基本逻辑门电路的逻辑功能测试.

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基本门电路逻辑功能的测试

基本门电路逻辑功能的测试

河 北 科 技 大 学实 验 报 告级 专业 班 学号 年 月 日姓 名 同组人 指导教师 王计花 任课教师 实验名称 实验二 基本门电路逻辑功能的测试 成 绩 实验类型 验证型 批阅教师一、实验目的(1)掌握常用门电路的逻辑功能,熟悉其外形及引脚排列图。

(2)熟悉三态门的逻辑功能及用途。

(3)掌握TTL 、CMOS 电路逻辑功能的测试方法。

二、实验仪器与元器件(1)直流稳压电源 1台 (2)集成电路74LS00 四2输入与非门 1片 74LS86 四2输入异或门 1片 74S64 4-2-3-2输入与或非门 1片 74LS125 四总线缓冲门(TS ) 1片 CD4011 四2输入与非门1片三、实验内容及步骤1.常用集成门电路逻辑功能的测试在数字实验板上找到双列直插式集成芯片74LS00和74LS86。

按图进行连线。

测试各电路的逻辑功能,并将输出结果记入表中。

门电路测试结果2.测试与或非门74S64的逻辑功能在实验板上找到芯片74S64,实现Y AB CD =+的逻辑功能。

真值表A 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1B 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1C 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1D 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 YA B Y (00) Y (86)0 0 0 1 1 0 1 1Y Y &3.用与非门组成其他逻辑门电路 (1)用与非门组成与门电路按图接线,按表测试电路的逻辑功能。

根据测得的真值表,写出输出Y的逻辑表达式。

真值表逻辑表达式:(2)用与非门组成异或门电路按图接线,将测量结果记入表中,并写出输出Y 的逻辑表达式。

真值表逻辑表达式:真值表4.三态门测试(1)三态门逻辑功能测试三态门选用 74LS125将测试结果记入表中。

(2)按图接线。

将测试结果记录表中。

基本门电路逻辑功能测试

基本门电路逻辑功能测试

基本门电路逻辑功能测试逻辑功能测试是验证电路的逻辑功能是否符合设计要求的测试过程。

逻辑功能测试主要包括输入测试和输出测试两个方面。

输入测试是对基本门电路的输入信号进行测试,以验证其是否正确地识别和处理输入信号。

输入测试的目标是检查输入信号对电路的触发和响应是否符合设计要求。

为此,需要设计一组合适的输入信号,并观察电路的响应。

输入测试可以通过连接基本门电路的输入端和信号发生器来实现,通过改变输入信号的连续性、幅度和频率等参数,来观察电路的响应情况。

输出测试是对基本门电路的输出信号进行测试,以验证其是否正确地产生和传递输出信号。

输出测试的目标是检查输出信号的正确性和稳定性。

输出测试可以通过连接基本门电路的输出端和示波器或其他显示设备来实现,通过观察输出信号的波形和时序等参数,来判断电路的输出是否符合设计要求。

在进行逻辑功能测试时,需要先了解基本门电路的逻辑功能和输入输出特性。

基本门电路包括与门、或门、非门和异或门等。

与门的逻辑功能是当且仅当所有输入信号为高电平时,输出信号为高电平;或门的逻辑功能是当且仅当有一个或多个输入信号为高电平时,输出信号为高电平;非门的逻辑功能是将输入信号取反;异或门的逻辑功能是当且仅当输入信号为奇数个高电平时,输出信号为高电平。

基本门电路的输入输出特性由真值表或逻辑方程表达。

在进行功能测试时,首先需要编写测试方案,根据逻辑功能和输入输出特性,设计一组合适的测试用例。

测试用例包括输入信号和期望输出信号。

接下来,按照测试方案,连接基本门电路和测试设备,设置合适的输入信号,观察输出信号。

通过对比期望输出信号和实际输出信号,判断电路的逻辑功能是否正常。

如果有不符合期望的情况,可以通过修改电路连接和参数设置等方式来排查和解决问题。

在测试过程中,还需要注意保持测试环境的稳定性和一致性,避免干扰和误操作。

同时,还需注意安全操作,避免电路损坏或人身伤害。

总之,基本门电路的逻辑功能测试是验证电路的逻辑功能是否符合设计要求的重要步骤。

实验一 基本门电路的逻辑功能测试

实验一  基本门电路的逻辑功能测试

实验一基本门电路的逻辑功能测试姓名:潘建成班级10级电信1学号120101003132 指导老师:陈金恩一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。

3、了解测试的方法与测试的原理。

4、掌握TTL集电极开路门(OC门)的逻辑功能及应用。

5、掌握TTL三态输出门(3S门)的逻辑功能及应用。

6、熟练掌握multisim仿真测试。

二、实验仪器1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、双踪示波器,数字万用表。

4、相应74LS系列芯片若干。

三、实验原理1、验中用到的基本门电路的符号为:图1-1与门图1-2或门图1-3非门图1-4与非门图1-5或非门图1-6异或门在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,(即实验箱上面的拨动开关)然后使用逻辑电平显示单元(实验箱上部的LED)显示其逻辑功能。

2、数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL电路,由于输出级采用了推拉式输出电路,无论输出是高电平还是低电平,输出阻抗都很低。

因此,不允许将它们的输出端并接在一起使用,而集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路,它们允许把输出端直接并接在一起使用,也就是说,它们都具有“线与”的功能。

