射线检测及缺陷等级评定

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射线探伤缺陷等级评定

射线探伤缺陷等级评定

射线探伤缺陷等级评定射线探伤缺陷等级评定,这个名字听起来就挺严肃的,不过其实它背后有着很多有趣的故事呢。

想象一下,你在一个大型工厂里,机器轰鸣,工人们忙得不可开交,突然有人喊:“哎呀,有缺陷!”这时候,射线探伤就像一位超级英雄,悄悄地在角落里,透过材料的表面,帮我们检查出潜在的隐患。

好吧,先别着急,什么是射线探伤呢?其实简单说,就是用射线来看看金属或其他材料内部是否有裂缝、气孔,甚至是隐形的缺陷。

就好比你在买水果时,想要检查一下苹果里面有没有虫子。

看上去外表光鲜的苹果,里面可能藏着黑心。

射线探伤就是让你能一眼看穿那些“假货”,真是个聪明的办法。

这可不是随便照一照就完事儿的,它有一套严格的评定标准。

说到这里,有些朋友可能会问:“这标准到底是什么呢?”别急,慢慢来。

得了解缺陷的种类。

就像人有胖瘦高矮,材料也有各种缺陷,比如裂纹、气孔、夹杂物等等。

这些缺陷就像一颗颗定时炸弹,随时可能给我们的安全带来威胁。

所以,要根据缺陷的种类和严重程度来给它们打个分儿。

评定缺陷等级的时候,得看看它们对材料性能的影响。

比如说,裂纹就像个小隐患,没引起重视,后来可能变成大问题。

就像你脚上长了个小水泡,如果不处理,时间一长,走路都难受。

因此,评定缺陷的时候,咱得认真点儿,不能掉以轻心。

说到这里,得提提射线的种类了。

有X射线、伽马射线,各有各的特点。

X射线就像年轻人,活泼好动,能穿透很多材料,常用在医学和工业上。

伽马射线呢,更像老前辈,威力大,但也有点儿“高冷”,不容易掌控。

这些射线,就像调皮的小孩,必须得好好引导,才能发挥出它们的作用。

评定的过程可不是轻松的差事哦。

首先要准备好设备,得确保一切正常。

这就像开车之前要检查车子,轮胎、油量、刹车,都得齐全。

接下来就是进行射线照射。

工作人员得小心翼翼,像个小心翼翼的侦探,把射线对准材料。

然后,得到的图像就像一张神秘的藏宝图,里面可能隐藏着许多意想不到的“宝藏”,当然也可能是个“陷阱”。

射线无损检测底片评定制度

射线无损检测底片评定制度

射线无损检测底片评定制度射线无损检测底片评定制度1.射线无损检测评片按JB4730-94《压力容器无损检测》标准,焊缝射线透照检测中相关要求执行。

2.射线无损检测底片评定、审核工作必须由射线Ⅱ级资格人员担任。

3.评片人员必须了解被检工件的焊接种类、焊接方法、坡口型式以及材料种类等,以提供评片时参考。

4.评片应在专用评片室内进行。

评片室内的光线应暗淡,但不全暗,室内照明用光不得在底片表面产生反射。

5.评片时,底片应在干燥后观察,观察应在光线暗淡的评片室内进行,观片灯应有观察片最大黑度为3.5的最大亮度。

6.评片的底片质量应符合下列要求:6.1底片上必须显示出与透明厚度相对应的要求达到的最小像质指数;6.2底片有效评定区域内的黑度应满足1.2~3.5的要求。

6.3底片上象质计影象位置应正确,定位标记和识别标记齐全,且不掩盖被检焊缝影象。

在焊缝影象上,能清晰地看到长度小于10mm的象质计金属丝影象;6.4在底片评定区域内不应有以下妨碍底片评定的假缺陷;6.4.1灰雾6.4.2处理时产生的条纹、水迹或化学污斑等缺陷;6.4.3划痕、指纹、脏物、静电痕迹、黑点或撕裂等;6.4.4由于增感屏不好造成的缺陷。

6.5对上述不符和底片质量要求的底片应拒绝评定,并要求重拍。

6.6评片人员根据底片上全影象,按JB4730-94《压力容器无损检测》标准中,焊缝射线透照缺陷等级评定的规定进行评定,缺陷评定应坚持:定性(定缺陷特性);定量(定缺陷的大小尺寸和数量);定位(定缺陷所处位置);定级(按JB4730标准评定质量等级)的四定原则。

