岛津近红外、紫外可光分光光度计使用说明-UV3600
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C PMT 928
Perkin Elmer Lambda 850
B PMT 6872
Perkin Elmer Lambda 950
B PMT 6872
可冷却型 PbS (0C)
可冷却型 PbS (0C)
可冷却型
可冷却型 PbS
可冷却型PbS (-10° C)
波长范围 B 185-3300nm B 185-3300nm
C4H9-O-H C4H9-O-H Aggregated Isolated C4H9-O-H
正丁醇的离解反应
UV-3600 和 SolidSpec-3700/3700DUV
UV-3600 三检测器 测定范围 Yes 185～3300nm SolidSpec-3700/3700DUV Yes 3700 ：240～2600nm with DDU：190nm～3300nm 3700DUV：175～2600nm with DDU:165nm～3300nm 积分球 液体样品测定 Option
100
Relative Value (%)
PMT
InGaAs PbS
PMT PbS InGaAs
80 60 40 20 0 200 700 1200 1700 2200 2700 3200
Wavelength (nm)
165nm UV PMT InGaAs PbS 380nm Visible 165～1000nm 700～1800nm 1600 3300nm ～ 780nm NIR 3300nm
高分辨率 – 宽测试范围和超低杂散光
采用高性能双单色器，超低杂散光 (<0.00005% 340 nm) 高分辨率 ( 0.1 nm). 测试范围 185 – 3300 nm, 覆盖了紫外、可见、近红外区.
丰富的附件
多用途大样品室和积分球可以进行固体样品的测试，使用ASR (Absolute Specular Reflectance)附件可以进行绝对反射的测量，还有多种恒温池架和 超微量池架，可以测定多种类型的样品
超高灵敏度(1)
三个检测器－光电倍增管、InGaA 和 PbS 检测器， 覆盖了从深紫外到近红外的范围. InGaAs 和 PbS 两 个检测器使得在近红外区的灵敏度极高
InGaAs
Reference Beam
PbS
Sample Beam
PMT
高灵敏度(2)
Sensitivity Characteristic
Academic 37%
UV-3100/3150 用户按照 行业分布 (1995-2004 425 台)
Government 14%
Chemical 43%
UV-3100/3150 大学用户 (1995-2004 153 台)
UV –3600 和SolidSpec3700/3700DUV的市场定位
UV-3600
主要用途
液体样品的定量和定性
SolidSpec3700/3700DUV
固体样品（玻璃、塑料、石英）的 化学反应的监控(温度控 透过率测定 制的测试) 玻璃或薄膜的透过率测定 薄膜的透过率测定 185nm以下的深紫外区的样品测定 金属片或金属片上薄膜 大样品的透过率或者镜面反射的测 的镜面反射率测定 定 绝对反射率测定 大学 ( 化学,材料) 化工 (反应过程, 合成)
(185nm以下需氮气吹 (185nm以下需氮气吹 (185nm以下需氮气吹 扫) 扫) 扫) A <0.00008%T A <0.00007%T A <0.0001%T (220nm, - <0.00008%T NaI) (220nm, NaI) (220nm, NaI) A (220nm, NaI, ASTM) A <0.0001%T (340nm, NaNO2) <0.025%T (1690nm, A <0.0002% (1420nm, A <0.0001% (1420nm, <0.00040%T CHCl3) H2O-10mm) H2O-10mm) A <0.00045%T (2365nm, CHCl 3)
UV-3600 和 UV-3150
光学系统 UV-3600 ◎ 单色器：2-2光栅双单色器 检测器：PMT、InGaAs、Cooled PbS（-10 ℃） ◎ Slit width 2nm, RMS 1 sec. UV-Vis：<0.00005A（500nm） NIR ：<0.00008A（900nm） <0.00003A(1500nm) ◎ About 18000nm/min（UV-Vis） About 70000nm/min（NIR） (转换时间除外) ◎ Max：About 4500nm/min（UV-Vis） About 9000nm/min （NIR PMT/InGaAs） About 4000nm/min（NIR PbS） (转换时间除外) ○ <0.00008%T (220nm、NaI) <0.00005%T (340nm、NaNO 2 ) <0.0005%T （1420nm、H2 O） <0.005%T (2365nm、CHCl3) - 0.1nm 0.2nm ○ UV/VIS:± NIR: ± 0.8nm 0.08nm ○ UV/VIS:± NIR:± 0.32nm ○ -6～6Abs 0.003A(1A) ○ ± ± 0.002A(0.5A) ○ 0.0008A（0～0.5A） 0.0016A(0.5～1A) 1 sec. integration, Standard Deviation from 5 0.001A（200～3000nm） ○ ± Slit 5nm ○ within 0.0002A/h UV-3150 单色器：3-3 光栅双单色器 Detector：PMT、PbS 噪音 N/A
A 175 - 3300nm A 175-1800 A 175 - 900 A 175 - 3300nm
杂散光
B <0.00008%T
(220nm, NaI)
D
A <0.00005%T
(340nm, NaNO2)
B <0.0005%T B
(1420nm, H2O) <0.005%T (2365nm, CHCl3)
Note)
Standard Option
Standard
DUV 测定
N2 吹扫 大样品室
No
No 需要MPC-3100
SolidSpec-3700DUV
SolidSpec-3700DUV Standard
注) 传统的积分球只有光电倍增管或光电倍增管＋PbS检测器的积分球可以装在3600上，3600 的积分球没有包含 InGaAs 检测器，MPC3100的积分球也不包含InGaAs检测器
Shimadzu UV-VIS-NIR Spectrophotometer
UV-3600
UV-3600卖点
高灵敏度 – 世界独一无二的三检测器系统
装载三个检测器:光电倍增管用于紫外区和可见区， InGaAs 和 PbS 检测器用 于近红外区. InGaAs 检测器覆盖了光电倍增管和 PbS 检测器的薄弱范围， 保证了整个测试范围的高灵敏度. <0.00003 Abs 1500 nm, 为世界最高灵敏度.
