集成电路芯片测试仪的设计
高速集成电路器件测试仪器的设计与优化
高速集成电路器件测试仪器的设计与优化随着科技的不断发展，高速集成电路（High-Speed Integrated Circuit，HSIC）的应用越来越广泛。
为了保证这些高速集成电路器件的质量和性能，高速集成电路器件测试仪器的设计与优化变得至关重要。
本文将探讨高速集成电路器件测试仪器的设计与优化的关键问题，并提出一些解决方案。
高速集成电路器件测试仪器的设计需要考虑多个方面的因素。
首先是测试仪器的测量精度和准确度。
由于高速集成电路器件的工作频率较高，要求测试仪器具有较高的测量精度和准确度，以确保测试结果的可靠性。
其次是测试仪器的带宽和速度。
高速集成电路器件的工作速度较快，要求测试仪器具备足够的带宽和速度来满足测试要求。
最后是测试仪器的稳定性和可靠性。
测试仪器需要能够长时间稳定运行，以保证测试结果的稳定性和可靠性。
在设计高速集成电路器件测试仪器时，可以采用以下几种关键技术来提高测试仪器的性能：1. 时钟与时序控制技术：时钟和时序控制是高速测试仪器中最关键的技术之一。
通过精确控制时钟信号和时序，可以实现对待测试器件的精确采样和测量。
可以采用高精度时钟源、时钟分频技术以及时钟校准技术等方法来提高时钟和时序控制的准确度和稳定性。
2. 高速信号处理技术：高速集成电路器件的测试结果通常是一个复杂的波形信号。
为了提取和分析这些信号，需要采用高速信号处理技术。
可以采用数字信号处理（DSP）技术、混合信号处理技术以及 FPGA 技术等方法，对测试信号进行采样、滤波、分析和处理，以提取有用的信息。
3. 快速数据采集技术：高速集成电路器件的测试过程中需要采集大量的数据，因此需要采用快速数据采集技术。
可以采用高速 ADC（模数转换器）技术、平行数据采集技术以及并行接口技术等方法，提高数据采集的速度和效率。
4. 触发和控制技术：触发和控制是高速集成电路器件测试中至关重要的一部分。
通过合理设置触发条件和控制参数，可以实现对待测试器件的精确控制和触发。
高速集成电路器件测试仪器的自动化设计与实现
高速集成电路器件测试仪器的自动化设计与实现随着现代电子技术的快速发展，高速集成电路（IC）器件在各个领域的应用越来越广泛。
为确保高速IC器件的可靠性和性能，在生产环节中进行测试是非常重要的一步。
然而，传统的手动测试方法存在测试效率低、测试精度不高等问题。
因此，自动化设计与实现成为了高速IC器件测试仪器的发展趋势。
自动化设计与实现高速IC器件测试仪器的关键在于构建一个完善的测试平台，实现高效的测试流程。
首先需要选用适合的测试仪器和测试方案。
高速IC器件的测试通常需要使用高性能的测试仪器，如示波器、信号发生器和频谱分析仪等。
同时，根据不同的测试需求，选择相应的测试方案，例如串行通信测试、时钟测试和功耗测试等。
在测试仪器的选择和测试方案的确定后，下一步是进行自动化设计和实现。
自动化设计主要包括测试流程的编排和测试控制的实现。
测试流程的编排包括测试步骤的排列和顺序的确定。
测试控制的实现主要通过使用编程语言和相应的软件开发工具进行编程，实现对测试仪器的控制和数据采集。
为了实现高速IC器件测试仪器的自动化，通常采用的是使用通用测试编程语言进行编程。
最常用的编程语言是LabVIEW和Python。
LabVIEW是一种图形化编程语言，可以通过拖拽和连接函数块的方式编写测试程序；Python是一种脚本语言，具有灵活、易于上手的特点。
另外，也可以使用其他编程语言进行编程，如C++和Java等。
在自动化实现的过程中，需要注意以下几个关键问题。
首先是测试仪器的驱动程序开发，需要使用仪器供应商提供的驱动或API接口，通过编程实现对测试仪器的控制。
其次是测试程序的开发，测试程序需要根据不同的测试需求编写相应的测试步骤和数据采集代码。
然后是测试数据的处理和分析，测试数据的处理和分析可以通过使用数据处理工具进行实现，如MATLAB和Excel等。
最后是测试结果的报告生成，测试结果报告通常包括测试数据的图表展示和分析结论的撰写。
高校电子实验数字集成电路检测仪的设计
高校电子实验数字集成电路检测仪的设计本文从网络收集而来，上传到平台为了帮到更多的人，如果您需要使用本文档，请点击下载按钮下载本文档（有偿下载），另外祝您生活愉快，工作顺利，万事如意！世界上第一个集成电路是1958 年德克萨斯仪器公司制造的，此后集成电路产业一直保持着惊人的发展速度，而数字集成电路的发展速度更快、集成度更高、规模更大。
数字集成电路的应用领域日益扩大，目前已渗透到了无线通信、自动控制、计算机技术等各个领域，大到航空航天设备、医疗器械，小到计算机、数码相机、收音机、耳麦等等，无论军事还是民用方面，数字集成电路都发挥着举足轻重的作用。
与此同时，集成电路的老化损坏是不可避免的，其可靠性也变得尤为重要，故此，与之相应的检测技术就成为亟待解决的问题了。
现代生活中电子产品无处不在，而集成电路是构成电子产品的核心、灵魂。
集成电路在电子产品设计制作中应用越来越广泛，各种军用、民用、医疗电子产品制作安装过程和售后维修中都需对集成电路进行检测。
而在高校教学中，电子技术是专业基础课，大量理工科院校课程体系中均设置电子实验、电子工艺实习以及电子课程设计等实践教学环节和内容。
高校学生的毕业设计和大学生科技创新活动乃至教师的科研等，最终都将利用集成电路制作出电子成品来实现自己的设计理念。
故此，集成电路渗透于各个方面，无论生产实践还是教学、科研均需涉及到集成电路检测问题。
目前，市面出售的测试仪普遍存在价格高、体积大、自动化程度低，需人工干预等缺点。
测试仪价格比较昂贵，离线测试仪一般几千到上万元，在线测试仪和国外进口仪器价格则更高。
开发一款便携、价廉、精准的数字电路的自动检测仪器，可用于电子类的实习及实验教学、大学生电子竞赛、科技创新活动、课程设计、毕业设计、电器维修、科研等各个领域，用途广泛。
