/min,溅射 速率为0.01~0.5 μm/min。
基片温升较高,易受杂质气体影响。
离子镀
很好 应工艺条件而定
较好
电阻加热、电子束加 热、感应加热等。
阴极溅射
蒸发式、溅射式、 化学式。
工件不带电,真空条 件下金属加热蒸发沉 积到工件表面
工件为阳极, 靶材为阴极, 利用氩离子溅 射,靶材原子 击出而沉积。
工件带负偏压, 工件表面受离子 轰击同时,被沉 积蒸发物或其反 应物。
.
10
.
热导,高耐腐蚀,抗氧化,绝缘等)涂层.不仅可以层积金属涂层,合金涂层,还可 以层积多种多样的化合物.非金属半导体.陶瓷和有机物的单层和多层结构的涂层.
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(2)溅射镀
原理是充氩(Ar)气的真空条件下,使氩气进行辉光放电, (Ar) (Ar+),Ar+在电场力的作用下,加速轰击以镀料制作的阴极靶材,靶材 会被溅射出来而沉积到工件表面。
物理气相沉积 技术概述
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1
一、气相沉积技术概述
近年来表面工程学发展迅速,新的表面涂层技术层出不穷,气相沉积就是发展最 快的新涂层技术之一.
(1).定义: 所谓气相沉积是利用在气相中以物理或化学的反应过程,在工件表面形成 具有特殊性能的金属或化合物涂层的方法.
(2).气相沉积的特点: 可以用来制备具有各种特殊力学性能和物理化学性能(如:高硬度,高耐热,高
溅射镀膜纯度高、均匀,而且基板温度低。因此适用性广, 可沉积纯金
属、合金或化合物。
溅射镀膜的缺点 溅射设备复杂,需要高压装置
入射Ar离子
溅射出的原子
溅射淀积的成膜速度低,真空蒸发镀 膜淀积速率为0.1~5μm/min,溅射 速率为0.01~0.5 μm/min。
基片温升较高,易受杂质气体影响。
离子镀
很好 应工艺条件而定
较好
电阻加热、电子束加 热、感应加热等。
阴极溅射
蒸发式、溅射式、 化学式。
工件不带电,真空条 件下金属加热蒸发沉 积到工件表面
工件为阳极, 靶材为阴极, 利用氩离子溅 射,靶材原子 击出而沉积。
工件带负偏压, 工件表面受离子 轰击同时,被沉 积蒸发物或其反 应物。
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热导,高耐腐蚀,抗氧化,绝缘等)涂层.不仅可以层积金属涂层,合金涂层,还可 以层积多种多样的化合物.非金属半导体.陶瓷和有机物的单层和多层结构的涂层.
第二章物理气相沉积优秀课件
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2.1.1 电阻热蒸发(thermal evaporation)
热蒸发: 蒸发材料在真空室中被加热,其原子或分子从表面溢出
1、饱和蒸气压PV 定义:
在一定温度下,真空室中蒸发材料的蒸气在与固体或液体平衡过 程中所表现出的压力称为该温度下的饱和蒸气压
3
dPV H dT T(VGVL)
∆H:摩尔气化热 T:绝对温度
某些元素的平衡蒸气压
5
2、蒸发粒子的速度和能量
Em
1 2
mv
2 m
kT
2
vm
3kT m
3RT M
E 3 kT 2
T 1000 ~ 2500 C
E 0 . 1 ~ 0 . 2 eV
m:一个蒸发分子的质量 M:摩尔质量 T:绝对温度 k:玻尔兹曼常数 R:气体普适常数
平均速度105cm/s
激波薄层中O2分子将被激发、离解乃至电离而以氧原子、氧 离子等化学活泼状态存在
烧蚀物紧挨着该区域,其中的金属元素与上述的化学活性氧发 生气相化学反应
显著的气相化学反应发生在激波形成后约5mm的范围内
27
2.2.5 颗粒物的抑制方法
颗粒物是限制PLD技术获得广泛应用的主要因素之一
解决途径:争取从源头上减少液滴的产生或在传输过程中减少液 滴到衬底的沉积
VG:气相摩尔体积 VL:液相摩尔体积
RT V VG VL VG PV
ln PV A H A B
RT
T
R:气体普适常数 A、B为常数
4
饱和蒸气压随着温度升高而迅速增加 由图中曲线知:
a. 达到正常薄膜蒸发速率所需温度,即 PV=1Pa时温度; b. 蒸发速率随温度变化的敏感性; c. 蒸发形式:蒸发温度高于熔点,蒸发状 态是熔化的,否则是升华。
热蒸发: 蒸发材料在真空室中被加热,其原子或分子从表面溢出