6.7焊缝无损检测底片评定合格,开出无损检测合格通知单,出具射线无损检测报告,不合格焊缝开出焊缝返修通知单,按相关规定要求返修后复拍再重新评定。

6.8报告及验收标记6.8.1报告至少应包括以下内容:6.8.1.1委托部门、被检工件名称、编号、被检工件材质、母材厚度;6.8.1.2检测装置的名称、型号、透照方法及透照规范,透照部位及无损检测。

无损检测射线常见缺陷图集及分析

无损检测射线常见缺陷图集及分析

气孔缺陷定义:在金属材料中气孔是由于熔炼或 浇注过程中气体在金属内部未能全部逸出而形成 的空穴。
气孔缺陷图集展示:展示不同类型的气孔缺陷图 谱包括圆形气孔、椭圆形气孔、链状气孔等。
气孔缺陷产生原因:主要由于金属材料熔 炼或浇注过程中气体在金属内部未能全部 逸出或者由于金属材料中含有易形成气体 的元素所致。
无损检测射线常见缺 陷图集及分析
汇报人:
目录
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无损检测射线技术 简介
常见缺陷图集展示
缺陷图集分析
无损检测射线技术 发展趋势
结论
添加章节标题
无损检测射线技术 简介
通过检测衰减后射线的强度 或透射后的影像进行分析
利用射线穿透物质时产生的 衰减作用进行检测
可用于检测各种材料和产品 内部缺陷
降低维护成本:及时发现设备故障 避免重大事故发生降低维护成本。
添加标题
添加标题
添加标题添ຫໍສະໝຸດ 标题提高生产效率:通过快速检测减少 生产过程中的停机时间提高生产效 率。
促进工业发展:无损检测技术的应 用提高了工业生产的可靠性和安全 性推动了工业的发展。
提高检测精度和可 靠性
降低漏检和误检率
促进缺陷识别和分 类标准化
常见缺陷图集展示
裂纹缺陷定义:裂纹是一种常见的缺陷类型通常是由于材料受到外力作用或内部应力过大而产生的断裂现象。
裂纹缺陷图集展示:展示不同材料、不同形状和尺寸的裂纹缺陷图像以便更好地了解裂纹的形成和分布情况。
裂纹缺陷分析:对裂纹缺陷进行详细分析包括裂纹的形态、走向、大小等方面以便更好地了解裂纹的性质和产生 原因。
缺点:无损检测 射线技术需要使 用放射性物质存 在一定的安全风 险同时检测成本 较高设备也较为 昂贵。

射线评片技巧(二):条形缺陷评片步骤与技巧、条形缺陷综合评级

射线评片技巧(二):条形缺陷评片步骤与技巧、条形缺陷综合评级

射线评片技巧(二):条形缺陷评片步骤与技巧、条形缺陷综合评级2015-04-18 分类:解决方案阅读(1246) 评论(0)本文讲述条形缺陷定义、条形缺陷底片影像特点和条形缺陷评级,由于条形缺陷评级相对较复杂,缺陷评级涉及到许多因素,比如单个条形缺陷评级、一组条形缺陷评级、圆形缺陷和条形缺陷综合评级,本文按照JB/T4730-2005《承压设备无损检测》第2部分射线检测篇详细讲述钢、镍、铜制熔化焊对接接头的条形缺陷评级方法(特种设备射线检测二级考试的评片方法),并举例说明。

一、条形缺陷定义条形缺陷不包括裂纹、未焊透和未熔合的危害性缺陷,当缺陷的长宽比大于3时,定义为条状缺陷。

条形缺陷包括条渣和条孔。

二、条形缺陷底片影像特点条形缺陷与圆形缺陷的区别在于:通过测量缺陷的长宽比,圆形缺陷长宽比小于等于3,而条形缺陷长宽比大于3。

条形缺陷主要以条形夹渣、条形气孔为主,其底片影像还是夹渣和气孔的影像。

因此,条形缺陷影像特点可参考圆形缺陷中夹渣和气孔影像特点来判断。

在《射线评片技巧(一):气孔、夹渣、夹钨的缺陷评片和评级》文中详细介绍了气孔、夹渣的影像特点,本文中不再重复介绍。

以下为实际工作中拍摄的X射线底片圆形缺陷和条渣底片影像条孔和条渣底片影像三、条形缺陷评级1、表12为JB/T4730.2-2005条形缺陷评级方法JB/T4730.2-2005条形缺陷评级表(1)I级不允许存在条形缺陷;(2)评定框内只有单个条形缺陷;若母材厚度24mm,缺陷长度13mm,II级允许最大长度为24/3=8mm<13mm,则超过II级;III级允许长度24×2/3=16mm>14mm,则该缺陷评为IIV级。