该测试系统硬件制作成本低，性价比高，适于高校师生使用。
1 系统设计目标以单片机为核心，设计一数字集成电路检测仪系统，使其能对高校教学中常用的74LS 系列等数字集成电路进行功能测试。
中规模集成电路功能测试仪的设计
Ｃ ｍｐ ｔｒＴ ｃ ｎ ｌｇ ｎ ｔ ｐ ｌ ａｉｎ ｏ ｕｅ ｅ ｈ ｏｏ ｙ ａ ｄ Ｉ Ａ ｐｉ ｔ ｓ ｓ ｃ ｏ
中规 模集成 电路功 能测试仪 的设计
陈 国 强 ，吴 国 华 ，刘 敬 猛
（ ．杭 州 职 业技 术 学 院 ， 江 杭 州 ３ ０ １ ；２ １ 浙 １０ ８ ．北 京 航 空航 天 大 学 ，北 京 １０ ８ ） ０ ０ ３
中 图 分 类 号 ：Ｇ ４ ．２ ６ ２４ ３ 文 献 标 识 码 ：Ａ
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毕业论文---数字集成电路自动测试仪研制和设计
数字集成电路自动测试仪研制和设计1.绪论1.1 该课题的研究意义在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台。
因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，我们采用AT89S52单片机设计了集成芯片测试系统。
1.2 该课题有关的国内外研究概况和发展趋势。
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。
集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一。
因此，集成电路测试仪（或测试系统，下同）作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。
40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。
集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。
第一代始于1965年，测试对象是小规模集成电路，可测管脚数达16只。
用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法，编制自动测试序列，仅仅测量IC外部管脚的直流参数。
第二代始于1969年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数24个，不但能测试IC的直流参数，还可用低速图形测试IC的逻辑功能。
这是一个飞跃。
第三代始于1972年，这时的测量对象扩展到大规模集成电路（LSI），可测管脚数达60个，最突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。
从1975年开始，测试对象为大规模、超大规模集成电路（LSI/VLSI），可测管脚剧增到128个，功能测试图形速率提高到20MHz。
不但能有效地测量CMOS电路，也能有效地测量TTL、ECL电路。
此时作为独立发展的半导体自动测试设备，无论其软件、硬件都相当成熟。
1980年测试仪进入第四代，测量对象为VLSI，可测管脚数高达256个，功能测试图形速率高达100MHz，测试图形深度可达256K以上。
高速集成电路器件测试仪器的多通道设计与实现
高速集成电路器件测试仪器的多通道设计与实现摘要：本文旨在设计和实现一套高速集成电路器件测试仪器的多通道系统，以提高测试效率和准确度。
首先，介绍了高速集成电路器件测试的背景和意义。
然后，详细讨论了多通道设计的原理和方法。
接着，提出了一种基于嵌入式系统的多通道测试仪器的设计方案，并对系统的硬件和软件进行了详细说明。
最后，通过实验验证了该系统的性能和可靠性，并对其进行了评估和总结。
1.引言高速集成电路器件的测试是集成电路产业中不可或缺的一环。
随着技术的进步，集成电路器件的速度和复杂性越来越高，传统的单通道测试设备已无法满足对高速器件的测试需求。
因此，设计一套多通道测试仪器具有重要意义。
2.多通道设计原理与方法多通道设计是通过同时测试多个器件来提高测试效率的技术。
其中，一个关键问题是如何实现多个通道的同步控制与数据处理。
常用的方法有硬件同步控制和数字信号处理技术。
2.1 硬件同步控制硬件同步控制是通过硬件电路实现多个通道的同步工作。
其核心是设计一个时钟同步电路，保证多个通道的时钟信号保持同步。
此外，还需要设计一个触发电路，用于控制测试信号和采样时机。
通过合理设计电路，可以实现多个通道的精确同步。
2.2 数字信号处理技术数字信号处理技术是通过软件算法对采样到的信号进行处理和分析，以提取关键信息。
常用的数字信号处理技术包括滤波、频谱分析和时域分析等。
通过合理选择数字信号处理算法，可以提高测试的准确度和可靠性。
3.基于嵌入式系统的多通道测试仪器设计方案基于嵌入式系统的多通道测试仪器具有体积小、功耗低以及可编程性强的优点，适用于高速集成电路器件的测试。
本文提出一种基于嵌入式系统的多通道测试仪器设计方案，包括硬件和软件两部分。
3.1 硬件设计硬件设计包括多通道测试仪器的模拟前端电路、数字信号处理电路和通信接口电路。
模拟前端电路负责信号的采样和增益调节，数字信号处理电路负责信号的处理和分析，通信接口电路负责与外部设备的数据交互。
芯片级集成电路温度感测器的设计与实现
芯片级集成电路温度感测器的设计与实现随着信息技术的飞速发展，集成电路技术也在不断的走向成熟，各种芯片级集成电路的应用也越来越广泛。
在实际生产和使用中，温度是一个非常关键的参数，涉及到电子设备的功耗、性能、寿命等方面。
因此，温度的感测和控制一直是集成电路设计中的重要研究方向。
本文将重点介绍芯片级集成电路温度感测器的设计与实现。
