CPK 培训教材
CPK-培训教材
CPK 培训教材一.Cpk 的定义某一制程在一定因素与正常管制状态下的质量作业能力. 二.Cpk 的影响因素制程要因---原料,机器设备,人员能力,测量仪器. 制程条件---常态分配,统计管制状态. 三.Cpk 的计算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:测量数据的平均值σ:标准偏差,其公式为: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示测量数据的离散程度, σ越小表示数据的离散程度越小,反之则数据的离散程度越大.Cpu:其值表示测量数据偏离上限的程度, Cpu 越大表示测量数据偏离上限较远; 反之则数据靠近上限.Cpl: 其值表示测量数据偏离下限的程度, Cpl 越大表示测量数据偏离下限较远; 反之则数据靠近下限. 四.Cpk 的等级 A: 1.33≦CpkA 级,制程能力满足图纸要求,生产中几乎没有不良品产生. B: 1.00≦Cpk<1.33B 级, 制程能力基本满足图纸要求,生产中约有0.27%不良品产生,必须加以注意,并设法维持不使其变坏.C: Cpk<1.00C级, 制程能力不能满足图纸要求, 生产中可能有较多不良品产生, 应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产.五.Cpk 管制抽样的基本原则管制方法取样频率管制图查检表高 1--2小时 15--30分钟中 4--8小时每小时低每班次 2小时六.CPK数据分析.1.数据均分布于中值两旁, Cpk值一般大于1.33,见附图１.2.数据离散地分布中值两旁,Cpk值一般小于1.33,见附图２.3.数据分布离散度小,但偏中值不远,Cpk值大于1.33,见附图３.4.数据分布离散度小,但偏中值较远,Cpk值小于1.33. 见附图４.5.数据绝大多数虽均分布于中值两旁,但个别超差,将大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,见附图５.七,Cpk的提高.1.减小σ,即增强设备的稳定性,增加夹具夹紧定位的可靠性,提高刀具切削的稳定性2.精心调整,使数据均布于中值两旁.3.加强监控,当数据偏离中值较远时,要及时调机,不必等到超差时再调机.八.CP制程精确度.CP=Ｔ/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP 越大制程精确程度越高,反之则制程精确程度越低. CP 的分级: A : 1.33≦CP B : 1.00≦CP<1.33 C : 0.83≦CP<1.00 D : CP<0.83 CP 等级的处置Ａ级:此一工程甚为稳定,可以将规格容许差缩小或胜任更精密的工作.Ｂ级:有发生不良品之危险,必须加以注意,并设法维持不要使其变坏及迅速追查. Ｃ级:检讨规格及作业标准,可能本工程不能胜任这么精密的工作. Ｄ级:应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素,必要时得停止生产.九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的关系当数据对称分布于中值两边时,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的关系如下:-４δ -３δ -２δ -１δ ０ +１δ +２ +３ +４ +５ +６ -５δ -６δ ０68.26%95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判断。
CPK培训教材6sigma基础知识培训精编版
Ca等级评定及处理原则
Ca好﹐Cp差
Cp好﹐Ca差
Cpk好﹔
製程能力靶心圖
如何通过CPK看制程能力
了解了CPK的涵义和计算公式，那么我们在生产过程中，多大的CPK是好的，怎样的CPK是需改善，一般来说，下面的表格可作为参考：
CP/CA/CPK应用举例2
1.AQL 依抽樣計劃檢驗規格公差內即判定OK.2.Cpk 依 Lot or 交貨批量執行 30PCS 量測,Cpk值需達1.33以上.3.製程能力需達 4 以上.4.良品率 99.993 以上.5.63 ppm 以下.
Cpk & AQL 之比較
Cpk---Process capability index attempts to answer the question “does my process in the long run meet specification?”