(3)评定框内存在一组条形缺陷;评级方法是先从低级别判定是否满足该条件,满足则评为该级别,不满足判断高级别条件。

若评定框内有条条形缺陷,母材厚度34mm,如下图为缺陷示意图。

条形缺陷示意图若假定评为II级,观察是否满足II级条件。

射线检测B级和AB级的区别

射线检测B级和AB级的区别

一、标准中涉及检测技术级别的条款在JB/T4730.2-2005标准中,规定了射线检测分为三级:A级——低灵敏度技术;AB级一一中灵敏度技术;B级一一高灵敏度技术。

在标准中涉及检测技术级别的条款概括起来有以下9条:1、第3.8条:射线检测技术等级选择;2、第3.2.2条:不同检测技术级别选择胶片的规定;3、第3.5条:不同检测技术级别选择增感屏的规定;4、第4.1.3条:不同检测技术级别对透照厚度比K的规定;5、第4.2.2条:不同检测技术级别对射线源的透照厚度范围的规定;6、第4.3.1条:不同检测技术级别对射线源全工件表面的最小距离的规定;7、第4.4.1条:不同检测技术级别对X射线照相最小曝光量的规定;8、第4.11.2条:不同检测技术级别对底片黑度D的规定;9、第4.11.3条:不同检测技术级别对底片的像质计灵敏度的规定。

二、射线检测技术等级的选择JB/T4730.2-2005标准第3.8条就有关射线检测技术等级选择的规定如下:3.8.1射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。

承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。

对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。

3.8.2由于结构、环境条件、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行了检测。

3.8.3承压设备在用检测中,由于结构、环境、射线设备等方面的限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。

无损检测射线底片缺陷评定

无损检测射线底片缺陷评定

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⑷未熔合:可分为坡口未熔合、焊道之间未熔合、单面焊根部 未熔合。 ①坡口未熔合:按坡口型式可分为V型坡口和U型坡口未熔合: A.V型(X)型坡口未熔合:常出现在底片焊缝影像两侧边缘区 域,呈黑色条云状,靠母材侧呈直线状(保留坡口加工痕迹), 靠焊缝中心侧多为弯曲状(有时为曲齿状)。垂直透照时,黑 度较淡,靠焊缝中心侧轮廓欠清晰。沿坡口面方向透照时会获 得黑度大、轮廓清晰、近似于线状细夹渣的影像。在5×放大 镜观察仍可见靠母材侧具有坡口加工痕迹(直线状),靠焊缝 中心侧仍是弯曲状。该缺陷多伴随夹渣同生,故称黑色未熔合, 不含渣的气隙称为白色未熔合。垂直透照时,白色未熔合是很 难检出的。如图23所示。 B.U型(双U型)坡口未熔合:垂直透照时,出现在底片焊缝影 像两侧的边缘区域内,呈直线状的黑线条,如同未焊透影像, 在5X放大镜观察仍可见靠母材侧具有坡口加工痕迹(直线状), 而靠焊缝中心侧可见有曲齿状(或弧状),并在此侧常伴有点 状气孔。黑度均匀,轮廓清晰,也常伴有夹渣同生,倾斜透照 19 时,形态和V型的相同,如图24所示。
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1.2缺陷在底片上成像的基本特征
1.2.1圆形缺陷 ⑴气孔:在焊缝中常见的气孔可分为球状气孔、条状气孔和 缩孔。 球状气孔:按其分布状态可分为均布气孔、密集气孔、链状 气孔、表面气孔。球孔,在底片上多呈现为黑色小圆形斑点, 外形较规则,黑度是中心大,沿边缘渐淡,轮廓清晰可见。 单个分散出现,且黑度淡,轮廓欠清晰的多为表面气孔。密 集成群(5个以上/cm2)叫密集气孔,大多在焊缝近表面, 是由空气中氮气进入熔池造成。平行于焊缝轴线成链状分布 (通常在1cm长在线有4个以上,其间距均≤最小的孔径)称 为链状气孔,它常和未焊透同生。一群均匀分布在整个焊缝 中的气孔,叫均布气孔,见图10示。

