10SPC计量型数据

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计量型数据

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计量型数据
－R图
我们用以下运算法则计算控制线：
•其中K为子 •组数
•和
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计量型数据
－R图
D4, D3 和 A2 的值
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计量型数据
－R图
• 练习
– 用附录1的数据计算 UCL 和 LCL ，以便得出数据的平均值和极差。
– 将数据标在图上，并确定有无任何超出控制范围的情况。
• &R
•N= 2至 9
•X & MR
•N=1
•中位数
•N= 奇数
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计量型数据
－R图
• 何时使用－R图
• 当有测量数据时 • 为了确定过程偏差 • 当您能获得一个大小不变的子组时，子组数大小在
2－9个连续零件之间 • 当每件零件是在相似的条件之下而且是在很短的时
间间隔生产出来时。
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计量型数据
－S图
我们以下运算法则计算控制线：
•其中n为子组中的大小，k 为子组数
。
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计量型数据
－S图
B4, B3 和 A3 的值
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计量型数据
－S图
• 练习
– 用附录2中的数据计算 UCL 和 LCL，作为这些数据的均值和标准差。
– 在图上标出这些数据并确定有无失控情况。
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计量型数据
中位数图
• 何时使用中位数图
• 1. 当已记录有测量数据时。 • 2. 当您需要一种更容易的过程控制方法时。这
可以作为开始训练操作人员的好方法。
• 3. 当您能够获得一个大小保持不变的子组－为方便起见，请注意确保子组的大小为奇数而非偶数，一般为5。

五大技术工具之SPC

（一）统计过程控制的基本概念1.什么是统计过程控制？使用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出，以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态从而提高过程能力，称之为统计过程控制。

2.什么是控制图：使用统计方法，将收集数据计算出一条中心线和两条控制界限，也就是我们所能做到制程能力水准。

随时将样本数据计算并点入控制图内，以提醒作业人员注意，如发现超出控制界限外或异常现象时，立即进行改善工作，以防止不合格发生。

3.什么是计量型数据？计量型数据就是定量的等级,可用测量值分析,如尺寸10.04,圆轴直径6.0mm。

4.什么是计数型数据？计数型数据就是可以用来记录和分析的定性数据，如一批产品不合格个数。

5.什么是变差过程的单个输出之间不可避免的差别，过程中由于受到人、机、物、法、环、测量等因素影响，输出的零件、半成品或成品个体之间必然会存在差异，这种差异就称之为变差，产生变差原因为普通原因和特殊原因。

6.什么是变差的普通原因和特殊原因？普通原因：（机遇原因）指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差原因。

普通原因的识别：①如用同一量具，由同一人测量某人身高数次，所得测量值有差异存在。

②在生产工作中，虽然定有操作标准，但在操作条件容许之范围内必有变化。

③原材料之品质在其规格范围内的变异，如材料重量、密度、厚薄等。

特殊原因：（非机遇原因）是指造成不是始终作用于过程的变差原因，即当它们出现时将造成整个过程的分布改变。

如果系统内存在变差的特殊原因，随着时间推移，过程的输出将不稳定。

特殊原因的识别：①如由于机器智步彤、材料之差异、人为之因素或操作原因，影响品质之变异，这些原因都是可以避免的；②未遵照操作标准而操作，所发生的变异；③机器设备之故障发生的变异；④操作人员之变动造成的变异。

普通原因与特殊原因的区别：普通原因的变异特殊原因的变异1.大量之微小原因引起。

2.不管发生何种之普通原因，其个别之变异极为微小。

什么是SPC

概括SPC （统计过程控制）
SPC就是利用统计方法去:
1.分析过程的输出并指出其特性。 2.使过程在统计控制情况下成功地进行和维持。 3.有系统地减少该过程主要输出特性的变异。 SPC是以预防代替检验,制造业与其他行业一样,预防发生错误永远比事后矫正为好,而且简单得多.
总结 SPC （统计过程控制）
这些波动源对加工的影响最后都集中反映在直径测量值
Seite 21
变差种类
普通原因与特殊原因普通原因：过程中变异因素是在统计的控制状态
下，其产品之特性有固定的分配。
特殊原因：过程中变异因素不在统计的控制状态
下，其产品之特性没有固定的分配。
12
普通原因
随着时间的推移具有稳定性的可重复的分布过程中许多变差的原因。
n
xi
x i1 n

SPC – Introduction
基本统计概念
• Md 中位数(median) 顺序数列中的中心项的数值
• Mo 众数(mode) 资料中出现最多的数值
SPC – Introduction
基本统计概念
• 2 方差/变异(variance)
n
n2
(xi x)2
i 1
n
作用
原料
人机法环测量
好
PROCESS
测量结果
不好
不要等产品做出來后再去看它好不好!! 而是在制造的時候就要把它制造好!!!
品质失败的结果
外部成本
维护成本升高返工
过程波动引起品质不良
内部成本
报废返工停工加强检验
市场份额下降资金周转期长
客户失望
高的检验成本重复修理存货增多

