紫外成像原理和应用中文..
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各位领导、各位专家、各位同行： 早上好！ 非常荣幸向大家介绍紫外成像检测产品 与技术； 本次介绍分5部分： 1，紫外技术的应用背景； 2, 以色列OFIL公司紫外成像检测系统； 3, 機載系統 報告人: 4, 列車巡檢系統 黃國揚 5, 判定分級與ROI
以色列OFIL公司
DayCor® 紫外系统系列产品
100
Relative Intensity
x100
50
200
300
400 Wavelength (nm)
500
0
广泛应用于白天检测！
夜间可见
常规电晕放射光谱
双波段成像仪
紫外通道检测到电晕 形成电晕图象 可见光通道提供背景环境场景图 形成背景可见光图象 组合2个通道的图片,得到电晕的定位图.
注册专利:
以色列 美国 & 欧洲
双波段成像过程图
250 kV
组合图象（定位）
显示可见光图象
显示紫外图谱
湿度-高湿度有利电晕的形成
电晕产生腐蚀性物质 :
• 臭氧 • 当有水粒子时会产生氧化氮 • 硝酸
电晕的影响 :
引致:
• • • • • 复合绝缘子(NCI)退化. 零部件受损. 陶瓷绝缘子的金属帽子,钢钉和水泥受损. 操音 (AN) 无线电和电视传播干扰 (RI)
无线电干扰 (RI)
电晕是一个问题, 因为 :
它显示 :
• 可能破损 • 不当安装 • 短路喇叭陶瓷绝缘子 • 空隙放电 • 硬件松脱 • 污染 • 腐蚀或浸蚀 • 传导体破损 • 差劣接地
可能破损
在电容和电刷的连接发现电晕
可能破损
不当安装
短路喇叭陶瓷绝缘子
E=dV/dX
短路喇叭陶瓷绝缘子(零值絕緣子)
SnoKing Tap 段电缆 海藻
污染物 Monroe-Custer 段电缆
操音 (AN)
无线电干扰 (RI)
2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电干扰
无线电干扰 (RI)
时序 • 2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电 干扰 • 无线电干扰由1到20分钟 • 通常在潮湿天气 • 无线电干扰分散在8个地方 • 在4.16kV, 12.47kV, 115kV有绝缘子问题, FAA控制塔有接地问题 • 维修在2004件6月完成 • 2004年11月美国联邦航空局发嘉许信给Ofil
共5款型号，本次将逐一介绍………..
DayCor® 紫外成像技术
DayCor® 紫外成像技术是通过观察设备的 “电晕”及“电弧” 来判断设备的故障所在位 置(例如断股，污染，裂纹、绝缘介质破坏等 现象）； 是与红外互补的一项检测技术；
DayCor® 紫外成像技术可以帮助您
DayCor® 紫外成像技术 发现早期局部缺陷,提出预警; 对重要系统部件提供评估工具; 监控设备运行,避免设备带缺陷运行,避免重大 事故的发生.
接地 4 3
短路喇叭陶 瓷绝缘子
100 kV
2
1
E=dV/dX=0没有电晕
{
dV=0
空隙放电
硬件松脱
污染
污染
腐蚀或浸蚀
腐蚀引致电晕
恶性循环
电晕助长腐蚀
最终导致钢钉浸蚀以致电缆倒塌
腐蚀或浸蚀
腐蚀或浸蚀
传导体破损
差劣接地
感谢各位!
Βιβλιοθήκη Baidu
复合绝缘子(NCI)退化
零部件受损
右弦
左弦
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
退化的水泥引致电晕
恶性循环
电晕引致水泥退化
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
操音 (AN)
两条500kV的电缆同时在建, 其中一条 Monroe-Custer段从开始便于500kV运作. 另 外一条SnoKing Tap段以 230kV运作但改变 为500kV.
电晕效应
空气离子化会产生发光的电晕
紫外光子
e
紫外光子
e
+ e
-V
e
e
+
E field
e + e
e
紫外光子
影响电晕放电的原因
当电墙的参数超过这个关键数值, 电晕便会发生 E critical = 24-30 千伏/公分
影响电晕放电的原因
• 气压
• 低气压 低 E critical 电晕数量增加
近红外
Solar Radiation (µW/cm2/nm ) 120 100
10 Filter Transmission (%)
8
80
6 60 4 40 2 20
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
Wave length (nm)
电晕发射紫外波段
太阳光盲区波段 电晕、电弧等放电现象的 光谱分析表明放电现象都会产 生不同波长的紫外光，波长范 围230～405nm，其中240～ 280nm的光谱段称为太阳盲区， 在此波长范围内由太阳传输来 的紫外光份量极低; 由于拥有Ofil的太阳盲滤 镜, Daycor 紫外成像仪可以在 阳光底下探测到240-280nm的 微弱电晕辐射.