射线检测底片评定典型缺陷图示课件

射线检测底片评定典型缺陷图示课件

夹渣缺陷图示
总结词
夹渣是由于焊接过程中熔渣未完全清 除干净导致的一种缺陷。
详细描述
夹渣缺陷图示显示了焊接接头中条状 或点状的熔渣夹缝,夹渣的存在会降 低焊接接头的强度和致密性。
未熔合缺陷图示
总结词
未熔合是由于焊接过程中母材与填充金属未能完全熔合在一起导致的一种缺陷 。
详细描述
未熔合缺陷图示显示了焊接接头中母材与填充金属之间存在未完全熔合的缝隙 ,未熔合会严重影响焊接接头的承载能力。
某些特定性质的缺陷可能对部件的使用性 能造成影响,如夹杂物、分层等,这些性 质的缺陷会判定为不合格。
底片评定注意事项
注意细节
在底片评定过程中,要特别注 意细节,避免漏检或误判。
经验判断
对于某些难以确定的缺陷,需 要依靠经验进行判断。
保持标准一致性
在评定过程中,应保持标准的 一致性,避免出现不同人评定 结果不一致的情况。
夹渣产生原因及防止措施
• 夹渣:缺陷图示中的夹渣缺陷表现为不规则的暗区或高密度 条纹,产生原因是焊接过程中熔渣混入焊道,防止措施包括 选用合适的焊接电流和焊接速度,确保焊条质量良好并保持 清洁。
未熔合产生原因及防止措施
• 未熔合:缺陷图示中的未熔合缺陷表现为焊缝金属与母材之 间的高密度条纹或线状暗区,产生原因是焊接过程中热输入 不足或母材与焊条熔点不匹配,防止措施包括选用合适的焊 接电流和焊接速度,确保母材与焊条熔点匹配并保持焊条清 洁。
裂纹产生原因及防止措施
• 裂纹:缺陷图示中的裂纹缺陷表现为线性或曲线形 的暗区,产生原因是焊接过程中热应力集中或母材 中存在杂质,防止措施包括选用合适的焊接电流和 焊接速度,确保母材质量良好并采用合理的焊接顺 序以减少热应力集中。

射线探伤标准

射线探伤标准

5.1.1范围
本条规定适用于厚度为2mm~400mm的碳素钢、低合金钢、奥氏体不锈钢、镍及镍合金制承压设
备,以及厚度为2mm~80mm的铜及铜合金制承压设备的熔化焊对接焊接接头射线检测的质量分级。

管子和压力管道环向对接焊接接头射线检测质量分级按照第6章规定执行。

5.1.2缺陷类型
对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷共五类。

5.1.3质量分级依据
根据对接接头中存在的缺陷性质、数量和密集程度,其质量等级可划分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。

5.1.4 质量分级一般规定
5.1.4.1 I级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。

5.1.4.2Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。

5.1.4.3对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级。

5.1.4.4 当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量最差的级别作为对接焊接接头的质量级别。

5.1.5圆形缺陷的质量分级
5.1.5.1 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定,圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形,其尺寸见表8。

圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。

表8 缺陷评定区 mm
5.1.5.2 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。

将评定区内的缺陷按表9的规定换算为点数,按表10的规定评定对接焊接接头的质量级别。

表9 缺陷点数换算表
表10 各级别允许的圆形缺陷点数。

ASME关于无损检测缺陷评级与国内电力标准的比较

ASME关于无损检测缺陷评级与国内电力标准的比较

ASME关于无损检测缺陷评级与国内电力标准的比较
一、射线检测部分
1、壁厚T对于单个圆形缺陷的评级国内标准高于ASME标准
例如T=15mm,国内标准II级合格,最大允许6点,即长径不超过
4mm的圆形缺陷为合格。

而ASME标准单个圆形缺陷为1/3T和6mm
的最小值,即为长径不超过5mm圆形缺陷为合格。

(可见821表9,
ASMEA250.3.3)
2、对于单个条状缺陷的评级要求国内标准要高于ASME标准
例如T=12mm,国内标准II级合格,最大4mm为合格,ASME标准
最大6mm为合格。

(可见821表10,ASMEPW-51.3.2)
3、密集显示的圆形缺陷评定标准国内标准要高于ASME
国内将各个圆形缺陷换算成点数累加,按厚度范围画框,进行评定,
即使是在密集缺陷在25mm或2T的最小值内(ASME认定为合格),
但是累计点数超过标准要求的范围,也是不合格的。

(可见821表9,
ASMEA250.3.6)
二、超声检测部分
对于14≤T≤30mm以下的管道允许的缺陷评定标准ASME高于国内
820标准(见820表五,ASMEPW52.3.2)
三、表面检测标准
国内高于ASME,国内标准I级合格,要求条状缺陷不允许,圆形缺
陷评定框尺寸35mm×100mm,直径≤1.5mm的圆形缺陷不得多于1
个;而ASME标准小于5mm的,间距大于1.5mm的圆形缺陷显示就
是合格的。