统计过程控制(SPC)之中位数与极差控制图的使用及建立

根据判异准则进行判定
如有异常点，则必须调查原因，并采取必要的措施
x 控制限，再次检查是否有异常的点；舍弃异常的组，然后重新计算 ~ 如果有，则应重复进行：识别—纠正—重新计算，直到消除异常点为止 x 图上删除的组，也应相应的从 R 图上删除从~
重复步骤六到步骤十一，直到无异常点出现为止
40 41 42 43 步骤十二：和规范进行比较
根据判异准则进行判定如有异常点，则必须调查原因，并采取必要的措施查明原因后，删除该组，重新计算 R 控制线，再次检查是否有异常的点；如果有，则应重复进行：识别—纠正—重新计算，直到消除异常点为止
36 37 38 39 步骤十一：分 ~ 析x 图
x 图上删除从 R 图上删除的组，也应相应的从 ~
~ x R 控制图的检出过程不稳定的能力不如 x R 控制图
适用于产量比较大，加工稳定的过程用于计量值的特性为：长度、厚度、浓度、重量等由于描述的中间的单点的值，因此可以显示过程输出的分布宽度，容易预见过程变差的趋势由于一张图上可以显示中位数及分布宽度，可以用来对几个过程的输出或同一过程的不同阶段的输出进行比较步骤一：子组选择保证每个子组内零件都是在很短时间内及其非常相似的条件下生产出来的，使子组内变差少子组是单一的过程流生产的产品初期时，一般选择子组内有 10～25 件生产的产品组合努力使子组内的变差只有普通原因子组的容量保持恒定一般保证子组数在 25 组或以上在适当的时间内收集 25 组以上，保证子组能够反应潜在的变化子组必须能够反应潜在的变化，这些变化可能是换班、操作人员更换、温度趋势、材料批次等原因造成的在初始阶段，通常在较短时间的间隔内收集
如果数据的分布和规范公差相比有较多的余量，计算平均值并未在公差中心，基本上也可以接受的确定过程是否满足顾客的需求

SPC计算公式一览表

项目文档 [ ]SPC计算公式一览表项目名称：SPC计算公式一览表项目编号：SPC-002文档编号：版本号： 1.0编制单位：研发部文档控制目录SPC计算公式一览表1文档控制1一、计量型4Mean均值4Max最大值4Min最小值4Range极差最大跨距4Sigma5UCL、CL、LCL上控制限、中心限、下控制限（计量型）5Cp过程能力指数6Cmk机器能力指数6Cr过程能力比值6Cpl下限过程能力指数6Cpu上限过程能力指数6Cpk修正的过程能力指数7k：偏移系数7Pp过程性能指数7Pr过程性能比值7Ppu上限过程性能指数7Ppl下限过程性能指数7Ppk修正的过程性能指数7Cpm目标能力指数7Ppm目标过程性能指数8Zu(Cap)规格上限Sigma水平8Zl(Cap)规格下限Sigma水平8Zu(Perf)8Zl(Perf)8Fpu(Cap)超出控制上限机率8Fpl(Cap)超出控制下限机率8Fp (Cap)超出控制界线的机率8Fpu(Perf)8Fpl(Perf)9Fp (Perf)9Skewness偏度，对称度9Kurtosis峰度9二、计数型9Mean均值9Max10Min10Range极差10StdDev标准差10UCL、CL、LCL上控制限、中心限、下控制限（计件型、计点型）11三、DPMO11四、相关分析11五、正态分布函数Normsdist(z)12六、综合能力指数分析12一、计量型输入参数：x：参与计算的样本值ChartType：图形编号，1均值极差;2均值标准差;3单值移动极差;8直方图USL：规格上限LSL：规格下限Target：目标值，在公式中简写为TMr_Range：移动跨距：估计sigma计算出：n：样本总数：所有样本的平均值注意：1、设置常量NOTVALID=-99999，如统计量计算不出，则返回该常量Mean均值子组数中的所有均值(字段名叫取值)的总平均值Max最大值子组数中最大的均值Min最小值子组数中最小的均值Range极差最大跨距MR移动极差本子组取值与上一子组的差值绝对值StdDev标准差例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Sigma1、极差估计2、标准差估计当子组容量在25以时可查表得到的值，当子组容量大于25时可用公式：3、计算4、组波动UCL、CL、LCL上控制限、中心限、下控制限（计量型）1、均值-极差控制图（- R）均值控制图极差控制图UCL= UCL=LCL= LCL=CL= CL=其中：3是指控制标准差倍数2、均值-标准差控制图（-S）均值控制图标准差控制图UCL= UCL=LCL= LCL=CL= CL=其中：3是指控制标准差倍数3、单值-移动极差控制图（X-Rs）单值控制图极差控制图UCL= UCL=LCL= LCL=CL= CL=其中：3是指控制标准差倍数Cp过程能力指数（短期）过程能力，即工序的能力（Process Capbility，PC），是指过程加工质量方面的能力。

