汽车电子元器件AECQ认证资料大全

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汽车电子元器件AEC-Q系列认证

AEC的历史

AEC是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”的简称。

1992年，GeraldServais会见了Jerry Jennings(克莱斯勒)，谈话内容包括在电子零件资格认证领域遇到的一些共同困难，提到了共同资格规格的概念，认为这是改善这种情况的一种可能办法。在随后的JEDEC会议上，Servais讨论了与Robert Knoell(福特)的这种可能的合作。这些初步讨论表明，这一概念可能是可行的。Knoell先生和他的老板EarlFischer讨论了这个想法，并于1993年1月在DelcoElectronics召开了一次会议。在这次会议上，讨论了各公司采用的各种资格认证办法。它决定，共同资格规格的想法是可行的，并开始工作的Q100(集成电路的压力测试资格)不久。在开发Q100期间，主要的IC供应商有机会对该文件进行评论。在1994年6月于丹佛举行的一次会议上，向我们所有的IC供应商提交了最初的版本AECQ100。

AEC Founders from L-R Earl Fischer(Ford)，Gerald Servais(Delco Electronics-GM)，Jerry Jennings (Chrysler)，Robert Knoell(Ford)

AEC-Q认证的概念

克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一

起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC 建立了质量控制的标准。同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零部件市场的快速成长打下基础。主要的汽车电子成员有：Autoliv（奥托立夫）,Continental（大陆）,Delphi（德尔福）,Johnson Controls （江森自控）和Visteon（伟世通）。

要进入车辆领域，打入各一级汽车电子大厂供应链，必须取得两张门票，一张是由北美汽车产业所推的AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯片组件)、AEC-Q200(被动组件)可靠性标准；第二张则要符合零失效(Zero Defect)的供应链质量管理标准ISO/IATF 16949规范(Quality Management System)。如果产品通过AECQ认证,那么可以说是能取得车厂的敲门砖。不仅能提高产品自身的质量，还能帮助拓展汽车行业市场。

作为车规验证标准，包括AEC-Q100(主动元件)、AEC-Q101(离散半导体)与AEC-Q200(被动元件)三份标准，其中AEC-Q100是AEC的第一个标准。AEC-Q100于1994年6月首次发表，经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。其中汽车电子元器件来说AEC-Q100是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q200等规范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则。

华碧实验室将以下规范列出供大家参考使用：

AEC-Q100Rev-G base:集成电路的应力测试

AEC-Q100-001邦线切应力测试

AEC-Q100-002人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试

AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试

AEC-Q100-007故障仿真和测试等级

AEC-Q100-008早期寿命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009电分配的评估

AEC-Q100-010锡球剪切测试

AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-01212V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC-Q101Rev-C:分立半导体元件的应力测试标准（包含测试方法）

AEC-Q101-001-Rev-A:人体模式静电放电测试

AEC-Q101-002-Rev-A:机械模式静电放电测试

AEC-Q101-003-Rev-A:邦线切应力测试

AEC-Q101-004-Rev-:同步性测试方法

AEC-Q101-005-Rev-A:带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q101-006-Rev-:12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC-Q200Rev-C:半导体被动元件的应力测试标准（包含测试方法）

AEC-Q200-001-Rev-A:阻燃性能测试

AEC-Q200-002-Rev-A:人体模式静电放电测试

AEC-Q200-003-Rev-A:断裂强度测试

AEC-Q200-004-Rev-:自恢复保险丝测量程序

AEC-Q200-005-Rev-:PCB板弯曲/端子邦线应力测试

AEC-Q200-006-Rev-:端子应力（贴片元件）/切应力测试

AEC-Q200-007-Rev-:电压浪涌测试

华碧实验室多年来致力于AEC-Q系列认证服务，始终以专业、精准、快速、的全面品质保障，为客户制胜市场保驾护航。凭借业内500余名技术人员,1200余台专业仪器，以精进的品质控制手段，打造创新和定制的保障、测试、检验和认证解决方案，为客户的运营和供应链带来全方位的安心保障。

AEC-Q100

Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated

Circuits