线性范围可以扩展到 6 Abs
• 测定范围:185nm～3300nm
丰富的附件及应用
•安装电子恒温池架，可以 监控化学反应；使用超微 量池后，可以测定超微量 的样品
20℃ 40℃ 60℃
Isolated -OH
Aggregated -OH
•安装多用途大样品室或积 分球后，可以进行固体样 品的测试
H-O-H9C4
PbS InGaAs
水在近红外区的透过光谱 (Slit width 2nm)
高分辨率 – 宽测定范围和超低杂散光
• 分辨率：0.1nm • 超低杂散光
UV-3600 PE 950
220nm(NaI)
340nm(NaNO2 )
<0.00008%
<0.00005%
<0.00007%
<0.00007%
KMnO4的光谱图
波长转化速度
波长扫描速度
About 2100nm/min（UV-Vis） About 8200nm/min（NIR） (转换时间除外) 1600nm/min MAX
杂散光
<0.00008%T (220nm、NaI) <0.00005%T (340nm 、NaNO 2 ) <0.08%T (1690,2740nm) 0.1nm UV/VIS:± 0.3nm NIR: ± 1.6nm UV/VIS:± 0.1nm NIR: ± 0.4nm -4～5Abs. ± 0.004A(1A) ± 0.002A(0.5A) ± 0.001A(0-0.5A) ± 0.002A（0.5-1A） ± 0.001A(210～800nm、Slit 2nm) ± 0.002A（800～3000nm、Slit 5nm） within 0.0004A/h
Auto control + fixed 光度测定范围 B -6-6Abs D -2-5Abs
A 8Abs (with RBA) A 8 Abs (with RBA)
பைடு நூலகம்
Fixed + constant energy + slit program A 8Abs (with SRATT)
Fixed + constant energy + slit program A 8Abs (with SRATT)
分辨率 波长准确度 波长重复性 光度范围 波长准确性 波长重复性
基线平滑度 基线稳定性
UV-3600 市场定位
AnalyticalOthers 2% 9% Machine 2% Glass 5% Optical 5% Electronic 12% Chemical 14%
Others 5% Unknown 18% Agricalture 1% Metal 1% Biology 4% Machine 4% Physics 6% Electronic 8% Material 10%
0.01nm 调整
NIR: 0.2-32nm 10-step 可 调 (0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8, 12, 20, 32nm)
NIR: 0.1-20nm 0.1nm 调整
NIR: 0.04-20nm 0.01nm 调整
NIR: 0.02-10nm 0.01nm 调整
NIR: 0.2-20nm 0.04nm 调整
需求行业
电子工业 半导体工业 光学工业 玻璃工业 化工 (功能薄膜)
Shimadzu UV-3600
检测器 A PMT InGaAs Detector D
Hitachi U-4100(liquid)
PMT 可冷却型 PbS
Varian Cary 5000
C PMT 928
Varian Cary 6000i
A
(185nm以下需氮气吹 扫) <0.00007%T (220nm, NaI, ASTM) <0.00040%T
狭缝宽度
C
UV/VIS: 0.1-8nm
B
UV/VIS: 0.01-8.00nm A UV/VIS: 0.01-5.00nm A UV/VIS: 0.01-5.00nm
A UV/VIS: 0.05-5.00nm
(1420nm, H 2O10mm) A <0.00050%T (2365nm, CHCl 3) A UV/VIS: 0.05-5.00nm
8-step 可调 (0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8nm)
0.01 (0.02) nm 调整
0.01nm 调整
0.01nm 调整
0.01nm 调整
Perkin Elmer Lambda 850
B PMT 6872
Perkin Elmer Lambda 950
B PMT 6872
可冷却型 PbS (0C)
可冷却型 PbS (0C)
可冷却型
可冷却型 PbS
可冷却型PbS (-10° C)
波长范围 B 185-3300nm B 185-3300nm
C4H9-O-H C4H9-O-H Aggregated Isolated C4H9-O-H
正丁醇的离解反应
UV-3600 和 SolidSpec-3700/3700DUV
UV-3600 三检测器 测定范围 Yes 185～3300nm SolidSpec-3700/3700DUV Yes 3700 ：240～2600nm with DDU：190nm～3300nm 3700DUV：175～2600nm with DDU:165nm～3300nm 积分球 液体样品测定 Option
100
Relative Value (%)
PMT
InGaAs PbS
PMT PbS InGaAs
80 60 40 20 0 200 700 1200 1700 2200 2700 3200
Wavelength (nm)
165nm UV PMT InGaAs PbS 380nm Visible 165～1000nm 700～1800nm 1600 3300nm ～ 780nm NIR 3300nm
高分辨率 – 宽测试范围和超低杂散光
采用高性能双单色器，超低杂散光 (<0.00005% 340 nm) 高分辨率 ( 0.1 nm). 测试范围 185 – 3300 nm, 覆盖了紫外、可见、近红外区.