SPC常用术语

SPC常用术语1、高级统计方法（AdvancedStatisticalMethods）-比基本的统计方法更复杂的统计过程分析及控制技术，包括更高级的控制图技术、回归分析、试验设计、先进的解决问题的技术等。

2、计数型数据（AttributesData）可以用来记录和分析的定性数据，例如：要求的标签出现，所有要求的紧固件安装，经费报告中不出现错误等特性量即为计数型数据的例子。

其他的例子如一些本来就可测量（即可以作为计量型数据处理）只是其结果用简单的“是/否”的形式来记录，例如：用通过/不通过量规来检验一根轴的直径的可接受性，或一张图样上任何设计更改的出现。

计数型数据通常以不合格品或不合格的形式收集，它们通过p、np、c和u控制图来分析（参见计量型数据）。

3、均值（Average）（参见平均值Mean）数值的总和被其个数（样本容量）除，在被平均的值的符号上加一横线表示。

例如，在一个子组内的x值的平均值记为X，X（X两横）为子组平均值的平均值，X（X上加一波浪线）为子组中位数的平均值。

R为子组极差的平均值。

4、认知（AwarenesS个人对质量和生产率相互关系的理解，把注意力引导到管理义务的要求和达到持续改进的统计思想上。

5、基本的统计方法（BasicStatisticalMethods）通过使用基本的解决问题的技术和统计过程控制来应用变差理论，包括控制图的绘制和解释（适用于计量型数据和计数型数据）和能力分析。

6、二项分布（BinomialDistribution）应用于合格和不合格的计数型数据的离散型概率分布。

是p和np控制图的基础。

7、因果图（Cause-EffectDiagram）一种用于解决单个或成组问题的简单工具，它对各种过程要素采用图形描述来分析过程可能的变差源。

也被称作鱼刺图（以其形状命名）或石川图（以其发明者命名）。

8、中心线（CentralLine）控制图上的一条线，代表所给数据平均值。

计量型数据控制图

单值图可显现出流程中心的稳定性(中心位置)
移动极差图可显现出短期变差的稳定性
移动极差MR是相邻两个单值的差的绝对值；看图顺序:先看极差图，再看均值图。
用I-MR图做改善前后的对比
文件: Before-after.mtw
用I-MR图做改善前后的对比
改善后均值下降
改善后变差减小
以上是图示化比较，最后还应通过统计检验进行比较。
7
23.5
9
23.5
5
22.75
4
20.25
9
21.75
8
23.75
3
20.75
6
子组化案例:花生酱子组计划I
文件（花生酱 .mpj ）中的 case1.mtw
控制图在说什么？
➢Xbar控制限看起来太宽
太多点在平均数1倍标准偏差内 •没有点在控制限周围
➢这种情况在子组内变差比子组间变差大的多的情况下出现。 ➢这个问题在制造中很典型。比如，4台同类型的设备其中一台持续比其他高或低。4台设备间的变差比抽样次数间的变差大的多。 ➢如果出现这种情况
更换电涌装置
a.新的电涌装置有用吗？
b.如果有用，技术人员从哪一周获得了第一个信号？是否有过程偏移的任何其它信号？
解释单值图练习
a.新的电涌装置有用吗？
有用 b.如果有用，技术人员从
哪一周获得了第一个信号
？是否有过程偏移的任何
其它信号？
最早的信号是位于界限外的点（测试1），从9月6 日这一周获得第一个信号。其次的信号来自测试5 和6。另一个信号在测试2 中表现出来（8个点位于中线同一侧）。
计量型数据控制图
模块内容
计量型数据控制图

SPC-计量型数据模块10

SPC-计量型数据模块10SPC（统计过程控制）是一种质量管理工具，旨在监控和控制过程的稳定性和可靠性。

计量型数据模块10是SPC中的一个重要组成部分，用于收集、分析和监控计量型数据，以帮助企业实现质量的持续改进。

本文档将详细介绍SPC-计量型数据模块10的功能和使用方法。

1. 功能介绍SPC-计量型数据模块10提供了以下主要功能：1.1 数据收集该模块可以从多种来源收集计量型数据，包括传感器、测量仪器和记录表等。

用户可以手动输入数据，或通过数据接口自动导入数据。

收集的数据可以是连续或离散的，并且可以包含多个测量指标。

1.2 数据分析SPC-计量型数据模块10能够对收集的数据进行各种分析，以获取统计特征和趋势。

这些分析包括：•均值和标准差的计算•直方图和箱线图的绘制•数据分布分析•数据关联和相关性分析用户可以根据自己的需要选择特定的分析方法，以便更好地理解数据的状态和性质，并采取相应的措施。