(见ASMEA-260.4,4730.4表6)。

JB/T4730.2—2005射线检测

JB/T4730.2—2005射线检测

承压设备无损检测第2部分:射线检测1范围JB/T4730的本部分规定了承压设备金属材料受压元件的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。

本部分适用于承压设备受压元件的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。

用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。

本部分规定的射线检测技术分为三级:A级——低灵敏度技术;AB级——中灵敏度技术;B级——高灵敏度技术。

承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测,也可参照使用。

2规范性引用文件下列文件中的条款,通过JB/T4730的本部分引用而成为本部分的条款。

凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。

GB11533—1989标准对数视力表GB16357—1996工业X射线探伤放射卫生防护标准GB18465—2001工业γ射线探伤放射卫生防护要求GB18871—2002电离辐射防护与辐射源安全基本标准GB/T19384.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1部分工业射线胶片系统的分类GB/T19384.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2部分用参考值方法控制胶片处理HB7684—2000射线照相用线型像质计JB/T4730.1承压设备无损检测第1部分:通用要求JB/T7902—1999线型像质计JB/T7903—1999工业射线底片观片灯3一般要求射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外,还应符合下列规定。

3.1射线检测人员3.1.1从事射线检测的人员上岗前应进行辐射安全知识的培训,并取得放射工作人员证。

3.1.2射线检测人员未经矫正的近(距)视力和远(距)视力不低于5.0(小数记录值为1.0),测试方法应符合GB11533的规定。

射线检测B级和AB级的区别

射线检测B级和AB级的区别

一、标准中涉及检测技术级别的条款在JB/T4730.2-2005标准中,规定了射线检测分为三级:A级——低灵敏度技术;AB级——中灵敏度技术;B级——高灵敏度技术。

在标准中涉及检测技术级别的条款概括起来有以下9条:1、第3.8条:射线检测技术等级选择;2、第3.2.2条:不同检测技术级别选择胶片的规定;3、第3.5条:不同检测技术级别选择增感屏的规定;4、第4.1.3条:不同检测技术级别对透照厚度比K的规定;5、第4.2.2条:不同检测技术级别对射线源的透照厚度范围的规定;6、第4.3.1条:不同检测技术级别对射线源至工件表面的最小距离的规定;7、第4.4.1条:不同检测技术级别对X射线照相最小曝光量的规定;8、第4.11.2条:不同检测技术级别对底片黑度D的规定;9、第4.11.3条:不同检测技术级别对底片的像质计灵敏度的规定。

二、射线检测技术等级的选择JB/T4730.2-2005标准第3.8条就有关射线检测技术等级选择的规定如下:3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。

承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。

对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头,可采用B级技术进行检测。

3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行了检测。

3.8.3 承压设备在用检测中,由于结构、环境、射线设备等方面的限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。

无损检测射线常见缺陷图集及分析

无损检测射线常见缺陷图集及分析

夹 纸 痕 迹
1、它们的表面现象是什么? 夹纸痕迹的表征为一块低密度区域,并几乎覆盖整张胶片。 2、它们产生的原因是什么? 如果胶片和铅箔增感屏之间存在一张纸,并产生了投影,则会出 现夹纸痕迹。 3、这些现象何时可能发生? 如果没有去掉衬纸,则会发生这种情况。 4、如何检测夹纸痕迹? 只需在有衬纸或无衬纸两种情况下进行曝光检测。 5、如何可以避免它们? 确保在曝光前去掉 折痕(曝光后)2
折痕(曝光后)3
1、折痕(曝光后)的表面现象是什么? 折痕的表征为黑月牙显示,其密度高于邻近的胶片区域(黑度较 高)。 2、折痕(曝光后)产生的原因是什么? 曝光后或冲洗过程中过度(或用力)弯曲胶片都会使胶片出现折痕。 3、这些现象何时可能发生? 折痕(曝光后)通常出现在卸下暗袋或洗片夹时处理胶片不当的情 况下发生。 4、如何检测曝光后的折痕? 将一些胶片曝光,然后有意识地将其卷曲或扭折,冲洗胶片,然后 通过反射光检验胶片,您有可能见到一个或多个月牙状的黑痕。 5、如何可以避免折痕(曝光后)? 严格遵守暗室操作规程,始终小心处理胶片,特别避免手指对胶片 施以任何类型的压 力。
增 感 屏 痕 迹 1、它们的表面现象是什么? 增感屏痕迹的表征为负片上的一条暗纹。增感屏痕迹也可能表征为负片上的白色 斑点。 2、它们产生的原因是什么? 暗纹是由铅箔增感屏上的深擦痕引起的,而亮斑是由铅箔增感屏上的片状杂质引 起的。 3、这些现象何时可能发生? 当铅箔增感屏受到某种程度的擦伤或损坏时,您就会见到铅箔增感屏上的擦痕, 如果有杂质进入上面,也会产生这种现象。 4、如何检测铅箔增感屏上的痕迹? 近距离仔细观察铅箔增感屏,如果发生任何损坏,必须进行更换。如果无法确定 是否有损坏,请用新的铅箔增感屏更换可疑的铅箔增感屏上,然后利用胶片检测。 5、如何可以避免它们? 首先避免擦伤铅箔增感屏,并始终保持工作区域的洁净。另外,如有可能,请使 用铅封包装的胶片形式。

