第十三章 先进封装技术
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尹小田
BGA的类型 的类型
陶瓷球栅阵列( 陶瓷球栅阵列(CBGA) ) 又称:焊料球载体( 又称:焊料球载体(SBC) ) 主要特点: 主要特点: 1. 组件拥有优异的热性能和电性能; 组件拥有优异的热性能和电性能; 2. 与QFP相比,较少受机械损伤的影响; 相比, 相比 较少受机械损伤的影响; 3. 当装配到具有大量 (>250)应用的 当装配到具有大量I/O( 上时, )应用的PCB上时,具有 上时 非常高的封装效率; 非常高的封装效率;
尹小田
BGA的类型 的类型
载带球栅阵列( 载带球栅阵列(TBGA) ) 又称:阵列载带自动键合( ),是较新颖的 形式。 又称:阵列载带自动键合(ATAB),是较新颖的 ),是较新颖的BGA形式。 形式 特点: 特点: 1、比绝大多数的BGA封装要轻和小; 、比绝大多数的 封装要轻和小; 封装要轻和小 2、比QFP器件和绝大多数 、 器件和绝大多数BGA封装的电性能好; 封装的电性能好; 器件和绝大多数 封装的电性能好 3、装配到PCB上具有非常高的封装效率。 、装配到 上具有非常高的封装效率。 上具有非常高的封装效率
尹小田
尹小田
2、CSP技术 、 技术
芯片尺寸封装:指封装外壳的尺寸不超过裸片尺寸 倍的 芯片尺寸封装:指封装外壳的尺寸不超过裸片尺寸1.2倍的 一种封装形式。 向小型化、 一种封装形式。是BGA向小型化、薄型化方向的延伸。 向小型化 薄型化方向的延伸。 是目前体积最小的超大规模集成电路封装之一。 是目前体积最小的超大规模集成电路封装之一。表13.1. 特点: 特点: 1、封装尺寸小; 、封装尺寸小; 2、电学性能优良; 、电学性能优良; 3、测试、筛选、老化容易; 、测试、筛选、老化容易; 4、散热性能优良; 、散热性能优良; 5、内无须填料; 、内无须填料; 6、制造工艺、设备的兼容性好。 、制造工艺、设备的兼容性好。
尹小田
柔性基板封装: 柔性基板封装: 美国tessra开发,常采用PI或TAB工艺中相似的带状材料做 开发,常采用 或 美国 开发 工艺中相似的带状材料做 垫片,互连在垫片的一个面,焊球穿过垫片与互连层相连,方 垫片,互连在垫片的一个面,焊球穿过垫片与互连层相连, 式:TAB、倒装、引线键合。 、倒装、引线键合。 1、TAB 、 晶片→减薄、划片 内焊点键合→切割成型 晶片 减薄、划片→TAB内焊点键合 切割成型 减薄 内焊点键合 切割成型→TAB外焊点 外焊点 键合→模塑包封 基板上安装焊球→测试筛选 模塑包封→基板上安装焊球 测试筛选→激光打码 键合 模塑包封 基板上安装焊球 测试筛选 激光打码 2、倒装式: 、倒装式: 晶片→二次布线 (减薄)形成凸点→划片 倒装键合→模塑 划片→倒装键合 晶片 二次布线→(减薄)形成凸点 划片 倒装键合 模塑 二次布线 包封→基板上安装焊球 测试筛选→激光打码 基板上安装焊球→测试筛选 包封 基板上安装焊球 测试筛选 激光打码 3、引线键合式 、 晶片→减薄、划片 芯片键合 引线键合→模塑包封 芯片键合→引线键合 模塑包封→基板上 晶片 减薄、划片→芯片键合 引线键合 模塑包封 基板上 减薄 安装焊球→测试筛选 测试筛选→激光打码 安装焊球 测试筛选 激光打码
尹小田
结构有4部分:IC芯片、 芯片、 结构有 部分: 芯片 部分 互连层、焊球(凸点)、 互连层、焊球(凸点)、 保护层。 保护层。
CSP的类型 的类型
CSP的类型: 的类型: 的类型 柔性基板封装、 柔性基板封装、 刚性基板封装、 刚性基板封装、 引线框架式CSP封装、 封装、 引线框架式 封装 晶圆级CSP封装、 封装、 晶圆级 封装 薄膜型CSP。 。 薄膜型