1、饱和蒸气压PV 定义:
在一定温度下,真空室中蒸发材料的蒸气在与固体或液体平衡过 程中所表现出的压力称为该温度下的饱和蒸气压
3
dPV H dT T(VGVL)
∆H:摩尔气化热 T:绝对温度
某些元素的平衡蒸气压
5
2、蒸发粒子的速度和能量
Em
1 2
mv
2 m
kT
2
vm
3kT m
3RT M
E 3 kT 2
T 1000 ~ 2500 C
E 0 . 1 ~ 0 . 2 eV
m:一个蒸发分子的质量 M:摩尔质量 T:绝对温度 k:玻尔兹曼常数 R:气体普适常数
平均速度105cm/s
激波薄层中O2分子将被激发、离解乃至电离而以氧原子、氧 离子等化学活泼状态存在
烧蚀物紧挨着该区域,其中的金属元素与上述的化学活性氧发 生气相化学反应
显著的气相化学反应发生在激波形成后约5mm的范围内
27
2.2.5 颗粒物的抑制方法
颗粒物是限制PLD技术获得广泛应用的主要因素之一
解决途径:争取从源头上减少液滴的产生或在传输过程中减少液 滴到衬底的沉积
VG:气相摩尔体积 VL:液相摩尔体积
RT V VG VL VG PV
ln PV A H A B
RT
T
R:气体普适常数 A、B为常数
4
饱和蒸气压随着温度升高而迅速增加 由图中曲线知:
a. 达到正常薄膜蒸发速率所需温度,即 PV=1Pa时温度; b. 蒸发速率随温度变化的敏感性; c. 蒸发形式:蒸发温度高于熔点,蒸发状 态是熔化的,否则是升华。
薄膜物理课件 (7)薄膜的物理气相沉积法
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真空蒸发的基本原理
计算1%的温度变化, 蒸发薄膜生长速率的变化情况 蒸发薄膜生长速率的变化情况。 值为 计算 的温度变化,Al蒸发薄膜生长速率的变化情况。B值为 的温度变化 3.586×104K,蒸气压为1托时的蒸发温度值为 × ,蒸气压为1托时的蒸发温度值为1830K
dG B 1 dT = 2.3 − G T 2 T
真空蒸发的基本原理
3. 蒸发速率 处于热平衡状态时,压强为 的气体单位时间内碰撞单位面积 处于热平衡状态时,压强为P的气体单位时间内碰撞单位面积 的分子数
1 P J = nυ a = 4 2πmkT
n:分子密度 : Va:算术平均速度 : m:分子质量 : k:玻尔兹曼常数 :
真空蒸发的基本原理
真空蒸发的基本原理
思考如下问题:如果沉积过程不在真空环境下进行将怎样? 思考如下问题:如果沉积过程不在真空环境下进行将怎样? (1) 蒸发原子或分子将与大量的空气分子碰撞,使膜层受到污染, 蒸发原子或分子将与大量的空气分子碰撞,使膜层受到污染, 甚至形成氧化物 (2) 蒸发源被加热氧化物烧毁 (3) 由于空气分子的碰撞阻挡,难以形成均匀连续的薄膜 由于空气分子的碰撞阻挡,
真空蒸发的基本原理
如果对上式乘以原子或分子质量, 如果对上式乘以原子或分子质量,则得到单位面积的质量蒸 发速率
G = mJ m =
≈ 5.83 × 10
−2
m ⋅P υ 2πkT
(g/cm2·s,Torr) / (kg/m2·s,Pa) /
M ⋅P υ T M ⋅P υ T
≈ 4.37 × 10
−3
第一节
一、真空蒸发的基本原理
真空蒸发镀膜法
1. 真空蒸发的特点与蒸发过程 真空蒸发镀膜的特点: 真空蒸发镀膜的特点: 设备比较简单,操作容易;制成的薄膜纯度高、质量好, 设备比较简单,操作容易;制成的薄膜纯度高、质量好,厚 度可较准确控制;成膜速度快、效率高; 度可较准确控制;成膜速度快、效率高;薄膜的生长机理比 较单纯 真空蒸发镀膜的缺点: 真空蒸发镀膜的缺点: 不容易获得结晶结构的薄膜,薄膜与基板的结合力小,工艺的重 不容易获得结晶结构的薄膜,薄膜与基板的结合力小, 复性不好
薄膜沉积的物理方法精品PPT课件
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2、污染薄膜(轰击基片并吸附): 引入残余气体分子对基片的撞击率 (Ng)予以表征: N g 3.5131022
式中:Pg — 残余气体分压;Mg — 残余气体分子量;Tg — 残余气体的温度
Pg M gTg
cm-2 s-1
课本 P38 表2.2 显示:常用真空度及沉积率下,残余气体分子可能污染薄膜;
3.1.2 蒸发沉积装置
五、激光蒸发:
