计数型测量系统分析报告

Kappa=(Po-Pe)/(1-Pe)
计数型测量系统分析报告
零件名称 零件编号: 评价日期: 偏差 2012/8/9 公差上限 公差下限 评价次数 3 多晶电池片 量具名称 量具编号 多晶片检验标准 WI-EQ-017 量具类别 计数型 零件数量 50 评价人数 3 评价人A: 评价人B 评价人C 1 0 钟光益 何亚伦 李晓可 Pass/通过 Fail/未通过
数据表
零件编号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 A-1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 A-2 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 A-3 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 1 B-1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 B-2 1 0 1 0 0 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 B-3 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 C-1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 C-2 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 0 1 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 C-3 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 基准 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0
接受 不可接受 不可接受 批准:
A
总计 BC交叉表
0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望
1.00 总计 14 58 26.3 58 54 92 41.7 92 68 150 68.0 150
Po: Pe:
0.65 0.49
B
总计 AC交叉表
0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望
1.00 总计 20 82 37.7 82 49 68 31.3 68 69 150 69.0 150
备注： 1、在所有测量中，评价人本身是一致的； 2、评价人对所有测量与已知标准一致； 3、所有评价人本身与其它人之间是一致的； 4、所有评价人本身与其它人之间一致，并与参考值一致。
评价人 A B C
漏判率≤2% 52% 35% 34% 评价人：
பைடு நூலகம்结论
误判率≤5% 3% 22% 17% 审核：
结论
不可接受 不可接受 不可接受
计数型测量系统分析报告
零件名称 零件编号: 评价日期: 偏差 2012/8/9 公差上限 公差下限 评价次数 3 多晶电池片 量具名称 量具编号 多晶片检验标准 WI-EQ-017 量具类别 计数型 零件数量 50 评价人数 3 评价人A: 评价人B 评价人C 1 0 钟光益 何亚伦 李晓可 Pass/通过 Fail/未通过
1.00 6 19.4 30 16.6 36 36.0
总计 81 81.0 69 69.0 150 150.0
Po: Pe:
0.70 0.52
Kappa 结论 来源 总检查数 符合的 % 结论
% 评价人 A B C 50 50 50 32 27 23 64% 54% 46% 不可接受 不可接受 不可接受
A与基准交叉表 0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望 基准 0.00 55 43.1 59 70.9 114 114.0 基准 0.00 74 62.3 40 51.7 114 114.0 基准 0.00 75 61.6 39 52.4 114 114.0 1.00 总计 1 56 12.9 56.0 33 92 21.1 92.0 34 148 34.0 148.0 Po: Pe: 0.59 0.43
0*0 1*0 0*1 1*1 自评 A 32 AB交叉表 B
A*B 44 38 14 54 C 27
A*C 45 36 13 56
数据总结 B*C 62 19 20 49
A*基准 55 59 1 33
B*基准 74 40 8 28
C*基准 75 39 6 30
23 B 0.00 44 31.7 38 50.3 82 82.0 C 0.00 62 44.3 19 36.7 81 81.0 C 0.00 45 31.3 36 49.7 81 81.0 B*C 0.476 不可接受
计数型测量系统分析报告
零件名称 零件编号: 评价日期: 偏差 2012/8/9 公差上限 公差下限 评价次数 3 多晶电池片 量具名称 量具编号 多晶片检验标准 WI-EQ-017 量具类别 计数型 零件数量 50 评价人数 3 评价人A: 评价人B 评价人C 1 0 钟光益 何亚伦 李晓可 Pass/通过 Fail/未通过
A
总计 B与基准交叉表
B
总计 C与基准交叉表
0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望
1.00 总计 8 82 19.7 82.0 28 68 16.3 68.0 36 150 36.0 150.0
Po: Pe:
0.68 0.52
C
总计
0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望 A B C 0.28 0.33 0.37 不可接受 不可接受 不可接受
Po: Pe:
0.74 0.50
A
总计
0.00 计数 期望 1.00 计数 期望 计数 期望 A*B 0.321 不可接受
1.00 总计 13 58 26.7 58 56 92 42.3 92 69 150 69.0 150 A*C 0.358 不可接受
Po: Pe:
0.67 0.49
Kappa 结论