尹小田
1、BGA技术 、 技术
BGA的特点: 的特点: 的特点 1、提高产品率; 、提高产品率; 2、BGA焊点的中心间距一般为 、 焊点的中心间距一般为1.27mm可利于 可利于SMT工艺设备; 工艺设备; 焊点的中心间距一般为 可利于 工艺设备 3、改进了器件引出端数和本体尺寸的比率; 、改进了器件引出端数和本体尺寸的比率; 4、明显改善共面问题,极大地减小了共面损坏; 、明显改善共面问题,极大地减小了共面损坏; 5、BGA引脚短,所以比 、 引脚短, 牢固。 引脚短 所以比QFP牢固。 牢固 6、BGA引脚短,使信号路径短,减小了引线电感和电容,增 、 引脚短,使信号路径短,减小了引线电感和电容, 引脚短 强了节点性能。 强了节点性能。 7、球形触点阵列有助于散热; 、球形触点阵列有助于散热; 8、BGA适合 、 适合MCM的封装需要,有利于实行 的封装需要, 的高密度、 适合 的封装需要 有利于实行MCM的高密度、 的高密度 高性能。 高性能。
尹小田
薄膜型CSP封装: 封装: 薄膜型 封装 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小; 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小;芯片上再 布线工艺,与凸点实现互连; 外引脚的凸点可在基片上任 布线工艺,与凸点实现互连; 意部位,易于标准化。 意部位,易于标准化。
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薄膜型CSP封装: 封装: 薄膜型 封装 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小; 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小;芯片上再 布线工艺,与凸点实现互连; 外引脚的凸点可在基片上任 布线工艺,与凸点实现互连; 意部位,易于标准化。 意部位,易于标准化。 制造工艺: 制造工艺: 1、布线工艺 、 2、装配工艺 、 3、CSP焊点接合部的疲劳特性。 、 焊点接合部的疲劳特性。 焊点接合部的疲劳特性
尹小田
BGA的类型 的类型
四种:塑料球栅阵列( )、陶瓷球栅阵列 四种:塑料球栅阵列(PBGA)、 陶瓷球栅阵列(CBGA)、 )、 陶瓷球栅阵列( )、 又称:整体模塑阵列载体( ) 陶瓷圆柱栅阵列( )、载带球栅阵列 又称:整体模塑阵列载体(OMPAC)载带球栅阵列(TBGA) 陶瓷圆柱栅阵列(CCGA)、载带球栅阵列( )、 ) 主要特点: 主要特点: 1. 制造商完全可利用现有装配技术和廉价的材料,成本低; 制造商完全可利用现有装配技术和廉价的材料,成本低; 2.与QFP器件比较,较少有机械损伤; 与 器件比较, 器件比较 较少有机械损伤; 3.装配到 装配到PCB上可以具有非常高的质量。 上可以具有非常高的质量。 装配到 上可以具有非常高的质量 面临的挑战: 面临的挑战: 保持封装体平面化、增强防潮(即防止“爆米花”现象)、 保持封装体平面化、增强防潮(即防止“爆米花”现象)、 管芯尺寸的可靠性问题。 管芯尺寸的可靠性问题。
尹小田
BGA的制备和安装 的制备和安装
以美国摩托罗拉公司生产的OMPAC为例: 为例: 以美国摩托罗拉公司生产的 为例 基板: 树脂 玻璃芯材被层压在两层18µm的铜箔间。 树脂/玻璃芯材被层压在两层 的铜箔间。 基板:BT树脂 玻璃芯材被层压在两层 的铜箔间 芯片用充银的环氧树脂粘在镀镍/金的薄膜上,固化; 芯片用充银的环氧树脂粘在镀镍 金的薄膜上,固化; 金的薄膜上 芯片和基板间用热超声波焊接; 芯片和基板间用热超声波焊接; 用热超声波焊接 用填有石灰粉的环氧树脂膜压料进行密封,固化; 用填有石灰粉的环氧树脂膜压料进行密封,固化; 用自动捡放机械手系统放焊料球,再流焊。 用自动捡放机械手系统放焊料球,再流焊。