采用激光作为热源照射待蒸发材料,实现其蒸发和沉积。
1、蒸发装置: 见课本 P44 图2.12 或 右图。
2、主要优点: 热源清洁,无来自加热体的污染; ❖ 表面局部加热,无来自支撑物的污染; 聚焦可获得高功率,可沉积陶瓷等高熔点材料以及
复杂成分材料(瞬间蒸发); 光束集中,激光装置可远距离放置,可安全沉积一
课后作业:
1、什么是物理气相沉积(PVD)?举例说明PVD的主要过程。 2、真空蒸发装置一般包括哪三个组成部分?何者为最关键的部分,主要需要完成哪些功能? 3、真空蒸发装置主要包括哪些类别?选择三种典型蒸发装置,比较其原理、特点和适用领域。
3 薄膜沉积的物理方法
3.2 溅射沉积技术
3.2.1 溅射的基本概念及原理
❖ 基片距离 (相对于蒸发源):10~50 cm(兼顾沉积均匀性和气相粒子平均自由程)
三、蒸发条件:分压 Pi < 平衡蒸汽压 Pei
1、物理机制:
■ 蒸发与凝聚同时发生,动态双向进行;
■ T 一定时,动态平衡时的蒸汽压即平衡蒸汽压
Pe /Torr
■ Pi > Pei 凝聚; Pi < Pei 蒸发 (净蒸发 > 0)
些特殊材料薄膜(如高放射性材料); 可引导激光束,实现多源同步或有序蒸发; 脉冲激光可实现超高功率脉冲加热,实现超高温瞬时蒸发。
第三讲_薄膜的物理气相沉积-蒸发沉积
![第三讲_薄膜的物理气相沉积-蒸发沉积](https://img.taocdn.com/s3/m/e49b379ce53a580216fcfea1.png)
提高薄膜的沉积速率和真空度,均有助于提高薄膜纯度
蒸发沉积技术的种类
电阻热蒸发 电子束热蒸发 电弧热蒸发 激光束热蒸发 空心阴极热蒸发
电阻式热蒸发装置
特点: 装置简单,应用广泛 需要针对不同的被蒸发材料选择加热材料和方法 加热温度不能过高,易产生电阻丝等加热材料的污染
A A xA pA (0) M B B B x B pB (0) M A
都将不同于合金中的组元之比
合金中各元素的热蒸发
合金组元的蒸气压之比一般都要偏离合金的原 始成分。当组元A与其他组元的吸引作用力较小时 ,它将拥有较高的蒸气压;反之,其蒸气压将相对 较低。 当需要制备的薄膜成分已知时,由上式可以确 定所需要使用的合金蒸发源的成分。比如,已知在 1350K的温度下,Al的蒸气压高于Cu,因而为了获 得Al-2%Cu成分的薄膜,需要使用的蒸发源的大致 成分应该是Al-13.6%Cu。但当组元差别很大时,这 一方法就失去了可行性。
合金中各元素的热蒸发
对于初始成分确定的蒸发源来说,由上式确定的 组元蒸发速率之比将随着时间而发生变化: 易于蒸发 的组元的优先蒸发将造成该组元的不断贫化,进而造 成该组元蒸发速率的不断下降。
解决这一问题的办法
使用较多的物质作为蒸发源,即尽量减小组元成分的相 对变化 采用向蒸发容器中不断地、但每次仅加入少量被蒸发物质 的方法,即使得少量蒸发物质的不同组元能够实现瞬间的 同步蒸发 利用加热至不同温度的双蒸发源或多蒸发源的方法,分别 控制和调节每个组元的蒸发速率(所谓三温度法)
第三讲
薄膜材料的蒸发沉积
Preparation of thin films by vacuum evaporation
《物理气相沉积》课件
![《物理气相沉积》课件](https://img.taocdn.com/s3/m/8dde6bedd0f34693daef5ef7ba0d4a7302766c29.png)
电源设备
高压电源
01
提供高电压以产生电离气体。
直流电源
02
提供直流电流以加热沉积材料。
射频电源
03
提供射频能量以实现射频物理气相沉积。
控制设备
控制系统
用于控制物理气相沉积过程的各项参数,如温度、压力、电流等 。
监控系统
用于实时监测物理气相沉积过程的状态和参数。
数据采集系统
用于采集和记录物理气相沉积过程中的数据。
缺陷。
涂层制备工艺
真空系统建立
通过真空泵将沉积室内的气体抽至一定的真空度 ,为涂层制备创造必要的环境条件。
气相沉积
在真空条件下,通过物理方法将气态物质转化为 固态涂层,附着在工件表面。
涂层厚度控制
通过控制沉积时间和工艺参数,精确控制涂层的 厚度和均匀性。
后处理工艺
退火处理
通过加热使涂层内部原子重新排列,提高涂层的硬度 和稳定性。
详细描述
在溅射沉积中,高能粒子(如离子)轰击靶材表面,使靶材 原子或分子从表面溅射出来,并在基体上沉积形成薄膜。该 方法可用于制备金属、合金、陶瓷和其它无机材料。
