岩矿鉴定培训讲义

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晶体消光时,目镜十字丝平分两组解理缝或两个
晶面迹线夹角。如角闪石垂直解理切面。
2014年11月9日 13
岗位培训
④ 斜消光:
晶体消光时,解理缝、双晶缝或晶棱与目镜十字丝 斜交。如普通辉石。
平行消光
对称消光
斜消光
2014年11月9日
14
岗位培训
3. 消光角:
晶体在斜消光时,其
45°
光率体椭圆半径与解理缝、
表面光滑,边缘不清楚,提升 镜筒,贝克线向树胶移动
表面略显粗糙,边缘清楚 糙面显著,边缘明显而且较粗
石英 中长石
透闪石 磷灰石 辉石 十字石
正极高突起
>1.78
糙面显著,边缘很宽
榍石 石榴石
2014年11月9日
10
岗位培训
正交偏光下鉴定内容
1. 干涉色、干涉色级序: 干涉色出现的规律为:黑-暗灰-灰白-淡黄 -黄-橙-红-蓝-绿-黄-红-蓝-绿-黄-红 -蓝-绿-黄-红…… ,变化顺序固定不变。 干涉色级别由低到高 ,一般分为四级,一级为 暗灰、灰白、黄、红,二、三、四级都是蓝、绿、
2014年11月9日
29
岗位培训
光性符号测定 P
P
A
A
A A
AP
P
P Np Nm
P Ng
A
Nm
Bxa=Ng(+)
Bxa=Np(-)
2014年11月9日
30
岗位培训 垂直一个光轴切面的干涉图
2014年11月9日
31
岗位培训 垂直一个光轴切面的干涉图
光性符号测定
0° AP
AP
光轴
45º
光轴
Nm (+)
晶体延性符号测定步骤示意图
2014年11月9日 17
岗位培训
4. 双晶及类型:
双晶是指两个或两个以上的同种晶体,彼此间 按一定对称关系相互结合而成的规则连生体。 在正交偏光镜下,表现为相邻两个单体不同时消 光,呈现一明一暗的现象。
简单双晶、复式双晶
2014年11月9日
18
岗位培训
聚片双晶
卡斯巴双晶
单偏光下鉴定内容
1. 形态:
矿物某个方向的切面形态或集合体形态
2014年11月9日
4
岗位培训
2. 解理、裂理:
沿一定方向排列的细缝线,即解理。
裂理一般不平直,多数弯曲,定向性不明显
2014年11月9日
5
岗位培训
3. 颜色和多色性、吸收性:
在单偏光镜下,随着光波的振动方向的不同
(旋转物台),而使矿片颜色发生改变的现象称为 多色性。(常见有电气石、黑云母、角闪……)
使矿片颜色深浅发生改变的现象称为吸收性。
2014年11月9日
6
岗位培训
4. :糙面、贝克线: 在单偏光镜下,可见有些矿物表面粗糙呈麻点
状,这种现象就是矿物的糙面。
单偏光下在矿物的边缘 有一条比较亮的细线,当升降 镜筒时亮线发生移动,这条亮 线称:贝克线。
2014年11月9日
7
岗位培训
2014年11月9日
斜交光轴的斜交切面干涉图
2014年11月9日
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
34
岗位培训
垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图
斜交光轴面的斜交光轴切面干涉图
2014年11月9日
35
岗位培训 二轴晶⊥Bxo切面干涉图
为一较粗大模糊的 黑十字,若有干涉色色 圈,则色圈稀疏;旋转 物台,黑十字迅速分裂 成两黑带,并沿AP方向 逸出视域。(10°35°)
2014年11月9日 37
岗位培训
二轴晶光轴角的测定
2V角的目估方法
原理:当光轴面迹线与上、下偏光 振动方向成 45°夹角时,黑带的 曲度与光轴角大小成反比。曲度愈 大, 2V 角愈小,黑带愈直,光轴 角愈大。 估计方法:转动物台使光轴面 迹线位于二、四象限 45°位, 弯曲黑带凸向第二象限,根据 黑带弯曲程度,与图对比,估 计光轴角的大小。
正延性:
晶体延长方向与慢光(Ng)方向平行或夹角小于45° 负延性: 晶体延长方向与快光(Np)方向平行或夹角小于45°
2014年11月9日
16
岗位培训
平行消光的切面
使延长方向平 行纵丝,消光 顺时针旋转 45°使干涉 色最亮 插入试板,干涉色 升高为正延性,降 低为负延性
斜消光的切面
a 使延长方向平 行纵丝,记下a b 旋至消光位, 记下b 顺时针旋45° 使干涉色最亮 插入试板,按干涉 色升降和a – b 的值确定延性
光性符号测定
视域中为一粗大而模 糊的黑十字,几乎占满 视域,只在四个象限边 缘出现干涉色. 稍转物台(12º-15º), 黑十字从中心分裂,并 沿光轴方向迅速逸出视 域,因变化迅速,故称为瞬 变干涉图或闪图.
