数字电路实验四 利用MSI设计组合逻辑电路(二)

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数字电路与逻辑设计实验报告实验三利用MSI设计组合逻辑电路(二)

姓名:黄文轩

学号:17310031

班级:光电一班

一、实验目的

1.熟悉编码器.译码器数据选择器等组合逻辑功能模块的功能与使用方法。

2掌握用MSI设计组合逻辑电路的方法.

二、实验器件

1.数字电路实验箱数字万用表、示波器。

2.虚拟器件: 74LS151, 74LS00.

三、实验预习

1、使用数据分配器设计半加半减器

半加半减器的真值表如下表所示:

考虑到数据选择器的特性是根据传入的地址选择对应的数据,所以我们可以将S、A、B作为地址输入到74LS151的S2、S1、S0选择输入端,根据真值表的要求为D0~D7的数据输入端赋值(与高/低电平相连),即可实现预期功能。由于有两种不同的输出,

我们需要两块74LS151来实现。

电路连接图如下所示:

使用Multisum仿真检验正确性,以74LS197作为动态输入观察输出波形,仿真结果如下图所示:

波形可以与真值表对应,我们判断这种电路接法是有效正确的。

二、使用74LS151设计逻辑单元

逻辑单元的真值表如下图所示:

74LS151输入端有三个,而目标逻辑单元有四个输入端,我们可以借助芯片的八个数据输入端置入第四个输入。

考虑对S1、S0、A的任一状态,输出Y可以表示为Y = f(B)的函数形式,因此只需要对每个状态,把B按照对应的逻辑接在D0~D7的数据输入端即可。

每个地址对应的逻辑如下表所示:

这样我们可以得到使用一个与非门和74LS151芯片实现的逻辑单元,其电路图如下:

使用Multisum仿真检验正确性,以74LS197作为动态输入观察输出波形,仿真结果如下图所示:

同样实现了目标的逻辑功能,我们判断这种接法有效正确。

四、实验内容

1、具体内容

①AU(Arithmetic Unit,算术单元)设计,在实验箱上实现。

设计一个半加半减器,输入为S、A、B,其中S为功能选择口。当S-0时输出A+B 及进位:当S=1时,输出A-B及借位。使用74LS151 实现,可分两次连线单独记录和/差结果、进/借位结果,或使用两块74LS151实现。

②LU(Logic Unit,逻辑单元)设计,在实验箱上实现。

用八选一数据选择器151设计一个函数发生器电路。待静态测试检查电路工作正常后,进行动态测试。将74LS197 连接成十六进制作为电路的输入信号源,用示波器观察并记录CP、S1、S0、A、B、Y的波形

2、设计过程

①因为实验中要用到两块74LS151芯片,我们把它们命名为74LS151A和74LS151B。将74LS151A、74LS151B的S2、S1、S0端口作为输入端S 、A、B,选通输入端E—接低电平,数据输入端D0~D7 接恒定电压。74LS151A的D0、D3、D4、D7接低电平,D1、D2、D5、D6接高电平,74LS151B的D0、D1、D2、D4、D6、D7接低电平,D3、D5接高电平。这样,74LS151A的数据输出端Z输出和\差结果Q,74LS151B的数据输出端Z就输出进\借位结果C。

②将74LS151芯片的S2、S1、S0端口作为输入端A、S1、S0, 选通输入端E—接低电平,D0、D7接低电平,D3、D6接高电平,D1、D2、D4接输入端B,输入端B接入反相器(使用74LS00的一个输入端,另一输入端接高电平),反相器的输出接入D5。这样,74LS151的数据输出端Z输出逻辑单元的运算结果Y。

五、测试过程

①由于器件不足,这里只使用了一块74LS151芯片,分两次记录和\差结果Q和进\借

位结果C。

实验接线图:

使用74LS197作为动态输入信号,记录动态输出

动态测试波形图:

和\差结果Q

波形从上到下依次是和差结果Q,动态输入Q2、Q1、Q0。

进\借位结果C

波形从上到下依次是进\借位结果C,动态输入Q2、Q1、Q0。

可以看到,实验波形与理论仿真得到的波形一致,再次证明了我们接法的正确性。该种接法相对于前两种实现方式较容易设计(不需要对逻辑表达式化简,只需要将真值表用固定电平表示出来),但相对接线也比较复杂,使用的器件数目也较多,与其他方法互有优劣

②实验接线图:

实验波形图:

波形从上到下依次是时钟信号、输入信号B、输入信号A、功能控制信号S0、功能控制信号S1、输出运算结果Y。从图中容易看出S1=0,S0=0时执行与门效果,S1=0,S0=1时执行或门效果,S1=1,S0=0时执行异或门效果,S1=1,S0=1时执行反相器效果。与仿真结果也一致,判断设计出的逻辑单元正常工作。

此外,明显可以看出输出信号中含有大量的噪声信号。分别出现在S1、S0=01时,AB:01->10, S1、S0=10时,AB:01->10, S1、S0=11时,AB:10->11。考虑到噪声产生的原因有1、输入计数器信号在每两个状态之间存在延迟2、实验中使用的一个门电路存在传输延迟,3、74LS151的选出地址切换存在延迟。

如果是74LS151芯片的状态切换引起的延迟,那么信号A、S1、S0的每次跳动都会造成一次假信号,而波形中只有三种假信号,所以我们排除这种可能。

在S1、S0=01时,AB:01->10:

芯片选择的输出端从D1切换到了D5,D1 = B,D5 = 1. 波形存在一个短暂的假0信号,简单分析后我们得出:在地址输入(A S1 S0)从001变化到101之前,B就先行从1变化到0,使得D1 = B = 0,造成了短暂的低电平假信号。该传输延迟应来自于串行计数器74LS197输出的Q0、Q1间的延迟(即A、B间的延迟)。

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