(1)、TTL集电极开路门(OC门)本实验所用OC门型号为2输入四与非门74LS03,引脚排列见附录。

工作时,输出端必须通过一只外接电R和电源Ec相连接,以保证输出电平符合电路要求。

阻LOC门的应用主要有下述特点:电路的“线与”特性方便的完成某些特定的逻辑功能。

图1-7所示,将两个OC 门输出端直接并接在一起,则它们的输出:21212121B B A A B B A A F F F B A +=∙=∙=图1-7 OC 与非门“线与”电路即把两个(或两个以上)OC 与非门“线与”可完成“与或非”的逻辑功能。

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试逻辑门电路是数字电子电路中常用的一种电路,用于实现逻辑运算。

逻辑门电路由逻辑门和逻辑门之间的连接组成。

不同的逻辑门具有不同的逻辑功能,如与门、或门、非门等。

下面将对常见的逻辑门电路的逻辑功能和测试方法进行详细介绍。

一、与门(AND Gate)与门是最基本的逻辑门之一,它的逻辑功能是输入信号同时为高电平时输出高电平,否则输出低电平。

与门的通用符号是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

常用的与门有两输入与门、三输入与门等。

测试方法:1.连接电路:将与门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当输入引脚都为高电平时,LED灯应该亮起;否则,LED灯应该熄灭。

二、或门(OR Gate)或门是另一种常见的逻辑门,它的逻辑功能是只要有一个输入信号为高电平,输出就为高电平;只有所有输入信号都为低电平时,输出才为低电平。

或门的通用符号也是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

测试方法:1.连接电路:将或门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当任意一个输入引脚为高电平时,LED灯应该亮起;否则,LED灯应该熄灭。

三、非门(NOT Gate)非门是较为简单的逻辑门之一,它的逻辑功能是输出与输入相反的电平信号。

非门的通用符号是一个带有一个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

测试方法:1.连接电路:将非门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当输入引脚为高电平时,LED灯应该熄灭;否则,LED灯应该亮起。

以上是常见的逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。

通过对逻辑门的测试,可以确保电路正常工作并实现所需的逻辑功能。

实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试

实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试

实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试逻辑门电路是数字电路中最基本的组成单元之一,用于处理和操作二进制信号。

