半导体物理 论文

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半导体材料论文

半导体材料论文

半导体材料介绍摘要:本文主要介绍半导体材料的特征、分类、制备工艺以及半导体材料的一些参数。

半导体在我们的日常生活中应用很广泛,半导体材料的一些结构和参数决定了它的特性。

以二氧化钛为例,它就是一种半导体材料,其结构和性能决定了它在降解有机污染物方面的应用,人们现在研究了有关它的性质,并将进一步研究提高它的光催化效果。

关键词:半导体材料导电能力载流子电阻率电子空穴正文:半导体材料是导电能力介于导体与绝缘体之间的物质。

半导体材料是一类具有半导体性能、可用来制作半导体器件和集成电的电子材料,其电导率在10(U-3)~10(U-9)欧姆/厘米范围内。

半导体材料可按化学组成来分,再将结构与性能比较特殊的非晶态与液态半导体单独列为一类。

按照这样分类方法可将半导体材料分为元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体和非晶态与液态半导体。

制备不同的半导体器件对半导体材料有不同的形态要求,包括单晶的切片、磨片、抛光片、薄膜等。

半导体材料的不同形态要求对应不同的加工工艺。

常用的半导体材料制备工艺有提纯、单晶的制备和薄膜外延生长。

半导体材料虽然种类繁多但有一些固有的特性,称为半导体材料的特性参数。

这些特性参数不仅能反映半导体材料与其他非半导体材料之间的差别,而且更重要的是能反映各种半导体材料之间甚至同一种材料在不同情况下特性上的量的差别。

常用的半导体材料的特性参数有:禁带宽度、电阻率、载流子迁移率(载流子即半导体中参加导电的电子和空穴)、非平衡载流子寿命、位错密度。

禁带宽度由半导体的电子态、原子组态决定,反映组成这种材料的原子中价电子从束缚状态激发到自由状态所需的能量。

电阻率、载流子迁移率反映材料的导电能力。

非平衡载流子寿命反映半导体材料在外界作用(如光或电场)下内部的载流子由非平衡状态向平衡状态过渡的弛豫特性。

位错是晶体中最常见的一类晶体缺陷。

位错密度可以用来衡量半导体单晶材料晶格完整性的程度。

当然,对于非晶态半导体是没有这一反映晶格完整性的特性参数的。

半导体课程论文

半导体课程论文

物理与技术杨茹 2014020253(青岛大学物理科学学院,山东青岛 266071)摘要:科学技术的发展对我们的生活水平、生活方式、文化教育等方面的影响是极为深刻的.从日常的衣食住行中,处处可以感受到科学技术给我们生活带来的变化。

各种合成纤维大大丰富了人们的衣着面料;农业的增产提供了丰富的食品,改善了人民的食品结构;至于汽车、飞机的发明和普及带给人们交通的方便、快捷;医学的进步提高了人民的健康水平,延长了平均寿命;教育的普及提高了人民的文化水平;电灯、电话、家用电器的普及大大方便了我们的生活……这样的例子不胜枚举。

而这些发展却离不开物理学……关键词:物理学科学技术关系The physical and technicalYang Ru 2014020253(College of Physics, Qingdao University, Qingdao, Shandong 266071)Abstract: The development of science and technology of our living standard, life style, culture, education and other aspects of influence is extremely profound. In the daily life of everyday, everywhere can feel the change of science and technology brings to our life.All kinds of synthetic fiber greatly enriched people's clothing fabrics;Agricultural production provides a rich food, improve the people's food structure;As for the invention of the automobile, aircraft and popularize give people traffic convenient and quick;Medical advances improved people's health, prolong the average life expectancy;The popularity of education to improve people's cultural level;The popularity of lights, telephones,household appliances greatly convenient for our life...The list goes on.The development is inseparable from the physics...Keywords: physics Science and technology relationship一、引言物理学是一门基础科学,它研究的是物质运动的基本规律。

半导体PN结实验论文-大物实验

半导体PN结实验论文-大物实验

半导体PN 结的物理特性及弱电流测量摘要:PN 结是构成双极型晶体管和场效应晶体管的核心,是现代电子技术的基础。

PN 结具有单向导电性,是电子技术中许多器件所利用的特性,例如半导体二极管、双极性晶体管的物质基础。

根据PN 结的材料、掺杂分布、几何结构和偏置条件的不同,利用其基本特性可以制造多种功能的晶体二极管。

PN 结温度传感器优点是灵敏度高、响应速度快、体积小、重量轻、便于集成化、智能化,能使检测转换一体化。

PN 结传感器的主要应用领域是工业自动化、遥测、工业机器人、家用电器、环境污染监测、医疗保健、医药工程和生物工程。

关键词:PN 结;电信号;检测与控制。

Abstract: PN junction is the core components of bipolar transistor and field effecttransistor and the basis of Modern electronic technology.PN junction with unidirectionalconductivity is the characteristics of many devices in the electronic technology.For example, the material base of a semiconductor diode and a bipolar transistor.According to the materials, doping distribution, PN junction geometry and bias conditions, using the basic properties can produce the crystal diode with a variety of functions.PN junction temperature sensor has the advantages of high sensitivity, fast response speed, small volume, light weight, easy integration, intelligentdetection, can make the conversion of integration.The main application field of PN junction sensor is industrial automation, remote sensing, industrial robots, household appliances, environmental monitoring, medical care, medical and biological engineering.Key words: PN junction; signal; detection and control.1 前言随着信息时代的影响越来越深入,各种控制电路已经融入了人们的生活。

