现代材料测试技术试卷试题二

东北大学继续教育学院《现代材料测试技术》试卷

本科A

一．填空题（每空1分，共28分）

1.显微镜的主要组成部分有（）（）（）（）。

2.测量显微镜的实际放大倍数一般用（）。

3. 显微硬度计主要由（）（）（）（）等四部分组成。

4.电子数与样品作用产生很多有用信号，现在被用于电子显微分析的主要是（）

（）（）（）（）。其中用于扫描电镜的是（）（）。

5.晶体有一个重要的特性叫作“色散率”，即某一晶体分开（）的能力。

6. 材料性能主要决定于其（）、（）、（）。

7. 透射电子显微镜的结构分为（）、（）和（）。

8. 入射Ｘ射线束被试样散射，结果发生两个过程（）和（）。

9. 在大部分商品型WDX光谱仪上使用的探测器可以分为两类：（）、（）。

10.PET是对（）最敏感的一种晶体。

二．判断题（10分，一题1分）

1. X射线表现为波动性。( )

2. X射线的波长范围为100A～200A。( )

3. 玻璃珠熔融时试样中不得含有金属和碳化硅等。( )

4. 将分光系统抽成真空的目的是减少空气对荧光X射线的吸收。( )

5. 对新的X射线管或使用后放置了一段时间后的X光管需进行老化试验，以免X 射线管损坏。( )

6. 基于不同元素特征波长不同的衍射角而加以检定的叫能谱仪。( )

7. 分析硫时用的探测器是闪烁计数器。( )

8. 正比计数管中CH4作用是计数。( )

9. X射线的波长越短，其能量越小。( )

10. 根据布拉格公式，短波长的高次线会同长波长的一次线重叠。故要用波高分析

器除去此短波长高次线。( )

三．选择题（10分）1.X荧光分析用检测器有。

A.半导体探测器

B.盖格计数管

C.光电倍增管

D.闪烁计数管、流气正比计数管

2.通过选择，使干扰脉冲与分析谱线脉冲分离。

A.晶体角度

B.入射狭缝调节

C.基线道宽

D.出射狭缝调节

3.由于X射线管子等原因，故不宜多储备。

A.老化

B.氧化

C.潮解

D.漏气

4.X 射线的特征谱线来自原子的跃迁。

A.内层电子

B.中子

C.电荷

D.外层电子

5.二次X射线是以为激发源而激发产生的。

A.电子

B.一次X射线

C.原子核

D.电火花

6.标准化试样要求。

A.已知准确的含量

B.适当含量

C.适当含量、长期稳定、均匀

D.短时间内能保存

7.波长色散X射线荧光光谱仪上，除X射线管区外，也需冷却。

A.分光晶体

B.探测器

C.光管夹套

D.脉冲高度分析器

8.莫塞莱定律为，其中λ为。

A.特征谱线的波长

B.原子系数

C.屏蔽常数

D.常数

9.已知X射线管操作在100kV，那么相应的连续辐射最短波长是。

A.0.248

B.0.456

C.0.124

D.0.062

10.已知能量分布图

Kα的峰半高宽为120，最大波幅为600，则计数器分辨率为。

A.20.0

B.40.0

C.10.0

D.30.0

四．简答题（12分，一题4分）

１.简述连续X射线光谱的产生

2. 什么叫“荧光产额”？

3. 扫描电镜对试样有哪些要求？

五。问答题（40分，一题10分）

1. 扫描电镜工作原理是什么？

4.概括叙述光谱仪工作优点有哪些？

2.扫描电镜的分辨率受哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同?

3.二次电子是怎样产生的？其主要特点有哪些？二次电子像主要反映试样的什么

特征？