逻辑门电路可以实现布尔逻辑运算,包括与门、或门、非门、异或门等。

本实验将介绍逻辑门电路的基本参数以及逻辑功能测试。

1.逻辑门电路的基本参数:逻辑门电路由多个晶体管和其他电子元件组成,其基本参数包括输入电压范围、输入电流范围、输出电压范围、输出电流范围等。

输入电压范围是指逻辑门电路所需的输入电压范围,超出此范围将无法正常工作。

例如,一个逻辑门电路的输入电压范围为0V到5V,当输入电压小于0V时,逻辑门将会判定为低电平;当输入电压大于5V时,逻辑门将会判定为高电平。

输入电流范围是指逻辑门电路所需的输入电流范围,超出此范围将可能损坏电路。

例如,一个逻辑门电路的输入电流范围为0mA到10mA,当输入电流小于0mA时,逻辑门将会判定为低电平;当输入电流大于10mA 时,逻辑门将会判定为高电平。

输出电压范围是指逻辑门电路输出的电压范围,其值取决于供电电压和逻辑门本身的设计。

例如,一个逻辑门电路的输出电压范围为0V到5V,当输出电压低于0V时,代表逻辑门输出低电平;当输出电压高于5V时,代表逻辑门输出高电平。

输出电流范围是指逻辑门电路输出的电流范围,即逻辑门可以提供的最大电流。

例如,一个逻辑门电路的输出电流范围为0mA到20mA,当输出电流小于0mA时,表示逻辑门提供的电流为零;当输出电流大于20mA 时,逻辑门将无法提供足够的电流。

2.逻辑门电路的逻辑功能测试:为了验证逻辑门电路的逻辑功能,我们可以进行一系列的实验以测试其输入输出关系。

以下是几个常用的逻辑功能测试实验:(1)AND门测试:将AND门的两个输入端分别接入逻辑1和逻辑0信号源,观察输出端的信号变化。

当输入端均为逻辑1时,输出端应为逻辑1;当输入端有一个或两个信号为逻辑0时,输出端应为逻辑0。

逻辑1和逻辑0表示高电平和低电平。

(2)OR门测试:将OR门的两个输入端分别接入逻辑1和逻辑0信号源,观察输出端的信号变化。

基本门电路的逻辑功能测试

基本门电路的逻辑功能测试

基本门电路的逻辑功能测试我们常用的门电路由与逻辑门、或逻辑门、非逻辑门、与非逻辑门、或非逻辑门和异或逻辑门等。

下面我们共同学习一下。

一、与逻辑(AND Logic)与逻辑又叫做逻辑乘,下面是通过开关的工作状态加以说明与逻辑的运算。

图(a)可以看出,当开关有一个断开时,灯泡处于灭的状态,仅当两个开关同时合上时,灯泡才会亮。

于是我们可以将与逻辑的关系速记为:“有0出0,全1出1”。

图(b)列出了两个开关的所有组合,以及与灯泡状态的情况,我们用“0”表示开关处于断开状态,“1”表示开关处于合上的状态;同时灯泡的状态用0表示灭,用1表示亮。

图(c)给出了与逻辑门电路符号,该符号表示了两个输入的逻辑关系,&在英文中是AND的速写,如果开关有三个则符号的左边再加上一道线就行了。

逻辑与的关系还可以用表达式的形式表示为:F=A·B上式在不造成误解的情况下可简写为:F=AB。

二、或逻辑(OR Logic)图(a)为一并联直流电路,当两只开关都处于断开时,其灯泡不会亮;当A,B 两个开关中有一个或两个一起合上时,其灯泡就会亮。

如开关合上的状态用“1”表示,开关断开的状态用“0”表示;灯泡的状态亮时用“1”表示,不亮时用“0”表示,则可列出图(b)所示的真值表。

这种逻辑关系就是通常讲的“或逻辑”,从表中可看出,只要输入A,B两个中有一个为1,则输出为1,否则为0。

所以或逻辑可速记为:“有1则1,全0才0”。

图(c)为或逻辑门电路符号,后面通常用该符号来表示或逻辑,其方块中的“≥1”表示输入中有一个及一个以上的“1”,输出就为“1”。

逻辑或的表示式为:F=A+B三、非逻辑(NOT Logic)非逻辑又常称为反相运算(Inverters)。

下图(a)所以的电路实现的逻辑功能就是非运算的功能,从图上可以看出当开关A合上时,灯泡反而灭;当开关断开时,灯泡才会亮,故其输出F的状态与输入A的状态正好相反。

非运算的逻辑表达式为:图(c)给出了非逻辑门电路符号。

基本逻辑门逻辑功能测试实验报告

基本逻辑门逻辑功能测试实验报告

基本逻辑门逻辑功能测试实验报告本实验主要是对基本逻辑门的逻辑功能进行测试,通过测试不同门的逻辑功能,掌握基本逻辑门的使用方法,了解它们在电路设计中的应用。

本实验采用了数字电路实验箱和万用表等实验工具,进行实验的设计和测试,最终得到了实验数据和结论。

关键词:基本逻辑门;逻辑功能;测试;电路设计一、实验目的本实验的主要目的是:1. 了解基本逻辑门的种类和原理;2. 掌握基本逻辑门的使用方法;3. 通过测试不同门的逻辑功能,了解它们在电路设计中的应用。

二、实验原理1. 基本逻辑门的种类和原理基本逻辑门包括与门(AND)、或门(OR)、非门(NOT)、异或门(XOR)、同或门(NOR)和与非门(NAND)。

它们的逻辑功能如下:(1)与门(AND):当且仅当所有输入都为1时,输出才为1,否则为0。

(2)或门(OR):当且仅当所有输入都为0时,输出才为0,否则为1。

(3)非门(NOT):当输入为0时,输出为1;当输入为1时,输出为0。

(4)异或门(XOR):当且仅当输入不相同时,输出为1,否则为0。

(5)同或门(NOR):当且仅当所有输入都相同时,输出为1,否则为0。

(6)与非门(NAND):当且仅当所有输入都为1时,输出为0,否则为1。

2. 基本逻辑门的使用方法基本逻辑门的使用方法如下:(1)与门(AND):将两个或多个输入接到与门的输入端,将输出接到需要的电路中。

(2)或门(OR):将两个或多个输入接到或门的输入端,将输出接到需要的电路中。

(3)非门(NOT):将输入接到非门的输入端,将输出接到需要的电路中。

(4)异或门(XOR):将两个输入接到异或门的输入端,将输出接到需要的电路中。

(5)同或门(NOR):将两个或多个输入接到同或门的输入端,将输出接到需要的电路中。

(6)与非门(NAND):将两个或多个输入接到与非门的输入端,将输出接到需要的电路中。

三、实验设计本实验采用数字电路实验箱和万用表等实验工具,进行实验的设计和测试。

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告实验目的:1. 理解并掌握基本逻辑门电路的工作原理。

2. 学习如何使用实验设备测试逻辑门电路的功能。

3. 验证不同逻辑门电路的真值表。

实验设备:1. 数字逻辑实验板2. 逻辑门电路元件(如与门、或门、非门等)3. 示波器4. 电源5. 连接线实验步骤:1. 准备实验设备,确保所有设备正常工作。

2. 根据实验要求,设计逻辑门电路,并在实验板上搭建。

3. 连接电源,确保电压稳定且符合逻辑门电路的要求。

4. 使用示波器探头连接到逻辑门的输入和输出端,观察并记录波形。

5. 根据真值表,改变输入信号,逐一测试逻辑门的所有可能输入组合。

6. 记录每个输入组合下的输出结果,并与理论值进行对比,验证电路功能。

实验结果:1. 列出所有测试的逻辑门类型及其对应的真值表。

2. 展示每个逻辑门在不同输入下的输出波形图。

3. 对比实验结果与理论真值表,总结实验中发现的任何偏差及其可能的原因。

实验分析:1. 分析实验中观察到的波形,解释其与逻辑门功能的关系。

2. 讨论实验中出现的任何异常情况及其解决方案。

3. 探讨如何通过改进电路设计来提高逻辑门的性能。

实验结论:1. 总结实验结果,确认逻辑门电路是否符合预期的功能。

2. 评估实验过程的有效性和准确性。

3. 提出可能的改进措施,以优化未来的实验设计和执行。

注意事项:1. 在操作实验设备时,务必遵守实验室安全规则。

2. 在连接电路前,仔细检查电路设计是否正确,避免短路或错误连接。

3. 记录数据时要准确无误,以确保实验结果的可靠性。

门电路的逻辑功能测试实验报告

门电路的逻辑功能测试实验报告

门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解门电路的逻辑功能,通过实际测试和观察,掌握与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本逻辑门的工作原理和特性。

