Hanmi自动分选机操作规程
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序号
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描述
关键点与解释
号
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描述关键点与解释1.1
1.硅片运输车要摆放在规定位置
2.承载器摆放整齐
注意:
1、在清洗插片时,必须保证硅片脱胶面朝上,确保机器检测出准确的
线痕值和TTV值。
2.承载器不得变形,防止出现硅片碎片。
1.4
1.点击START绿色按钮开始,机器开始自动运行
2.正常运行时,点击红色按钮,机器自动停止
3.点击DRY白色按钮,上料台停止自动出片转注意:
1.操作时,防止碰撞到急停按钮,会导致机器停止运行
2.遇到情况时,点击红色停止按钮。
1.2
1.操作人员必须按要求着装,戴口罩,手套。
2.交接班时,用干抹布将机器擦拭干净,用气枪清理碎片,并检查各部件是否正常,填写<Hanmi自动分选机日常点检表>
注意:
1.硅片上的唾液、手印会被机器分选为脏污
2.手套需保持干
净,否则也会污染硅片
3.认真点检,记录清楚
1.5 1.检查承载器是否变形
2.安装方向要正确,不然活动固定夹具无法固定承载器
注意:
1.将承载器内明显的厚薄片挑出,防止造成碎片
2.要确定承载器稳固.
1.3
1.点击Lot End 输入切割编号和晶体编号
2.点击工艺标准,选择机器分选工艺标准注意:
1.换切割编号时,各分选盒需清零,避免计数错误
2.分选工艺标准不
正确,会导致分选错误
3.运行异常,及时记录汇报
1.6
1.承载器放置在上料台上后,按下夹具按钮
2.当承载器内硅片跑完后,夹具会自动弹出
注意:
操作时,防止上料台上有碎片,会导致机器报警或造成碎片
点击输入
工艺标准
切割编号晶体编号
开始
停止
片盒停止出片
急停
安装方向
朝上面
活动夹具
朝下面
夹具按钮
序号
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描述关键点与解释
号
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描述关键点与解释2.1
每个班使用机器前,需要对机器进行校验注意:
1.点击图示对应电阻率按钮,切换到
电阻率模块
(Semilab软件界
面)
2.校准前,必须关闭软件停止传送带
2.4点击 measure 下的calibrate resistivity,在对话框中输入样片的电阻率值点击OK,即可
注意:
点击OK后,将
controls界面下的R1校准值记录在<校准记录>上
2.2
1.在校准前,需点击停止红色按钮
2.放入样片前,先点击Measure 下的new空测一次
注意:
校准前必须点击停止,防止出现电阻率补偿
2.5
校准完成后,必须点击Start绿色按钮注意:
校准后启动电阻率模块,防止机器因未检
测到电阻率而不分选
2.3
把样片放在检测台的中间,电阻探头对准样片上的电阻校正点
注意:
1.用手慢慢放入样片,将样片的电阻校正点与检测台的电阻率探头完全对
齐
2.动作要小心,防止样片损坏
2.6特殊情况下,需要关闭机器时,点击屏幕开始中的关闭选项,关闭电脑。
注意:
重新启动后,需要热机8小时,校准电阻率后,才可以使用
电阻率按钮
停止按钮
电阻率探头
开始按钮
序号
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描述
关键点与解释号
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描述
关键点与解释3.1机器运行中,可以点击Real Time Date 查看result界面中的相关数据,了解硅片质量情况,以及分选情况(以便及时了解、更改工艺菜单)
注意:
工艺菜单只可以由机器工程师进行更改
3.4
1.及时汇报给负责人并做好记录
2.当运行中,发生报警,请及时处理
注意:
1.异常情况发生,都需要做好记录,进行交接
2.无法处理时,请不要随意处置,需及时汇报
3.2
1.当分选盒上的数字闪烁时,说明分选盒内硅片已满.
2.将硅片取出,点击黄色按钮,进行清零(数字停止闪烁)
注意:
确定分选盒,被清零,防止硅片被取走,未进行清零,会造成硅片进错分
选盒。
3.5 1.分选盒内硅片
已满时,及时将硅片取走
2.取硅片时,动作要简洁、安全
注意:
1.取片时,防止挡住硅片红外感应灯,避免片盒下降,导致碎片
2.检查分选盒内有无碎片,交接班时用干抹布擦拭
3.3
1.每个晶体编号结束时,查看界面显示的各分选盒内的硅片数
2.将所有分选盒内的硅片取出,并清零注意:
1.要查看分选盒对应位置的硅片数
2.当检测完一个晶体编号后,需将所
有分选盒内硅片取出,避免造成混片
3.6 1.将分选出的硅片进行确认,检查硅片质量2.清点硅片数量,填写相关记录
注意:
1.把硅片堆叠在一起,检查端面质量
2.将硅片捻开,检查表面质量
3.按〈多晶硅片包装作业指导书〉进行
4.发现大量硅片分选错误,及时记录汇报
查看数据
清零
机器报警区域
硅片红外感应
无碎片。