丰富的附件
多用途大样品室和积分球可以进行固体样品的测试，使用ASR (Absolute Specular Reflectance)附件可以进行绝对反射的测量，还有多种恒温池架和 超微量池架，可以测定多种类型的样品
超高灵敏度(1)
三个检测器－光电倍增管、InGaA 和 PbS 检测器， 覆盖了从深紫外到近红外的范围. InGaAs 和 PbS 两 个检测器使得在近红外区的灵敏度极高
InGaAs
Reference Beam
PbS
Sample Beam
PMT
高灵敏度(2)
Sensitivity Characteristic
Academic 37%
UV-3100/3150 用户按照 行业分布 (1995-2004 425 台)
Government 14%
Chemical 43%
UV-3100/3150 大学用户 (1995-2004 153 台)
UV –3600 和SolidSpec3700/3700DUV的市场定位
UV-3600
主要用途
液体样品的定量和定性
SolidSpec3700/3700DUV
固体样品（玻璃、塑料、石英）的 化学反应的监控(温度控 透过率测定 制的测试) 玻璃或薄膜的透过率测定 薄膜的透过率测定 185nm以下的深紫外区的样品测定 金属片或金属片上薄膜 大样品的透过率或者镜面反射的测 的镜面反射率测定 定 绝对反射率测定 大学 ( 化学,材料) 化工 (反应过程, 合成)
(185nm以下需氮气吹 (185nm以下需氮气吹 (185nm以下需氮气吹 扫) 扫) 扫) A <0.00008%T A <0.00007%T A <0.0001%T (220nm, - <0.00008%T NaI) (220nm, NaI) (220nm, NaI) A (220nm, NaI, ASTM) A <0.0001%T (340nm, NaNO2) <0.025%T (1690nm, A <0.0002% (1420nm, A <0.0001% (1420nm, <0.00040%T CHCl3) H2O-10mm) H2O-10mm) A <0.00045%T (2365nm, CHCl 3)
UV-3600 和 UV-3150
光学系统 UV-3600 ◎ 单色器：2-2光栅双单色器 检测器：PMT、InGaAs、Cooled PbS（-10 ℃） ◎ Slit width 2nm, RMS 1 sec. UV-Vis：<0.00005A（500nm） NIR ：<0.00008A（900nm） <0.00003A(1500nm) ◎ About 18000nm/min（UV-Vis） About 70000nm/min（NIR） (转换时间除外) ◎ Max：About 4500nm/min（UV-Vis） About 9000nm/min （NIR PMT/InGaAs） About 4000nm/min（NIR PbS） (转换时间除外) ○ <0.00008%T (220nm、NaI) <0.00005%T (340nm、NaNO 2 ) <0.0005%T （1420nm、H2 O） <0.005%T (2365nm、CHCl3) - 0.1nm 0.2nm ○ UV/VIS:± NIR: ± 0.8nm 0.08nm ○ UV/VIS:± NIR:± 0.32nm ○ -6～6Abs 0.003A(1A) ○ ± ± 0.002A(0.5A) ○ 0.0008A（0～0.5A） 0.0016A(0.5～1A) 1 sec. integration, Standard Deviation from 5 0.001A（200～3000nm） ○ ± Slit 5nm ○ within 0.0002A/h UV-3150 单色器：3-3 光栅双单色器 Detector：PMT、PbS 噪音 N/A
A 175 - 3300nm A 175-1800 A 175 - 900 A 175 - 3300nm
杂散光
B <0.00008%T
(220nm, NaI)
D
A <0.00005%T
(340nm, NaNO2)
B <0.0005%T B
(1420nm, H2O) <0.005%T (2365nm, CHCl3)
Note)
Standard Option
Standard
DUV 测定
N2 吹扫 大样品室
No
No 需要MPC-3100
SolidSpec-3700DUV
SolidSpec-3700DUV Standard
注) 传统的积分球只有光电倍增管或光电倍增管＋PbS检测器的积分球可以装在3600上，3600 的积分球没有包含 InGaAs 检测器，MPC3100的积分球也不包含InGaAs检测器
Shimadzu UV-VIS-NIR Spectrophotometer
UV-3600
UV-3600卖点
高灵敏度 – 世界独一无二的三检测器系统
装载三个检测器:光电倍增管用于紫外区和可见区， InGaAs 和 PbS 检测器用 于近红外区. InGaAs 检测器覆盖了光电倍增管和 PbS 检测器的薄弱范围， 保证了整个测试范围的高灵敏度. <0.00003 Abs 1500 nm, 为世界最高灵敏度.