《2024年半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》范文

《2024年半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》范文

《半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》篇一一、引言半导体量子阱(SQW)是近年来半导体物理学研究的热点之一,它利用电子和空穴在空间二维或准二维限制条件下的能级特性,展现出了独特的物理性质和潜在的应用前景。

其中,杂质态和激子作为量子阱内电子-空穴相互作用的重要表现形式,在光学、电学等方面均表现出明显的特征。

本文将主要探讨半导体量子阱中杂质态和激子的压力效应,以分析其在半导体材料中的应用与潜力。

二、杂质态的压敏效应杂质态指的是半导体中由杂质元素引起的电子态。

由于量子阱中的空间限制,这些杂质态的特性也会受到影响。

施加压力后,半导体的晶格结构发生变化,从而影响杂质态的能级位置和分布。

首先,压力会改变半导体晶格的周期性,导致能带结构的变化。

对于具有特定能级的杂质态,其能量会随着压力的增大而发生偏移。

这种偏移可以通过光谱实验进行测量,为研究半导体量子阱的电子结构提供了重要依据。

其次,压力还会影响杂质态的寿命。

在无压力状态下,杂质态的寿命相对较长,但在高压下,由于晶格振动加剧,杂质态的寿命会变短。

这一现象对于半导体量子阱的光学性能具有重要影响,特别是在激光器和发光二极管等光电器件中。

三、激子的压敏效应激子是指由电子-空穴对形成的复合粒子。

在半导体量子阱中,激子受到压力的影响同样显著。

首先,压力可以改变激子的能级结构,使得激子在不同能级之间的跃迁概率发生变化。

这一变化在激光器的光发射过程中尤为明显,可以通过调节压力来控制激光器的输出功率和波长。

其次,压力还会影响激子的扩散速度和复合速率。

在无压力状态下,激子在量子阱中的扩散速度较快,但在高压下,由于晶格结构的改变和电子-空穴之间的相互作用增强,激子的扩散速度会变慢。

这一变化对于研究半导体量子阱中的能量传输和光电转换效率具有重要意义。

四、实验研究与应用前景为了研究半导体量子阱中杂质态和激子的压力效应,可以通过光谱技术(如光致发光、拉曼光谱等)进行实验验证。

实验结果表明,随着压力的增大,杂质态和激子的能级结构、寿命以及扩散速度均发生明显变化。

半导体物理学发展论文

半导体物理学发展论文

半导体物理学发展论文摘要:通过有效的组织能够把科学推力和需求拉力结合在一起,即把科学研究可能带来的新进展和技术本身的发展需求联系在一起。

这需要学术界和产业界广泛而深入的合作,使科学研究的应用潜力能够与社会经济发展的重要领域相结合,这是科学技术得以快速发展的原动力。

自1948年发明晶体管到现在己经有半个多世纪了,晶体管的发明开创了半导体科学技术发展的新纪元。

半导体科学技术的发展不仅有力地推动了现代科学技术的发展进程,而且从根本上改变了当代人类社会生活的面貌。

半导体学科已发展成为一个庞大的学科,并成为当今科学前沿发展最为迅速的学科之一。

随着通讯微电子和计算机技术的发展和大量需要,半导体科学还将继续发展下去,了解半导体物理的发展史,对了解半导体物理的发展现状和推动半导体物理研究的发展会有所帮助,因此探讨半导体物理的发展历史并总结历史经验是有意义的。

一、半导体物理研究的早期工作半导体的大部分基本特性是在二十世纪以前或二十世纪初观测到的。

这一时期,半导体物理的理论基础—能带理论还没有建立,也没有完整的理论体系来说明半导体的性质及实验中的现象。

但这一时期,已有很多对半导体性质及应用的研究,正是在这些工作的基础上,半导体能带理论建立以后,半导体物理才得以在很短的时间内发展成为一个完整的理论体系。

1. 半导体性质的研究半导体的研究历史己经延续了一个多世纪,许多早期的工作是在非常困难的情况下进行的。

现在我们知道,为了获得无可质疑的实验结果,需要高纯度的材料。

早期的工作者们所能利用的材料纯度都很低,同非常高的纯度标准相距很远。

尽管如此,人们还是认识到,半导体是一种特殊的物质。

在有关半导体各种性质的理论出现之前,人们早已注意到了它们的一些主要性质。

2. 半导体的应用研究半导体的第一个重要应用是用来做低频交流整流器。

早在1886年C.E.Fritts就做出了硒整流器。

直到很久以后这种硒整流器也没在动力工程、电子工程或电子设备中得到任何应用。

半导体物理论文

半导体物理论文

半导体超晶材料学院:计算机科学与工程学号:3120911056姓名:佛永康成绩:完成日期:2014年6月9日摘要利用量子力学方法对超晶格半导体电子状态进行深入研究,揭示超晶格半导体电子运动状态。

自1970年人们提出超晶格半导体概念以来,量子阱与超晶格在理论与应用中都获得了突破性的进展。

超晶格材料中的电子特性与其它材料有许多不同,甚至会出现一些非此结构不会出现的特殊物理现象,因此受到人们普遍关注。

目前已设计制备出多种超晶格结构,主要应用于超大规模集成电路、激光器、LED等领域。

关键词:超晶格量子阱电子运动1、引言半导体超晶格研究是半导体科学与技术50年辉煌历史的后半期中最重要、最富有成就和挑战性的前沿领域之一,是半导体能带工程在材料精细加工技术长足进步推动下的深入和发展,并反过来对整个半导体科学与技术的进步产生了极大的影响和推动作用。

