材料分析方法课后答案

第一章

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是（ ）

A.X 射线透射学；

B.X 射线衍射学；

C.X 射线光谱学；

D.其它

2. M 层电子回迁到K 层后，多余的能量放出的特征X 射线称（ ）

A. K α；

B. K β；

C. K γ；

D. L α。

3. 当X 射线发生装置是Cu 靶，滤波片应选（ ）

A ． Cu ；B. Fe ；C. Ni ；D. Mo 。

4. 当电子把所有能量都转换为X 射线时，该X 射线波长称（ ）

A. 短波限λ0；

B. 激发限λk ；

C. 吸收限；

D. 特征X 射线

5.当X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后，L 层电子回迁K 层，多余能量将另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（ ） （多选题）

A. 光电子；

B. 二次荧光；

C. 俄歇电子；

D. （A+C ）

二、正误题

1. 随X 射线管的电压升高，λ0和λk 都随之减小。（ ）

2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（ ）

3. 经滤波后的X 射线是相对的单色光。（ ）

4. 产生特征X 射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（ ）

5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（ ）

第二章

一、选择题

1.有一倒易矢量为*+*+*=*c b a g 22，与它对应的正空间晶面是（ ）。

A. （210）；

B. （220）；

C. （221）；

D. （110）；。

2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm ，用铁靶K α（λK α=0.194nm ）照射该晶体能产生（ ）衍射线。

A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。

3.一束X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）。

A ．是否满足布拉格条件；

B ．是否衍射强度I ≠0；

C ．A+B ；

D ．晶体形状。

4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）。

A ．4；

B ．8；

C ．6；

D ．12。

二、正误题

1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ ）

2.X 射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（ ）

3.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n 。（ ）

4.布拉格方程只涉及X 射线衍射方向，不能反映衍射强度。（ ）

5.结构因子F 与形状因子G 都是晶体结构对衍射强度的影响因素。（ ）

第三章

三、选择题

1.最常用的X射线衍射方法是（）。

A. 劳厄法；

B. 粉末多法；

C. 周转晶体法；

D. 德拜法。

2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。

A. 正装法；

B. 反装法；

C. 偏装法；

D. A+B。

3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（）。

A. <325目；

B. >250目；

C. 在250-325目之间；

D. 任意大小。

4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）。

A. 保持同步1﹕1 ；

B. 2﹕1 ；

C. 1﹕2 ；

D. 1﹕0 。

5.衍射仪法中的试样形状是（）。

A. 丝状粉末多晶；

B. 块状粉末多晶；

C. 块状单晶；

D. 任意形状。

四、正误题

1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（）

2.在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。（）

3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度。（）

4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。（）

5.衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。（）

第四章

五、选择题

1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。

A. 外标法；

B. 内标法；

C. 直接比较法；

D. K值法。

2. X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。

A. Hanawalt索引；

B. Fenk索引；

C. Davey索引；

D. A或B。

3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（）。

A. 相机尺寸误差；

B. 底片伸缩；

C. 试样偏心；

D. A+B+C。

4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。

A. 第一类应力（宏观应力）；

B. 第二类应力（微观应力）；

C. 第三类应力；

D. A+B+C。

5.Sin2Ψ测量应力，通常取Ψ为（）进行测量。

A. 确定的Ψ角；

B. 0-45º之间任意四点；

C. 0º、45º两点；

D. 0º、15º、30º、45º四点。

六、正误题

1.要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差，其次选高角度θ角，最后还要用直线外推法或柯亨法进行数据处理。（）