数字集成电路老化测试技术

这 一技 术主 要 实施于 老化 电路 检测 技术 之 前，预测依据 即观察信号跳变情况 ，如果预
路实 际应用 的过程 中存在 一定问题，其中，延 迟单元 的应用成本相对较 高，并且 监测 窗 口变
先设置 的范围 内出现 了信号变化 ，那么 电路老 化 多样 ；老化 效应 受结构影响存 在差异，个别 化现象则被证 实。应用这一技术预测潜在 的老 老化效 应具有 隐蔽性 。 化电路，不仅能够降低经济损失 ，而且还 能优 化 电路性能 。预测 技术常用 于 Ｎ ＢＴ Ｉ 效应 引起 的电路老化，针对性 的预测不仅能够制定相应 的预防措施 ，而且还能增强 系统 安全性 ，避免 系统数据丢失 。
一
【 关键 词】数 字集成 电路老化 测试技术 设
计 分析
数字集 成 电路 应用 的过 程 中，其应 用 效 果常受 电路老化影响 ，针对老化 电路进行 技术 测试，并根据测试结果优化 数字集成电路 ，提 高 电路的稳定性 ，在此期 间，所选 用的测试技 术 十 分 关 键 ，适 合 的测 试技 术 能够 在 短 时 间 内 准确检测老化 电路 ，同时，还会降低 电路成本 。 本文针对该论题 具体 分析，希望能够起到 电路 测试借鉴作用 。
钟信号 ，接下来对所获取 的时钟信号进行反 向
术 ，这两种技术类型均存在应 用优 势和应 用劣 输出，待延时时间产生后 ，则时钟信号 能够和 势 ，具体介绍如下 。 上述产生 的信号完成逻辑运算 ，最终形成信号 检测 区域 ，针对逻辑 电路获取 的信号进 行区域 ２ ． １预 测 技 术 检验 ，以此判 断电路老化 。预测稳 定性检 验电
预测技术 的应用 成本相对较低 ，但预测本 身基于 出现错误 检测技术应用成本相对较高 ，
３ ． ４老化感知触发 器 上述两 种 电路失 效预 测结 构实 际应 用 的
过程中存在些许不足，这为老化感知触发器提
１电路老化及影响 因素
１ ． １基 本 介 绍
实际检 测的过程中存在覆盖不全面 、数据状态 破坏 等 问题。这源自文库种技术均适用于 其他 电路， 相对 比而言，老化 预测技术更具有应用价值。
２ ． ２检 测 技 术
３ ． ３先 前采样 电路结构 电路 结构采 样 的过程 中，应 用 预测 先前 采样 电路结构完成采样任务 ，这一结构的组成 框架主要包括系统触发器 、预采样触发器两部 分，两个触发器的输 出信号均参加逻辑运算 ， 最终生成信号 的信号 。由于这两种触发器存在 相似的老化效应 ，进而在延迟单元 的作用 下， 极易 出现老化路径 隐藏现 象，最终影 响保 护带 的稳定性 ，预测结果也会 失去准确 性。应用这
电子技 术 ・ Ｅ ｌ ｅ ｃ ｔ ｒ ｏ ｎ ｉ ｃ Ｔ ｅ ｃ ｈ ｎ ｏ ｌ ｏ ｇ ｙ
数字集成 电路老化测试技术
文／ 吕磊 田云 曹韧桩 尹燕恒
有两种 ，第一种 即预测 技术 ，第二种即检测技 随着大数据 时代 的悄 然而至， 集成 电路应 用 的过 程 中被人 们提 出 了较 高要 求 ，为 了提 升数 字 集 成 电路 应 用 的 安 全 性 和 稳 定 性 ， 应 做 好 电 路 老 化 测 试 工 作 ， 应 用 先 进 测 试 技 术 提 高 电路 老 化 测 试 的准 确性 。本 丈首 先介 绍 了电路 老化 及 影响 因素 ，然后 分 析 了具 体 的测 试技 术， 最后探 究 了数 字 集成 电路老化测试的结构设计 。
数 字集 成 电路 长时 间应 用，极 易 出现 电 路老化现 象，这不仅会影响 电路信 号传输 ，而 且 还会 弱化 电路性能 ，与此 同时 ，相关参 数也
