光谱分析复习资料

光谱缓冲剂：为了减少试样成分对火焰温度的影响，使弧焰温度稳定，在试样中加入一种或几种辅助物质，用来抵偿试样变化的影响。这些物质称为光谱缓冲剂。

重原子效应：重原子取代，一般指的是卤素（Cl、Br、I）原子取代，芳烃取代上卤素原子后，其荧光强度随卤素原子量增加而减弱，而磷光通常相应的增强，这种效应称为“重原子效应”。一般指在分子发光中，引入质量相对较重的原子时出现磷光增强和荧光减弱的现象。

化学改进剂：在试样中加入一种物质，该物质能与试样组分发生化学反应，从而提高基体的挥发性或改变待测元素的挥发性。这种物质称为化学改进剂。

闪耀光栅：每一个小反射面与光栅平面的夹角保持一定，以控制每一个小反射面对光的反射方向，使光能集中在所需要的一级光谱上，这种光栅称为闪耀光栅。

荧光猝灭：荧光物质分子与溶剂分子或其它溶剂分子的相互作用引起荧光强度降低的现象。Zeeman效应：指在磁场作用下简并的谱线发生分裂的现象。

自吸：当弧焰中心的激发态原子发射的光通过弧焰边缘时，被同类基态原子吸收，使谱线中心的辐射强度减弱，这种现象称为自吸。

自蚀：当自吸现象非常严重时，谱线中心的辐射强度完全被吸收的现象。

磷光：物质吸收光能后，基态分子中的一个电子激发跃迁至第一激发单重态轨道，由第一激发单重态的最低能级经系统间交叉跃迁至第一激发三重态（系间跃迁），并经过振动驰豫到最低振动能级，此激发态跃迁回至基态时，发射磷光。

荧光：当分子吸收光能后跃迁至第一激发单重态S1，通过内转换、振动弛豫使能量降低至第一激发单重态S1的最低振动能级上，然后再以发射光的形式回至单重基态S0的各个振动能级上，该过程称为荧光发射，发射的光称为荧光。

动力学光谱分析：根据反应时间和吸光度关系建立起来的光谱分析方法。

驰豫：在同一电子能级中，电子由高振动能级转至低振动能级，而将多余的能量以热的形式发出。

系间跨跃：是两个不同多重态能级之间的无辐射跨跃。

化学发光效率：是发光分子数与参加反应的分子数的比值。

联用技术：两种或两种以上分析技术的联合运用。

谱图的三要素：一般进行光谱分析时，要同时注意谱图的位置（能量）、强度（跃迁几率）、波宽这三个要素。

金属组学：是综合研究一种细胞、组织或完整生物体内全部金属原子的分布、含量、化学种态及其功能的新兴综合学科。

荧光量子点：量子点是一种由II－VI族或III－V族元素组成的纳米颗粒。量子点的粒径一般介于1～10nm之间，由于电子和空穴被量子限域，连续的能带结构变成具有分子特性的分立能级结构，受激后可以发射荧光。

荧光量子效率：又称量子产率。指激发态分子通过发射荧光，回至基态的分子占全部激发态分子的分数。表示物质发射荧光的能力。

光电倍增管：是一种具有极高灵敏度和快时间响应的光电探测器件，是在光电效应和电子光学基础上，利用二次电子倍增现象制成的真空光电器件，它将光能转化为电能，实现光电探测。

Stokes位移：对于溶液的荧光光谱，所观察到的物质的荧光波长总是大于激发光的波长，这种现象称为Stokes位移。

检出限：指能以适当的置信度被检测出的待测元素的最低浓度或含量。检出限的定义是指能产生3倍（或2被）噪声信号所对应的待测物质的浓度或质量。或是在原子吸收光谱分析中，待测元素的吸收信号等于空白溶液测量标准偏差的3倍时对应的浓度或质量。

基体效应：在原子发射光谱分析中，试样基体组成的改变将影响被测元素的谱线强度，这种效应称为基体效应。

溶剂效应：溶剂极性不同会引起某些化合物的吸收峰发生红移或蓝移，这种作用称为溶剂效应。

试比较AES、AAS和AFS在仪器结构上的异同点，比较分析方法的优缺点。

仪器结构：三者都是由光源、分光仪、检测器等基本部件组成。

不同：AFS的光源、原子化器与检测器一般成直角；而AAS、AES在一直线上进行的。AFS需要更强的和更灵敏的光源。AFS对分光系统的要求不高，甚至可不用光栅。

分析方法：

简述ICP的形成过程。

在炬管的切向方向引入高速氩气,氩气在炬管的外层形成高速旋流,通过类似真空检漏仪的装置产生的高频电火花使氩气电离出少量电子,形成一个沿炬管切线方向的电流.因为炬管放置在高频线圈内,通过高频发生器产生的高频振荡通过炬管线圈耦合到已被电离出少量电子的氩气上,使氩气中的这部分电子加速运动,撞击其他电子产生电离,形成雪崩效应,最终靠高频发生器连续提供能量,即可形成一个稳定的等离子体火焰.

ICP装置由高频发生器和感应圈、炬管和供气系统、试样引入系统三部分组成。当有高频电流通过线圈时，产生轴向磁场，这时若用高频点火装置产生火花，形成的载流子（离子与电子）在电磁场作用下，与原子碰撞并使之电离，形成更多的载流子，当载流子多到足以使气体有足够的导电率时，在垂直于磁场方向的截面上就会感生出流经闭合圆形路径的涡流，强大的电流产生高热又将气体加热，瞬间使气体形成最高温度可达10000K的稳定的等离子炬。感应线圈将能量耦合给等离子体，并维持等离子炬。当载气载带试样气溶胶通过等离子体时，被后者加热至6000-7000K，并被原子化和激发产生发射光谱。

为什么AES中背景存在会引起工作曲线的弯曲？摄谱法中如何进行背景校正。

由于暗电流、杂散光、复合辐射等效应的存在构成了光谱背景干扰。光谱背景的增大, 不仅降低谱线强度与背景的比值, 也会使分析校正曲线发生平移或弯曲, 以至于严重影响定量分析的结果。

测出背景的黑度S B，然后测出被测元素谱线黑度为分析线与背景相加的黑度S（L+B）,由乳剂特征曲线查出lgI(L+B)与lgI B，在计算出I(L+B)与I B，两者相减，即可得出I L，同样方法可得出内标线谱线强度I（IS）

叙述荧光分析中的镜像规则并加以解释。

镜像规则：通常荧光发射光谱与它的吸收光谱（与激发光谱形状一样）成镜像对称关系。解释：在吸收光谱中，S1 态的振动能级越高，与S0 态间的能量差越大，吸收峰的波长越短；相反，在荧光光谱中，S0 态的振动能级越高，与S1 态间的能量差越小，产生荧光的波长越长。因此，荧光光谱和吸收光谱的形状虽相似，却呈镜像对称关系。