1.3 监控和控制SPC-计量型数据模块10可以监控数据的稳定性和可靠性，通过检测异常值、偏离控制限的数据和趋势变化等情况，及时发现潜在的问题。

用户可以设置上下控制限，并根据控制图上的警告信号进行相应的调整和改进。

2. 使用方法下面是使用SPC-计量型数据模块10的步骤：2.1 数据收集首先，需要收集计量型数据。

可以通过传感器、测量仪器或手动记录表等方式获取数据。

确保数据的准确性和完整性，并将其保存在电脑或服务器中。

2.2 数据导入如果数据已经保存在电脑或服务器中，可以通过数据接口将其导入到SPC-计量型数据模块10中。

选择相应的数据导入选项，并按照提示完成导入过程。

确保导入的数据格式正确，以便后续的分析和控制。

2.3 数据分析在导入数据后，可以开始进行数据分析。

选择要分析的数据集、测量指标和分析方法，然后点击开始分析按钮。

系统将根据选择的方法计算统计特征和绘制相应的图表。

查看分析结果，并对数据的分布、趋势和异常进行评估。

与SPC有关的定义

与SPC有关的定义1、统计过程控制（staristical. Process control）使用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出以便采取适当的措施来达到并保持统计控制状态从而提高过程能力。

2、计数型数据可以用来记录和分析的定性数据。

例如，要求的标识的出现，所有要求的紧固件安装，经费报告中不出现错误等特性量即为计数型数据的例子。

其他的例子如一些本来就可以测量（即可以作为计量型数据处理），但是其结果用简单的“是/否”的形式来记录。

例如，用通/止规来检验轴径的可接受性，或一张图样上任何设计更改的出现。

3、计量型数据定量的数据，可用测量值来分析。

例如：用毫米表示的轴承轴颈直径，用牛顿表示关门的力，用百分数表示电解液的浓度，用牛顿.米表示紧固件的力矩。

4、控制图用来表示一个过程特性的图形，图上标有根据该特性收集到的一些统计数据，如一条中心线，一条或两条控制线。

5、Ⅰ类错误拒绝真的假设，例如当过程实际没有改变（超出控制）时，而对过程采取适用于特殊原因的措施。

它和生产方风险或α风险相关。

6、Ⅱ类错误没有拒绝错误的假设，例如：对实际上受特殊原因影响（受控）的过程没有采取适用的措施。

它和使用方风险或β风险相关。

7、二项分布应用于合格与不合格品的计数型数据的离散概率分布，是p 图和np 图的基础。

8、正态分布一种用于计量型数据的、连续的、对称的钟形频率分布，它是计量型数据用控制图的基础。

9、泊松分布应用于不合格数的计数型数据的离散型概率分布，是c 和u 控制图的基础。

10、统计控制描述一个过程的状态，这个过程中所有的特殊原因变差都已排除，并且仅存在普通原因。

即：观察到的变差可归咎与恒定系统的偶然原因；在控制图上表现为不存在超出控制限的点或在控制限范围内不存在非随机性的图形。

11、Cpk 稳定过程的能力指数，通常定义为CPU 或CPL 中的最小值。

12、Ppk 性能指数，通常定义为的或最小值。

s x USL δ3-sLSL X δ3-。

统计过程控制(SPC)之计量型和计数型控制图的比较

统计过程控制（SPC）之计量型和计数型控制图的比较
定义/说明/要求/目的：
计数型数据是指：可被分类用来记录和分析的定性数据，计数型数据通常以不合格品或不符合的形式来收集。

计量型数据是指：定量的数据，这种测量值可用来进行分析。

单指是指：一个单独的数值，或对某一个特性的一次测量，通常用符号X表示。

泊松分布是指：一种离散型概率分布，应用于不合格数的计数型数据。

适合于描述单位时间（或空间）内随机事件发生的次数。

如机器出现的故障数，一块产品上的缺陷数。

过程均值是指：一个特定过程特性的测量值分布的位置，即为过程平均值。

控制图能够用来监测和评价一个过程。

过程的数据是离散型的，则使用计数型控制图。

过程的数据时连续型的，则使用计量型控制图。

分析过程采用计量型控制图；欲将过程分类，则采用计数型控制图。

检查表：。

SPC精髓总结汇总

SPC精髓总结汇总目录：一、SPC基础知识介绍二、计量型数据控制图：X-R 图三、其它计量型数据控制图四、计数型数据控制图：P 图五、其它计数型数据控制图六、停止灯控制图一、SPC基础知识介绍1、什么是SPC⏹统计过程控制（Statistical Process Control）⏹第二版2005年7月发布（1992/2005）⏹版权由戴姆勒克莱斯勒公司、福特汽车公司和通用汽车公司所有2、SPC的目的利用统计技术：控制过程、持续改进过程3、常见的统计技术⏹旧QC七大手法：柏拉图、因果分析图、直方图、查检表、分层法、控制图、散布图⏹新QC七大手法：亲和图法、关联图法、系统图法、矩阵图法、矩阵分、析法、PDPC法、箭形图解法4、SPC与检验的区别⏹检验：是事后的行为（产品生产后将不合格品挑选出来），是容忍浪费⏹SPC：是事前或事中的行为（在生产前或生产中有些控制和调整五大生产要素，以避免不合格品的产生），是避免浪费5、正态分布图6、变差的普通原因⏹普通原因：始终作用于过程的变差的原因为变差的普通原因⏹例如：一个机加工轴的直径易于受到由于机器（间隙、轴承磨损）、工具（强度、磨损率）、材料（直径、硬度）、操作人员（进给速率、对中准确度）、维修（润滑、易损零件的更换）及环境（温度、动力供应是否恒定）等原因造成潜在的变差的影响⏹针对普通原因的对策：对系统采取措施⏹通常用来消除变差的普通原因⏹几乎总是要求管理措施，以便纠正⏹大约可纠正85%的过程7、变差的特殊原因⏹特殊原因：不是始终作用于过程的变差的原因⏹即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。