同时,培养我们的实验操作能力、数据分析能力以及对逻辑电路的综合应用能力。

二、实验设备与器材1、数字电路实验箱2、 74LS00(四 2 输入与非门)芯片3、 74LS08(四 2 输入与门)芯片4、 74LS32(四 2 输入或门)芯片5、 74LS04(六反相器)芯片6、 74LS20(双 4 输入与非门)芯片7、 74LS28(四或非门)芯片8、 74LS86(四 2 输入异或门)芯片9、数字万用表10、导线若干三、实验原理1、与门(AND Gate)逻辑表达式:Y = A · B功能:只有当输入 A 和 B 都为 1 时,输出 Y 才为 1;否则,输出为 0。

2、或门(OR Gate)逻辑表达式:Y = A + B功能:只要输入 A 或 B 中有一个为 1,输出 Y 就为 1;只有当 A 和 B 都为 0 时,输出为 0。

3、非门(NOT Gate)逻辑表达式:Y = ¬A功能:输入为 1 时,输出为 0;输入为 0 时,输出为 1。

4、与非门(NAND Gate)逻辑表达式:Y = ¬(A · B)功能:当输入 A 和 B 都为 1 时,输出 Y 为 0;否则,输出为 1。

5、或非门(NOR Gate)逻辑表达式:Y = ¬(A + B)功能:当输入 A 或 B 中有一个为 1 时,输出 Y 为 0;只有当 A 和B 都为 0 时,输出为 1。

6、异或门(Exclusive OR Gate)逻辑表达式:Y = A ⊕ B = A · ¬B + ¬A · B功能:当输入 A 和 B 不同时,输出 Y 为 1;当 A 和 B 相同时,输出为 0。

基本门电路的逻辑功能测试实验报告

基本门电路的逻辑功能测试实验报告

基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试,掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。

二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件,包括与门、或门、非门等。

它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。

在数字电路中,这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算,如异或、同或等。

四、实验步骤1.连接与门电路:将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上,将输出端连接到数字万用表上。

2.打开第一个开关,记录输出结果。

3.关闭第一个开关,打开第二个开关,记录输出结果。

4.打开两个开关,记录输出结果。

5.重复以上步骤,连接或门和非门电路进行测试。

五、实验结果及分析1.与门电路测试:当两个输入都为高电平时(即两个开关都打开),输出为高电平;当有一个或两个输入为低电平时(即有一个或两个开关关闭),输出为低电平。

这符合与运算的规律。

2.或门电路测试:当两个输入都为低电平时(即两个开关都关闭),输出为低电平;当有一个或两个输入为高电平时(即有一个或两个开关打开),输出为高电平。

这符合或运算的规律。

3.非门电路测试:当输入为高电平时(即开关打开),输出为低电平;当输入为低电平时(即开关关闭),输出为高电平。

这符合非运算的规律。

六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试,我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。

在数字电路中,这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算,如异或、同或等。

掌握了基本门的工作原理之后,我们可以更好地理解和设计数字电路。

七、实验注意事项1.在连接实验箱之前,确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。

2.在进行实验前,检查所有连接是否正确,并确保没有短路情况发生。

3.在进行实验过程中,注意安全操作,避免触碰到带电部分。

基本门电路的逻辑功能测试

基本门电路的逻辑功能测试

实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2、了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为:在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。

三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、相应74LS系列芯片若干。

四、实验内容测试TTL门电路的逻辑功能:a)测试74LS08(与门)的逻辑功能。

b)测试74LS32(或门)的逻辑功能。

c)测试74LS04(非门)的逻辑功能。

d)测试74LS00(与非门)的逻辑功能。

e)测试74LS02(或非门)的逻辑功能。

f)测试74LS86(异或门)的逻辑功能。

五、实验步骤1、按照芯片的管脚分布图接线(注意高低电平的输入和高低电平的显示)。

2、测试各个芯片的逻辑功能六、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。

2.根据实验结果,写出各逻辑门的逻辑表达式,并判断逻辑门的好坏。

优先编码器74LS147功能表74LS147逻辑图三、实验设备与器材1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、芯片74LS148,74LS20各一片。

四、实验内容及实验步骤1、8-3线优先编码器74LS148将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置,并固定好,找一个16PIN的插座插上芯片74LS148,并在16PIN插座的第8脚接上实验箱的地(GND),第16脚接上电源(VCC)。

八个输入端I0~I7接拨位开关(逻辑电平输出),输出端接发光二极管进行显示(逻辑电平显示)。

2、10-4线优先编码器74LS147测试方法与74LS148类似,只是输入与输出脚的个数不同,功能引脚不同。

五、实验预习要求1、预习编码器的原理。

2、熟悉所用集电路的引脚功能。

3、画好实验所用的表格。

六、实验报告要求说明74LS148的输入信号EI和输出信号GS、EO的作用。

实验二 基本门电路逻辑功能的测试

实验二 基本门电路逻辑功能的测试

实验二 基本门电路逻辑功能的测试一、实验目的1.熟悉能主要门电路的逻辑功; 2.掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。