尹小田
刚性基板封装: 刚性基板封装: 日本toshiba开发,常采用树脂和陶瓷做垫片,内层互连是 开发,常采用树脂和陶瓷做垫片, 日本 开发 通过多层陶瓷叠加或通孔实行,方式:倒装、引线键合。 通过多层陶瓷叠加或通孔实行,方式:倒装、引线键合。 1、倒装式: 、倒装式: 要先做凸点和用薄膜或厚膜技术在垫片上布线, 要先做凸点和用薄膜或厚膜技术在垫片上布线,然后进行凸 点倒装焊或超声波热压焊。 点倒装焊或超声波热压焊。 2、引线键合式 、 先制作多层布线的垫片后,常规引线键合。 先制作多层布线的垫片后,常规引线键合。
尹小田
CSP的应用 的应用
具有短、小、轻、薄的特点,在便携式、低针脚数、低功 具有短、 薄的特点,在便携式、低针脚数、 率产品中最小获得应用,内存是最大量采用CSP技术的产 率产品中最小获得应用,内存是最大量采用 技术的产 品。 截止到1997年,CSP已经应用到手机电话的内存、笔记本 年 已经应用到手机电话的内存、 截止到 已经应用到手机电话的内存 的存储器、摄录一体机、 卡等产品 卡等产品。 的存储器、摄录一体机、IC卡等产品。 1998年,推广到磁盘驱动器、个人数字助理、印码器; 年 推广到磁盘驱动器、个人数字助理、印码器; 都是小型的便携产品。 都是小型的便携产品。 应用存在的问题:标准化、可靠性、成本。 应用存在的问题:标准化、可靠性、成本。
尹小田
引线框架式CSP封装: 封装: 引线框架式 封装 日本fujitsu开发,互连做在引线框架上,方式:TAB/倒装 开发,互连做在引线框架上,方式: 日本 开发 倒装 引线键合式。 式、引线键合式。 晶片→减薄、划片 芯片键合 引线键合→模塑包封 电镀→ 芯片键合→引线键合 模塑包封→电镀 晶片 减薄、划片→芯片键合 引线键合 模塑包封 电镀 减薄 切筛、引线成型→测试筛选 测试筛选→激光打码 切筛、引线成型 测试筛选 激光打码 晶圆级CSP封装: 封装: 晶圆级 封装 chipscale开发,是在晶圆阶段,利用芯片间较宽的划片槽, 开发,是在晶圆阶段,利用芯片间较宽的划片槽, 开发 在其中构造周边互连,随后用玻璃、树脂、陶瓷等材料封装而 在其中构造周边互连,随后用玻璃、树脂、 完成。再分布式,模塑基片式。 完成。再分布式,模塑基片式。
尹小田
3、倒装芯片技术 、
FCP是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底(或电 是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底( 是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底 路板)的互连。相当于普通封装中粘装、引线键合两个步骤。 路板)的互连。相当于普通封装中粘装、引线键合两个步骤。
尹小田
BGA的类型 的类型
陶瓷圆柱栅阵列( 陶瓷圆柱栅阵列(CCGA) ) 又称:圆柱焊料载体( 又称:圆柱焊料载体(SCC) ) CCGA是尺寸为 是尺寸为32mm2的CBGA器件的代替品,其它跟 器件的代替品, 是尺寸为 器件的代替品 CBGA相似,只有:CCGA是采用焊料圆柱阵列,CBGA是 相似, 是采用焊料圆柱阵列, 相似 只有: 是采用焊料圆柱阵列 是 采用焊球阵列, 采用焊球阵列,而圆柱焊料比球形更能承受由热应力不匹配 而产生的应力作用,但比焊球跟容易受到机械损伤。?? 而产生的应力作用,但比焊球跟容易受到机械损伤。??