离子镀
总结词
离子镀是一种物理气相沉积技术,通过将材料离子化并在电场作用下加速到基体 上,实现高能离子束沉积成膜。
详细描述
在离子镀中,将材料离子化后形成离子束,通过电场加速作用将离子束导向基体 表面,在基体上沉积形成薄膜。该方法可用于制备金属、合金、陶瓷和其它无机 材料,具有高沉积速率和良好的附着力。
由金属和非金属材料组成,具有优异 的力学性能和耐磨性,常用于制造机 械零件和刀具等。
04
物理气相沉积工艺
前处理工艺
表面清洗
去除工件表面的污垢、油脂和杂 质,确保表面干净,以提高涂层
第三章_薄膜的物理气相沉积(Ⅰ)讲义-蒸发法
![第三章_薄膜的物理气相沉积(Ⅰ)讲义-蒸发法](https://img.taocdn.com/s3/m/b00dd69bc850ad02df80417b.png)
五、元素、化合物、合金蒸发的特点
4、多组分薄膜的蒸发方法
利用蒸发法制备多组分薄膜的方法主要有三种方法 (1)单源蒸发法:先按薄膜组分比例的要求制成合金靶,然后
对合金靶进行蒸发、沉积形成固态薄膜。基本要求是合金靶 中各组分材料的蒸汽压比较接近。 (2)多源同时蒸发法:利用多个坩埚,在每个坩埚中放入薄膜 所需的一种材料,在不同温度下同时蒸发。 (3)多源顺序蒸发法:把薄膜所需材料放在不同坩埚中,但不 是同时蒸发,而是按顺序蒸发,并根据薄膜组分控制相应的 层厚,然后通过高温退火形成需要的多组分薄膜。
平衡蒸汽压。当被蒸发物质的分气压降低到了它的平
衡蒸汽压以下,才可能有物质的净蒸发。单位源物质
表面上物质的净蒸发速率为:
由
dN(Pe Ph)
Adt 2mkT
v 8 RT M mol
PV nRT 推出
四、物质的蒸发速率
单位物质表面的质量蒸发速度:
m e ( P eP h)
2M R T 5 .8 3 1 2 0 (p ep h)
六 真空蒸发源
1、电阻式加热蒸发 普通电阻加热: 利 用 一 些 高 熔 点 、 低 蒸 气 压 的 金 属 ( W , Mo, Ta等)制成各种形状的加热器;一方面作为加 热,同时支撑被加热的物质。(低压大电流)
六 真空蒸发源
六 真空蒸发源
实际合金的蒸气压之比更加偏离合金中的原始组分之比。 PA = A APA(0) ;PB = B BPB(0) ;
-A, B 分别为元素A、B在合金中的活度系数 合金中A、B组元的蒸发速率之比为
A AxAPA(0) MB B BxBPB(0) MA
对于初始成分确定的蒸发源,易于蒸发的组元优先蒸发,造成该 组元的不断贫发,造成该组元的蒸发速率下降。 实际采取的措施:采用双源或多源,分别加热至不同温度来控制 每一组元的蒸发速率。
第二章-薄膜制备的物理方法课件(1)
![第二章-薄膜制备的物理方法课件(1)](https://img.taocdn.com/s3/m/9b699ba4aff8941ea76e58fafab069dc5022479d.png)
合物时,其组分之间发生反应,其中有些组分以气态或蒸气进
入蒸发空间。
(2)气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运,即这些粒子在
环境气氛中的飞行过程。
飞行过程中与真空室内残余气体分子发生碰撞的次数,取决
于蒸发原子的平均自由程及蒸发源到基片之间的距离,常称源
—基距。
(3)蒸发原子或分子在基片表面上的淀积过程,
即是蒸气凝聚、成核、核生长、形成连续薄膜。由于基板温
度远低于蒸发源温度,因此,沉积物分子在基板表面将直接发
生从气相到固相的相转变。
2024/9/24
6
2.1.2 蒸发热力学
1.饱和蒸汽压
一定温度下,真空室内蒸发物质的蒸气与固
体或液体平衡过程中所表现的压力称为该物质
的饱和蒸气压。
物质的饱和蒸气压随温度的上升而增大,
4. 锥形篮式蒸发源在各圈间隔很小时,其发射特性与平面蒸发
源近似。
5. 坩埚蒸发源可看成表面蒸发源或高度定向的蒸发源。
6. 磁控靶源可看成大面积(平面或圆柱面)蒸发源。
蒸发源的发射特性是比较复杂的问题,为了得到较均匀的膜厚
还必须注意源和基板的配置,或使基板公转加自转等。
2024/9/24
33
6). 热蒸发镀膜的阴影效应
dA
s
c
scos
2
2
M
4
r
4
r
e
2024/9/24
dM
dA
M
s
c
ecos
2
2
dA
4
r
4
r
s
薄膜厚度:
dM s
d
dAs
入蒸发空间。