一、背景介绍温度感测器是一种将物理参数（如电阻、电容、热电势、光电效应等）转化为电信号的器件，广泛应用于工业、医疗、军事以及日常生活等领域。
为了满足温度感测器在不同领域的应用需求，设计出了多种类型的温度感测器，其结构和工作原理也各有不同。
其中，CMOS（互补金属氧化物半导体）技术所设计的温度感测器，因其集成度高、功耗低等优点，成为了当前研究的热点之一。
二、设计思想CMOS温度感测器是一种基于PTAT（Proportional to Absolute Temperature）电路的温度感测器，其温度敏感元件采用带负温度系数的二极管。
为了保证温度感测器在整个工作温度范围内的精度和线性度，其基本思想是利用温度传感器的本身温度特性和CMOS工艺特点相结合，实现电路的一系列复杂功能。
三、设计流程1. 温度传感元件的设计为了在CMOS工艺中实现温度传感元件，需要利用PN结和二极管负温度系数特性相结合。
通常采用的是反半导体温度传感器的设计方法，即通过特殊的工艺手段，在p型硅片上形成负温度系数二极管。
该二极管的温度与开路电压之间呈线性关系，可以用作温度敏感元件。
2. 温度传感电路的设计温度传感电路由两个部分组成：输入电路和输出电路。
输入电路主要用于从温度传感元件中提取温度信息，输出电路则通过放大、调节和转换等方式将信号输出。
温度传感器的输入电路通常由电流源、反相放大器和比例放大器等部分组成，而输出端则可以采用放大器、模数转换器等。
3. 系统集成与测试在实际应用中，温度感测器通常需要整合到具体应用系统中。
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计作者：殷凤媛李翔来源：《电子技术与软件工程》2017年第07期摘要设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现，以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪，可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏，且用LCD显示其逻辑符号。
具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。
【关键词】AT89S52 自动测试仪常见的74系列数字集成电路是现今仍在广泛使用的集成电路，在设计、制造和应用阶段，不可避免的会出现故障，为了保证数字集成电路工作的可靠性，必须对其进行必要的测试。
判断一个集成电路芯片是否存在故障，可用该芯片被检测出来的功能是否同设计规范的功能一致来判断。
本系统能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。
该设计以单片机为核心进行检测，由键盘输入相应控制信息且结果由LCD显示所检测到的74系列型号及其逻辑符合等信息，完成了对所要检测芯片的显示信息，实现了简单集成电路芯片测试仪功能。
1 总体结构系统先检测芯片引脚数，对芯片进行供电，由键盘输入信息，单片机或是FPGA主芯片读取信号后，执行检测功能，对读入的键盘信号进行处理，将处理后的结果以串行通信的方式发送到单片机或是FPGA主芯片上，然后通过LCD液晶显示进行显示出来。
本设计中单独使用单片机AT89S52来测试芯片的引脚数，然后根据引脚数供电，通过软件实现对芯片功能的检测包括芯片的型号逻辑图，通过LCD显示出来。
2 系统的设计与实现2.1 时钟电路系统的时钟电路设计采用的是内部方式，即利用芯片内部振荡电路。
AT89S52 单片机内部有一个用于构成振荡器的高增益反相放大器，引脚XTAL1和XTAL2分别是此放大器的输入端和输出端。
这个放大器与作为反馈元件的片外晶体谐振器一起构成一个自激振荡器；外接晶体谐振器以及电容构成并联谐振电路，接在放大器的反馈电路中，对外接电容的值虽然没有严格的要求，但电容的大小会影响振荡器频率的高低、振荡器的稳定性、起振的快速性和温度的稳定性。
自制多用途稳压集成电路测试仪
自制多用途稳压集成电路测试仪摘要：本文设计了一种具有多种用途的稳压集成电路测试仪，旨在提供一种方便且准确的测试解决方案。
该测试仪可测量稳压集成电路的输出电压、输入电压和输出电流，并可用于测量不同类型稳压集成电路的性能。
通过对测试仪的实验结果进行分析，本文得出结论：该测试仪具有高精度、低功耗、易于操作等优点，可满足不同应用场景的需求。
关键词：稳压集成电路，测试仪，多用途，精度，功耗正文：1. 研究背景随着电子技术的发展，稳压集成电路（Voltage Regulator Integrated Circuit，简称VRIC）已经成为现代电子设备中不可或缺的部件。
其作用是使输入电压稳定在特定的输出电压水平。
为确保VRIC的可靠性和稳定性，需要使用测试仪来检测其性能。
因此，研究和设计一种具有多种用途的稳压集成电路测试仪是非常重要的。
2. 测试仪设计设计的稳压集成电路测试仪包含信号发生器、输入电路、输出电路、功率放大器和显示器等模块。
其中，输入电路可采用直流电源，用于提供被测试的电源电压。
输出电路则按照被测试的VRIC输出电压设定，将VOUT信号输出。
信号发生器可以用来确定被测试的VRIC输入电压范围，而功率放大器用于提供被测电流。
显示器可以显示被测试的VRIC的输入电压、输出电流和输出电压等指标。
3. 测试仪性能通过对测试仪进行实验测试，可得出以下结论：（1）测试仪的精度高在实验测试过程中，测试仪的精度表现非常出色。
当被测稳压集成电路的输出电压被设定为5V时，测试仪所测量的电压值为5.00V，精度非常高。
（2）测试仪功耗低测试仪设计中考虑了能耗问题，测试仪的功耗在实验中也得到了很好的控制，非常适合用于移动设备或需要低功耗的场景。
（3）测试仪易于使用测试仪设计简单、易于操作，且测试结果直观。
配备有显示器，可以直接显示测试结果，方便快速地进行测试。