二、使用仪器DZX-2B 型电子学综合实验装置(简称实验台)。

三、实验原理1 集成电路芯片介绍主要的门电路包括与非门、或非门和与或非门。

在数字电路中广泛应用。

无论大规模集成电路多么复杂,但内部也还是由这些基本门电路构成,因此,熟悉它们的功能十分重要。

图2-1 逻辑图及外引线排列1 2 3 4 5 6 71 2 3 4 5 6 71 2 3 45 6 7数字电路实验中所用到的集成芯片多为双列直插式,其引脚排列规则如图2-1。

其识别方法是:正对集成电路型号或看标记(左边的缺口或小圆点标记),从左下角开始按逆时针方向以1,2,3…依次排列到最后一脚。

在标准形TTL 集成电路中,电源端Vcc 一般排在左上端,接地端(GND )一般排在右下端,如74LS00。

若集成芯片引脚上的功能标号为NC ,则表示该引脚为空脚,与内部电路不连接。

本实验采用的芯片是74LS00二输入四与非门、74LS20四输入二与非门、74LS02二输入四或非门、74LS04六非门、74LS54双二双三输入与或非门,逻辑图及外引线排列图见图2-1(74LS00见实验一中图1-1(d))。

2.逻辑表达式:非门 A Y = 2-1 2输入端与非门 B A Y •= 2-2 4输入端与非门 D C B A Y •••= 2-3 或非门 B A Y += 2-4对于与非门,其输入中任一个为低电平“0”时,输出便为高电平“1”。

只有当所有输入都为高电平“1”时,输出才为低电平“0”。

对于TTL 逻辑电路,输入端如果悬空可看做;逻辑1,但为防止干扰信号引入,一般不悬空,可将多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。

对MOS 电路输入端不允许悬空。

对于或非门,闲置输入端应接地或低电平,也可以和一个有用输入端连在一起。

四、实验内容及步骤1.逻辑功能测试①与非门逻辑功能的测试:* 将74LS20插入实验台14P 插座,注意集成块上的标记,不要插错。

基本逻辑门逻辑功能测试实验中存在的问题及解决的方法

基本逻辑门逻辑功能测试实验中存在的问题及解决的方法

基本逻辑门逻辑功能测试实验中存在的问题及解决的
方法
1.电路连接错误:在逻辑门实验中,电路连接错误是常见的问题之一。

解决这个问题的方法是仔细检查电路图和实际连接,确保每个元件都正确连接到适当的引脚。

2.元件故障:有时,元件可能会出现故障,导致逻辑门无法正常工作。

为了解决这个问题,可以尝试更换故障的元件,或者使用其他可靠的元件进行替代。

3.供电问题:逻辑门实验需要稳定的电源供应。

如果电源不稳定,逻辑门可能无法正常工作。

解决这个问题的方法包括使用稳定的电源供应或者添加适当的电压稳定器来确保逻辑门的正常工作。

4.测试设备问题:在逻辑门实验中,测试设备的准确性和可靠性对结果的正确性至关重要。

如果测试设备存在问题,可能会导致实验结果不准确。

为了解决这个问题,可以使用高质量的测试设备,并进行定期的校准和维护。

5.环境干扰:在实验室环境中,可能存在一些干扰源,如电磁干扰或其他电子设备的干扰,这可能会影响逻辑门的性能。

为了解决这个问题,可以尽量减少干扰源的存在,并在实验过程中注意保持稳定的环境条件。

在基本逻辑门逻辑功能测试实验中,出现问题是正常的。

通过仔细检查连接、更换故障元件、保证供电稳定、使用高质量的测试设备以及减少环境干扰,我们可以解决这些问题,确保实验结果的准确性
和可靠性。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能,包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法,包括输入信号的选择、输出信号的观测等。

3. 通过实验加深对数字电路原理的理解,提高动手实践能力。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元,它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能:1. 与门(AND):当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平。

2. 或门(OR):当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号就为高电平。

3. 非门(NOT):将输入信号的逻辑值取反,即高电平变为低电平,低电平变为高电平。

4. 与非门(NAND):与门输出信号取反,即当所有输入信号都为高电平时,输出信号为低电平。

5. 或非门(NOR):或门输出信号取反,即当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号为低电平。

6. 异或门(XOR):当输入信号不同时,输出信号为高电平;当输入信号相同时,输出信号为低电平。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00(2输入端四与非门)4. 74LS32(2输入端四或门)5. 74LS20(4输入端双与非门)6. 74LS86(2输入端四异或门)7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试(1)将74LS00芯片插入实验箱,按照电路图连接好与门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。

2. 或门测试(1)将74LS32芯片插入实验箱,按照电路图连接好或门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。