射线底片缺陷评定

射线底片缺陷评定

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底片的椭圆内圈一般是焊缝根部位置, 注意未焊透。 圆形缺陷长径大于1/2T时,评定Ⅳ级
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4底片上各种非缺陷影像的识别
4.1伪缺陷的识别 ⑴底片表面的机械损伤和表面附着污物:如划痕、 擦伤、指纹、折痕、压痕、水迹等,特征是底片 表面有明显可见的损伤和污物。 ⑵化学作用引起的,如漏光、受曲静电、药物沾 染,银粒子流动,霉点等,特征是底片上伪显示 分布与缺陷有明显的不同。 (3)识别 水平拿着底片,在观片灯光照射下,会 看到底片表面伪缺陷。
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②凹坑(内凹):焊后焊缝表面或背面(根部)所形成低于 母材的局部低洼部分,称为凹坑(根部称内凹),在底片上 的焊缝影像中多呈现为不规则的圆形黑化区域,黑度是由边 缘向中心逐渐增大,轮廓不清晰,如图33所示。 ③收缩沟(含缩根):焊缝金属收缩过程中,沿背面焊道的 两侧或中间形成的根部收缩沟槽或缩根。在底片焊缝根部焊 道影像两侧或焊道中间出现的,黑度不均匀,轮廓欠清晰, 外形呈米粒状的黑色影像,如图34所示。
②焊道之间的未熔合:按其位置可分为并排道间未 熔合和上下道间(又称层间)未熔合。 A.并排焊道之间未熔合:垂直透照时,在底片上多 呈现为黑色线(条)状,黑度不均匀、轮廓不清晰, 两端无尖角、外形不规正,、与细条状夹渣雷同, 大多沿焊缝方向伸长,5×放大镜观察时,轮廓边界 不明显,如图25所示。 B.层间未熔合:垂直透照时,在底片上多呈现为黑 色的不规正的块状影像。黑度淡而不均匀。一般多 为中心黑度偏大,轮廓不清晰,与内凹和凹坑影像 相似,如图26所示。
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灰雾度 !
射线源 滤光板
遮光板 工件
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关于标记带
标记带内容: ①定位标记——中心标记,搭接标记; ②识别标记——产品代号、批号、焊缝代 号、透照日期、操作者代码等; ③B标记——评价背部散射线强度;
GL141 A
2006,3,15
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B
007
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标记带内容的处理
2 射线检测及缺陷等级评定
目前射线检测主要有X射线检测、 射线检测、 高能X射线检测和中子射线检测。
2.1 X射线、 射线的产生和性质
一、 X射线的产生 由X射线管产生,其产生的X射线按其波 长分为连续X射线和标识X射线。
射线检测中,X射线管所产生的都属于 连续X射线。
2013-8-19 1
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3 超声波检测(UT)及缺陷等级评定
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如课本图2-2所示: 对于钢铁合金,厚度为8mm 的材料,最 高的X射线管电压约为140KV;厚度为 20mm的材料最高X射线管电压则为280KV。 对于γ射线,不同的射线源就有不同的 适宜范围(表2-1)。如同样是高灵敏度技 术,60Co钴范围50~150mm、192Ir铱则为 18~80mm。
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④象质计的选择 定义:是用来检查射线透照技术和胶片处理 技术质量、定量评价射线底片影像质量的器件。 象质计(透度计)有三种基本类型:金属丝 型、平板孔型、槽形。我们国家标准规定采用金属 丝型,即线型象质计,由7根不同直径的金属丝构 成。
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金属丝型象质计
第一组象质计示例:
z——阳极靶材料原子序数,钨靶z=74
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二、 射线的产生
γ射线是由放射性同位素的核反应、核衰变或裂 变放射出的。常用的放射性同位素有60Co、192Ir等, 它们是不稳定的同位素,能自发的放射出某种粒子 (α、β等)或γ射线后变成另一种不同的原子核, 这种现象称为衰变。 其衰变速度可用半衰期反映。 半衰期是指放射元素原子核数目因衰变减少到 原来原子核数目一半所需要的时间。