由于特殊原因造成的过程分布的改变有些有害，有些有利⏹针对特殊原因的对策：局部措施⏹通常用来消除变差的特殊原因⏹通常由与过程直接相关的人员实施⏹大约可纠正15%的过程问题8、控制图的构成USL 上规格线UCL ----------------------------------------------------------------------上控制线CL 中线 LCL ----------------------------------------------------------------------下控制线 LSL 下规格线9、控制图的类型1、计量型数据控制图1.1、均值和极差图（ R X -图） 1.2、均值和标准差图（s X -图）1.3、中位数图（R X -~图）1.4、单值和移动极差图（ MR X -图） 2、计数型数据控制图2.1、不合格品率控制图（P 图） 2.2、不合格品数控制图（NP 图） 2.3、不合格数控制图（C 图）2.4、单位产品不合格数控制图（U 图）二计量型数据控制图：R X - 图1、实施步骤A.收集数据:子组大小/子组频率/子组数的大小B.计算控制限:初始控制线/延长控制线C.过程控制解释:4种异常情况的判定及对策D.过程能力解释:PPK/CPK 的计算及要求2、子组大小⏹ 子组:每次连续取样的样本⏹ 子组大小:每次连续取样的样本数量⏹ 确定子组大小的原则:— 子组要合理,一般为2-10个、— 一个子组内的变差代表很短时间内的零件的变差 — 非常相似的生产条件下生产出来的,相互间不存在其它的系统的关系— 每个子组内的变差主要应是普通原因造成3、子组频率⏹ 子组频率:每次取样的间隔时间 ⏹ 确定子组频率的原则:— 在适当的时间收集足够的子组来反映过程中的变化 — 过程的初期研究,很短的时间间隔进行分组,以便发觉短时间的不稳定因子— 当证明过程已处于稳定状态下(或已对过程进行改善),子组间的时间间隔可以增加 4、子组数大小⏹ 子组数大小:每张控制图的控制点数量 ⏹ 确定子组数大小的原则:— 在初始阶段不低于100个单值数据 — 在量产阶段一般不少于25个点 5、过程控制解释1、超出控制限的点2、连续7点位于平均值的一侧3、连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降4、明显的非随机图形(大约2/3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内,大约1/3的点落在其外的三分之二的区域)6、异常情况对策⏹ 当发现异常时，不要随意对过程做不必要的改变 ⏹ 正确的做法是：— 记录下当时的六大生产要素：人/机/料/法/环/测— 进行原因分析后，若能找到原因采取措施，则记录好所采取的措施— 进行原因分析后，若不能找到原因采取措施，则密切观察过程的变化 7、过程能力解释⏹ PPK:初始过程能力指数PPK,也叫性能指数,或短期过程能力指数 ⏹ 其要求是：PPK ＞1.67或满足顾客的要求⏹ 计算公式为：Ppk=min( ss XUSL LSL X σσˆ3,ˆ3-- ) s ni I n X X S σˆ1)(12=--=∑= ⏹计算数据为：最少100个数据以上⏹ 计算时间：小批量试生产阶段,为PPAP 重要文件之一,需要提交给顾客 ⏹ CPK:稳定的过程能力指数CPK,也叫长期过程能力指数 ⏹其要求是：CPK ＞1.33或满足顾客要求⏹ 计算公式为:Cpk=min(22ˆ3,ˆ3R R XUSL LSL X σσ-- )⏹ 计算数据为:最好是25组⏹ 计算时间：批量生产阶段,按照控制计划的规定,一般是每张控制图完成后三、其它计量型数据控制图1、均值和标准差控制图⏹标准差s是过程变异性更有效的指针,尤其是对于样本容量较大（n＞10）的情况,一般来说,当出现下列一种或多种情况时用s图代替R图:⏹数据是由计算机按实时时序记录和/或描图的,则s的计算程序容易集成化⏹有方便适用的袖珍计算器使s的计算能简单按程序算出⏹使用子组样本容量较大,更有效的变差量度是合适的2、中位数控制图⏹中位数图用在子组的样本容量小于或等于10的情况,样本容量为奇数时更方便⏹如果子组样本容量为偶数,中位数是中间两个数的均值3、单值和移动极差控制图⏹测试一个产品的数据所化时间很长⏹所选取的样本,属于一种极为均匀一致之产品如像液体或气体,测量几个和一个一样⏹加工一个产品的时间很长⏹产品价值很高,测试一个样本会损失很多钱⏹属破坏性试验,每测试一个产品,就损失一个⏹控制过程参数,如:温度﹑压力﹑时间等四、计数型数据控制图：P图1、不合格品率（P图）实施步骤：A.收集数据:子组大小/子组频率/子组数的大小B.计算控制限:初始控制线/延长控制线C.过程控制解释:4种异常情况的判定及对策D.过程能力解释:产品合格率或不合格率2、子组大小⏹子组:每次连续取样的样本⏹子组大小:每次连续取样的样本数量⏹确定子组大小的原则：●子组要大,如50个到200，甚至更多，以便检验出性能的一般变化●一个子组内要包括几个不合格品●每一个子组代表很长的一段时间的过程操作●子组容量分为恒定或它们变化不超过±25％，以及超出±25%二种图形3、子组频率⏹子组频率:每次取样的间隔时间⏹确定子组频率的原则:—应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题﹒时间间隔短则反馈快﹐但也许与大的子组容量要求矛盾—一般为每班或每天，用于全检工位的较多4、子组数大小⏹为了子组数大小:每张控制图的控制点数量⏹确定子组数大小的原则：—在初始阶段不低于100个单值数据—在量产阶段一般不少于25个点5、过程控制解释1、超出控制限的点2、连续7点位于平均值的一侧3、连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降4、明显的非随机图形(大约的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内,大约的点落在其外的三分之二的区域)6、过程能力解释⏹如果对于计数型控制图﹐能力直接被定义为不合格品的平均百分数或比例，如PPM（百万分之一）⏹而计量型控制图的能力指的是将／或不将过程的中心调整到规范的目标值后﹐用PPK和CPK表示五、其它计数型数据控制图1、不合格品数控制图（np图）⏹np图用来衡量一个检验中的不合格（不符合或所谓的缺陷）品的数量⏹与p图不同﹐np图表示不合格品的实际数量而不是与样本的比率⏹p图和np图适用的基本情况相同﹐当满足下列情况时可选用np图—不合格品的实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告—各阶段子组的样本容量相同2、不合格数控制图（c图）⏹c图用来测量一个检验批内的不合格（或缺陷）的数量（与描在np图上的不合格品的数量不同）⏹c图要求样本的容量恒定或受检材料的数量恒定﹐它主要应用于以下两类检验﹕—不合格分布在连续的产品流上（例如每匹维尼龙上的瑕疵﹐玻璃上的气泡或电线上绝缘层薄的点）—在单个的产品检验中可能发现许多不同潜在原因造成的不合格3、单位产品不合格数控制图（u图）⏹u图是用来测量具有容量不同的样本（受检材料的量不同）的子组内每检验单位产品之内的不合格数量⏹除了不合格数是按每单位产品为基本量表示以外﹐它是与c图相似的⏹u图和c图适用于相同的数据情况﹐但如果样本含有多于一个“单位产品”的量﹐为使报告值更有意义时﹐可以使用u图六、停止灯控制图1、停止灯控制图的概念⏹无论在停止灯控制图中，目标值区域指定为绿色，警告区域指定为黄色，停止区域指定为红色。