第十三章 先wenku.baidu.com封装技术
1、球栅阵列封装技术 、 2、芯片尺寸封装技术 、 3、倒装芯片技术 、 4、晶圆级封装技术 、 5、多芯片组件封装 、 6、三维封装技术 、
尹小田
1、BGA技术 、 技术
BGA :Ball Grid Array ,球状列阵封装、球形触点阵列、 球状列阵封装、球形触点阵列、 焊球阵列、网格焊球阵列、球面阵。 焊球阵列、网格焊球阵列、球面阵。 1990年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发。 年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发。 年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发 基板背面是按阵列方式制出球形触点的引脚,基板正面 基板背面是按阵列方式制出球形触点的引脚, 装配芯片,后来由于倒装技术,也有引脚和芯片在同一面。 装配芯片,后来由于倒装技术,也有引脚和芯片在同一面。
球在上、 球在上、球在下
尹小田
BGA的质量检测和返工 的质量检测和返工
BGA的焊点在芯片下面,检测焊点质量比较困难。 的焊点在芯片下面,检测焊点质量比较困难。 的焊点在芯片下面 采用X射线断面自动工艺检测设备进行 焊点的质量检测。 采用 射线断面自动工艺检测设备进行BGA焊点的质量检测。 射线断面自动工艺检测设备进行 焊点的质量检测 返工流程: 返工流程: 确认缺陷BGA组件 拆卸BGA → BGA焊盘预处理 检测焊 确认缺陷 组件→拆卸 焊盘预处理→ 组件 拆卸 焊盘预处理 膏涂覆→ 重新安装组件并再流→ 检测。 膏涂覆 重新安装组件并再流 检测。
BGA的类型 的类型
陶瓷球栅阵列( 陶瓷球栅阵列(CBGA) ) 又称:焊料球载体( 又称:焊料球载体(SBC) ) 主要特点: 主要特点: 1. 组件拥有优异的热性能和电性能; 组件拥有优异的热性能和电性能; 2. 与QFP相比,较少受机械损伤的影响; 相比, 相比 较少受机械损伤的影响; 3. 当装配到具有大量 (>250)应用的 当装配到具有大量I/O( 上时, )应用的PCB上时,具有 上时 非常高的封装效率; 非常高的封装效率;
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BGA的类型 的类型
载带球栅阵列( 载带球栅阵列(TBGA) ) 又称:阵列载带自动键合( ),是较新颖的 形式。 又称:阵列载带自动键合(ATAB),是较新颖的 ),是较新颖的BGA形式。 形式 特点: 特点: 1、比绝大多数的BGA封装要轻和小; 、比绝大多数的 封装要轻和小; 封装要轻和小 2、比QFP器件和绝大多数 、 器件和绝大多数BGA封装的电性能好; 封装的电性能好; 器件和绝大多数 封装的电性能好 3、装配到PCB上具有非常高的封装效率。 、装配到 上具有非常高的封装效率。 上具有非常高的封装效率
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2、CSP技术 、 技术
芯片尺寸封装:指封装外壳的尺寸不超过裸片尺寸 倍的 芯片尺寸封装:指封装外壳的尺寸不超过裸片尺寸1.2倍的 一种封装形式。 向小型化、 一种封装形式。是BGA向小型化、薄型化方向的延伸。 向小型化 薄型化方向的延伸。 是目前体积最小的超大规模集成电路封装之一。 是目前体积最小的超大规模集成电路封装之一。表13.1. 特点: 特点: 1、封装尺寸小; 、封装尺寸小; 2、电学性能优良; 、电学性能优良; 3、测试、筛选、老化容易; 、测试、筛选、老化容易; 4、散热性能优良; 、散热性能优良; 5、内无须填料; 、内无须填料; 6、制造工艺、设备的兼容性好。 、制造工艺、设备的兼容性好。