Cpk等于对上公差的Cp和对下公差的Cp中二者较小的
CPK的计算公式
样本的标准差σ按下面的公式计算而得：σ=
计算CPK时，我们一般选用30-50的样本数。此时称为短期制程能力指数。
样本的平均值 µ 的计算方法如下：µ = (X1 + ‥ + Xn) / n
以上计算 σ 方法是较常用的，也是比较简单的，适用于我们手算。也可以用Excel和Minitab计算， Excel一般引用函数STDEV
UCL-LSL
6 σ
Cp=
=
T
6 σ
CPL=
µ-LSL
3 σ
为单侧下限过程能力指数
CPK 培训教材
CPK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk 的影響因素製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk 的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl 越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限. 四.Cpk 的等級 A: 1.33≦CpkA 級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生.B: 1.00≦Cpk<1.33B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏.C: Cpk<1.00C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1--2小時 15--30分鐘中 4--8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１.2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖２.3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖３.4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖４.5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖５.七,Cpk的提高.1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性2.精心調整,使數据均布于中值兩旁.3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机.八.CP制程精确度.CP=Ｔ/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低.CP的分級:A : 1.33≦CPB : 1.00≦CP<1.33C : 0.83≦CP<1.00D : CP<0.83CP等級的處置Ａ級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作.Ｂ級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查.Ｃ級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作.Ｄ級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的關系當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的關系如下:-４δ -３δ -２δ-１δ ０ +１δ +２+３ +４ +５ +６ -５δ -６δ ０68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判斷X平均數。
CPK培训教材
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Ca等级之解说
等级评定后之处置原则(Ca等级之处置) A级:作业员遵守作业标准操作并达到规格之要求須继续维持。 B级:有必要可能将其改进为A级。 C级:作业员可能看错规格不按作业标准操作或检讨规格及作业标准。 D级:应采取紧急措施，全面检讨所有可能影响之因，必要时得停止生产。 以上僅是些基本原则，在一般应用上Ca如果不良时，其对策方法是制造单位为主，技术单位副，品管单
准确度差 精密度高 系统误差大 偶然误差小
准确度差 精密度差 系统误差大 偶然误差大
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制程能力分析
何谓制程能力？
➢制造程序潜在精度的测定，以衡量加工的一致性 ➢制程加工品质在一定因素与正常管制状态下满足技术标准的程度
基本精神
➢将制程能力计量化 ➢将测得的制程能力与品质要求作比较
制程能力与生产能力有本质的区别，制程能力是指质量上所能达到 的程度，而生产能力是指数量上所能达到的程度，一个指质量，一个指数 量。
下
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Cp等级之解说
等級評定後之處置原則(Cp等級之處置) A級:此一製程甚為穩定，可以將規格許容差縮小或勝任更精密之工作。 B級:有發生不良品之危險，必須加以注意，並設法維持不要使其變壞及迅速追查。 C級:檢討規格及作業標準，可能本製程不能勝任如此精密之工作。 D級:應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因素，必要時應停止生產。 以上也是與Ca一樣，僅是一些基本原則，在一般上Cp如果不良時，其對策方法是技術單位為主，製造單位為副
当过程处于用标准控制图所定义的统计控 当过程没有处于用标准控制图所定义的统
制状态时, 使用Cp.
计控制状态时, 使用Pp.
能力 = 3 x Cp
目标值
CPK培训资料
02
cpk计算与提升方法
cpk计算公式及步骤
1 2
CPK定义
是过程能力指数，用于评估生产过程中产品质 量是否满足预定规格要求。
CPK计算公式
CPK = (USL - LSL) / 6σ，其中USL为规格上限 ，LSL为规格下限，σ为过程平均变异差。
3
CPK计算步骤
收集数据、计算过程平均变异差、计算CPK、 判定结果。
介绍如何制定有效的CPK质量计划，包括关 键控制点、控制限等设定，以确保产品质量 稳定。
05
总结与展望
cpk培训总结
培训内容
包括cpk的概念、原理、计算方法、应用场景等多个方面，以 及针对企业实际情况的案例分析和实际操作。
培训效果
通过互动、讲解、小组讨论等多种方式，使学员深入了解cpk 的有关知识，掌握计算cpk的技能，并能够根据企业实际情况 进行案例分析和实际操作。
cpk与生产过程控制
1
CPK是生产过程控制的重要指标之一，能够反 映生产过程整体质量水平。
2
CPK与PPM（每百万缺陷率）等其他指标共同 作用，全面评估生产过程质量控制水平。
3
CPK在生产过程控制中具有指导意义，能够帮 助企业及时发现并解决问题，采取相应措施提 升产品质量和生产效率。
03
cpk质量应用实践案例
案例二：xx产品的生产过程cpk控制
01
背景
XX公司是一家汽车零部件制造企业，产品制造过程中需要保证多个零
部件的加工精度和质量稳定性。02Fra bibliotekCPK应用
通过对生产过程进行CPK分析和控制图的应用，及时发现生产过程中
的异常和波动，采取相应的控制措施，确保产品质量稳定性。
Cpk 培训资料
=MIN{(UCL— AVG)/(3¡ ¯ SIGMA), Cpk(UCL ,LCL) (AVG-LCL)/(3¡¯ SIGMA)} 5.0738
Cpk训练教材
实例讲解Cpk之制作.