(2)气化原子或分子在蒸发源与基片之间的输运,即这些粒子在
环境气氛中的飞行过程。
飞行过程中与真空室内残余气体分子发生碰撞的次数,取决
于蒸发原子的平均自由程及蒸发源到基片之间的距离,常称源
—基距。
(3)蒸发原子或分子在基片表面上的淀积过程,
即是蒸气凝聚、成核、核生长、形成连续薄膜。由于基板温
度远低于蒸发源温度,因此,沉积物分子在基板表面将直接发
生从气相到固相的相转变。
2024/9/24
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2.1.2 蒸发热力学
1.饱和蒸汽压
一定温度下,真空室内蒸发物质的蒸气与固
体或液体平衡过程中所表现的压力称为该物质
的饱和蒸气压。
物质的饱和蒸气压随温度的上升而增大,
4. 锥形篮式蒸发源在各圈间隔很小时,其发射特性与平面蒸发
源近似。
5. 坩埚蒸发源可看成表面蒸发源或高度定向的蒸发源。
6. 磁控靶源可看成大面积(平面或圆柱面)蒸发源。
蒸发源的发射特性是比较复杂的问题,为了得到较均匀的膜厚
还必须注意源和基板的配置,或使基板公转加自转等。
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6). 热蒸发镀膜的阴影效应
dA
s
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薄膜厚度:
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薄膜的物理气相沉积PPT课件
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3.1 概述
真空蒸镀(Vacuum Evaporation)
蒸发条件(分压 Pi < 平衡蒸汽压 Pe)
物理机制 蒸发与凝聚同时发生,动态双向进行; T 一定时,动态平衡时的蒸汽压即平衡蒸汽压 Pi > Pe 凝聚; Pi < Pe 蒸发 (净蒸发 > 0)
怎样实现蒸发条件? He 升温 : PeaeRT T 也随之↓ 充入其它气体: P = ∑Pi 总压不变、目标物质分压 Pi ↓
湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所 Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
薄膜技术与应用
薄膜的物理气相沉积技术(Ⅰ)
湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
膜层在高真空环境下形成,蒸汽中的膜层粒子基本上是原子态,在工 件表面形成细小的核心,生长成细密的组织;
一般只在工件面向蒸发源的一面可以沉积膜层,工件的背面几乎不沉 积。
2020/12/3
7
湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
分类
电阻加热、电子束蒸发、电弧放电、激光加热、分子束外延
2020/12/3
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湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
真空蒸镀(Vacuum Evaporation)
蒸发条件(分压 Pi < 平衡蒸汽压 Pe)
物理机制 蒸发与凝聚同时发生,动态双向进行; T 一定时,动态平衡时的蒸汽压即平衡蒸汽压 Pi > Pe 凝聚; Pi < Pe 蒸发 (净蒸发 > 0)
怎样实现蒸发条件? He 升温 : PeaeRT T 也随之↓ 充入其它气体: P = ∑Pi 总压不变、目标物质分压 Pi ↓
湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所 Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
薄膜技术与应用
薄膜的物理气相沉积技术(Ⅰ)
湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
膜层在高真空环境下形成,蒸汽中的膜层粒子基本上是原子态,在工 件表面形成细小的核心,生长成细密的组织;