SPC-计量型

读数 1
174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174
读数 2
175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175
错
错
2. 过量控制
2. 过量控制
3. 材料质量变化大
3. 混合不同质量的材料
4. 测量系统发生变化 4. 测量系统发生变化
纠正行动
1. 检查控制上下限 2. 调查材料变化 3. 评估测试程序 4. 评估检验频次和方法 5. 操作工可能调整工序过多
24
TRENDS 趋向
25
TRENDS 趋向
X 图原因
R图原因
1. 机器变坏 2. 操作工疲倦 3. 工具磨损原材料质
量改变
1. 机器失效 2. 操作工技巧进步或
变坏 3. 操作工疲倦 4. 原材料质量改变
纠正行动
1. 修理或更换机器 2. 与操作工讨论运作找寻原因 3. 转换操作工 4. 转换修理工具 5. 调查原材料
26
JUMP IN PROCESS LEVEL 工序级别跳动
读数 5
173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173

SPC常见问题

SPC统计过程控制注意事项1.现行SPC与目前最新版SPC手册（2nd,2005年7月）之间的关系？目前按SPC最新版本进行统计过程控制。

2.SPC主要是为满足TS技术规范哪个条款的要求？8.2.3.1制造过程的监视和测量以及7.5.1.3作业准备验证.3.SPC与其他工具（包括APQP、PPAP、FMEA及CP、MSA）之间的关系？详见教材。