P
A
光轴方向
A
P
2014年11月9日
25
岗位培训
光性符号测定
小角度斜交光轴切面干涉图
Ne′ No
2014年11月9日 9
岗位培训
突起等级 负高突起 折射率 <1.48 糙面及边缘等特征 糙面及边缘显著,提升镜筒, 贝克线向树胶移动 表面光滑,边缘不明显,提升 镜筒,贝克线向树胶移动 实例 萤石
负低突起
1.48-1.54
正长石
正低突起
正中突起 正高突起
1.54-1.60
1.60-1.66 1.66-1.78
Ne′
No
A.(+)
C ( +)
B.(-)
D ( -)
2014年11月9日
26
岗位培训
光性符号测定
大角度斜交光轴切面干涉图
Ne’ No
2014年11月9日
27
岗位培训
1. 二轴晶: 二轴晶光率 体是以Ng、Nm、
Np为半径的三
轴不等的椭球体
2014年11月9日
28
岗位培训 垂直锐角等分线(Bxa)干涉图
2014年11月9日
39
2014年11月9日
40
等生产和科研部门
2014年11月9日 2
岗位培训
透明矿物薄片鉴定
1. 单偏光: 矿物形态、解理及其夹角、颜色和多色性、吸收 性、贝克线、糙面、突起和闪突起。 2. 正交偏光: 干涉色、消光类型及消光角、延性符号、双晶及 类型。 3. 锥光系统:
轴性、光性符号、光轴角。
2014年11月9日 3
岗位培训


Ne′ Ne′ No No
降 升
No
Ne′
升 降
Ne′
Ne′
Ne′
A (+ )
B (- )
1、3象限干涉色升高,2、4象限干涉色降低为正光性, 反之为负光性
2014年11月9日 23
岗位培训
光性符号测定
石英垂直光轴切面的光性确定
方解石垂直光轴切面的光性确定
2014年11月9日 24
岗位培训
平行光轴切面干涉图
2014年11月9日 21
岗位培训
①. 一轴晶:
一轴晶 的光率体是 一个以c轴 为旋转轴的
旋转椭球体
Ne
N o
Ne
No
2014年11月9日
22
岗位培训
垂直光轴切面干涉图
光性符号测定
干涉图由一个黑十字和同心环状干涉色色圈组成 旋转物台360º,干涉图不变化。
Ne′ No
降 升
Ne′ No No No No
格子双晶
2014年11月9日
19
岗位培训
锥光下鉴定内容
1. 轴性、光性:
一 轴 晶
非均质 体矿物
正光性
负光性
透明 矿物
正光性 二 轴 晶 负光性
均质 体矿物
2014年11月9日
20
岗位培训
方法 在正交偏光系统的基础上,加入聚光镜并将镜
筒提升到最高位置,换用高倍物镜,推入勃氏镜,便
构成了锥光系统。 均质体: 光学性质各方向一致, 任何方向的入射光都不发生 双折射, 在正交偏光镜间全 消光.
P A Bxo A
P
2014年11月9日
36
岗位培训
平行光轴的切面干涉图
P
A
A
P 当Bxa和Bxo分别平行PP、AA时,为一粗大模糊的黑 十字,几乎占据整个视域;旋转物台,黑十字分裂并迅速 沿Bxa方向退出视域(7°-12°) :瞬变干涉图或闪图
显然,与一轴晶∥OA切面干涉图相似,故不能用来 确定轴性。
2014年11月9日
黑带弯曲程度与2V大小关系
38
岗位培训
单偏光:
★实例:普通角闪石的系统鉴定
长柱状,正中偏高突起,具有两组完全解理,解理夹 角56°。多色性:Ng=深绿色,Nm=绿色,Np=浅绿色。 吸收性: Ng> Nm > Np。 正交偏光: 最高干涉色级序为二级蓝,最大消光角: Ng∧C=23°,正延性。 锥光: 二轴晶,负光性,光轴角为60°。
Nm
(-)
2014年11月9日
32
岗位培训
斜交切面的干涉图
斜交切面干涉图的图像特点取决于斜交切面的类 型,一般有:
1、斜交Bxa的斜交切面干涉图
2、斜交光轴的斜交切面干涉图 3、垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图 4、斜交光轴面的斜交光轴切面干涉图
2014年11月9日
33
岗位培训
斜交Bxa的斜交切面干涉图
黄、红,相邻颜色间没有截然界线,而成过度状态。
2014年11月9日
11
岗位培训
四级以上的干涉色相互混合,呈现出稍带
玫瑰色的白色,称为高级白。
2014年11月9日
12
岗位培训
2. 消光类型: ①全消光: 旋转物台一周, 均质体或非均质体垂直光轴切片
的消光现象不改变。
②平行消光: 晶体消光时,解理缝、双晶缝或晶棱与目镜十字 丝平行。如黑云母。 ③ 对称消光:
双晶缝或晶棱之间的夹角 称为消光角,也就是晶体
切片在消光时,其解理缝、
双晶缝或晶棱与目镜十字 丝的夹角。
b1
45°
2014年11月9日
15
岗位培训
3. 延性、延性符号:
柱状、针状、板柱状晶体,其长度方向往往大于宽度 方向,这类晶体称为有延长方向或有延性的晶体。 根据晶体延长方向与光率体主轴间的关系,延性可分 为两类。
8
岗位培训
5. 突起和闪突起:
在薄片中,各种不同的矿物表面好像高低不相同,某
些矿物显得表面高一些,某些矿物则显得低平一些,这种 现象称为突起。 旋转物台,非均质体矿片的边缘、糙面及突起高低 发生明显改变的现象称为闪突起。
区别矿物突起的正负,必须借助于贝克线或色散效
应。当矿物与加拿大树胶接触时,提升镜筒,贝克线向矿 物内移动时属于正突起;贝克线向加拿大树胶移动属于负 突起;
岗位培训
岩石鉴定基础
——晶体光学
发布人:杨 召
勘探开发研究院实验中心
2014年11月9日 1
岗位培训
研究内容:
概述
利用偏光显微镜在单偏光、正交偏光和锥光下对 透明矿物薄片进行系统的光学性质测定,以鉴定未
知矿物。
目标: 掌握偏光显微镜下研究、鉴定透明矿物的基本方
法;掌握常见矿物的鉴定特征.
应用: 岩石学、矿物学;玻璃、陶瓷、冶金、医药、化工
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