一般只在工件面向蒸发源的一面可以沉积膜层,工件的背面几乎不沉 积。
2020/12/3
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湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
分类
电阻加热、电子束蒸发、电弧放电、激光加热、分子束外延
2020/12/3
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湖南大学电子封装材料与薄膜技术研究所
Institute of Electronic Packaging Materials and Thin Films Technology
薄膜的物理气相沉积Ⅰ蒸发法
![薄膜的物理气相沉积Ⅰ蒸发法](https://img.taocdn.com/s3/m/a207ba805ebfc77da26925c52cc58bd630869360.png)
新材料应用到物理气相沉积中,以获得性能更优异的薄膜。
02
新工艺的开发
除了新材料外,新工艺的开发也是非常重要的。需要研究如何开发新的
工艺,以更有效地沉积出高质量的薄膜。
03
跨学科合作
新材料和新工艺的研究与开发往往需要跨学科的合作,如化学、物理、
材料科学等。需要积极开展跨学科的合作,以推动薄膜沉积技术的发展。
蒸发物质的性质
蒸发物质的性质也会影响薄膜的 附着力。需要研究如何选择和优 化蒸发物质的性质,以提高薄膜 的附着力。
工艺参数优化
工艺参数如温度、压力、气体流 量等也会影响薄膜的附着力。需 要研究如何优化这些工艺参数, 以提高薄膜的附着力。
新材料、新工艺的研究与开发
01
新材料的研究
随着科技的发展,不断有新的材料被发现和研究。需要研究如何将这些
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总结词
激光诱导蒸发源是利用高能激光束照射材料表面,使其达到熔融状态并产生蒸气的过程。
详细描述
激光诱导蒸发源通过高能激光束照射材料表面,使其迅速达到高温熔融状态并蒸发。该蒸发源具有高能量密度、 快速加热和精确控温等优点,适用于高熔点材料和薄膜的制备。同时,激光诱导蒸发源还可以实现薄膜的图案化 制备和原位掺杂等特殊应用。
单晶结构
通过特定工艺可制备单晶 结构的薄膜,具有更好的 物理性能。
非晶结构
通过控制蒸发条件可获得 非晶结构的薄膜,具有优 异的稳定性和光学性能。
薄膜的物理性质
导电性
01
蒸发法制备的薄膜导电性良好,可应用于电子器件和集成电路。
光学性能
02
蒸发法制备的薄膜具有优异的光学性能,如高反射、高透过等
特性。
第3-1章 薄膜的物理气相沉积(Ⅰ)-蒸发法
![第3-1章 薄膜的物理气相沉积(Ⅰ)-蒸发法](https://img.taocdn.com/s3/m/fff02ff70242a8956bece4ee.png)
桂林电子科技大学
材料科学与工程学院
一些常用物质的饱和蒸气压与温度的关系
• 在真空条件下物质的蒸发要比常压下容易得多,所需蒸发温度 也大大降低,蒸发过程也将大大缩短,蒸发速率显著提高。 饱 和蒸气压PV与温度T的关系可以帮助我们合理地选择蒸发材料 及确定蒸发条件,因而对于薄膜制作技术有重要的实际意义。
基板
真空
原材料在真空中加热
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材料科学与工程学院
3. 1.5 真空蒸发镀膜的原理 真空蒸发镀膜法(简称真空 蒸镀)是在真空室中,加热蒸 发容器中待形成薄膜的原材 料,使其原子或分子从表面
气化逸出,形成蒸气流,入
射到基片表面,凝结形成固 态薄膜的方法。 方法的核心点:镀膜材料通 过物理方法输运到基体的表 面,形成薄膜;
单位时间内通过单位面积的气体的分子数:
Ng
1 P nVa 4 2mkT
25℃时,10-5 Torr时, Ng大约为1015~1016个/cm2· s, 此时蒸发原子与杂质原子几乎
按 1 :1 到 达基板
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3. 2.1.1 1.8元素蒸发速率 纯元素、合金与化合物的蒸发热 2.1.2
(3)对于初始成分确定的蒸发源来说,组元蒸发速率之比将随
着时间而发生变化。易于蒸发的组元优先蒸发造成该组元不 断贫化,进而造成该组元蒸发速率的不断下降。