例： 下面就举一个我们 ADAPTER 机种PA-1900-05D 求输出电
压(DC OUTPUT VOLTAGE
Cpk 的例子.已知其机台输出电压条件19.5V/4.51A ,要Cpk≧1.5. 输 出电压的上限UCL=20.6V, 下限值LCL=18.9V.收集50组数据如下: (单位：V)
根据T与6σ的相对大小可以得到下图三 种情况.Cpk值比较大,表明加工质量越好, 质量越稳定,但这时对设备操作人员的要求 也.越高,加工成本越大,所以对Cpk的选择 应根据技朮与经济的综合分析来决定.
(图二)
Cpk>1 Tl Tu Tl
(图三)
Cpk=1 Tu Tl
(图四)
Cpk<1 Tu
CPK知识培训教材
1.37 1.42 1.42 1.44 1.36 1.38 1.31 1.38 1.46 1.41
1.4 1.42 1.3 1.45 1.48 1.43 1.41 1.35 1.36 1.41
1.32 1.45 1.34 1.32 1.4 1.41 1.44 1.42 1.37 1.44
1.42 1.35 1.42 1.48 1.39 1.48 1.44 1.43 1.27 1.48
30
五.CPK的分析与改进
影响因素： 5M1E (1)人——与工序直接有关的操作人员、辅助人员的质 量意识和操作技术水平； (2)机——包括设备的精度、工装的精度及其合理性、 刀具参数的合理性等； (3)料——包括原材料、半成品、外协件的质量及其 适用性； (4)法——包括工艺方法及规范、操作规程的合理性； (5)环——生产环境及劳动条件的适应性。 (6)测——测量方法及测量精度的适应性；
应的是位置关系（集中趋势） 标准公式：
Ca= 实际平均值 - 规格中心值 = 2(X-μ)/T
（规格公差）/2
规格公差 = T = 规格上限 - 规格下限 = USL-LSL 规格中心值 = u =(规格上限 ＋ 规格下限)/2=（USL+LSL）/2 单边规格因沒有规格中心值故不能算Ca
当Ca ＝ 0 时，代表量测制程之实绩平均值与规格中心值 相同，无偏移；
1.36 1.41 1.44 1.37 1.39 1.36 1.37 1.35 1.42 1.42
1.49 1.36 1.42 1.34 1.46 1.45 1.37 1.36 1.4 1.34
1.43 1.4 1.39 1.37 1.39 1.5 1.39 1.39 1.41 1.43
1.41 1.34 1.42 1.37 1.53 1.43 1.45 1.4 1.37 1.42
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何謂『統計』？
統計的基本原料是？
數 據
有數據就是統計嗎？
計算
經過計算后得什麼？
有意義的情報
統計基礎
何謂『統計』？
統計
---收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動
• 何謂『有意義的情報』？
至少應包括：
『集中趨勢 + 離中趨勢 + 含蓋在特定範圍內的機率』
集中趨勢
平均值 中位数
TIME
規格對品質的意義
Cpk的
•• •••• ••• • • •• • • •
• •• •• •
【品管中心培訓教材】
謝謝大家光臨本次課程
祝:
大家工作愉快
9
X
10
11
=
1 n n
Σ
2
(X -X)
Sigma ()
表示數據的离散程度
i-1
樣本標準差 S
～ δ ～
因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時， 就不便以操作,而且不符合現場需要。所以一般情況下, 會用樣本標準差S來代替δ
S～ δ ～
母 體
樣本
S=樣本標準差
S=
1 n n-1
Σ (X i-1
精確度：
是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值， 記爲Cp。通常以規格範圍T與工序能力 6* δ的比值來 表示。即： 不精密 精密
•• •••• ••• •
•• •••• ••
精密度表示什麼
Cp=T/6δ=規格公差/6*標準差
規格公差=UCL-LCL=規格上線-規格下線 1. 製程精密度，其值越高表示製程實際值間的 離散程度越小，亦即表示製程穩定而變異小（離中 趨勢，與σ有關）。 2. 當公差範圍內能納入愈多的σ個數，則此製 程表現愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的） 特性值，代表一種潛在的能力
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σ=Rs/1.128
当n=2时，d2=1.128； 当n=3时，d2=1.693； x-R控制图计算标准差案例
当n=4时，d2=2.059；
当n=5时，d2=2.326；
内部资料 2014-3-25
x-Rs控制图计算标准差案例
5
一 过程能力研究概念
4、过程总变差：由普通原因和特殊原因所产生的变 差，用长期过程标准差表示，可用所有样本的标准
内部资料 2014-3-25 3
一 过程能力研究概念
２、变差：变异的程度，用标准差σ表示。
３、过程固有变差：仅由普通原因产生的那部分过
程变差，用短期过程标准差表示，可从控制图上通
过Ｒ/d2来估计。
内部资料
2014-3-25
4
一 过程能力研究概念
控制图类型 x-R图 x-Rs图
过程标准差σ
其中：
σ=Ｒ/d2
能满足顾客要求，经顾客批准可 开始生产，并按控制计划进行
1.33≤ CP ≤ 1.67(计量) 可被接受，但顾客可能会要求改 233≤ PPM ≤577 （记数） 进，批量前无改进应更改控制计 划
CP ＜1.33(计量) PPM ＞ 577（记数）
不能接受，与顾客代表取得联 系，对结果进行评审
内部资料
要求程度的量值。指过程结果满足要求的程度。
◆计算过程能力指数时在过程质量特性值服从正态分
布，过程受控状态下进行的。
◆当测数据≥50时，可近似用样本均值x代替总体均