3. 非门测试(1)将74LS04芯片插入实验箱,按照电路图连接好非门电路。

实验一-基本逻辑门电路实验

实验一-基本逻辑门电路实验

二 、 TTL、HC器件的电压传输特性
2.输出无负载时74LS00、74HC00电压传输特性测试数据
输入Vi(V)
0.0 0.2 … 1.2 1.4 … 4.8 5.0
74LS00
输出Vo
74HC00
二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性
3.输出无负载时74LS00、74HC00和 74HCT00电压传
互连规则与约束
TTL、CMOS器件的互连: 器件的互连总则
在电子产品的某些单板上,有时需要在某些逻辑电平的器件之间进行互连。 在不同逻辑电平器件之间进行互连时主要考虑以下几点: 1:电平关系,必须保证在各自的电平范围内工作,否则,不能满足正常逻辑 功能,严重时会烧毁芯片。 2:驱动能力,必须根据器件的特性参数仔细考虑,计算和试验,否则很可能 造成隐患,在电源波动,受到干扰时系统就会崩溃。 3:时延特性,在高速信号进行逻辑电平转换时,会带来较大的延时,设计时 一定要充分考虑其容限。 4:选用电平转换逻辑芯片时应慎重考虑,反复对比。通常逻辑电平转换芯片 为通用转换芯片,可靠性高,设计方便,简化了电路,但对于具体的设计电 路一定要考虑以上三种情况,合理选用。 对于数字电路来说,各种器件所需的输入电流、输出驱动电流不同,为了驱 动大电流器件、远距离传输、同时驱动多个器件,都需要审查电流驱动能力: 输出电流应大于负载所需输入电流;另一方面,TTL、CMOS、ECL等输入、输 出电平标准不一致,同时采用上述多种器件时应考虑电平之间的转换问题。
五、 不同逻辑电平接口转换及其应用
1.TTL与CMOS 2.CMOS与TTL 2.TTL与LVTTL 3.TTL与LVCMOS 4.LVTTL与TTL 5LVTTL与CMOS 5.LVCMOS与TTL 6.LVCMOS与CMOS 7.TTL/CMOS与ECL 8. LVTTL/LVCMOS与LVECL 9.其它

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告实验名称:逻辑门电路功能测试实验目的:通过对基本逻辑门电路的功能测试,了解逻辑门的功能特点和使用方法。

实验器材:逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。

实验原理:逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的,其功能由每个基本逻辑门的特性决定。

在实现不同功能时,需要使用不同类型的逻辑门,并通过不同的电路组合实现。

实验步骤:1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中,并连接电源。

2. 针对不同的逻辑门,根据其真值表,按照连接方法将线路连接。

3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试,检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。

4. 可通过改变输入信号的方式,观察逻辑门的输出信号变化。

实验结果:针对不同类型的逻辑门进行连接和测试,实验结果如下:1. 与门(AND)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为 1 时,输出信号才为 1。

2. 或门(OR)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为1,输出信号即为 1。

3. 非门(NOT)电路测试结果符合真值表,将输入信号取反输出。

4. 与非门(NAND)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为 0,输出信号即为 0。

5. 或非门(NOR)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为0 时,输出信号才为 1。

6. 异或门(XOR)电路测试结果符合真值表,只有输入信号不相同时,输出信号才为 1。

实验结论:通过逻辑门电路功能测试,可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能,并根据需要进行组合,实现不同的功能。

逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用,是数字电路设计的基础。

实验一常用基本逻辑门电路功能测试

实验一常用基本逻辑门电路功能测试

实验一常用基本逻辑门电路功能测试一、实验目的:通过对常用基本逻辑门电路的测试,了解其功能特点,掌握逻辑门的工作原理和应用场景。

二、实验器材:1.电源模块2.逻辑门集成电路芯片(如与门、或门、非门、与非门等)3.开关4.LED灯5.电阻6.连线电缆三、实验原理:逻辑门是一种能够根据输入信号的逻辑关系,产生相应的输出信号的电子电路。

常用的基本逻辑门有与门(AND)、或门(OR)、非门(NOT)、异或门(XOR)等。

1.与门(AND):当且仅当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平。

2.或门(OR):当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号为高电平。

3.非门(NOT):将输入信号取反,并输出。

4.异或门(XOR):当输入信号中的高电平个数为奇数时,输出信号为高电平。

四、实验步骤:1.与门电路测试:a.将逻辑门芯片与门连接到电源模块,确定电源模块的供电电压和逻辑门芯片的工作电压。

b.将与门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上,将与门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平,观察LED灯的亮灭情况。

当输入信号都为高电平时,LED灯亮起,验证了与门的功能特点。

2.或门电路测试:a.将逻辑门芯片或门连接到电源模块。

b.将或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上,将或门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平,观察LED灯的亮灭情况。

当至少一个输入信号为高电平时,LED灯亮起,验证了或门的功能特点。

3.非门电路测试:a.将逻辑门芯片非门连接到电源模块。

b.将非门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上,将非门芯片的输出引脚连接到LED灯。

c.开关控制输入信号的高低电平,观察LED灯的亮灭情况。

输入信号取反后输出,验证了非门的功能特点。

4.异或门电路测试:a.将逻辑门芯片异或门连接到电源模块。

b.将异或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上,将异或门芯片的输出引脚连接到LED灯。

基本门电路逻辑功能的测试数电实验报告

基本门电路逻辑功能的测试数电实验报告

实验一:TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1(a)、(b)、(c)所示。

(b)(a) (c)图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。

)其逻辑表达式为 Y=2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。

ICCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。

ICCH是指输出端空截,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件的电流。

通常I CCL >I CCH ,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为P CCL =V CC I CCL 。

手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

I CCL 和I CCH 测试电路如图2-2(a)、(b)所示。

[注意]:TTL 电路对电源电压要求较严,电源电压V CC 只允许在+5V ±10%的范围内工作,超过5.5V 将损坏器件;低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。

(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。

I iL 是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中,I iL 相当于前级门输出低电平时,后级向前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带负载的个数,因此希望I iL 小些。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告门电路是数字电路中常见的一种基本逻辑电路,它能够实现逻辑运算,控制信号的传输和处理。