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③增感屏的选择 定义:是用来增强射线对底片感光作用的工 具,它可以加快感光时间,减少透照时间,以达到 提高工作效率,提高影像质量的目的。 常见的增感屏有金属增感屏、荧光增感屏和金 属荧光增感屏三类。其中金属荧光屏应用较多,它 是利用金属箔吸收X射线,激发出二次电子和二次 射线以增强对胶片的感光作用,同时还能吸收波长 较长的散射线,减少散射线引起的灰雾度,从而提 高图像的清晰度。
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24
透照方式选择 选择射线与工件的相对位置关系。 因工件情况不同、发现缺陷种类不同而 采用不同的透照方式。 平板对接焊缝: 垂直透照、倾斜透照; 大直径筒节环缝、纵缝: 内透法、外透法; 管子对接环缝: 双壁双影法、双壁单影法。
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(6)散射线的屏蔽 采用滤板、遮板、底部铅板等。 目的是降低底片的
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2.2 射线检测的原理和准备
一、射线检测原理
利用射线检测时,若被检工件内存在缺陷,缺 陷与工件材料不同,其对射线的衰减程度不同, 且透过厚度不同,透过后的射线强度则不同。
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8
如图所示,若射线原有强度为J0, 透过工件和缺陷后的射线强度分别 为Jδ和Jx,胶片接受的射线强度不 同,冲洗后可明显地反映出黑度差 部位,即能辨别出缺陷的形态、位 置等。
为使用方便,可将长期不变的标记铅字 或符号固定在暗袋的外表面,放在工件 下面。但应注意贴在工件的下表面!而 且不能与工件上表面的标记重影!
GL100-2
标记带
2006,3,12-007
暗袋
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(7) 射线探伤的基本操作程序 总体上分为三个阶段,具体操作内容 根据具体情况有所删减。 (1)技术准备阶段: ①了解被检对象——包括材质、壁厚、 加工工艺、工件表面状态等; ②设备选择—— 射线源类型、能量水平、 可否移动等; ③选择曝光条件—— 包括胶片、增感方式、 焦距、曝光量、管电压等; ④选择透照方式 —— 定向、周向辐射、 布片策略等; ⑤其它准备—— 如标记带布置、象质计布置、 屏蔽散射线的方法等。
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(2)实际透照 ① 核对实物,布片贴标; ② 屏蔽散射,对位调焦; ③ 设定参数,设备预热; ④ 检查现场,开机透照。 (3)技术处理 ① 暗室处理—— 冲洗、干燥; ② 底片评定—— 黑度、象质指数、伪缺陷等; 确认合格底片。 ③ 质量等级评定——根据缺陷类别、严重性, 确定产品质量级别。 ④ 签发检验报告——资料归档,保存5~8年。 检验报告有统一格式、规定的内容、 质检人员要签字、提出返修建议等。
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Ⅳ级
具体的焊接缺陷的分级见课本表2-7、 2-8,分为圆形缺陷和条形夹渣。
3 缺陷位置和尺寸的确定
见课本P27页表2-9。(了解内容)
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四、射线防护
1 射线防护标准 对于检测人员每年允许接受的最大射线 照射剂量为5雷姆。 2 射线防护方法 射线防护方法主要从控制辐射剂量着手, 把辐射剂量控制在保证工作人员健康和安全的 条件下的最低标准内。
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b 底片的黑度: 照射到底片上的光强度Lo与透过底片后的光强度 L之比的常用对数定义为底片的黑度。 黑度D=Lg(L0/L) 例如对于X射线AB级底片黑度范围:1.2~3.5,有 焊缝余高的焊缝黑度为1.5~2.0,无余高的为2.5。黑 度值由经常年检的可靠黑度计来测定。 c 底片的保存: 检测前的 底片应保存在低温、低湿度的环境中, 室温在10~15℃,相对湿度在55%~65%为宜。并且 避免与有害、腐蚀性气体(如煤气、乙炔气、氨气和 硫化氢气体等)接触,避免胶片的人为缺陷产生,如 变形、折伤、划损、污染等。
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0.693