高的应用价值。 之所 以要 建 立老化 失 效预测 框 架，主 要 会 不同程 度的受到影响 ，用户用 电安全 性也会 是因为 电路老化状态 能够被 实时监测，即老化 ４结论 相 应降低。现如今 ，电路老化现 象时常发生， 当电路老化现象发生后 ， 导致 电路老化 的原 因相对较 多，一旦发现存在 电路信息会直观显示 ， 综上所述 ，在 了解 电路老化及其影响因素 那么系统则会在第 一时间发出警报，相关工作 电路老化现象 ，应首先准确 判断，在判断的基 的过 程 中 ， 掌握 老 化 预 测 技 术 、 老 化 检 测 技 术 人员在 警报 的提示 下会全面检测 ，避免 电路老 础上进行故障分析 ，确保 电路老化原因在短时 化损失持续扩大 。设计框 架的过程中，组成部 二者 间存在 的不足 ，应用 老化感 知触发器进行 间内被探索 ，以此提升集成 电路 的安全性 分主要包括 两方面，第一方面即监控块 ，第二 电路老化测试 ，能够 弥补 稳定校验 电路结构 以 １ ． ２影响 因素 方面 即触 发器，前 者主要是用来检测是否存在 及先前采样 电路 结构应用的不足 ，同时 ，电路 信号跳变现 象，后者主要是用来预测 、传递 电 老化 预测准 确性 能够大大提高 。除此之外 ，相 首 先， 电迁 移 Ｅ Ｍ 因素 影响 。它 主要 发 关研 究学者 应对 老化感知触发器针对性分析 ， 路老化 信号，以免发生 电路方面 的经济损失 。 生在金属导线上 ，即金属 导线的完整性受到破 大大 提高其在数 字集成 电路老化测试 中的应用 老化 失效预测 框架具有 良好的应用前景 ，相关 坏后 ，导线外表面会 非规则 凸起 ，这主要受 电 学者应 在这一方面深入探究 ，大大提高预测框 率 。 子冲击影响 ，这种影 响因素导致的 电路老化现 架的应用率 。 象属 于 物质 传输 。然 后 ，经 时击 穿 Ｔ ＤＤＢ因 参考文 献 素影响 。它主要在 晶体管 内部形成 电路通路 ， ３ ． ２稳 定校 验 电路 结 构 【 １ 】 李华伟 ． 考虑 时延偏 差的数 字电路 时延 测 中止 晶体管 正常运 行，硅氧化层极 易因能量过 试综 述 ［ Ｊ 】 ．集 成 技 术 ， ２ ０ １ ３ ， ２ （ ０ ６ ） ： ５ ４ － 电路 结构校 验 的过程 中常用 稳定校 验器 多集聚 弱化绝缘 效果 ，最终形成 电介质击 穿现 象。 最后 ， Ｎ Ｂ Ｔ Ｉ 效应 。 Ｐ ＭＯ Ｓ 管长时 间应用后 ， 这一装置，除 了这一装置属于老化传感器 的组 受负偏置 电压影响，阈值 电压会不 同程度 的变 成部分之外 ，还包括输 出锁存器 、延迟 单元两 部分，其中 ，稳定校验器 能够完成信 号采样 工 化 ，这在一定程度上 会加 剧电路老化现象 。 作 延 时单元在 保护 带间隔方面起着重要作用，
该技术主要用来检测 电路时序 ，该技术应 用的过程 中主要整合逻辑 电路、对 比采 样输出 值 ，以此分析是否存在 电路老化 问题。在 ＲＦ Ｆ 电路 中，应用检测技 术分 析 电路老化现象的具
电路结构完成采样 活动 时，会 不同程度 的增 加 电路使用成 本，同时，还会降低保护带稳定 体流程为 ：采 集输 出信号、对 比逻辑值 、产生 输 出信号 、 判 断输出信号、分析 电路老化现象 。 性 ，监测窗 口大小得不到合理控制 。
供了广阔的应用空间，老化感知触发器适用于 不同类型、不同程度的数字集成 电路老化测试 工作，并且应用成本相对较低 ，能够有 效弥补 上述介绍的预测结构的不足 ，并且 电路 老化 的 测试准确性相对较高 ，老化感知触发器 具有较
３ 数 字 集 成 电 路 老 化 测 试 结 构 设 计
３ ． １老化 失效预 测框架