值μ，用样本标准差s代替总体标准差σ。
内部资料 2014-3-25 9
一 过程能力研究概念
T Cp 6
过程能力是指品质上所能达到的程度 生产能力是指数量上所能达到的程度
CPK-培训教材详细讲解
CPK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk 的影響因素製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk 的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限.四.Cpk的等級A: 1.33≦CpkA級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生.B: 1.00≦Cpk<1.33B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏.C: Cpk<1.00C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1--2小時 15--30分鐘中 4--8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１.2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖２.3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖３.4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖４.5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖５.七,Cpk的提高.1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性2.精心調整,使數据均布于中值兩旁.3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机.八.CP制程精确度.CP=Ｔ/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低.CP的分級:A : 1.33≦CPB : 1.00≦CP<1.33C : 0.83≦CP<1.00D : CP<0.83CP 等級的處置Ａ級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作. Ｂ級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查.Ｃ級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作. Ｄ級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的關系當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的關系如下:-４δ -３δ -２δ-１δ０+１δ +２+３+４+５ +６ -５δ -６δ ０68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判斷3 1.33＞CP ≧1.00警告使制程保持于管理制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意4 1.00＞CP ≧1.67不足產品有不良品產生,需作全數選別,制程有妥善管理理及改善之必要.5 0.67＞CP 非常不足應采取緊急措施改善品質并追究原因,必要時規格再作檢討.SUδSLSUδSLCp与Cpk的计算公式1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Cpk，Ca，Cp三者的关系：Cpk = Cp ＊（ 1 －┃Ca┃），Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca 反应的是位置关系（集中趋势），Cp反应的是散布关系（离散趋势）4。
CPK应用培训资料
分析过程能力
根据计算出的CPK值，评 估过程能力是否满足要求。
CPK分析结果解读
结果解读
根据CPK值的大小，判断过程能力是 否充足。一般来说，CPK值大于1.33 表示过程能力良好，而CPK值小于 1.33则表示过程能力不足。
集成化
CPK应用将与企业的其他管理系统进行集成，实现数据共享和协同 工作，提高企业的整体运营效率。
定制化
针对不同行业和企业的需求，CPK应用将更加定制化，提供更加贴 合企业实际需求的解决方案。
提高CPK应用效果的建议
加强培训和意识提升
01
通过培训和宣传，提高员工对CPK应用的认知和重视程度，促
进其在日常工作中的积极应用。
改进措施
针对CPK值偏低的情况，分析原因并 采取相应的改进措施，如调整工艺参 数、优化设备配置等，以提高过程能 力。
03 CPK应用实例
案例一：生产过程控制
总结词
通过实时监测和数据分析，优化生产过程，提高产品质量和 生产效率。
详细描述
CPK在生产过程控制中的应用，主要是通过实时监测生产过 程中的各种参数，如温度、压力、流量等，收集数据并进行 分析，找出生产过程中的瓶颈和问题，优化生产流程，提高 产品质量和生产效率。
案例二：质量控制计划
总结词
制定和实施质量控制计划，确保产品符合质量标准和客户要求。
详细描述
在质量控制计划中，CPK可以用于确定关键控制点、设定控制限和行动水平，以 及监控和评估质量数据的分布情况。通过这些措施，可以确保产品在整个生产过 程中都符合质量标准和客户要求，减少不合格品的产生。
CPK培训教材
让我们回忆下Cp与Ca 的关系
不精密 不准确 精密
•• • •• •• • •• •••• ••• • • •• • • •
• •• •• •
准确
CPK 制程能力指数
一种用以量度某一特性的变化 趋势及概率的统计指标.