4. 结论本文设计的稳压集成电路测试仪具有高精度、低功耗、易于使用等优点，可满足不同应用场景的需求。
集成电路芯片测试仪(A题)——【全国大学生电子设计大赛】
集成电路芯片测试仪（A题）一、任务设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。
二、要求1.基本要求（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。
2.发挥部分将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。
（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图；（4）其它特色与创新。
1三、评分标准四、说明要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体，不能用PC机实现。
2LED显示棒（B题）一、任务设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。
二、要求1.基本要求（1）设计一个基于LED的显示棒，LED灯必须线状排列，至少使用16只。
（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。
（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。
（4）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。
（5）用按键实现显示切换，用电池供电。
2.发挥部分（1）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。
（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。
（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。
（4）其它特色与创新。
三、评分标准3四、说明不得用LED棒专用芯片实现。
4具有实时语音播报的超声波测距测速仪（C题）一、任务设计并制作一台具有实时语音播报的超声波测距测速仪，被测物为一块面积不大于30cmX20cm的实物（可以和小车装在一起）。
一种实用的集成芯片测试仪的设计
一种实用的集成芯片测试仪的设计
在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS 数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台；另外，该测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中很多数字芯片。
因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，我们采用AT89C52 单片机设计了集成芯片测试系统。
该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS 系列芯片及一些常用按键开关的功能检测，同时通过RS232 串行口与PC 机相连，可以在PC 机上直接对测试系统进行操作。
1 系统组成框图由图1 可知，该测试仪的硬件电路由AT89C52 单片机，并行扩展接口8155，显示驱动，键盘输入，看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。
按照芯片测试插座旁边的指向，插入待测的数字芯片或按键；通过键盘输入指令或数字，单片机经过键盘扫描从8155 读回键值，根据键值执行相应的子程序。
假设输入测试命令键，单片机将调用测试子程序，并将测试结果送到显示器上显示（“good”or“bad”）；假设输入数字键，单片机会自动将输入的数字
显示到显示器上；假设输入其它命令键，单片机将调用相应的功能子程序，执行相应的命令。
2 系统硬件设计
2.1 单片机
单片机采用美国ATMEL 公司生产的AT89C52 单片机。
该芯片不仅具有MCS-51 系列单片机的所有特性，而且片内集有8K 字节的电擦除闪速存储器（Flash ROM），价格低。
由于使用片内程序存储器，所以，EA/VP 接高电平；AT89C52 的最大工作频率为24MHz，系统利用单片机的内部振荡器加石英晶。
基于单片机的简易CMOS集成电路芯片测试仪的设计
毕业设计开题报告院系：电气与信息工程学院2016年 3 月21 日课题名称基于单片机的简易CMOS集成电路芯片测试仪的设计姓名学号专业班级指导老师职称自动化教授1. 设计（或研究）的依据与意义集成电路芯片的出现与发展，给人类进入信息时代提供了源动力。
在日新月异的信息时代，集成电路芯片正被广泛应用到工作、生活和生产中，在通信、航天航空、信息技术等领域都有广泛的应用，并且运用越来越广泛，而74系列作为两大主流集成芯片之一，地位和作用更加重要。
目前，在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
在市场上存在几种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台；另外，有些测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中很多数字芯片，还有些测试仪是嵌入到其他的大型的仪器里面的携带很不方便。
基于此，设计的小型CMOS芯片测试仪(针对常用部分芯片)，可用于检测和区分部分CMOS数字芯片，能够检测芯片的好坏和判断型号，为科研和工作创造了良好条件，而且现在市场上的测试仪都是用DSP芯片或者单片机实现控制、测试功能，虽然实现效果与本设计基本一致，但价格昂贵。
