实验二 组合逻辑电路实验(半加器、全加器)

输出 Y2
（1）按上图接线（注意数字编号与芯片管脚编号对应） （2）写出Y2的逻辑表达式并化简。 （3）图中A、B、C接实验箱下方的逻辑开关，Y1，Y2接实验箱上方的电平显示发光管。 （4）按表格要求，拨动开关，改变A、B、C输入的状态，填表写出Y1，Y2的输出状态。 （5）将运算结果与实验结果进行比较 。
实验步骤
1、检查芯片完好
每个小组在数字电路试验箱上找到本次实验所需要的芯片 ，并查看芯片形状是否完好，芯片管脚有没有插牢。
2、查看数字电路实验箱
74LS86 74LS00
3、了解芯片
芯片管脚示意图
4、实验内容与结果(一)
1.组合逻辑电路功能测试 （选用芯片74LS00）
输入 A 0 0 0 0 1 1 1 1 B 0 0 1 1 0 0 1 1 C 0 1 0 1 0 1 0 1 Y1
输入 Ai
0
输出 Ci-1
0
Bi
0
Si
Ci
0
0 0 1 1 1 1
0
1 1 0 0 1 1
来自百度文库
1
0 1 0 1 0 1
认真复习，加强练习，
巩固成果，学以致用！
Goodbye!
（1）画出用异或门、或非门和与非门实现全加器的逻辑电路图，写出逻辑表达式。 （2）找出异或门、或非门和与非门器件，按自己设计画出的电路图接线，注意：接 线时,或非门中不用的输入端应该接地。与非门中不用的输入端应该接VCC。 （3）当输入端Ai Bi Ci-1为下列情况时，测量Si和Ci的逻辑状态并填入表格中
1 实验目的
2 实验设备 3 实验内容与步骤
实验目的
组合逻辑电路的功能测试
掌握
验证
数字电路实验箱及示波器的使用方 半加器和全加器的逻辑功能 法
二进制数的运算规律
学会
实验设备
序号 1 2 3 名称 数字电路实验箱 二输入四与非门 二输入四异或门 型号与规格 THD-1 74LS00 74LS86 数量 1 3 1
4
二输入端四或非门
74LS02
1
实验内容与步骤
1. 组合逻辑电路功能测试 2.用异或门（74LS86）和与非门组成的半加 器电路 3.全加器组合电路的逻辑功能测试 4. 用与非门实现逻辑函数 F AB AC BC *5.用异或门、或非门、与非门组成的全加器 电路的逻辑功能测试（选做）
5、记录实验结果（二）
2.用异或门（74LS86）和与非门（74LS00）组成的半加器电路
输入 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y 输出 Z
（1）在数字电路实验箱上插入异或门和与非门芯片。输入端A、B接逻辑开 关，Y，Z接电平显示发光管。 （2）按表格要求，拨动开关，改变A、B输入的状态，填表写出y、z的输出 状态，并根据真值表写出y、z逻辑表达式。
5、记录实验结果（三）
3.全加器组合电路的逻辑功能测试
Ai 0 0
Bi 0 0
Ci-1 0 1
Y
Z
X1
X2
X3
Si
Ci
0 0 1 1 1 1
1 1 0 0 1 1
0 1 0 1 0 1
5、记录实验结果（四）
F AB AC BC
自己设计实现逻辑函数，给出逻辑电路连接图，并连接调试。
5、记录实验结果（选做）