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பைடு நூலகம்
γ射线的半衰期
同位素
钴60 铱192 铯137
半衰期
5.3年 75±3天 33±2年
射线能量
高 较弱 较弱
应用条件
300 mm 以下 钢制件 60mm 以下 钢制件 60mm 以下 钢制件
5
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γ射线与X射线检测的不同点是: γ射线 源无论使用与不适用其能量都在自然地逐 渐减弱。
应用方法
GB561885
7~1
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一定厚度范围工 件的底片,达到 相应象质等级要 求的最低的象质 指数Z,即等于 达到了相对灵敏 度的要求。
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象质计的摆放图示
图例
焊接试 板 象质计
1—7
L/2
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L/4
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应用原理:将其放在射线源一侧、被检 工件部位(如焊缝)的一端(约被检区长度 的1/4处),金属丝与焊缝方向垂直,细丝 置于外侧,与被检部件同时曝光,则在底片 上应观察到不同直径的影像。 分辨原则:能在底片上识别出的金属丝 越细,说明灵敏度越高。
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检测后的 底片及评定结果应有测评报告,保存 期五年以上,随时待查。 d 照相标准: 根据JB4730-94《压力容器无损检测标准》 射线透照的质量等级分三个级别,即A级(普通 级)、 AB级(较高级)、 B级(高级)。 压力容器AB类射线检测一般不低于AB级
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射线照相相对灵敏度K表示为: d K 100 %

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式中,d—底片上可识别出的最细金属丝直径,mm; —被检工件的穿透厚度,mm。
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(5)照相方法 一般采用①纵缝透照法、②环缝外透法、③环 壁内透法、④双壁单透法、⑤双壁双透法等几种方法。 1、2两种方法:外透法一般用于单壁容器和夹 套容器。 第3种方法又分为偏心法和中心法,但要注意在 评片时,内壁缺陷要放大。 4、5两种方法主要用于小直径容器(直径小于 一米以下) 以及管子(4用于外径89mm以上,5用于89mm以下 的管子)。
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2 焊缝的质量分级
根据相关标准(JB4730、GB3323)中关于钢 制压力容器对接焊缝透照缺陷等级评定的内容,根据 缺陷的性质和数量,焊缝质量分为四级,Ⅰ级焊缝要 求的质量最高,依次下降。具体内容见下表:
焊缝质量 Ⅰ级 Ⅱ级 Ⅲ级 要求内容
Ⅰ级焊缝内不允许有裂纹、未融合、未焊透和条形夹渣存在。 Ⅱ级焊缝内不允许有裂纹、未融合、未焊透存在。 Ⅲ级焊缝内不允许有裂纹、未融合以及双面焊或相当于双面焊 的全焊透对接焊缝和加垫板的单面焊中的未焊透。不加垫板的 单面焊中的未焊透按相关规定进行评定。 焊缝缺陷超过Ⅲ级者为Ⅳ级
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② 胶片的选择 a 胶片组成:胶片主要由基片、感光乳胶层(感光药 膜)、结合层(底膜)和保护层(保护膜)组成。 基片:胶片的基体,由乙酸纤维组成,主要保证胶片的 强度韧性,适于冲洗。 厚度约0.25~0.30mm,占胶片的70 %左右。 感光乳剂层:其主要成分是溴化银微粒和明胶,两者组 成悬浮体,两面各约厚10~20μm。 原理是溴化银接受不 同强度射线照射后析出多少不同的银,经过潜影、显影、 定影处理在胶片上将显示出黑度不同的影象。 结合层:由明胶、水、有机溶剂和酸等组成,可使感光 乳胶层和基片粘结在一起,防止乳剂层在冲洗时从基片上 脱落。 保护层:由透明的胶质或高分子化合物组成,厚约1~ 2μm,涂在乳剂层防止污染和膜损。
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三、焊缝射线透照缺陷等级评定
1 评片工作的基本要求: (1)底片质量要求的主要内容:合适的底片 黑度(有余高的焊缝黑度为1.5~2.0)、正确的 象质计、合理的射线底片影像级别(AB级、B 级)。 (2)底片观察的条件要符合要求。(包括评 片环境和观察底片的亮度) (3)具备相应评片资格和经验的评片人。 (必须具备劳动部门颁发的射线Ⅱ级以上资格 证书的检测人员。)
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