本设计在成本上更有优势，有较大的市场潜力和发展前景。
由此可见该课题的设计对我们来说是有一定的意义的。
2. 国内外同类设计的概况综述基于单片机系统的74系列芯片检测仪设计该系统以Winbond公司的W78E05884DL单片机为控制核心，通过74系列芯片的引脚特性，来判断芯片好坏和检测芯片型号。
系统由单片机、8155扩展芯片、2x 8键盘、12864液晶显示屏和5V 自制直流电源五部分组成。
利用74系列芯片的引脚特性，来判断芯片的好坏。
采用这种方式有如下优处：①模块化编程，各个模块都可以独立实现功能，便于检测和修改。
②布局明朗，界面友好，液晶屏显示美观，形象。
③对于少量的74系列芯片来说能够比较充分的利用单片机的资源，使资源的利用率能够的到最大化的利用。
中规模集成电路功能测试仪的设计
中规模集成电路功能测试仪的设计设计了一款针对学校实验室常用的中规模集成电路芯片的功能测试仪。
测试仪的核心AT89C55单片机管理和控制整个测试流程，对测试数据进行处理、判断，并通过LCD、LED显示和指示其测试结果。
详细介绍了测试仪的总体设计思路，给出了ADC0809、DAC0832、LM555、SG3524等芯片的详细测试电路集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。
集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。
集成电路测试仪按测试门类可分为：数字集成电路测试仪、存储器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪、在线测试系统和验证系统等。
目前市场上的测试仪产品功能较单一，价格非常昂贵，给电路的测试、维护带来不便。
因此，研究开发简单快捷、具有一定智能化的集成电路测试仪有很高的实用价值[1-2]。
在高等学校的电子实验教学中，经常要用到如模数转换器(ADC）、数模转换器(DAC)、555集成定时电路、3524开关电源控制器等中规模集成电路。
由于学生通常是初次接触使用芯片，经常会由于操作不当造成电路芯片的损伤或损坏，而表面上却无法作出正确的判断。
在这种情况下，非常需要有适当的集成电路的测试仪，用于测试、判断芯片的好坏。
而市面上又没有合适的测试仪可供选购。
因此，本文设计制作了可用于一些特定的中规模电路的测试仪。
根据具体的需要选取了ADC0809、DAC0832、LM555、WC3524等几种芯片作为测试对象，并设计了相应的专门测试仪。
测试仪的结构示意框由单片机输送1个8位的二进制数字量给DAC0832，使两级缓冲的写控制和片选控制都有效时，开始D/A转换，转换速度为微秒级。
经过数模转换后，输出的电流再经过运放转换成电压，该电压经过MAX197转换成数字量读回到单片机中，然后和原输出的数字量相比较，以判断被测芯片正常与否。
1.3 LM555定时电。
集成电路芯片测试仪设计
集成电路芯片测试仪设计刘远鹏;胡惟文【摘要】设计制作了一个集成电路芯片测试仪,以STC90C516RD+单片机为核心,12864液晶显示器作为显示模块,采用了无线模块与电脑通信.该芯片测试仪能对常用的74系列芯片、CD系列芯片,以及LM系列和UA741组合逻辑芯片进行功能测试;能通过12864显示芯片的逻辑符号、逻辑表达式、芯片的功能以及状态转换图;能够将测得的型号通过无线串口发送到PC上位机.通过测试说明本设计制作的集成电路芯片测试仪在芯片检测,电路维修等方面具有重要意义.【期刊名称】《传感器世界》【年(卷),期】2016(022)010【总页数】4页(P14-17)【关键词】集成电路芯片;单片机;自动识别型号【作者】刘远鹏;胡惟文【作者单位】湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德415000;湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德415000【正文语种】中文【中图分类】TN402一、引言在产品研发和学生实验过程中，常常需要检测逻辑芯片的功能以及芯片是否正常[1-2]。
传统依靠人工检测的方式直接影响芯片的有效回收利用，进而影响实验电路的功能能否正确，因此设计一个集成电路芯片测试仪来显示其型号具有非常重要的实际意义。
集成电路芯片较多，难以进行统一处理和检测[3]，所以给芯片测试仪的实现造成了很大的阻扰，本文采用编码检测方式来解决这一问题。
本文设计了一种集成电路芯片测试仪，采用编码检测，即每个芯片都有不同的编码，因此只要能检测到这些编码就可以识别芯片；该测试仪一共可以测试41种不同的集成电路芯片。
系统主要包括两部分功能：第一能够自动地对指定的74LS系列10种组合逻辑芯片进行功能测试，确定其功能正确性，测试速度为10k测试向量/ s，确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号，显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式；第二能够自动识别指定74LS74、74LS109、74LS160、74LS245、CD 系列、LM系列、NE 系列等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性，进一步提高测试速度，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号，增加了通过SI4463无线串口模块将识别的芯片型号发送到上位机串口助手显示。
基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计
摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。
早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。
根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。
该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字：测试仪；数字集成电路；单片机ABSTRACTIntegrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button,74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components,etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.1 23目录系统总体方案 (1)系统硬件电路设计 (2)2.1 硬件系统电路原理框图 (2)2.2 硬件系统电路各模块设计 (2)2.2.1 MCS-52单片机最小系统 (2)2.2.2 独立按键模块 (3)2.2.3 芯片测试模块 (4)2.2.4 显示模块 (5)2.2.5 电源供电模块 (7)系统软件设计 (8)3.1 测试对象TTL74 系列芯片简介 (8)3.2 测试原理 (8)3.3 程序流程图 (9)3.4 模块程序关键代码 (11)3.4.1 主程序 (11)3.4.2 独立按键扫描程序 (11)3.4.3 74HC573控制数码管显示程序 (15)3.4.4 信号检测程序 (17)4系统仿真测试 (19)总结 (21)致谢 (22)参考文献 (23)附录 (24)附录A 源程序 (24)附录B 元件清单 (35)附录C 整体电路图 (36)1 系统总体方案在数字集成电路的设计、制造和应用阶段，不可避免地会出现故障，为了保证数字集成电路工作的可靠性，需要对其进行必要的测试。
基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计
摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。
早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。
根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。
该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字：测试仪；数字集成电路；单片机ABSTRACTIntegrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button, 74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components, etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14 feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.Keywords: tester; digital integrated circuit; microprocessor control unit目录1系统总体方案 (1)2 系统硬件电路设计 (2)2.1硬件系统电路原理框图 (2)2.2硬件系统电路各模块设计 (2)2.2.1 MCS-52单片机最小系统 (2)2.2.2 独立按键模块 (3)2.2.3 芯片测试模块 (4)2.2.4 显示模块 (5)2.2.5 电源供电模块 (7)3 系统软件设计 (8)3.1 测试对象TTL74系列芯片简介 (8)3.2 测试原理 (8)3.3 程序流程图 (9)3.4 模块程序关键代码 (11)3.4.1 主程序 (11)3.4.2 独立按键扫描程序 (11)3.4.3 74HC573控制数码管显示程序 (15)3.4.4 信号检测程序 (17)4 系统仿真测试 (19)总结 (21)致谢 (22)参考文献 (23)附录 (24)附录A 源程序 (24)附录B 元件清单 (35)附录C 整体电路图 (36)1系统总体方案在数字集成电路的设计、制造和应用阶段，不可避免地会出现故障，为了保证数字集成电路工作的可靠性，需要对其进行必要的测试。
基于ARM7数字集成电路测试仪的设计
Байду номын сангаас
ｌ字 术 数技
基于 Ａ Ｍ７ Ｒ 数字集成电路测试仪的设计
戴 家 友
（ 东惠 州市 惠城 职 业技 术学校 广 东惠 州 ５６０） 广 １０３
摘要： 本设 计采 用Ａ ＲＭ７ 系列Ｌ Ｃ １３ 为主控 芯 片 ， 够 对７ 系列 和Ｃ ＯＳ ０ Ｐ ２０作 能 ４ Ｍ ４ 系列 等芯 片快 速检 测 ， 可以将 被检 测 芯 片的信 息和 检测 并 结果 在Ｌ ＣＤ液 晶显 示屏 幕 上显 示 出来 ， 测试 仪 支持存 储信 息 升级 以适应 新 的集 成 电路检 测 的要 求 。 该 关 键词 ： 测试仪 Ｌ Ｃ２ ０ 检 测 集成 电路 Ｐ １３ 中图 分 类号 ： Ｎ４ １ Ｔ ３ 文 献标 识 码 ： Ａ 文章编 号 ： ０ ７９ １ （ ０ ２０ — １ ４ ０ １ ０ ４ ６２ １ ） ４０ ３ —２
Ａ ４Ｄ ６Ｄ Ｔ ５ Ｂ１１ 是通过Ｓ Ｉ 口进行通信 ， Ｐ接 可以节省ＩＯ口， ／ 减少布线 ， 提 高通 信 的稳 定性 。 Ｔ ５ Ｂ１ １ 还 支持 Ｓ １方 式 ， ０６ ， 页 Ａ ４Ｄ ６Ｄ Ｐ０ 有４ ９ 页 每 ５８ ２ 字节 的缓冲 区， 该存储器可以按地址从低到高顺序读写 ， 也可 以 读 写 任 一 字 节 的 数 据 。￣ Ｔ ５ １ １ 写 ， 除有 固定 的读 写 的 ｇ Ａ ４ ＤＢ ６ Ｄ读 擦 操 作 格 式 ， 位 操 作 码 ，位 保 留 位 ， ２ 页 地 址 ，０ 字 节 地 址 ， ８ ２ ｌ位 １位 对 Ｌ Ｃ １３ 片 的 主 要 操 作 函数 的 设 置 如 下 ： Ｐ ２０芯