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柔性基板封装: 柔性基板封装: 美国tessra开发,常采用PI或TAB工艺中相似的带状材料做 开发,常采用 或 美国 开发 工艺中相似的带状材料做 垫片,互连在垫片的一个面,焊球穿过垫片与互连层相连,方 垫片,互连在垫片的一个面,焊球穿过垫片与互连层相连, 式:TAB、倒装、引线键合。 、倒装、引线键合。 1、TAB 、 晶片→减薄、划片 内焊点键合→切割成型 晶片 减薄、划片→TAB内焊点键合 切割成型 减薄 内焊点键合 切割成型→TAB外焊点 外焊点 键合→模塑包封 基板上安装焊球→测试筛选 模塑包封→基板上安装焊球 测试筛选→激光打码 键合 模塑包封 基板上安装焊球 测试筛选 激光打码 2、倒装式: 、倒装式: 晶片→二次布线 (减薄)形成凸点→划片 倒装键合→模塑 划片→倒装键合 晶片 二次布线→(减薄)形成凸点 划片 倒装键合 模塑 二次布线 包封→基板上安装焊球 测试筛选→激光打码 基板上安装焊球→测试筛选 包封 基板上安装焊球 测试筛选 激光打码 3、引线键合式 、 晶片→减薄、划片 芯片键合 引线键合→模塑包封 芯片键合→引线键合 模塑包封→基板上 晶片 减薄、划片→芯片键合 引线键合 模塑包封 基板上 减薄 安装焊球→测试筛选 测试筛选→激光打码 安装焊球 测试筛选 激光打码
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结构有4部分:IC芯片、 芯片、 结构有 部分: 芯片 部分 互连层、焊球(凸点)、 互连层、焊球(凸点)、 保护层。 保护层。
CSP的类型 的类型
CSP的类型: 的类型: 的类型 柔性基板封装、 柔性基板封装、 刚性基板封装、 刚性基板封装、 引线框架式CSP封装、 封装、 引线框架式 封装 晶圆级CSP封装、 封装、 晶圆级 封装 薄膜型CSP。 。 薄膜型
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1、BGA技术 、 技术
BGA的特点: 的特点: 的特点 1、提高产品率; 、提高产品率; 2、BGA焊点的中心间距一般为 、 焊点的中心间距一般为1.27mm可利于 可利于SMT工艺设备; 工艺设备; 焊点的中心间距一般为 可利于 工艺设备 3、改进了器件引出端数和本体尺寸的比率; 、改进了器件引出端数和本体尺寸的比率; 4、明显改善共面问题,极大地减小了共面损坏; 、明显改善共面问题,极大地减小了共面损坏; 5、BGA引脚短,所以比 、 引脚短, 牢固。 引脚短 所以比QFP牢固。 牢固 6、BGA引脚短,使信号路径短,减小了引线电感和电容,增 、 引脚短,使信号路径短,减小了引线电感和电容, 引脚短 强了节点性能。 强了节点性能。 7、球形触点阵列有助于散热; 、球形触点阵列有助于散热; 8、BGA适合 、 适合MCM的封装需要,有利于实行 的封装需要, 的高密度、 适合 的封装需要 有利于实行MCM的高密度、 的高密度 高性能。 高性能。
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薄膜型CSP封装: 封装: 薄膜型 封装 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小; 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小;芯片上再 布线工艺,与凸点实现互连; 外引脚的凸点可在基片上任 布线工艺,与凸点实现互连; 意部位,易于标准化。 意部位,易于标准化。
尹小田
薄膜型CSP封装: 封装: 薄膜型 封装 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小; 日本三菱开发。无引线框架和焊丝,体积特别小;芯片上再 布线工艺,与凸点实现互连; 外引脚的凸点可在基片上任 布线工艺,与凸点实现互连; 意部位,易于标准化。 意部位,易于标准化。 制造工艺: 制造工艺: 1、布线工艺 、 2、装配工艺 、 3、CSP焊点接合部的疲劳特性。 、 焊点接合部的疲劳特性。 焊点接合部的疲劳特性