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3. 1.8 纯元素、化合物(或合金)蒸发热 解决办法真空蒸镀薄膜成份偏析的办法: (1)使用足量的物质作为蒸发源,即尽量减小组元成分的相 对变化率; (2)向蒸发容器内不断地、每次加入少量被蒸发物质,实现 同步蒸发; (3)加热双蒸发源或多蒸发源,分别控制和调节每个组元的 蒸发速率。
第5讲 蒸发法
![第5讲 蒸发法](https://img.taocdn.com/s3/m/358ff46e680203d8cf2f244a.png)
物理气相沉积法制备薄膜的特点:
1、需要使用固态的或者熔融态的物质作为沉积过程的源物质;
2、源物质经过物理过程而进入环境;
3、需要相对较低的气体压力环境;
4、在气相中及在衬底表面并不发生化学反应。
物理气相沉积的三个阶段:
1、从源材料中发射出粒子;
2、粒子输运到基片;
3、粒子在基片上凝结、成核、长大、成膜。
点蒸发源:
dMs dAs
Me cos 4r2
(2-12)
面蒸发源 dMs Mecosco s (2-13)
dAs
r2
式中,Ms为衬底面积As上沉积的物质的质量;Me为蒸发出来的物质总量;θ 是衬底 表面法线与空间角方向间的偏离角度;r是蒸发源与衬底之间的距离;Φ是面蒸发 源平面法线与空间角方向间的偏离角度。
精选版课件ppt
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5.1 物质的热蒸发
了解两个概念
热蒸发:蒸发材料在真空室中被 加热到足够温度时,其原子或 分子就会从表面逸出, 这种现 象叫做热蒸发。
饱和蒸汽压:在一定温度下,真 空室中蒸发材料的蒸汽在与固 体或液体平衡过程*中所表现出 的压力,称为该温度下的饱和 蒸汽压。(它随温度升高而增 大)
精选版件ppt
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(2)加热装置所用电阻材料要求:
1)使用温度高,即熔点要高,必须高于蒸发材料的蒸发温度;
2)高温下蒸气压低。这主要是为防止或减少高温下蒸发源材料会成为杂质 进入蒸镀膜层中。只有蒸发源材料的饱和蒸气压足够低。才能保证蒸发时具有最 小的自蒸发量,而不致于产生影响真空度和污染膜层质量的蒸气;
2)缺点:热效率较低;过高的热功率对整个
沉积系统形成较强的热辐射。
精选版课件ppt
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3、电弧蒸发装置
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2.2 薄膜沉积的厚度均匀性和纯度★
2.2.1 薄膜沉积的方向性和阴影效应 在物质蒸发的过程观组织结构
蒸发源的形状: 点蒸发源(点源):能够从各个方向蒸发等 量材料的微小球状蒸发源。(距离衬底较远, 尺寸较小) 面蒸发源
M 2πRT
对元素蒸发速率影响最大的因素:
蒸发源所处的温度。
2.1.2 元素的平衡蒸气压
克劳修斯-克莱普朗( Clausius-Claperon) 方程:
dp e
dT
△H T△V
pV=RT
dp e
p△H
dT RT2
ΔH — 蒸发过程中每摩尔元素的热焓变化,随温 度不同而不同, ΔH (T);
ΔV — 相应蒸发过程中物质体积的变化,ΔV≈V 。
第二章 薄膜的物理气相沉积(I) —— 蒸发法
物理气相沉积(Physical Vapor Deposition, PVD) 利用某种物理过程,如物质的热蒸发或在
受到粒子束轰击时物质表面原子的溅射等现 象,实现物质原子从源物质到薄膜的可控转移 过程。
特点: (1)需要使用固态的或者熔化态的物质作为沉
e
T
热蒸发用的坩埚 石墨电极间高温放电
2
2
物质的蒸发模式:
1. 即使是当温度达到熔点时,其平衡蒸气压也低于 10-1 Pa。(大多数金属) 加热到熔点以上
2. 低于熔点时,平衡蒸气压已经相对较高。 (Cr、 Ti、Mo、Fe、Si) 固态物质的升华
2.1.3 化合物与合金的热蒸发 薄膜成分偏离 蒸发源成分
积过程的源物质; (2)源物质要经过物理过程进入气相; (3)需要相对较低的气体压力环境;
① 气相分子的运动路径近似为一条直线; ② 气相分子在衬底上的沉积几率接近100%。