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集成电路测试仪控制模块设计
CASE区域治理集成电路测试仪控制模块设计常州市和普电子科技有限公司 倪友福摘要：随着时代的进步，集成电路生产企业快速发展，测试技术发展面临新的要求，集成电路制造中集成电路测试是一项关键技术。
所以，深入研究集成电路测试技术与设备具有非常重要的意义。
基于此，本文从以下几方面简单分析了集成电路测试仪控制模块设计相关知识，希望对相关领域研究有所帮助。
关键词：集成电路；测试仪；控制模块中图分类号：TN4 文献标识码：A 文章编号：2096-4595（2020）39-0195-0001一、集成电路测试仪模块设计方案（一）模块硬件指标与功能要求根据整体测试仪设计方案，控制模块设计内容主要涉及控制板及系统背板两部分，具有一定的功能，表现为：（1）系统通信。
对于测试系统而言，控制模块扮演着通信中枢的角色，测试向量在上位机及测试模块间传送。
（2）系统控制。
基于主控平台的测试源头，借助控制模块对整机工作进行协调，控制系统具备核心处理器与储存空间以此合理调用各测试模块，而且中断响应线路的设置也是十分必要的。
因该脱离上位机条件下项目测试头还要继续工作，因而为控制器设计对外访问接口是十分必要的。
（3）基础信号发射。
测试过程中应用基础信号对整机工作做好协调，其中时钟、触发与启动信号是基础信号重要构成。
此外，接口校准方案测试也是不容忽视的。
（4）电源与监控。
实际生产中结合系统整体工作需求及安全性，保障电源与监控单元设计的有效是十分必要的。
实际工作中，结合项目指标要求，该控制模式为整个系统硬件提供访问接口与通信架构，以此高效传输海量数据信息。
（二）模块硬件设计方案集成电路运行中，控制模块功能由电源、通信控制、信号与辅助等四个单元共同构成控制板。
其中电源与通信控制单元配置了控制电源启停的总开关按键，信号与辅助单元配置了响应信号基于模块电脑对其启停实现控制。
借助电源转换芯片，电源单元把外供12v电源转换成2-12v等级不同的电压，以此为整板工作提供所需的电压。
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摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。
早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。
根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。
该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字：测试仪；数字集成电路；单片机ABSTRACTIntegrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button, 74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components, etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14 feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.Keywords: tester; digital integrated circuit; microprocessor control unit目录1系统总体方案 (1)2 系统硬件电路设计 (2)2.1硬件系统电路原理框图 (2)2.2硬件系统电路各模块设计 (2)2.2.1 MCS-52单片机最小系统 (2)2.2.2 独立按键模块 (3)2.2.3 芯片测试模块 (4)2.2.4 显示模块 (5)2.2.5 电源供电模块 (7)3 系统软件设计 (8)3.1 测试对象TTL74系列芯片简介 (8)3.2 测试原理 (8)3.3 程序流程图 (9)3.4 模块程序关键代码 (11)3.4.1 主程序 (11)3.4.2 独立按键扫描程序 (11)3.4.3 74HC573控制数码管显示程序 (15)3.4.4 信号检测程序 (17)4 系统仿真测试 (19)总结 (21)致谢 (22)参考文献 (23)附录 (24)附录A 源程序 (24)附录B 元件清单 (35)附录C 整体电路图 (36)1系统总体方案在数字集成电路的设计、制造和应用阶段，不可避免地会出现故障，为了保证数字集成电路工作的可靠性，需要对其进行必要的测试。
设计门电路自动测试仪目的在于能够方便检测数字集成芯片的好坏。
然而，由于常用的TTL系列芯片种类繁多，不同型号的数字集成芯片其逻辑功能不同、引脚排列不同、甚至哪些引脚作为输入，哪些引脚作为输出都不固定，也就是说，某个型号的集成芯片的其中一只引脚是输入脚，而另一个型号的集成芯片的同一只引脚却可能是输出脚了。
在进行硬件电路设计时，必须要有这样的接口电路：和集成芯片引脚连接的检测端口既可作为输入，又可作为输出。
正由于上述原因，本方案设计一套数字集成电路测试装置，能够实现对指定几种14脚常见的74系列数字电路测试。
芯片有74LS00、74LS04、74LS20、74LS74、74LS86。
对数字系统进行测试基本方法是：从数字集成电路的原始输入端施加若干输入矢量作为激励信号，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结果进行比较，一致则表示芯片完好，不一致则表示芯片有故障。