半导体超晶格的概念是IBM日裔科学家江崎和华裔科学家朱兆祥[1]在开发新的负组器件时,于1970年提出来的。

他们认为,如果用两种晶格非常匹配但禁带宽度不同的材料A和B以薄膜的形式周期性的交替生长在一起,使在外延生长方向形成附加的晶格周期性,如GaAs/AlGaAs超晶格材料。

除此之外,超晶格的概念不仅在半导体,而且在别的领域也产生了深远的影响.在后来出现的金属超晶格,磁多层膜等概念中都可以找到半导体超晶格的影子.半导体超晶格的研究还使低维系统的研制兴旺发达起来,使原来只是在量子力学课本中假想的低维体系,在实验室里被真真切切地制造出来。

在应用方面半导体超晶格材料也取得了令人瞩目的成就.例如,用超晶格材料制成的性能优异的激光器等。

2、超晶格的组成与结构2.1 量子阱与超晶格在量子力学中,能够对电子的运动产生某种约束并使其能量量子化的势场称为量子阱。

原子或分子的势场是一种量子阱,在这种量子阱中的电子具有离散的能级。

用两种禁带宽度不同的材料A和B构成两个距离很近的背靠背异质结B/A/B,若材料A是窄禁带半导体,且其导带底低于材料B的导带底,则当其厚度(即这两个背靠背异质结的距离)小于电子的平均自由程(约100nm)时,电子即被约束在材料A中,形成以材料B为电子势垒、材料A为电子势阱的量子阱。

华中科技大学半导体物理论文翻译——通过分子内交换技术制造高性能光伏钙钛矿层

华中科技大学半导体物理论文翻译——通过分子内交换技术制造高性能光伏钙钛矿层

通过分子内交换技术制造高性能光伏钙钛矿层Woon Seok Yang, Jun Hong Noh, Nam Joong Jeon, Young Chan Kim, Seungchan Ryu,Jangwon Seo, Sang Il Seok翻译:Crainax英文论文原文标题:2015-High-performance-photovoltaic-perovskite-layers-fabricated-through-intramolecular-exchange摘要与传统的甲基碘化铵(MAPbI3)相比,甲基碘化铅(FAPbI3)钙钛矿的带隙允许吸收更大范围的光谱中的光。

钙钛矿膜的光电性质与膜的质量密切相关,因此沉积致密且均匀的膜对于制造高性能钙钛矿太阳能电池(PSCs)十分关键。

我们报告的关于沉积高质量FAPbI3膜方法中,涉及了FAPbI3结晶通过二甲基亚砜(DMSO)分子插入PbI2与甲脒碘化物的直接分子内交换。

这个过程产生了具有(111)-偏向晶体取向、大颗粒致密微结构和没有残留PbI2平坦表面的FAPbI3膜。

使用该技术制备的膜,能制造具有超过20%最大功率转换效率且基于FAPbI3的PSC。

在过去3年中,器件结构(1-3),高质量成膜方法(4-6)和钙钛矿材料(7-9)的组成工程的快速发展,促进了快速提高功率转换效率(PCE)的钙钛矿太阳能电池(PSCs)的研究。

虽然报道已经声明用于PSCs(10)的电力转换效率(PCE)高达18%,但是进一步实现经济可行性且接近理论值的PCE的技术仍然是太阳能电池行业中最重要的挑战。

甲基碘化铅(FAPbI3)是一种钙钛矿材料,其可以提供比甲基碘化铵(MAPbI3)更好的性能,因为它能吸收更宽的光谱中的光。

此外,具有n-i-p结构(n侧被太阳辐射)的FAPbI3在电流-电压测量期间具有在扫描方向可忽略的滞后(8-13)。

然而,与MAPbI3相比,FAPbI3更难以形成稳定的钙钛矿相和FAPbI3的高质量膜。

半导体论文——精选推荐

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一、半导体物理发展史简介半导体物理学是研究半导体原子状态和电子状态以及各种半导体器件内部电子过程的学科。

是固体物理学的一个分支。

研究半导体中的原子状态是以晶体结构学和点阵动力学为基础,主要研究半导体的晶体结构、晶体生长,以及晶体中的杂质和各种类型的缺陷。

研究半导体中的电子状态是以固体电子论和能带理论为基础,主要研究半导体的电子状态,半导体的光电和热电效应、半导体的表面结构和性质、半导体与金属或不同类型半导体接触时界面的性质和所发生的过程、各种半导体器件的作用机理和制造工艺等。

半导体物理学的发展不仅使人们对半导体有了深入的了解,而且由此而产生的各种半导体器件、集成电路和半导体激光器等已得到广泛的应用。

能带理论的建立为半导体物理的研究提供了理论基础,晶体管的发明激发起人们对半导体物理研究的兴趣,使得半导体物理的研究蓬勃展开,并对半导体的能带结构、各种工艺引起的半导体能带的变化、半导体载流子的平衡及输运、半导体的光电特性等作出理论解释,继而发展成为一个完整的理论体系——半导体物理学。

