ch02超声波检测仪器探头及试块

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超声波检测仪器、探头及试块
三、A型显示模拟机的工作原理(阻塞效应)
同步电路
扫描电路
发射电路
接收放大电路
电源电路
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四、模拟仪器的面板 CTS-22型仪器面板 1影响回波高度的旋钮 (1)衰减器 总衰减量 80dB 最小衰减量 2dB 对波高的调节是断续的。 是在仪器调节完成后,实际探伤过程中,唯一可以调节的旋 钮。 (2)增益 回波高度连续可调 但不能准确读出调节的dB 数。总调节量约8dB
CTS-23、26型仪器面板 介绍各面板上与CTS-22型的差异和作用
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超声波检测仪器、探头及试块
总结: (1)仪器主要有六个组成部分 同步电路、扫描电路、发射电路、接收放大电路、显示电路、 电源电路。 (2)每个电路的主要作用。 (3)仪器的重复频率 (4)仪器的阻塞效应 (5)始脉冲 (6)模拟仪器回波读前沿,数字仪器可以读前沿,也可以读 波峰。
超声波检测仪器、探头及试块
超声波检测仪器、探头、试块是超声探伤的重要设备组 成部分。一般的探伤系统:
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超声波检测仪器、探头及试块
第一节 超声波检测仪器
一、仪器的作用
1 发射电脉冲
2 接收从探头返回的电信号 二、仪器的分类 1 按原理分 (1)共振法(频率可变的超声波在工件中形成驻波的情况) (2)穿透法(指示穿透的能量) (3)脉冲反射法(指示反射的能量和运行时间) 2 按显示方式分 (1)A型显示 横坐标代表时间(距离),纵坐标代表反射的能量(幅度)
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超声波检测仪器、探头及试块
数字仪器的采样频率对缺陷的定位和定量有很大影响。 实际中,采样频率越高越好。 模拟仪器与数字仪器对声程的描述原理不同(横波表现明显)
W=C·t (C是否准确,直接影响对缺陷的定位)
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(3)抑制 作用:降低杂波水平。 问题:可能改变仪器 的垂直线性。 举例说明。 (4)发射强度 结合“工作方式”说明 方式1:固定发射强度。 方式2:发射强度可调。 方式3:一发一收状态。此方式下只用一个探头时,屏幕上不 会出现伤波。
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六、探头的型号
源自文库编号规则
基本频率—晶片材料—晶片尺寸—探头种类—特征
2.5
Q
20
Z
5
P
13X13
K
1.5
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一、试块的分类 1 标准试块 2 对比试块
第三节 试块
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(不是唯一的) 2 电能→声能 逆压电效应 发射超声波
声能→电能 正压电效应 接收超声波
U
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3 常见压电材料
单晶体:石英等
多晶体:锆钛酸铅(PZT)等
三、压电晶体的主要性能参数
1 压电应变常数 d33 单位电压下所产生的变形量—与发射性能有关
2 压电电压常数 g33 单位变形量下所产生的电压—与接收性能有关
3 居里温度
4 频率常数
tCt•f C
2 2f
2
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讨论:(1)超声波频率与晶片的厚度有关 (2)PZT材料的声速:4000m/s
四、探头的分类 1 按通道数分 2 按聚焦性分 3 按波型分 五、探头的结构 1 直探头 组成:压电晶片 阻尼块(吸收块)
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第二节 探头
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一、探头的作用 1 发射超声波 2 接收超声波并将其转换为电信号。
因其不断进行电能与声能的转换,故称为换能器。
二、压电效应
1 目前工业上探头制做应用最多的,是采用压电原理。
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(3)脉冲移位 (水平、延迟) 特点:不改变回波间距 使全部回波前移或后移 在测距的标定过程中 此旋钮非常重要。 3 其它旋钮 (1)探头线接插口 (2)聚焦 (3)电源开关(电压指示)
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2 影响回波位置的旋钮 (1)深度粗调 对不同声程的工件选择 不同档位。 档位数据有5倍余量。 仔细的调节靠“深度细调” (2)深度细调 在一定范围内,改变回波之间的间距,从而使全屏幕水平代 表不同的声程。 问题:实际探伤中,一般要使用1/2以上的屏幕,为什么? (定位精度的解释)
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(2)B型显示 (3)C型显示 (4)P型显示等其它显示方式。
B
C
A
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3按电路原理分 (1)模拟型 代表型号CTS-22、CTS-23、CTS-26 (2)数字型 代表型号KW-4、NDC-1、KW-4C等。
保护膜 匹配线圈 外壳
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2 斜探头 基本结构与直探头相同, 独特部分是为了产生横 波而增加了“斜楔”。 (关于斜楔的 V型槽、反射情况)
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3 联合双探头(双晶探头) 使用联合双探头时, 仪器的工作方式必须 使用收—发状态。 主要特点是近表面缺 陷检测灵敏度高。
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二、常用标准试块 1 CSK-IA (1)外形 与IIW试块的区别
有机玻璃
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(2)作用 a)水平线性测试
X 水平m量ax 程 100%
b)测距的标定
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超声波检测仪器、探头及试块
c)距离分辨力的测定
R 20lg H波峰 H波谷
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2 CS-1-5 (1)外形
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