因此判断一个集成电路芯片是否存在故障，可用该芯片被检测出来的功能是否同设计规范的功能一致来判断。
要让测试结果直观明了，就需设计一个显示模块显示对应测试结果，在此系统中我选用8位数码管来显示芯片型号和两个发光二极管显示测试结果。
此外，由于集成芯片的型号不同，为了提高测试的效率，还需设计一个独立按键模块用于输入检测芯片的型号，方便操作。
综合以上所涉及的几个问题，完整的门电路自动测试仪应包括按键输入模块，显示模块，芯片测试插座模块，结合单片机最小系统来加以控制。
在确立硬件结构的基础上，结合软件完成。
软件部分主要由数据检测程序和显示驱动程序，以及按键子程序三大部分组成。
在设计过程中，首先使用Protel和Proteus仿真软件作为开发平台来进行硬件电路的设计，并运用软件Keil uVision编写程序完成系统的仿真实现，结合软、硬件完成系统的整体调试。
2 系统硬件电路设计2.1硬件系统电路原理框图该测试系统的原理框图如下图1所示。
图1 测试仪原理框图此次所设计的数字集成电路检测系统由单片机控制单元，独立按键输入单元，信号检测单元，数码管显示单元和电源供电单元组成。
2.2硬件系统电路各模块设计2.2.1 MCS-52单片机最小系统MCS-52单片机内部主要由CPU，存储器，可编程I/O口，定时器/计数器，串行口，中断控制系统，时钟电路等组成。
52系列单片机应用广泛，成本低，控制应用等电路成熟。
此系统中，我选择单片机AT89C52最小系统进行控制，，它的P0、P1、P2、P3端口是准双向I/O口：既可作为输入口，又可作为输出口,为信号的检测控制奠定了重要的基础。
其连接如图2所示。
图2 AT89C52单片机最小系统单片机在电路中起到控制整个系统的作用，无论是信号检测，还是数码管显示，都通过编程完成控制。
2.2.2 独立按键模块采用独立按键的优点是控制程序和硬件电路都很简单，缺点是如果每个按键都要占用一个I/O口，当按键较多时占用I/O口较多。
但考虑到本次设计只需要三个按键：检测型号键、复位键、自动检测键。
因此在实际的测试中分别对应P3.0\P3.1\P3.2通过按键查询就可以简单的起到控制输入的目的。
值得注意的是，在用单片机对按键处理的时候涉及到了一个重要的过程，那就是按键的去抖动。
当用手按下一个键时，按键并不会立刻稳定地接通，在释放一个键时，也不会立刻断开。
因而在闭合和断开的瞬间都会伴随着一连串的抖动。
抖动的持续时间随按键材料和操作员而异，不过通常总是不5-10ms。
这种抖动对于单片机来说是完全可以感觉到的，所以必须消除抖动。
通常有两种方法可以消除抖动，一种是硬件方法，需要硬件电路，另一种是软件方法，用软件方法可以很容易地解决抖动问题，只需通过延迟10ms 来等待抖动消失这之后，在读入按编码值。
所以，我们采用软件消抖法。
独立按键电路如图3所示。
图3 独立按键与单片机连接图2.2.3芯片测试模块结合单片机的I/O口使用情况，以及设计的局限，在该系统中我选用了16脚的通用IC紧锁座作为芯片测试插座，能够测试14脚以下的常用数字集成芯片。
根据AT89C52中P0口与P2口的特点，本设计采用AT89C52的P1口和P2口连接测试芯片接口，单片机的P0口的P0.0—P0.7，P2口中的P2.0—P2.5共14条通用I/O线和检测插座构成了检测电路，其中，P2口中P2.7用于控制14管脚电源地转换，因为规则芯片的右上脚都为电源(Vcc)，左下脚都为地(GND)。
测试插座优先考虑14脚的通用测试情况。
单片机与测试插座之间的连接如图4所示。
图4 单片机与测试插座连接图在单片机与紧锁座之间需串接470Ω（或510Ω）的电阻。
串接电阻目是对AT89C52起限流保护作用，假设，P2.0输出高电平，此时，测试芯片又为非门，那么将引起灌电流现象，致使P2.0口线上电流非常大，对AT89C52有害。
2.2.4显示模块（1）数码管显示模块在系统中，由于系统的独立按键模块和测试插座模块已经使用了单片机的P1,P2和P3口，只剩下一组I/O口可供选择。
74HC573是8数据锁存器。
主要用于数码管、按键等的控制，至此，我选用一块芯片74HC573直接控制8位数码管。
有效的节省了单片机的I/O口的使用，极大地简化了硬件电路。
由5片芯片74HC573和4个7段共阴极数码管构成了显示电路，用于向用户提供按键输入信息及输出检测结果等。
通过单片机的三个I/O口来控制信号输入。
74HC573与AT89C52单片机的硬件连接如图6所示，74HC573锁存器的数据输入端连接单片机的P0口，P0口同时加了上拉电阻，数码管中的C1，C2，C3，C4是它们的位选端。
图674HC573驱动8位数码（2）发光二极管显示模块为了使测试结果直观明了，分别在单片机的两个I/O口P3.6和P3.7分别串接两分别显示芯片好坏两种状态，发光二极管与单片机连接图个红、绿色发光二极管连接图如图7所示。
图7 发光LED指示灯与单片机连接图2.2.5 电源供电模块在该设计系统中，所需电压都为直流5V，它由电源变压器，桥式整流电路（4个二极管D1～D4构成），滤波电容，防止自激电容和一只固定式三端稳压器(LM7805)极为简捷方便地搭成的，为了保证输入LM7805电压的稳定性，在7805之前我使用一只7812保证电流稳定输入12V。
如图8所示，220V交流电通过电源变压器变换成交流低压，再经过桥式整流电路BR1和滤波电容C6的整流和滤波，在固定式三端稳压器LM7812和LM7805的Vin和GND两端形成一个并不十分稳定的直流电压(该电压常常会因为市电电压的波动或负载的变化等原因而发生变化)，此直流电压经过LM7812和LM7805的稳压和C4,C5的滤波便在稳压电源的输出端产生了精度高、稳定度好的直流输出电压。