1947年,美国贝尔实验室发明了半导体点接触式晶体管,从而开创了人类的硅文明时代。

1、半导体的起源法拉第在1833年发现硫化银,它的电阻随着温度上升而降低。

对半导体而言,温度上升使自由载子的浓度增加,反而有助于导电,这也是半导体一个非常重要的物理性质。

1874年,德国的布劳恩注意到硫化物的电导率与所加电压的方向有关,这就是半导体的整流作用。

1906年,美国发明家匹卡发明了第一个固态电子元件:无线电波侦测器,它使用金属与硅或硫化铅相接触所产生的整流功能,来侦测无线电波。

整流理论能带理论2、电晶体的发明3、积体电路:积体电路就是把许多分立元件制作在同一个半导体晶片上所形成的电路4、超大型积体电路二、半导体和集成电路的现状及发展趋势半导体材料的发展,现状和趋势第一代的半导体材料:以硅(包括锗)材料为主元素半导体第二代半导体材料:以砷化镓(GaAs)为代表的第二代化合物半导体材料第三代半导体材料:氮化物(包括SiC、ZnO等宽禁带半导体)第三代半导体器件由于它们的独特的优点,在国防建设和国民经济上有很重要的应用,前景无限。

半导体物理论文(倪兆辉)

半导体物理论文(倪兆辉)

课程半导体物理论文学院物理与电子工程学院专业新能源科学与工程班级新能源卓越学号050512218学生姓名倪兆辉半导体材料论文新能源卓越倪兆辉摘要:本文主要介绍影响硅锗合金的禁带宽度的因素及其热电效应。

热电材料是一种能将热能和电能相互转换的功能材料,随着空间探索兴趣的增加、医用物理学的进展以及在地球难于日益增加的资源考察与探索活动,需要开发一类能够自身供能且无需照看的电源系统,热电发电对这些应用尤其合适。

硅锗合金在作为一种热电材料,在其应用过程中起着举足轻重的作用。

关键词:硅锗合金禁带宽度热电材料组分关系研究背景:随着纳米科技相关研究蓬勃发展,热电材料应用的相关研究亦是欧美日各国在纳米科技中全力发展的重点之一,不论在理论方面或实验方面均有很大的研究空间,纳米材料具有比块材更大的界面,以及量子局限化效应,故纳米结构的材料具有新的物理性质,产生新的界面与现象,这对提升ZT(热电优值)值遭遇瓶颈的热电材料预期应有突破性的改善,故纳米科技被视为寻找高ZT值热电材料的希望。

对于遥远的太空探测器来说,放射性同位素供热的热电发电器是唯一的供电系统。

已被成功的应用于美国宇航局发射的“旅行者一号”和“伽利略火星探测器”等宇航器上。

利用自然界温差和工业废热均可用于热电发电,它能利用自然界存在的非污染能源,具有良好的综合社会效益。

利用帕尔帖效应制成的热电制冷机具有机械压缩制冷机难以媲美的优点:尺寸小、质量轻、无任何机械转动部分,工作无噪声,无液态或气态介质,因此不存在污染环境的问题,可实现精确控温,响应速度快,器件使用寿命长。

还可为超导材料的使用提供低温环境。

另外利用热电材料制备的微型元件用于制备微型电源、微区冷却、光通信激光二极管和红外线传感器的调温系统,大大拓展了热电材料的应用领域。

Si–Ge合金可以说是一种新型的半导体材料,对于微电子技术的发展具有重要的意义.。

Si–Ge合金的相图是由液相线和固相线构成的简单相图。

半导体材料论文范文

半导体材料论文范文

半导体材料论文范文
标题:半导体材料的研究与应用
摘要:
本论文主要介绍半导体材料及其在电子技术中的应用。

首先概述了半导体材料的基本概念和独特的物理性质,然后详细介绍了几种常见的半导体材料,包括硅、锗和化合物半导体等。

接着讨论了半导体材料在电子器件中的应用,如PN结、MOSFET等。

最后对未来半导体材料的发展进行了展望,并提出了一些问题供深入研究。

关键词:半导体材料;物理性质;电子器件;发展趋势
1.引言
2.半导体材料的基本概念和性质
2.1半导体材料的定义和分类
2.2半导体材料的能带结构
2.3半导体材料的载流子类型
2.4半导体材料的禁带宽度
3.常见的半导体材料
3.1硅
3.1.1硅的基本性质
3.1.2硅的制备方法
3.2锗
3.2.1锗的基本性质
3.2.2锗的制备方法
3.3化合物半导体
3.3.1GaAs
3.3.2InP
4.半导体材料在电子器件中的应用
4.1PN结
4.1.1PN结的结构和特点
4.1.2PN结的应用:二极管和锗石榴石激光器4.2MOSFET
4.2.1MOSFET的基本结构和工作原理
4.2.2MOSFET的应用:集成电路和场效应晶体管
5.半导体材料的发展趋势和前景
5.1新材料的研究与应用
5.2高效能源的开发
5.3环境保护和可持续发展
6.结论
本论文全面介绍了半导体材料的基本概念、性质、常见种类以及在电子器件中的应用。

同时,对半导体材料未来的发展趋势进行了展望,并提出了一些问题供深入研究。

《半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》范文

《半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》范文

《半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应》篇一一、引言半导体量子阱(SQW)是近年来半导体物理学研究的重要领域之一。

