实验常用门电路逻辑功能测试

实验名称：常用门电路逻辑功能测试

一、实验目的：

1、熟悉试验环境、学会识别常用芯片的引脚分配。

2、掌握逻辑门逻辑功能的测试方法。

3、掌握简单组合电路的设计。

二、实验内容：

1.测试实验室常用数字逻辑芯片的逻辑功能：74LS00 74LS02 74LS04 74LS08

74LS20 74LS32 74LS86（预习时查出每个芯片的功能、内部结构以及管脚分配）

2、应用与非门74LS00实现以下逻辑：

①：F=ABC ②：F=ABC③：F=A+B ④：F=A B+A B

三、实验内容步骤：

（学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容，主要包括：

1、实验原理图；如：

2、实验真值表；

3、实验结果记录。如：

四、实验总结

（学生根据自己实验情况，简要总结实验中遇到的问题及其解决办法）

注：本实验室提供的数字集成芯片有：

74ls00,74ls02,74ls04,74ls08,74ls20,74ls32,74ls74，74ls90,74ls112，74ls138，

74ls153,74ls161

F=A+B=A B∙=11

⋅∙⋅

A B