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BGA的类型 的类型
四种:塑料球栅阵列( )、陶瓷球栅阵列 四种:塑料球栅阵列(PBGA)、 陶瓷球栅阵列(CBGA)、 )、 陶瓷球栅阵列( )、 又称:整体模塑阵列载体( ) 陶瓷圆柱栅阵列( )、载带球栅阵列 又称:整体模塑阵列载体(OMPAC)载带球栅阵列(TBGA) 陶瓷圆柱栅阵列(CCGA)、载带球栅阵列( )、 ) 主要特点: 主要特点: 1. 制造商完全可利用现有装配技术和廉价的材料,成本低; 制造商完全可利用现有装配技术和廉价的材料,成本低; 2.与QFP器件比较,较少有机械损伤; 与 器件比较, 器件比较 较少有机械损伤; 3.装配到 装配到PCB上可以具有非常高的质量。 上可以具有非常高的质量。 装配到 上可以具有非常高的质量 面临的挑战: 面临的挑战: 保持封装体平面化、增强防潮(即防止“爆米花”现象)、 保持封装体平面化、增强防潮(即防止“爆米花”现象)、 管芯尺寸的可靠性问题。 管芯尺寸的可靠性问题。
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BGA的制备和安装 的制备和安装
以美国摩托罗拉公司生产的OMPAC为例: 为例: 以美国摩托罗拉公司生产的 为例 基板: 树脂 玻璃芯材被层压在两层18µm的铜箔间。 树脂/玻璃芯材被层压在两层 的铜箔间。 基板:BT树脂 玻璃芯材被层压在两层 的铜箔间 芯片用充银的环氧树脂粘在镀镍/金的薄膜上,固化; 芯片用充银的环氧树脂粘在镀镍 金的薄膜上,固化; 金的薄膜上 芯片和基板间用热超声波焊接; 芯片和基板间用热超声波焊接; 用热超声波焊接 用填有石灰粉的环氧树脂膜压料进行密封,固化; 用填有石灰粉的环氧树脂膜压料进行密封,固化; 用自动捡放机械手系统放焊料球,再流焊。 用自动捡放机械手系统放焊料球,再流焊。
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刚性基板封装: 刚性基板封装: 日本toshiba开发,常采用树脂和陶瓷做垫片,内层互连是 开发,常采用树脂和陶瓷做垫片, 日本 开发 通过多层陶瓷叠加或通孔实行,方式:倒装、引线键合。 通过多层陶瓷叠加或通孔实行,方式:倒装、引线键合。 1、倒装式: 、倒装式: 要先做凸点和用薄膜或厚膜技术在垫片上布线, 要先做凸点和用薄膜或厚膜技术在垫片上布线,然后进行凸 点倒装焊或超声波热压焊。 点倒装焊或超声波热压焊。 2、引线键合式 、 先制作多层布线的垫片后,常规引线键合。 先制作多层布线的垫片后,常规引线键合。
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CSP的应用 的应用
具有短、小、轻、薄的特点,在便携式、低针脚数、低功 具有短、 薄的特点,在便携式、低针脚数、 率产品中最小获得应用,内存是最大量采用CSP技术的产 率产品中最小获得应用,内存是最大量采用 技术的产 品。 截止到1997年,CSP已经应用到手机电话的内存、笔记本 年 已经应用到手机电话的内存、 截止到 已经应用到手机电话的内存 的存储器、摄录一体机、 卡等产品 卡等产品。 的存储器、摄录一体机、IC卡等产品。 1998年,推广到磁盘驱动器、个人数字助理、印码器; 年 推广到磁盘驱动器、个人数字助理、印码器; 都是小型的便携产品。 都是小型的便携产品。 应用存在的问题:标准化、可靠性、成本。 应用存在的问题:标准化、可靠性、成本。