由于其具有独特的光电性能,使得其在光电子器件、量子计算和纳米电子学等领域有着广泛的应用前景。

而杂质态和激子作为半导体量子阱中的基本物理特性,其性质与行为对半导体量子阱的性能有着重要的影响。

此外,压力作为一种重要的物理参数,对半导体量子阱中的杂质态和激子也具有显著的影响。

因此,本文将主要探讨半导体量子阱中的杂质态和激子的压力效应。

二、半导体量子阱中的杂质态在半导体量子阱中,杂质态是指由于杂质原子的存在而引起的能级分裂。

这些杂质原子可能来自半导体材料本身,也可能是在生长过程中引入的。

杂质态的存在将影响半导体的电子结构和光学性质。

当施加压力时,半导体量子阱的晶格常数会发生变化,从而影响杂质态的能级位置。

压力的增加可能导致能级移动、分裂或合并,进而改变半导体的电子结构和光学性质。

此外,压力还会影响杂质原子的电子云分布和电荷分布,从而改变杂质态的能级宽度和寿命。

三、半导体量子阱中的激子激子是指半导体中由电子和空穴组成的准粒子。

在半导体量子阱中,激子的行为受到量子限域效应的影响,表现出与体材料不同的性质。

当施加压力时,激子的行为也会受到影响。

压力会导致半导体量子阱的能带结构发生变化,从而影响激子的形成和稳定性。

此外,压力还会改变激子的运动轨迹和寿命。

在高压下,激子的能级可能发生移动或分裂,导致其光学性质发生变化。

这些变化对于半导体量子阱的光电性能具有重要影响。

四、压力效应对半导体量子阱的影响压力对半导体量子阱中的杂质态和激子的影响是多方面的。

首先,压力会改变半导体的晶格常数和能带结构,从而影响杂质态的能级位置和激子的形成。

其次,压力还会改变电子和空穴的波函数重叠程度,从而影响激子的寿命和运动轨迹。

此外,压力还可能改变半导体的电导率和光学性质,进一步影响其在光电子器件、量子计算和纳米电子学等领域的应用。

论文模板:论简单半导体元件电路中电流,电压规律

论文模板:论简单半导体元件电路中电流,电压规律

论简单半导体元件电路中电流,电压规律作者:张骏扬学校:金华市外国语学校班级:八年级二班2015年10月3日1摘要半导体的出现是现代电子计算机科学发展如此成功的基石,目前半导体元件已经在电路中被高度集成,有着强大的数据处理能力。

本篇论文问将探讨简单半导体元件中基础的两类半导体:P型半导体和N型半导体间电子交换与电流规律。

关键词:半导体、电流、简单元件。

2目录第一章:引言第二章:P,N型半导体简述第三章:关于二极管的探讨3.1:二极管的结构3.2:二极管特性3.2.1:二极管电路的电流特点3.2.2:二极管导通与截断的规律第四章:关于三极管的探讨4.1:三极管的结构4.2:三极管特性4.2.1:三极管电路的电流特点4.2.2:三极管电路的电压特点第五章:结论3第一章:引言半导体(semiconductor),指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。

半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。

如二极管、三极管就是采用半导体制作的器件。

半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料。

无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。

今日大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,而硅更是各种半导体材料中,在商业应用上最具有影响力的一种。

二极管,电子元件当中,一种具有两个电极的装置,只允许电流由单一方向流过,许多的使用是应用其整流的功能。

现今最普遍的二极管大多是使用半导体材料如硅或锗。

三极管,全称应为半导体三极管,也称双极型晶体管、晶体三极管,是一种控制电流的半导体器件·其作用是把微弱信号放大成幅度值较大的电信号,也用作无触点开关。

晶体三极管,是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。

4第二章:P,N型半导体简述普通的半导体材料并不能达到控制电流流向与电路通断的功能,但是在半导体材料中掺入杂质,就可以改变它容纳电子的属性。

半导体物理论文

半导体物理论文

半导体材料性质的测定摘要:简要介绍了半导体材料的晶相,择优取向,及晶格参数的测定,对布拉格衍射效应在半导体光电子材料和光电子器件,通过举例来测定在立方晶相中XRD晶格参数的确定。

关键词:半导体,晶相,择优取向,晶格参数1.引言半导体具有许多独特的物理性质,半导体晶体材料同其他固态晶体一样,由大量原子周期性重复排列而成,而每个原子又包含原子核和许多电子,在实际应用的半导体材料晶格中,总是存在着偏离理想情况下的各种复杂情况,晶体对入射波的衍射决定于晶体的结构和入射波的波长,只要波长小于10 - 8cm的入射波,就能在晶体中产生衍射。

研究晶体结构常用手段有 X 射线及电子衍射。

X 射线波长短,与晶体为同一数量级,但不易直接观察,微波具有电磁波的通性,可以代替 X 射线,但实际晶体的晶格常数约为10 - 8cm,故微波不能对实际晶体产生衍射,可用模拟晶体来实现衍射。

2.晶相:按结构来分,半导体材料可分为单晶,多晶,非晶。

晶相。

半导体材料中晶体的样子用晶相表示。

晶相是结晶的微观结构,由晶体中高分子链的构象及其排布所决定,种类有:单晶、球晶、树枝状晶、孪晶、伸直链片晶、纤维状晶、串晶等。

主要研究工具有:光学显微镜、电子显微镜等。

其中含量多者称为主晶相,含量少的称次级晶相或第二晶相。

有时在晶界上还可能发现有第二晶相存在,它的存在一般需用X射线结构分析如X射线图,能谱分析,晶格条纹像等进行确定。

陶瓷材料的晶体主要是单一氧化物(如Al2O3,MgO)和复合氧化物(如尖晶石MgO·Al2O3,锆钛酸铅Pb(Zr,Ti)O3)。

此外,非氧化物陶瓷材料中还有碳化物、氮化物、硼化物、硅化物等相应组分的晶体存在。

陶瓷材料的性能和主晶相的种类、数量、分布及缺陷状况等密切有关。

它还表示是金属或金属镀层表面组织结构,通常在表面抛光出一个小面,然后放在金相显微镜下观察。

金属可以用热处理等方法改变晶相。

晶体有规则的几何形状,晶体中原子按规则排列组成晶格,立方晶体为最简单的晶体,在立方体的每个顶角上均有一个原子,这些原子可看成处于不同的平面上,这些平面称为晶面;晶体是由许多等距、平行的晶面重复排列而成,这些晶面即组成了晶面族,晶面族用晶面指数表示为 hkl,晶面指数的定义为原子所在平面在x、y、z三个坐标轴上的截距长度的倒数比化为三个最小的整数比,又称密勒指数。