4.现有顾客提供的产品图纸、技术要求，如何确定哪些特性需要做SPC分析？详见教材。

5.什么是特殊特性？特殊特性由谁确定？特殊特性分关键特性和重要特性。

关键特性是指影响安全和法规方面的特性；重要特性是指影响装配、功能、性能方面的特性。

特殊特性由小组结合顾客规定、法规要求、小组经验确定。

6.特殊特性在哪些文件中体现？需要注意哪些方面？主要体现特殊特性的文件有：过程流程图（特殊特性清单及矩阵图）、FMEA、控制计划和作业指导书。

注意：特殊特性的符号一致（可以采用顾客要求的符号或经说明后使用等效符号）；数目不能减少；规格不能变宽。

7.是否所有特殊特性均须进行统计过程控制？针对所有特殊特性均需进行初始过程能力分析(特殊情形除外)。

原则上需要考虑针对所有的特殊特性进行统计过程控制，同时也考虑过程能力（如有些相关联的特性可以不用每个都分析，如过程能力远远超出要求或过程变差超过规格限且人、机、料、法、环无论如何优化也无法达到所要求的能力的情形不进行分析；但应考虑相应的遏制措施如100%全检）。

8.针对哪些工序进行SPC管控？依特殊特性清单及矩阵图分析结果对特殊特性有重大影响的工序进行SPC管控。

9.计量型和计数型数据的区别？计数型数据：显示的数据为离散的（如目视外观、塞规测孔径）。

计量型数据：显示的数据为连续的（如尺寸、硬度、重量、力）。

10.计量型和计数型SPC分别有哪些？如何进行选择？计数型SPC：P图、NP图、U图、C图。

计量型SPC：Xbar-R、Xbar-S、中位数-R（精度太差，已不使用）、X-MR。

spc管理规定

spc管理规定SPC 管理规定一、引言SPC（Statistical Process Control，统计过程控制）是一种借助数理统计方法来监控和评估生产过程的工具。

它通过对过程数据的收集、分析和解释，帮助企业及时发现过程中的异常波动，采取预防措施，以达到提高产品质量、降低成本、增强竞争力的目的。

为了有效地实施SPC 管理，特制定本规定。

二、适用范围本规定适用于公司内所有涉及生产过程的部门和环节，包括原材料采购、生产加工、装配、检验等。

三、职责分工1、质量部门负责制定 SPC 管理的相关流程和标准。

组织培训，确保相关人员掌握 SPC 知识和技能。

收集、分析和汇总 SPC 数据，提出改进建议。

2、生产部门按照要求收集和记录生产过程中的数据。

对 SPC 分析结果中指出的问题进行原因分析，并采取改进措施。

3、技术部门协助质量部门确定关键控制点和控制参数。

为生产部门提供技术支持，解决与工艺相关的问题。

四、SPC 控制图的选择与应用1、均值极差控制图（X R 图）适用于计量型数据，如尺寸、重量等。

通常用于样本容量较小（n ＜ 10）的情况。

2、均值标准差控制图（X S 图）同样适用于计量型数据，但样本容量较大（n ≥ 10）时更适用。

3、中位数极差控制图（X R 图）当测量数据需要快速得出结果，或测量费用较高时使用。

4、不合格品率控制图（p 图）用于计数型数据，如不合格品的比例。

5、不合格品数控制图（np 图）适用于样本容量固定的情况。

6、单位缺陷数控制图（u 图）用于计算每件产品的平均缺陷数。

7、缺陷数控制图（c 图）适用于一定单位内的缺陷数。

五、数据收集1、确定数据收集的频率和样本容量。

收集频率应根据生产过程的稳定性和重要性来确定，一般来说，关键过程应增加收集频率。

样本容量应足够大，以反映过程的变化，但也不应过大，以免增加成本和工作量。

2、数据应准确、真实、完整。

收集人员应经过培训，了解数据收集的方法和要求。

SPC控制图选择的技巧

SPC控制图选择的技巧SPC介绍：SPC统计过程控制（Statistical Process Control），简称SPC，是一种借助数理统计方法的过程控制工具。

在企业的质量控制中，可应用SPC对质量数据进行统计、分析从而区分出生产过程中产品质量的正常波动与异常波动，以便对过程的异常及时提出预警，提醒管理人员采取措施消除异常，恢复过程的稳定性，从而提高产品的质量。

SPC目的：SPC目的是建立并保持过程处于可接受的并且稳定的水平，以确保产品和服务符合规定的要求。

而要实现SPC的目的主要用到的工具手段就是控制图。

控制图主要是一个统计管理工具。

既然是统计那么就离不开数据，数据是统计技术的基础。

在SPC统计过程的，为不同的数据应用不同的控制图来统计。

那么SPC统计过程中的数据分为哪几种呢？首先数据主要分为两大类，一个是计量型数据，另一个是计数型数据。

计量型数据是指连续测量所得的质量特性值，如长度、重量、强度、化学成分、时间、电阻等。

计数型数据是指按个数数得的非连续性取值的质量特性值，如铸件的疵点数，统计抽样中的不合格判定数、审核中的不合格项数等可以用0、1、2、3、、、等阿拉伯数字数下去的数据。