本实验旨在通过对门电路的逻辑功能及测试实验进行研究,深入理解门电路的工作原理和应用。

一、门电路的基本概念。

门电路是数字电路中的基本组成单元,它根据输入信号的不同组合产生相应的输出信号。

常见的门电路有与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时输出高电平,否则输出低电平;或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时输出高电平,否则输出低电平;非门的逻辑功能是对输入信号取反输出。

门电路的逻辑功能由其逻辑门电路图和真值表来描述。

二、门电路的逻辑功能测试。

1. 与门的逻辑功能测试。

通过搭建与门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

2. 或门的逻辑功能测试。

同样地,通过搭建或门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

3. 非门的逻辑功能测试。

搭建非门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,同样需要注意输入信号的稳定性和准确性。

三、门电路的测试实验报告。

通过以上逻辑功能测试,我们得出了门电路的真值表和逻辑功能描述。

与门、或门、非门均能够按照预期的逻辑功能进行工作,输出信号符合逻辑运算的规律。

在测试过程中,输入信号的稳定性和准确性对于测试结果的可靠性至关重要。

通过本实验,我们深入了解了门电路的基本概念和逻辑功能,掌握了门电路的测试方法和技巧。

门电路作为数字电路中的基本组成单元,在数字系统设计和应用中具有重要的作用。

掌握门电路的逻辑功能及测试方法对于数字电路的设计和应用具有重要的意义。

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情境任务目录
任务一 基本逻辑门电路的逻辑功能测试
任务目标与要求
1.理解数制、代码、逻辑代数功能描述方法。 2.知道基本逻辑门电路的符号、逻辑功能。 3.用仪器仪表测试基本逻辑门电路的逻辑功能。 4.用仪器仪表测试基本逻辑门电路的应用电路。 5.分析和仿真基本逻辑门电路及其应用电路。 6.编写文档记录基本逻辑门电路的学习过程和测试结果。 (一组交一份) 7.相互交流和学习。
任务基础知识三——逻辑代数基础
逻辑代数是按一定的逻辑关系进行运算的代数,是分析和设计 数字电路的数学工具。在逻辑代数中,只有0和1两种逻辑值,有 与、或、非三种基本逻辑运算,还有与或、与非、与或非、异或几 种导出逻辑运算。 逻辑是指事物的因果关系,或者说是条件和结果的关系,这些 因果关系可以用逻辑运算来表示,也就是用逻辑代数来描述。 事物往往存在两种对立的状态,在逻辑代数中可以抽象地表示 为 0 和 1 ,称为逻辑0状态和逻辑1状态。 逻辑代数中的变量称为逻辑变量,用大写字母表示。逻辑变量 的取值只有两种,即逻辑0和逻辑1,0 和 1 称为逻辑常量,并不表 示数量的大小,而是表示两种对立的逻辑状态。
A
B E 电路图
Y
L=AB
A
A
B E
Y
B E
Y
A、B都断开,灯不亮。
A
A断开、B接通,灯亮。
A
B E
Y
B E
Y
A接通、B断开,灯亮。
பைடு நூலகம்
A、B都接通,灯亮。
两个开关只要有一个接通, 灯就会亮。逻辑表达式为:
Y=A+B
功能表
开关 A 断开 断开 闭合 闭合 开关 B 断开 闭合 断开 闭合 灯Y 灭 亮 亮 亮
真值表
A 0 0 1 1
A B
B 0 1 0 1
≥1
Y 0 1 1 1
实现或逻辑的电路 称为或门。或门的 逻辑符号:
Y= A + B Y
逻辑符号
3. 非逻辑(非运算)
非逻辑指的是逻辑的否定。当决定事件(Y)发生的条件(A) 满足时,事件不发生;条件不满足,事件反而发生。表达式为: Y=A 开关A控制灯泡Y
2.数字电路的分类
(1)按集成度的不同:数字电路可分为小规模( SSI,每片100个 以内器件)、中规模(MSI,每片数百个器件)、大规模(LSI, 每片数千个器件)和超大规模(VLSI,每片器件数目大于1万)数 字集成电路。 (2)按所用器件制作工艺的不同:数字电路可分为双极型( TTL 型)和单极型(MOS型)两类。 (3)按照电路的结构和工作原理的不同:数字电路可分为组合逻 辑电路(输出信号只与当时的输入信号有关,而与电路以前的状 态无关)和时序逻辑电路(输出信号不仅和当时的输入信号有关, 而且与电路以前的状态有关)两类。
(2)八进制数转换为二进制数:将每位八进制数用 3位二进制数 表示。 (374.26)8 = 011 111 100 . 010 110
2. 二进制数与十六进制数的相互转换
二进制数与十六进制数的相互转换,按照每4位二进制数对应 于一位十六进制数进行转换。
0 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 . 0 1 1 0 = (1E8.6)16
二、不同数制间的转换
将N进制数(非十进制数)按权展开,即可以转换为十进制数。 1. 二进制数与八进制数的相互转换
(1)二进制数转换为八进制数: 将二进制数由小数点开始,整数 部分向左,小数部分向右,每3位分成一组,不够3位补零,则每 组二进制数便是一位八进制数。 0 0
1
1
0
1
0
1
0 . 0 1
0 = (152.2)8
数码为:0~7;基数是8。 运算规律:逢八进一,即:7 + 1 = 10。 八进制数的权展开式: 如:(207.04)8 = 2×82 + 0×81 + 7×80 + 0×8-1 + 4 ×8-2 = (135.0625)10