半导体论文——半导体电学杂质与玷污

半导体论文——半导体电学杂质与玷污

半导体电学杂质与玷污####(*学院应用**班 20****62)摘要:半导体是指一种导电性可受控制,范围可从绝缘体至导体之间的材料。

无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的。

今日大部分的电子产品,如电脑、移动电话或是数位录放音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。

常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等。

在制备半导体材料时,需要人为地加入某种元素以改变半导体的导电性能,玷污是指在但往往在制作半导体器件的过程中有空气中的杂质混入,导致影响其性能。

关键词:半导体物理电学杂质玷污引言:随着现代科学技术的发展,特别是光电子技术的发展,现代武器装备的精度和性能有了很大的提高,使现代战争具备了新的特点。

半导体光探测器是军用光电子设备和系统的关键器件,已广泛用于军事领域。

军用光电子装备是指利用半导体光探测器探测、变换、传输、存储等技术,所以制备半导体器件的要求必定将越来越高,本论文就将讨论半导体在制作上的电学杂质和玷污。

1.半导体电学杂质与玷污的涵义在制作半导体器件中,为了综合利益与效率以及各方面因素,需要人为地加入某种元素以改变半导体的导电性能,这个过程称为电学杂质;玷污是指在制作半导体器件的过程中,外界环境没有严格控制好,导致空气中有杂质混入,从而使得该器件导电等方面的性能下降。

2.半导体电学杂质半导体晶格中存在的与其基体不同的其他化学元素原子。

杂质的存在使严格按周期性排列的原子所产生的周期性势场受到破坏,这对半导体材料的性质产生决定性的影响。

杂质元素在半导体材料中的行为取决于它在半导体材料中的状态,同一种杂质处于间隙态或代位态,其性质也会不同。

电活性杂质在半导体材料的禁带中占有一个或几个位置作为杂质能级。

按照杂质在半导体材料中的行为可分为施主杂质、受主杂质和电中性杂质。

按照杂质电离能的大小可分为浅能级杂质和深能级杂质。

浅能级杂质对半导体材料导电性质影响大,而深能级杂质对少数载流子的复合影响更显著。

半导体物理学论文

半导体物理学论文

半导体光电子材料的应用概述半导体之所以能广泛应用在今日的数位世界中,凭借的就是其能借由在其晶格中植入杂质改变其电性,这个过程称之为掺杂。

掺杂进入本质半导体的杂质浓度与极性皆会对半导体的导电特性产生很大的影响。

而根据掺杂不同的物质以及不同的杂质浓度,我们可以制成性能各不相同的半导体材料。

正文半导体(semiconductor)是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料半导体。

半导体在外界条件刺激下,价带中的部分电子受到激发后,越过禁带进入能量较高的导带中,形成电流。

1、半导体激光材料电子器件和光电子器件应用时半导体材料最重要的两大应用领域。

半导体材料Si,GaAs 和GaN,InP等几十重要的电子材料,也是重要的光电子材料。

在1962年,GaAs激光二极管的问世,作为了半导体光电子学的开端。

激光的激射波长取决于材料的带隙,且只有具有直接带隙的材料才能产生光辐射,它使注入的电子-空穴自己发生辐射复合以得到较高的电光转化效率。

产生激光的条件有:1、形成粒子数反转使受激辐射占优势;2、具有共振腔以实现光量子放大;3、外界输入能量至少要达到阀值,使激光管的增益至少等于损耗。

2、半导体显示材料半导体显示材料有发光二极管LED和电致发光显示。

(1)发光二极管LED发光二极管LED它是由数层很薄的掺杂半导体材料制成。

当通过正向电流时,n区电子获得能量越过PN结的禁区与p区的空穴复合以光的形式释放出能量。

而LED广泛应用于各方面,现如今的半导体白光照明、车内照明、交通信号灯、装饰灯、大屏幕全彩色显示系统、太阳能照明系统、以及紫外、蓝外激光器、高容量蓝光DVD、激光打印和显示等。

为了实现高亮度白光LED,我们可以通过红绿蓝三种LED可以组合成为白光;也可以基于紫外光LED,通过三基色粉,组合成为白光;也可基于蓝光LED,通过黄色荧光粉激发出蓝光,组合成为白光。

(2)电致发光电致发光又称为场致发光,与LED的低电场结型发光相比,是一种高电场作用下发光。

半导体物理_禁带宽度的测量

半导体物理_禁带宽度的测量

半导体物理论文——半导体禁带宽度的测量方法姓名学号单位六院六队摘要禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,本文先介绍了禁带宽度的意义,它表示表示晶体中的公有化电子所不能具有的能量范围;表示表示价键束缚的强弱;表示电子与空穴的势能差;是一个标志导电性能好坏的重要参量,但是也不是绝对的等等。

其测量方法有利用Subnikov2de Hass效应、带间磁反射或磁吸收、回旋共振和非共振吸收、载流子浓度谱、红外光吸收谱等等。

其中本文介绍了二种常见的测量方法:利用霍尔效应进行测量和利用光电导法进行测量。

一,引言:关于禁带宽度禁带宽度是半导体的一个重要特征参量,用于表征半导体材料物理特性。

所谓禁带是指价带和导带之间,电子不能占据的能量范围,其间隔宽度即是禁带宽度Eg.其涵义有如下四个方面:第一,禁带宽度表示晶体中的公有化电子所不能具有的能量范围:即晶体中不存在具有禁带宽度范围内这些能量的电子,即禁带中没有晶体电子的能级。