公式一
CPK=CP*(1- Ca )
准确度差
•• • •• •• •
SL μ Su
准确度好
Su=规格上限 SL=规格下限 μ =规格中心
• •• • • •• •• •
μ Su
SL
Ca Capability of Accuracy
准确度
制程平均值-规格中心值 规格允差之半
Ca= =
* 100%
X-μ T/2
* 100%
Su=规格上限SL=规格下限T=规格允差.，T =Su - Sl
Ca 等级评定后处理原则:
12.5% 等 级 之 解 说 规 格 中 心 值 25% 50% 100% 规 格 上 限 （ 下 限 ）
A级
B级 C级
D级
A:作业员依作业标准.继续维持. B:有必要时.尽可能改为A级
X （ 实 绩 ）
X （ 实 绩 ）
X （ 实 绩 ）
C:作业员可能看错规格或未照作业标准操作,应加强训练,检讨规格及作业标准.
-X)
2
样本: 从总体中随机抽取的若干个个体的总和称为样本。 组 成样本的每个个体称为样品。
数据分析
Cp、Ca、Cpk
数据的分布
A:每件产品的尺寸与别的都不同
B:但它们形成一个模型，若稳定，可以描述为一个分布
C:数据会有不同的分布型态，正态分布为钟型
Cpk基础培训教材
TIME
Cpk基础培训教材
生产过程的几种状态
图a 穩定可預計的 图c 不穩定不可預計的
公差上限
公差下限 公差上限
图b 不穩定不可預計的
公差下限
TIME
图d 趨向穩定
Cpk基础培训教材
公差上限 公差下限
公差上限 公差下限
Cpk的改善的方向
Cp 精確度差
• •
•••
•
• •
••
•••••
Cpk基础培训教材
Cpk基础培训教材
什么是標準差?
(1)
A槍手
(3) (5)
(7)
b槍手
飛標圖解
流程之聲
C槍手
1 35
7 10
7
5
3
1
Cpk基础培训教材
A 槍手
A
Cpk基础培训教材
B 槍手
B
A
Cpk基础培训教材
C 槍手
C
B
A
Cpk基础培训教材
B 槍手
C 槍手
A 槍手
LCL x
M
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Cpk基础培训教材
Cpk範例
Cpk基础培训教材
謝謝大家光臨本次課程
祝: 大家工作愉快
Cpk基础培训教材
演讲完毕，谢谢听讲!
再见，see you again
2020/10/30
Cpk基础培训教材
_
Su
M
x
SL
Su= 規格上限 SL= 規格下限
ห้องสมุดไป่ตู้
T=
規格允差. ，T Cpk基础培训教材
=Su
-
SL
(完整版)SPC(CPK)培训教材-2005.10.28
测量系统变差
量具线性
量具线性是在量具预期的工作范围内,偏差值的差值.