(4)在气相中及衬底表面并不发生化学反应。
基本PVD方法: 蒸发法(<10-3 Pa)
(真空度较高,沉积速度较高,薄膜纯度较高, 薄膜与基片结合较差)
于1。
靠近基板的膜富Cr
Ni-Cr合金薄膜具有良好附着性。
解决办法: ①蒸发源使用较多,以减小组元成分的相对变化 率; ②向蒸发容器中不断地、每次加入少量被蒸发物 质,以实现瞬间同步蒸发;
(能获得成分均匀的薄膜,可以进行掺杂蒸发,但蒸发速 率难于控制,且蒸发速率不能太快)
③采用不同温度的双蒸发源或多蒸发源,分别控 制和调节每一组元的蒸发速率。
理想溶液,即两组元A-B原子间的作用能与A-A 或B-B原子间的作用能相等;
拉乌尔定律 pB=xBpB(0) 非理想溶液
pB = αBpB(0)=γBxBpB(0) αB — 活度,“有效浓度”; γB — 活度系数,组元偏离理想溶液的程度。
合金组元蒸发速率之比
φ φ A p pA
M MB γ γ AxxAp pA((0 0))
ΔH≈气化热ΔHe,则
ln p △H e I
e
RT
p Be △
H
e
RT
e
I — 积分常数 B — 系数
在一定的温度区间内严格成立
更准确地描述元素平衡蒸气压随温度的变化, 需要代入实际的ΔH(T)函数形式。
例如,液态Al,平衡蒸气压满足的关系式:
lp g ( P ) 1 a5 1 .5 9 4 3 0 9 .93 l 3 9 T g 3 .9 5 1 2 6 T 0
溅射法(10-2 ~ 10Pa) (多元合金薄膜化学成分容易控制,沉积层对衬 底的附着力较好)
离子镀、反应蒸发沉积、离子束辅助沉积等
2.1 物质的热蒸发 2.2 薄膜沉积的厚度均匀性和纯度 2.3 真空蒸发装置
2.1 物质的热蒸发
工作原理: 在真空环境下,给待蒸发物质提供足够的热
量以获得蒸发所必需的蒸气压。在适当的温度下, 蒸发粒子在基片上凝结,即可实现真空蒸发沉积。
dMs= Me /4π· dAs cosθ/r2
M B
M
B
B
A
BB B
A
★蒸发法不宜被用来制备组元平衡蒸气压差别 较大的合金的薄膜。
组元蒸气压相近时,可估算合金蒸发源的成分。 例如,1350K,薄膜成分:Al-2%Cu (质量分数),
需蒸发源成分:A1-13.6%Cu (质量分数)。
对于初始成分确定的蒸发源,组元蒸发速率 之比随时间而变化。 原因:易于蒸发的组元的优先蒸发使该组元不 断贫化,进而使该组元蒸发速率不断下降。
当环境中元素分压降低到平衡蒸气压之下时, 就发生元素的净蒸发。
薄膜沉积速率正比于气体分子的通量。
单位表面上元素的净蒸发速率
ΦαN2( AπpMe Rph) T
α — 系数,介于0~1之间;
m n M N
A
pe、ph — 平衡蒸气压和实际情况下的分压。 单位表面上元素的质量蒸发速率
Γα(p p)
e
h
步骤:①蒸发源材料由凝聚相转变成气相; ②在蒸发源与基片之间蒸发粒子的输运; ③蒸发粒子到达基片后凝结、成核、长大、 成膜。
组成部分: 真空室; 蒸发源及蒸发加热装置; 衬底放置及加热装置。
真空蒸发镀膜机
2.1.1 元素的蒸发速率
平衡蒸气压:一定温度下,蒸发气体与凝聚相平 衡过程中所呈现的压力。
求:1527℃,镍铬合金(Ni 80%,Cr 20%)中
两种元素的蒸发速率之比。
已知:pCr=10Pa,pNi=1Pa。
则:
Φ Φ Crx xCrP P Cr
M Ni20 105.7 82.8 M 80 1 5.0 2
Ni
Ni Ni
Cr
开始蒸发时,Cr的初始蒸发速率为Ni的2.8倍。随
着Cr的迅速蒸发,ΦCr/ΦNi会逐渐减小,最终会小
点蒸发源 蒸发物质总量:
M e Г ded A Г tA e t
Γ—质量蒸发速度 dAe、dAs—蒸发源表面积元、衬底面积元
t—时间
衬底面积元dAs上沉积的物质量 dMs= Me/4π· dω
蒸发源与表 面的角度
dAe= r2dω dAe= dAscosθ
dω= dAscosθ/r2
衬底表面法线与空间角 方向间的偏离角度
化合物的蒸发: ①蒸气可能具有完全不同于蒸发源的化学成分; ②气相分子还可能发生化合与分解过程。
薄膜成分可能偏离蒸发源的化学组成
合金蒸发: 合金中原子间结合力小于化合物中不同原子
间结合力,合金中各元素的蒸发过程可以被近 似视为各元素相互独立的蒸发过程,就像它们 在纯元素蒸发时的情况一样。
以AB二元合金为例: