JEM-2100透射电镜JSM-7600F场发射扫描电镜开放使用及
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附件：日本电子JEM-2100高分辨透射电镜/ JSM-7600F场发射扫描电镜简介
JEM-2100高分辨透射电镜
一、主要部件
JEM-2100主机，ORIUS SC1000型CCD，牛津80mm2电制冷X射线能谱仪（EDS），双轴倾转样品杆
二、主要指标
电子枪：LaB6（六硼化镧）
点分辨率：0.23 nm
线分辨率：0.14 nm
加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV
束斑尺寸： 1.0至25 nm
放大倍数（高倍模式）：2000至1,500,000
放大倍数（低倍模式）：50至6,000
CCD分辨率：4008×2672 max.
倾斜角：±35º
采用MS Windows为基本操作界面，操作直观简便。
三．特色功能
⏹除高分辨、电子衍射和能谱等基本功能外，该电镜还具备纳米束电子衍射（NBD）、汇聚束电子衍
射（CBD）功能，适用于纳米晶体、多相合金、复合材料的衍射表征。
⏹配备扫描透射电镜（STEM）模式，可采集STEM明场像和暗场像，并配合能谱实现微区元素分析
和元素分布图（Mapping）。
JSM-7600F场发射扫描电镜
一、主要部件
JSM-7600F场发射扫描电镜，牛津80mm2电制冷X射线能谱仪（EDS），背散射探头（BSE）
二、主要指标
电子枪：热场发射
二次电子像分辨率： 1.5 nm（1 kV，GB 模式），1.0 nm（15 kV）
放大倍数：25 至1,000,000×
加速电压：0.1 至30 kV
束流： 1 pA 到200 nA（15 kV时）
数字图像：5120×3840 max.
样品水平行程(X-Y)：140 mm×80 mm
倾斜角度：-5 至+70°
旋转角度：360°
工作距离： 1.5 mm 至25 mm
配备上方和低位SEI探测器、BSE探测器
三．特色功能
⏹Gentle Beam模式（即“减速模式”）可将电子束损伤降低到最低程度，适用于不导电样品表征。
⏹配备γ过滤器，能控制能量选择或二次电子及背散射电子像的图像混和率。
⏹背散射探头（BSE）信号可配合二次电子像生成混合运算图像，同时获取形貌图和元素衬度图。
上述特色功能欢迎有需要或有兴趣的课题组联系试用。