智慧树知到《生物医学电子学》章节测试答案

智慧树知到《生物医学电子学》章节测试答

案

智慧树知到《生物医学电子学》章节测试答案

第一章

1、运算放大器的名字由来是

A.速度快

B.增益高

C.输出幅值大

D.输入电阻大

答案: 增益高

2、运算放大器的

A.输入幅值与输出幅值都可以超过其供电电源

B.输入幅值与输出幅值都可以等于其供电电源

C.输入幅值与输出幅值只能在供电电源范围以内

答案: 输入幅值与输出幅值只能在供电电源范围以内

3、普通运算放大器的开环增益为

A.100

B.1000

C.10000

D.100000

答案: 10000

4、

双极性运算放大器的输入电阻为

A.

1k

B.

10k

C.

100k

D.

1M

E.

10M

F:

>100M

答案:

1M

5、输入电阻最高的运算放大器是

A.双极性

B.结型场效应管

C.CMOS

答案: CMOS

第二章

1、设计三极管放大电路需要

A.选择准确b值的三极管

B.采用深度负反馈

C.限制输入信号的大小

D.增加集电极电阻以提高放大倍数

答案: 采用深度负反馈

2、反相放大器不需要在正输入端加平衡电阻场合是

A.精密直流信号放大

B.微弱交流信号放大

C.采用CMOS型运算放大器

D.输入电阻和反馈电阻在10k～100k的量级时

答案: 微弱交流信号放大,采用CMOS型运算放大器,输入电阻和反馈电阻在10k～100k的量级时

3、仪器中使用差动测量的原因是

A.可以实现高共模抑制比

B.可以实现高增益

C.可以实现相对测量

答案: 可以实现相对测量

4、用运算放大器构成交流反相放大器，以下参数影响不大的是：

A.输入偏置电流及其失调

B.输入失调电压及其温漂

C.白噪声

D.电源抑制比

答案: 输入偏置电流及其失调,输入失调电压及其温漂

5、设计低噪声直流信号放大器选择运算放大器的主要参数是

A.高输入阻抗

B.单位增益带宽

C.高压摆率

D.失调电压

E.失调电压温漂与失调电流温漂

F:输出电阻

答案: 失调电压,失调电压温漂与失调电流温漂第三章

1、设计三极管放大电路时需要

A.应用深度负反馈

B.准确地选择三极管的电流放大倍数

C.了解三极管本身的输入电阻

答案:A

2、

设计三极管放大电路时至少用到

A.微变等效电路

B.深度负反馈

C.基尔霍夫电压定律

D.欧姆定律

E.基尔霍夫电流定律

F:戴维南定律

答案:微变等效电路、深度负反馈、基尔霍夫电压定律、欧姆定律、基尔霍夫电流定律

3、反相放大器的输入电阻的选择依据是

A.前级放大器的驱动能力

B.运算放大器的输入电流

C.大家的习惯

D.容易得到的电阻阻值

E.电阻的稳定性

F:是否容易受到干扰

答案:前级放大器的驱动能力、运算放大器的输入电流、是否容易受到干扰

4、一般情况下，反相放大器输入电阻范围在

A.几十欧姆至几百欧姆

B.几百欧姆至几k欧姆

C.几k欧姆至几十k欧姆

D.几十k欧姆至几百k欧姆

E.几百k欧姆至几M欧姆

F:几M欧姆至几十M欧姆

答案:几百欧姆至几k欧姆、几k欧姆至几十k欧姆、几十k欧姆至几百k欧姆、几百k欧姆至几M欧姆

5、一般情况下，反相放大器可以具有

A.高通滤波器功能

B.低通滤波器功能

C.带通滤波器功能

D.带阻滤波器功能

答案:高通滤波器功能、低通滤波器功能、带通滤波器功能

第四章

1、 1/(1+x)在x<1时其麦克劳林级数是

A.交错调和级数

B.正交级数

C.发散级数

D.收敛级数

答案:交错调和级数、收敛级数

2、 1/(1+x)在x<1时其麦克劳林级数计算到n次项近似值的误差

A.<1/10

B.<1/100

C.<1/n

D.<1/x

的绝对值

答案:<1/x

的绝对值

3、本课说明，数学在电子学中的作用

A.有一点点

B.比较大

C.电子学离不开数学

答案:电子学离不开数学

4、电路的设计精度达到

A.十分之一就可以

B.百分之一就可以

C.千分之一就可以

D.万分之一就可以

E.越高越好

答案:万分之一就可以

5、以下说法正确的是

A.密勒定律是一个等效电路，不能实现

B.密勒定律是关于有放大器的双端口电路反馈电阻与输入电阻的等效关系

C.密勒定律中的放大器可以把常规电阻等效成“负”电阻

D.密勒定律中的放大器中的电阻也可以是电容

E.密勒定律中的放大器中的电阻也可以是电感

答案:

第五章

1、

任何一项测量，哪怕是测量“输入电阻”这样简单的参数，也必须在测量前了解和确定的信息是

A.被测量的性质

B.被测量的大致范围

C.测量的限制条件

D.测量时可能受到的干扰与影响

E.测量仪器的性能