其中计数型数据又可分为计件值与计点值，其中计件值是指是按件、按个、按项计数的数据。

例如：不合格品件数、温控器个数、质量检验项目等；计点值是指是指按缺陷点计数，例如：铸件的沙眼数、布匹上的疵点数、电路板上的焊接不良数等离散性数据。

控制图在众多现代化工厂中得到了普遍应用，并凭借其强大的分析功能，为工厂带来丰厚的实时收益。

最初的控制图分为计量型与计数型两大类，包含七种基本图表。

计量型控制图包括：• IX-MR（单值移动极差图）• Xbar-R（均值极差图）• Xbar-s（均值标准差图）计数型控制图包括：• P（用于可变样本量的不合格品率）• Np（用于固定样本量的不合格品数）• u（用于可变样本量的单位缺陷数）• c（用于固定样本量的缺陷数）控制图的介绍：虽然最初被引入企业的只有7种基本控制图，但很多企业仍从这7种图表的有效运用中获得显著收益。

SPC计算公式

SPC计算公式统计项目名称：SPC计算公式统计项目编号：SPC-002文档编号：版本号： 1.0编制单位：研发部文档控制目录SPC计算公式统计 (1)文档控制 (1)一、计量型 (3)Mean均值 (3)Max最大值 (3)Min最小值 (3)Range极差最大跨距 (3)MR移动极差 (3)StdDev标准差 (3)Sigma (4)UCL、CL、LCL上控制限、中心限、下控制限（计量型） (4)Cp过程能力指数 (5)Cmk机器能力指数 (5)Cr过程能力比值 (5)Cpl下限过程能力指数 (5)Cpu上限过程能力指数 (6)Cpk修正的过程能力指数 (6)k：偏移系数 (6)Pp过程性能指数 (6)Pr过程性能比值 (6)Ppu上限过程性能指数 (6)Ppl下限过程性能指数 (6)Ppk修正的过程性能指数 (7)Cpm目标能力指数 (7)Ppm目标过程性能指数 (7)Zu(Cap)规格上限Sigma水平 (7)Zl(Cap)规格下限Sigma水平 (7)Zu(Perf) (7)Zl(Perf) (7)Fpu(Cap)超出控制上限机率 (8)Fpl(Cap)超出控制下限机率 (8)Fp (Cap)超出控制界线的机率 (8)Fpu(Perf) (8)Fpl(Perf) (8)Fp (Perf) (8)Skewness偏度，对称度 (8)Kurtosis峰度 (8)二、计数型 (8)Mean均值 (9)Max (9)Min (9)Range极差 (10)StdDev标准差 (10)UCL、CL、LCL上控制限、中心限、下控制限（计件型、计点型） (10)三、DPMO (10)四、相关分析 (11)五、正态分布函数Normsdist(z) (11)六、综合能力指数分析 (12)一、计量型输入参数：x ：参与计算的样本值ChartType ：图形编号，1均值极差;2均值标准差;3单值移动极差;8直方图 USL ：规格上限 LSL ：规格下限Target ：目标值，在公式中简写为T Mr_Range ：移动跨距σˆ：估计sigma 计算出：n ：样本总数x ：所有样本的平均值注意：1、设置常量NOTV ALID=-99999，如统计量计算不出，则返回该常量Mean 均值nxMean ni i∑==1子组数中的所有均值(字段名叫取值)的总平均值Max 最大值max X Max = 子组数中最大的均值Min 最小值min X Min = 子组数中最小的均值Range 极差最大跨距min max X X Range -=MR 移动极差i n i X X MR -=+ 本子组取值与上一子组的差值绝对值StdDev 标准差1)(12--=∑=n Mean xStdDev ni i例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求)44()46()44()42(2222-+-+-+-Sigma1、极差估计σˆ 2/d R =∧σ2、标准差估计σˆ 4/ˆC S =σ当子组容量在25以内时可查表得到4C 的值，当子组容量大于25时可用公式：3*4)1(*44--=n n C3、计算σn k m n k m x xmi i*,1)(12=--=∑=，则为个子组，每个子组容量σ4、组内波动σˆ n k nx xki iki nj i ij为个子组，每个子组容量,)1()(1112∑∑∑-==∧--=σUCL 、CL 、LCL 上控制限、中心限、下控制限（计量型）1、均值-极差控制图（x - R ）均值控制图极差控制图UCL=R X 2A + UCL=R D 4 LCL=R X 2A - LCL=),0(3R D Max CL=X CL=R 其中：232d n A ⋅=23314d dD ⋅+= 23313d d D ⋅-= 3是指控制标准差倍数2、均值-标准差控制图（x -S ）均值控制图标准差控制图UCL=S A X 3+ UCL=S B 4 LCL=S A X 3- LCL=),0(3S B Max CL=X CL=S其中：)(334n C n A ⋅=)()(1314424n C n c B -⋅+= )()(1313424n C n c B -⋅-= 3是指控制标准差倍数3、单值-移动极差控制图（X-Rs ）单值控制图极差控制图UCL=s R E X 2+ UCL=s R D 4 LCL=s R E X 2- LCL=),0(3s R D Max CL=X CL=s R 其中：232d E =23314d d D ⋅+= 23313d d D ⋅-= 3是指控制标准差倍数Cp 过程能力指数（短期）过程能力，即工序的能力（Process Capbility ，PC ），是指过程加工质量方面的能力。