线性范围可以扩展到 6 Abs
• 测定范围:185nm～3300nm
丰富的附件及应用
•安装电子恒温池架，可以 监控化学反应；使用超微 量池后，可以测定超微量 的样品
20℃ 40℃ 60℃
Isolated -OH
Aggregated -OH
•安装多用途大样品室或积 分球后，可以进行固体样 品的测试
H-O-H9C4
PbS InGaAs
水在近红外区的透过光谱 (Slit width 2nm)
高分辨率 – 宽测定范围和超低杂散光
• 分辨率：0.1nm • 超低杂散光
UV-3600 PE 950
220nm(NaI)
340nm(NaNO2 )
<0.00008%
<0.00005%
<0.00007%
<0.00007%
KMnO4的光谱图
波长转化速度
波长扫描速度
About 2100nm/min（UV-Vis） About 8200nm/min（NIR） (转换时间除外) 1600nm/min MAX
杂散光
<0.00008%T (220nm、NaI) <0.00005%T (340nm 、NaNO 2 ) <0.08%T (1690,2740nm) 0.1nm UV/VIS:± 0.3nm NIR: ± 1.6nm UV/VIS:± 0.1nm NIR: ± 0.4nm -4～5Abs. ± 0.004A(1A) ± 0.002A(0.5A) ± 0.001A(0-0.5A) ± 0.002A（0.5-1A） ± 0.001A(210～800nm、Slit 2nm) ± 0.002A（800～3000nm、Slit 5nm） within 0.0004A/h
Auto control + fixed 光度测定范围 B -6-6Abs D -2-5Abs
A 8Abs (with RBA) A 8 Abs (with RBA)
பைடு நூலகம்
Fixed + constant energy + slit program A 8Abs (with SRATT)
Fixed + constant energy + slit program A 8Abs (with SRATT)
分辨率 波长准确度 波长重复性 光度范围 波长准确性 波长重复性
基线平滑度 基线稳定性
UV-3600 市场定位
AnalyticalOthers 2% 9% Machine 2% Glass 5% Optical 5% Electronic 12% Chemical 14%
Others 5% Unknown 18% Agricalture 1% Metal 1% Biology 4% Machine 4% Physics 6% Electronic 8% Material 10%
0.01nm 调整
NIR: 0.2-32nm 10-step 可 调 (0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8, 12, 20, 32nm)
NIR: 0.1-20nm 0.1nm 调整
NIR: 0.04-20nm 0.01nm 调整
NIR: 0.02-10nm 0.01nm 调整
NIR: 0.2-20nm 0.04nm 调整
需求行业
电子工业 半导体工业 光学工业 玻璃工业 化工 (功能薄膜)
Shimadzu UV-3600
检测器 A PMT InGaAs Detector D
Hitachi U-4100(liquid)
PMT 可冷却型 PbS
Varian Cary 5000
C PMT 928
Varian Cary 6000i
A
(185nm以下需氮气吹 扫) <0.00007%T (220nm, NaI, ASTM) <0.00040%T
狭缝宽度
C
UV/VIS: 0.1-8nm
B
UV/VIS: 0.01-8.00nm A UV/VIS: 0.01-5.00nm A UV/VIS: 0.01-5.00nm
A UV/VIS: 0.05-5.00nm
(1420nm, H 2O10mm) A <0.00050%T (2365nm, CHCl 3) A UV/VIS: 0.05-5.00nm
8-step 可调 (0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 3, 5, 8nm)
0.01 (0.02) nm 调整
0.01nm 调整
0.01nm 调整
0.01nm 调整