各数位的权是8的幂
4. 十六进制
数码为:0~9、A~F;基数是16。 运算规律:逢十六进一,即:F+1=10。 十六进制数的权展开式: 如:(D8.A)2= 13×161 + 8×160 + 10 ×16-1 = (216.625)10
各数位的权是16的幂
5. 结论
①一般地,N进制需要N个数码,基数是N;运算规律为逢N进一。
②如果一个N进制数M包含n位整数和m位小数,即 (an-1 an-2 … a1 a0 ·a-1 a-2 … a-m)N 则该数的权展开式为: (M)2 = an-1×Nn-1 + an-2 ×Nn-2 + … + a1×N1 + a0 ×N0 + a-1 ×N-1
几种常用的 BCD 码
十进制数 8421 码 余 3 码 格雷码 2421 码 0 0000 0011 0000 0000 1 0001 0100 0001 0001 2 0010 0101 0011 0010 3 0011 0110 0010 0011 4 0100 0111 0110 0100 5 0101 1000 0111 1011 6 0110 1001 0101 1100 7 0111 1010 0100 1101 8 1000 1011 1100 1110 9 1001 1100 1101 1111 8421 2421 权 5421 码 0000 0001 0010 0011 0100 1000 1001 1010 1011 1100 5421
t
对模拟信号进行传输、加 工和处理的电子线路称为 模拟电路。
对数字信号进行传输、加 工和处理的电子线路称为 数字电路。
二、数字电路的特点与分类
1.数字电路的特点
(1)工作信号是二进制的数字信号,在时间上和幅值上是离散 的(不连续),反映在电路上就是低电平和高电平两种状态(即
0和1两个逻辑值)。
(2)在数字电路中,研究的主要问题是电路的逻辑功能,即输 入信号的状态和输出信号的状态之间的关系。 (3)对组成数字电路的元器件的精度要求不高,只要在工作时 能够可靠地区分0和1两种状态即可。
任务基础知识二——数制及其码制
一、数制
(1)数 制:就是计数的方法,它是进位计数制的简称。在表示数 时,仅用一位数码往往不够用,必须用进位计数的方法组成多位数 码。多位数码每一位的构成以及从低位到高位的进位规则称为进位 计数制。常用的数制有十进制、二进制、八进制、十六进制等。 (2)基 数:某种数制的基数,就是在该数制中可能用到的数码 的个数。 (3)位 权(位的权数):在某一种数制的数中,每一位的大小都 对应着该位上的数码乘上一个固定的数,这个固定的数就是这一位 的权数。权数是一个幂。
2 44 余数 低位 2 22 ……… 0=K0 2 11 ……… 0=K1 2 2 2 5 ……… 1=K2 2 ……… 1=K3 1 ……… 0=K4 0 ……… 1=K5 高位
小数部分采用基数连乘法,先 得到的整数为高位,后得到的 整数为低位。
0.375 × 2 整数 0.750 ……… 0=K-1 0.750 × 2 1.500 ……… 1=K-2 0.500 × 2 1.000 ……… 1=K-3 高位
一、 基本逻辑运算
1. 与逻辑(与运算)
与逻辑的定义:仅当决定事件(Y)发生的所有条件(A,B, C,…)均满足时,事件(Y)才能发生。表达式为: Y=ABC… 开关A,B串联控制灯泡Y
A E 电路图 B Y
L=AB
A E
B Y
E
A
B Y
A、B都断开,灯不亮。
A E B Y
A断开、B接通,灯不亮。
1.十进制
数码为:0~9;基数是10。 运算规律:逢十进一,即:9 + 1 = 10。 十进制数的权展开式: 5×103 = 5 0 0 0 5×102 = 5 0 0 5×101 = 5 0 5×100 = 5 + 5 5 5 5 =5 5 5 5 同样的数码在不同的数位 上代表的数值不同。
103、102、101、100称为十 进制的权。各数位的权是 10的幂。
各数位的权是2的幂
二进制数只有0和1两个数码,它的每一位都可以用电子元件来实 现,且运算规则简单,相应的运算电路也容易实现。
运算 规则
加法规则:0 + 0 = 0,0 + 1 = 1,1 + 0 = 1,1 + 1 = 10 乘法规则:0×0 = 0,0×1 = 0,1×0 = 0,1×1 = 1
3. 八进制
任意一个十进制数都可以 表示为各个数位上的数码 与其对应的权的乘积之和, 称权展开式。
即:(5555)10=5×103 +5×102+5×101+5×100 又如:(209.04)10= 2×102 +0×101+9×100+0×10-1+4 ×10-2
2. 二进制
数码为:0、1;基数是2。 运算规律:逢二进一,即:1+1=10。 二进制数的权展开式: 如:(101.01)2= 1×22 + 0×21 + 1×20 + 0×2-1 + 1 ×2-2 = (5.25)10
任务一目录
任务基础知识
任务技能训练
任务基础知识
学习要点:
数制及其相互之间的转换 常用编码 逻辑代数的公式、定理和规则 逻辑函数公式法化简和卡诺图化简
任务基础知识一——概述
一、数字信号与数字电路
模拟信号:在时间上和幅 值上连续的信号。
u
数字信号:在时间上和幅值上 不连续的(即断续的)信号。
u
t
模拟信号波形 数字信号波形
R E 电路图 A
Y
R E A
A断开,灯亮。
Y
R E A
A接通,灯灭。
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