建立可解决问题之系统
确认关键制程及特性
导入SPC进行关键制程及特 性之管制
检讨制程能力符合规格程序 持续进行制程改善计划
提报及执行制程改善计划
决定管制项目
决定管制标准
决定抽样方法
选用管制图的格式
记入管制界限
NG
处置措施
偏倚 稳定性 重复性 再现性 分辨率
精度的概念
准确度好 精密度好 系统误差小 偶然误差小
准确度高 精密度差 系统误差小 偶然误差大
准确度差 精密度高 系统误差大 偶然误差小
准确度差 精密度差 系统误差大 偶然误差大
测量系统变差
量具精确度(偏差)
量具精确度指测量观察平均值 与真实值(基准值)的差异.真实 值由更精确的测量设备所确定.
孤岛型
統計程序控制
基本概念 1920年由W.A. Shewhart 提出 一般稱為Shewhart控制圖或3σ控制圖 廣泛在工業界應用 為判斷制程變差的普通原因或特殊原因的
主要統計分析工具Biblioteka 基本统计概念统计量
☺ R 全距(range) ☺ x (µ) 算术平均数(arithmetic mean) ☺ Md 中位数(median) ☺ Mo 众数(mode) ☺ σ 方差/变异(variance) ☺ σ 标准差(standard deviation)
制程管制的必要性
檢測 - 忍受浪費 預防 - 避免浪費
直方图的应用
收集数据n>80 计算极差R=Xmax-Xmin 适当分组k=n/10 组距h=R/k 纵线为频次 横线为数据分组
CPK培训资料2
適用于對產品的可調項目進行管控.要求如下: 1.參數可調 2.參數有上限與下限 3.參數有最佳值
2
五.相關名詞定義.
5.1 單邊規格 : 單邊規格為不對稱規格,即只有上限與中心值或下限與中心值. 中心值即為上限或下限.
5.2 雙邊規格 : 雙邊規格為對稱規格.即有上下限與中心值,而上下限與中心值 此時的對稱,此時數據越靠近中心值越好.
算出樣本的標準差δx,套入公式:
δx =
(X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2
n
(275-280.2)2+(267-280.2)2+… … +(278-280.2)2
=
10
再套入樣本群體的標準差公式,即:
δ=δx *
n n-1
= 7.36 *
**
10 = 7.758
10-1
因WBx規格為281+15(即下限LSL為266,上限USL為296).故規格公差
B
12.5%<|Ca|<25% 有必要盡可能將其改進為A級
C
25%<|Ca|<50% 作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準.
D
50%<|Ca|
應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產.
(3)Ca等級之解說: 從計算公式中可看出我們是設定規格中心值與規格之上限或下限的差距為100%,然後以 樣本(實績)中心值離開規格中心的遠近為評定標準,如下圖所示:
USL
上圖中A為最佳狀
均值必須加以控
(3)6δ>USL - LS
18
七.Ca,Cp,Cpk與不良率換算.
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CPK 培訓教材
一.Cpk 的定義
某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk 的影響因素
製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk 的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸
Average:測量數据的平均值
σ:標準差,其公式為: σ=1
/)(22
--∑∑n n x x
Cpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)
σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.
Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.
Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl 越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限. 四.Cpk 的等級 A: 1.33≦Cpk
A 級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生.
B: 1.00≦Cpk<1.33
B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏.
C: Cpk<1.00
C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.
五.Cpk 管制抽樣的基本原則
管制方法
取樣頻率管制圖查檢表
高 1--2小時 15--30分鐘
中 4--8小時每小時
低每班次 2小時
六.CPK數据分析.
1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖１.
2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖２.
3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖３.
4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖４.
5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖５.
七,Cpk的提高.
1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性
2.精心調整,使數据均布于中值兩旁.
3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机.
八.CP制程精确度.
CP=Ｔ/6σ.
T:尺寸公差值
CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低.
CP的分級:
A : 1.33≦CP
B : 1.00≦CP<1.33
C : 0.83≦CP<1.00
D : CP<0.83
CP等級的處置
Ａ級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作.
Ｂ級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查.
Ｃ級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作.
Ｄ級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.
九 . 制程精密(ＣＰ值)与不良率的關系
當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下:
制程精密度(CP 值)与不良率的關系如下:
-４δ -３δ -２δ
-１δ ０ +１δ +２
+３ +４ +５ +６ -５δ -６δ ０
68.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%
十. C P与制程能力的判斷
X
平均數。