这是量子效应的结果。

注意:虽然禁带中没有公有化电子的能级,但是可以存在非公有化电子(即局域化电子)的能量状态——能级,例如杂质和缺陷上电子的能级。

第二,禁带宽度表示价键束缚的强弱:半导体价带中的大量电子都是晶体原子价键上的电子(称为价电子),不能够导电;对于满带,其中填满了价电子,即其中的电子都是受到价键束缚的价电子,不是载流子。

只有当价电子跃迁到导带(即本征激发)而产生出自由电子和自由空穴后,才能够导电。

因此,禁带宽度的大小实际上是反映了价电子被束缚强弱程度、或者价键强弱的一个物理量,也就是产生本征(热)激发所需要的平均能量。

价电子由价带跃迁到导带(即破坏价键)的过程称为本征激发。

一个价电子通过热激发由价带跃迁到导带(即破坏一个价键)、而产生一对电子-空穴的几率,与禁带宽度Eg和温度T有指数关系,即等于exp(-Eg/kT)。

Si的原子序数比Ge的小,则Si的价电子束缚得较紧,所以Si的禁带宽度比Ge的要大一些。

研究半导体器件的物理

研究半导体器件的物理

研究半导体器件的物理在探究半导体器件的物理特性之前,我们首先需要理解半导体器件其本身的含义。

半导体器件是由半导体材料制作而成的各种电子器件。

他们是现代电子设备的核心组件,应用广泛在各领域,包括电脑,移动电话,电视和其他通讯设备。

一、半导体的基本理论从物理的角度来说,半导体是介于绝缘体和导体之间的材料,其电导率随着温度的升高而增大,但是小于金属。

在一个完整的能带中,如果最高能级被电子所填充,那么该能带被称为价带。

如果这个能带空着,那么它被称为导带。

在半导体中,两者之间的能隙相对较小,这也正是半导体的特殊之处。

当外加电压,正常温度或光照等能量激励下,原本处于价带的电子可以跃迁到导带,形成了自由电子和空穴,从而使半导体产生导电性。

二、PN结的物理特性半导体器件中常见的一个重要组成结构是PN结,也被称为二极管。

PN结具有单向导电性,它就像一个电子的单行道,只允许电流从一个特定方向流过。

这反映了当P型和N型半导体接触后,产生的自发极化电场的效果,其作用在于阻止电子自由跃迁。

三、半导体的扩散和漂移另外两个重要的物理现象是半导体中的扩散和漂移。

扩散是指半导体中高浓度区的载流子向低浓度区扩散的现象。

漂移则是指在电场作用下,半导体中的载流子定向运动的过程。

这两种现象都对半导体的导电性有直接影响。

四、半导体器件的应用半导体器件在实际工程中的应用也十分广泛。

从最初的二极管和晶体管,发展到今天的集成电路,半导体器件的微小尺寸和速度优势使之在处理复杂的电信号和完成复杂操作时备受青睐。

总结起来,半导体器件的物理特性由多种因素所决定。

包括其自身的材料性质,结构,外部条件等。

为了更好地利用这些特性,我们需要继续深入研究其物理特性及应用规律。

半导体器件作为现代电子设备的核心,其研究对于科技发展具有重要的推动作用。

未来的研究将更加深入到半导体物理的微观领域,以期解答更为复杂的问题,促进基础科学与电子工程的更快发展。

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半导体硅材料的发展现状及趋势
摘要:本文介绍了半导体硅材料的发展现状及未来发展趋势。

随着微电子工业的飞速发展, 作为半导体工业基础材料的硅材料工业也将随之发展,所以研究半导体硅材料的发展现状及未来发展趋势势在必行。

现代微电子工业除了对加工技术和加工设备的要求之外,对硅材料也提出了更新更高的要求。

关键词:半导体; 硅材料; 发展现状; 发展趋势。

引言:在当今全球超过2000亿美元的半导体市场中,95%以上的半导体器件和99%以上的集成电路都是用高纯优质的硅抛光片和外延片制作的。

在未来30-50年内,它仍将是集成电路工业最基本和最重要的功能材料。

半导体硅材料以丰富的资源、优质的特性、日臻完善的工艺以及广泛的用途等而成为了当代电子工业中应用最多的半导体材料。

随着国际信息产业的迅猛发展, 电子工业和半导体工业也得到了巨大发展,并且直到20世纪末都保持稳定的15%的年增长率迅速发展,作为半导体工业基础材料的硅材料工业也将随之发展,所以研究半导体硅材料的发展现状及未来发展趋势势在必行。

一、半导体硅材料的发展现状
由半导体的优良性能,使其在射线探测器、整流器、集成电路、硅光电池、传感器等各类电子元件中占有极为重要的地位。

同时,由于它具有识别、存储、放大、开关和处理电信号及能量转换的功能,而使“半导体硅”实际上成了“微电子”和“现代化电子”的代名词。

直拉法是目前主要用于生产硅单晶的方法。

上世纪50到60年代,
拉出的硅单晶直径只有两英寸,现在8英寸、12英寸、长达1米多的硅单晶都已实现了规模生产。

目前,单晶硅的世界年产量已超过一万吨。

硅集成电路主要用的是8英寸硅,但12英寸硅的用量逐年增加,预计到2012年底18英寸的硅可能用于集成电路制造,27英寸的硅晶体研制也正在筹划中。

硅的直径为什么不是按8 英寸、10 英寸、12 英寸、14 英寸发展, 而是从8到12英寸,由12到18英寸,18到27英寸发展呢?硅集成电路的发展遵循着著名的《摩尔定律》,所谓《摩尔定律》就是每18个月集成电路的集成度增加一倍,而它的价格也要降低一半。