• 湿度
• 高湿度有利电晕的形成
• 温度
• 高温 低气压 • 低 E critical 电晕数量增加
影响电晕放电的原因
e
e
低气压
碰撞距离较远
+
低 ECritical
e
e
e
+ e
高气压
碰撞距离较近
高 ECritical
OFIL紫外成像仪具备太阳光全盲滤镜
12
UV C B A
Visible
140
以色列OFIL公司
DayCor® 紫外系统系列产品
100
Relative Intensity
x100
50
200
300
400 Wavelength (nm)
500
0
广泛应用于白天检测！
夜间可见
常规电晕放射光谱
双波段成像仪
紫外通道检测到电晕 形成电晕图象 可见光通道提供背景环境场景图 形成背景可见光图象 组合2个通道的图片,得到电晕的定位图.
注册专利:
以色列 美国 & 欧洲
双波段成像过程图
250 kV
组合图象（定位）
显示可见光图象
显示紫外图谱
湿度-高湿度有利电晕的形成
电晕产生腐蚀性物质 :
• 臭氧 • 当有水粒子时会产生氧化氮 • 硝酸
电晕的影响 :
引致:
• • • • • 复合绝缘子(NCI)退化. 零部件受损. 陶瓷绝缘子的金属帽子,钢钉和水泥受损. 操音 (AN) 无线电和电视传播干扰 (RI)
无线电干扰 (RI)
电晕是一个问题, 因为 :
它显示 :
• 可能破损 • 不当安装 • 短路喇叭陶瓷绝缘子 • 空隙放电 • 硬件松脱 • 污染 • 腐蚀或浸蚀 • 传导体破损 • 差劣接地
可能破损
在电容和电刷的连接发现电晕
可能破损
不当安装
短路喇叭陶瓷绝缘子
E=dV/dX
短路喇叭陶瓷绝缘子(零值絕緣子)
SnoKing Tap 段电缆 海藻
污染物 Monroe-Custer 段电缆
操音 (AN)
无线电干扰 (RI)
2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电干扰
无线电干扰 (RI)
时序 • 2003年9月 –美国联邦航空局控制塔的无线电 干扰 • 无线电干扰由1到20分钟 • 通常在潮湿天气 • 无线电干扰分散在8个地方 • 在4.16kV, 12.47kV, 115kV有绝缘子问题, FAA控制塔有接地问题 • 维修在2004件6月完成 • 2004年11月美国联邦航空局发嘉许信给Ofil
共5款型号，本次将逐一介绍………..
DayCor® 紫外成像技术
DayCor® 紫外成像技术是通过观察设备的 “电晕”及“电弧” 来判断设备的故障所在位 置(例如断股，污染，裂纹、绝缘介质破坏等 现象）； 是与红外互补的一项检测技术；
DayCor® 紫外成像技术可以帮助您
DayCor® 紫外成像技术 发现早期局部缺陷,提出预警; 对重要系统部件提供评估工具; 监控设备运行,避免设备带缺陷运行,避免重大 事故的发生.
接地 4 3
短路喇叭陶 瓷绝缘子
100 kV
2
1
E=dV/dX=0没有电晕
{
dV=0
空隙放电
硬件松脱
污染
污染
腐蚀或浸蚀
腐蚀引致电晕
恶性循环
电晕助长腐蚀
最终导致钢钉浸蚀以致电缆倒塌
腐蚀或浸蚀
腐蚀或浸蚀
传导体破损
差劣接地
感谢各位!
Βιβλιοθήκη Baidu
复合绝缘子(NCI)退化
零部件受损
右弦
左弦
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
退化的水泥引致电晕
恶性循环
电晕引致水泥退化
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
陶瓷绝缘子的金属和水泥帽子受损
操音 (AN)
两条500kV的电缆同时在建, 其中一条 Monroe-Custer段从开始便于500kV运作. 另 外一条SnoKing Tap段以 230kV运作但改变 为500kV.
电晕效应
空气离子化会产生发光的电晕
紫外光子
e
紫外光子
e
+ e
-V
e
e
+
E field
e + e
e
紫外光子
影响电晕放电的原因
当电墙的参数超过这个关键数值, 电晕便会发生 E critical = 24-30 千伏/公分
影响电晕放电的原因
• 气压
• 低气压 低 E critical 电晕数量增加
近红外
Solar Radiation (µW/cm2/nm ) 120 100
10 Filter Transmission (%)
8
80
6 60 4 40 2 20
200
300
400
500
600
700
800
900
1000
Wave length (nm)
电晕发射紫外波段
太阳光盲区波段 电晕、电弧等放电现象的 光谱分析表明放电现象都会产 生不同波长的紫外光，波长范 围230～405nm，其中240～ 280nm的光谱段称为太阳盲区， 在此波长范围内由太阳传输来 的紫外光份量极低; 由于拥有Ofil的太阳盲滤 镜, Daycor 紫外成像仪可以在 阳光底下探测到240-280nm的 微弱电晕辐射.
• 湿度
• 高湿度有利电晕的形成
• 温度
• 高温 低气压 • 低 E critical 电晕数量增加
影响电晕放电的原因
e
e
低气压
碰撞距离较远
+
低 ECritical
e
e
e
+ e
高气压
碰撞距离较近
高 ECritical
OFIL紫外成像仪具备太阳光全盲滤镜
12
UV C B A
Visible
140