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引线框架式CSP封装: 封装: 引线框架式 封装 日本fujitsu开发,互连做在引线框架上,方式:TAB/倒装 开发,互连做在引线框架上,方式: 日本 开发 倒装 引线键合式。 式、引线键合式。 晶片→减薄、划片 芯片键合 引线键合→模塑包封 电镀→ 芯片键合→引线键合 模塑包封→电镀 晶片 减薄、划片→芯片键合 引线键合 模塑包封 电镀 减薄 切筛、引线成型→测试筛选 测试筛选→激光打码 切筛、引线成型 测试筛选 激光打码 晶圆级CSP封装: 封装: 晶圆级 封装 chipscale开发,是在晶圆阶段,利用芯片间较宽的划片槽, 开发,是在晶圆阶段,利用芯片间较宽的划片槽, 开发 在其中构造周边互连,随后用玻璃、树脂、陶瓷等材料封装而 在其中构造周边互连,随后用玻璃、树脂、 完成。再分布式,模塑基片式。 完成。再分布式,模塑基片式。
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3、倒装芯片技术 、
FCP是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底(或电 是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底( 是直接通过阵列排布的凸点实现芯片与封装衬底 路板)的互连。相当于普通封装中粘装、引线键合两个步骤。 路板)的互连。相当于普通封装中粘装、引线键合两个步骤。
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BGA的类型 的类型
陶瓷圆柱栅阵列( 陶瓷圆柱栅阵列(CCGA) ) 又称:圆柱焊料载体( 又称:圆柱焊料载体(SCC) ) CCGA是尺寸为 是尺寸为32mm2的CBGA器件的代替品,其它跟 器件的代替品, 是尺寸为 器件的代替品 CBGA相似,只有:CCGA是采用焊料圆柱阵列,CBGA是 相似, 是采用焊料圆柱阵列, 相似 只有: 是采用焊料圆柱阵列 是 采用焊球阵列, 采用焊球阵列,而圆柱焊料比球形更能承受由热应力不匹配 而产生的应力作用,但比焊球跟容易受到机械损伤。?? 而产生的应力作用,但比焊球跟容易受到机械损伤。??
第十三章 先wenku.baidu.com封装技术
1、球栅阵列封装技术 、 2、芯片尺寸封装技术 、 3、倒装芯片技术 、 4、晶圆级封装技术 、 5、多芯片组件封装 、 6、三维封装技术 、
尹小田
1、BGA技术 、 技术
BGA :Ball Grid Array ,球状列阵封装、球形触点阵列、 球状列阵封装、球形触点阵列、 焊球阵列、网格焊球阵列、球面阵。 焊球阵列、网格焊球阵列、球面阵。 1990年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发。 年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发。 年初美国摩托罗拉和日本西铁城公司共同开发 基板背面是按阵列方式制出球形触点的引脚,基板正面 基板背面是按阵列方式制出球形触点的引脚, 装配芯片,后来由于倒装技术,也有引脚和芯片在同一面。 装配芯片,后来由于倒装技术,也有引脚和芯片在同一面。
球在上、 球在上、球在下
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BGA的质量检测和返工 的质量检测和返工
BGA的焊点在芯片下面,检测焊点质量比较困难。 的焊点在芯片下面,检测焊点质量比较困难。 的焊点在芯片下面 采用X射线断面自动工艺检测设备进行 焊点的质量检测。 采用 射线断面自动工艺检测设备进行BGA焊点的质量检测。 射线断面自动工艺检测设备进行 焊点的质量检测 返工流程: 返工流程: 确认缺陷BGA组件 拆卸BGA → BGA焊盘预处理 检测焊 确认缺陷 组件→拆卸 焊盘预处理→ 组件 拆卸 焊盘预处理 膏涂覆→ 重新安装组件并再流→ 检测。 膏涂覆 重新安装组件并再流 检测。