二、现代微电子工业的发展对半导体硅材料的新要求
随着微电子工业飞速发展, 除了本身对加工技术和加工设备的要求之外, 同时对硅材料也提出了更新更高的要求。

1. 对硅片表面附着粒子及微量杂质的要求
随着集成电路的集成度不断提高,其加工线宽也逐步缩小,因此, 对硅片的加工、清洗、包装、储运等工作提出了更高的新要求。

对于兆位级器件, 0.10μm的微粒都可能造成器件失效。

亚微米级器件要求0.1μm的微粒降到10个/片以下同时要求各种金属杂质如Fe、Cu、Cr、Ni、A1、Na 等, 都要控制在目前分析技术的检测极限以下。

2. 对硅片表面平整度、应力和机械强度的要求
硅片表面的局部平整度(SFQD)一般要求为设计线宽的2/3,以64M 存储器的加工线宽0.35μm为例,则要求硅片局部平整度在22mm2范围内为0.23μm, 256M电路的SFQD为0.17μm。

同时,器件工艺还要求原
始硅片的应力不能过分集中,机械强度要高,使器件的稳定性和可靠性得到保证,但现在这方面硅材料尚未取得突破性进展,仍是以后研究的一个课题。

3. 对硅片表面和内部结晶特性及氧含量的要求
对大规模集成电路来说, 距硅片表面10μm 左右厚度区域为器件活性区,要求该区域性质均匀且无缺陷。

64M和256M电路要求硅片的氧化诱生层错(OSF)≤20/cm2。

为达到此要求,目前比较成熟的工艺是采用硅片吸除技术,分为内吸除和背面损伤吸除。

现在器件厂家都根据器件工艺的需要,对硅片提出了某种含氧量要求。

4. 对硅片大直径化的要求
为了提高生产率、降低成本,器件厂家随着生产规模的扩大,逐步要求增大硅片直径,使同等规模芯片的收得率明显提高,给器件厂家带来极为显著的经济效益。

三、半导体材料的发展趋势
随着硅的直径增大,杂质氧等杂质在硅锭和硅片中的分布也变得不均匀,这将严重的影响集成电路的成品率,特别是高集成度电路。

为避免氧的沉淀带来的问题,可采用外延的办法解决。

即用硅单晶片为衬底,然后在其上通过气相反应方法再生长一层硅,如2个微米、个微米或0.5个微米厚等。

这一层外延硅中的氧含量就可以控制到1016/cm3以下,器件和电路就做在外延硅上,而不是原来的硅单晶上,这样就可解决由氧导致的问题。

尽管成本将有所提高,但集成电路的集成度和运算速度都得到了显著提高, 这是目前硅技术发展的一个
重要方向。

目前硅的集成电路大规模生产技术已经达到0.13-0.09微米,进一步将到0.07微米,也就是70个纳米甚至更小。

根据预测,到2022年,硅集成电路技术的线宽可能达到10个纳米,这个尺度被认为是硅集成电路的“物理极限”。

就是说,尺寸再减小,就会遇到有很多难以克服的问题。

随着技术的发展,特别是纳米加工技术的发展,也可能把这个"极限"尺寸进一步减小;但总有一天,当代的硅微电子技术可能会走到尽头。

随着集成电路集成度的提高,芯片的功耗也急剧增加,使其难以承受;现在电脑CPU的功耗已经很高,如果说将来把它变成“纳米结构”, 即不采用新原理,只是按《摩尔定律》走下去,进一步提高集成度,那么加在它上面的功耗就有可能把硅熔化掉!另外一个问题是光刻技术, 目前大约可以做到0.1微米,虽然还有些正在发展的光刻技术,如X 光、超紫外光刻技术等,但要满足纳米加工技术的需求还相差很远。

再者就是电路器件之间的互连问题,对每一个芯片来说,每一个平方厘米上有上千万、上亿只管子,管子与管子之间的联线的长度要占到器件面积的60-70%,现在的连线就多达8层到10多层,尽管两个管子之间的距离可以做得很小,但是从这个管子到另外一个管子,电子走的路径不是直线,而要通过很长的连线。

线宽越窄,截面越小,电阻越大,加上分布电容,电子通过引线所需的时间就很长,这就使CPU的速度变慢。

另外纳米加工的制作成本也很高,由于这些原因,硅基微电子技术最终将没有办法满足人类对信息量不断增长的需求。

四、结论
随着国际信息产业的迅猛发展, 电子工业和半导体工业也得到了巨大发展,作为半导体工业基础材料的硅材料工业也将随之发展。

在未来几年,电子半导体工业和硅材料工业还将持续增长。

在21世纪初,硅材料无论在质量还是在数量上,以及在直径增大上都将上一个新的台阶。

未来研究的主攻方向是:对其结构、电学和化学特性的研究将更加深入;其缺陷控制、杂质行为,杂质与缺陷的相互作用也将作深入研究,把各种杂质污染降低到目前的检测极限以下;氧含量保持纵横分布均匀,并根据器件工艺的需要能控制氧含量。

在未来5年左右的时期内,随着中国电子工业的发展我国的半导体硅工业将会有一个快速发展阶段。

050410235
光伏102
韩楠楠。

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