集成电路设计复习题及解答
《超大规模集成电路设计》考试习题(含答案)完整版
1．集成电路的发展过程经历了哪些发展阶段？划分集成电路的标准是什么？集成电路的发展过程:•小规模集成电路(Small Scale IC，SSI)•中规模集成电路(Medium Scale IC，MSI)•大规模集成电路(Large Scale IC，LSI)•超大规模集成电路(Very Large Scale IC，VLSI)•特大规模集成电路(Ultra Large Scale IC，ULSI)•巨大规模集成电路(Gigantic Scale IC，GSI）划分集成电路规模的标准2．超大规模集成电路有哪些优点？1. 降低生产成本VLSI减少了体积和重量等,可靠性成万倍提高,功耗成万倍减少.2.提高工作速度VLSI内部连线很短,缩短了延迟时间.加工的技术越来越精细.电路工作速度的提高,主要是依靠减少尺寸获得.3. 降低功耗芯片内部电路尺寸小,连线短,分布电容小,驱动电路所需的功率下降.4. 简化逻辑电路芯片内部电路受干扰小,电路可简化.5.优越的可靠性采用VLSI后，元件数目和外部的接触点都大为减少，可靠性得到很大提高。
6.体积小重量轻7.缩短电子产品的设计和组装周期一片VLSI组件可以代替大量的元器件,组装工作极大的节省,生产线被压缩,加快了生产速度.3．简述双阱CMOS工艺制作CMOS反相器的工艺流程过程。
1、形成N阱2、形成P阱3、推阱4、形成场隔离区5、形成多晶硅栅6、形成硅化物7、形成N管源漏区8、形成P管源漏区9、形成接触孔10、形成第一层金属11、形成第一层金属12、形成穿通接触孔13、形成第二层金属14、合金15、形成钝化层16、测试、封装，完成集成电路的制造工艺4．在VLSI设计中，对互连线的要求和可能的互连线材料是什么？互连线的要求低电阻值：产生的电压降最小；信号传输延时最小（RC时间常数最小化）与器件之间的接触电阻低长期可靠工作可能的互连线材料金属（低电阻率），多晶硅（中等电阻率），高掺杂区的硅(注入或扩散)（中等电阻率）5．在进行版图设计时为什么要制定版图设计规则？—片集成电路上有成千上万个晶体管和电阻等元件以及大量的连线。
超大规模集成电路设计导论考试题及答案
1、MOS集成电路的加工包括哪些基本工艺？各有哪些方法和工序？答：（1）热氧化工艺：包括干氧化法和湿氧化法；（2）扩散工艺：包括扩散法和离子注入法；（3）淀积工艺：化学淀积方法：1 外延生长法；2 热CVD法；3 等离子CVD 法；物理淀积方法：1 溅射法；2 真空蒸发法（4）光刻工艺：工序包括：1 涂光刻胶；2 预烘干；3 掩膜对准；4 曝光；5 显影；6 后烘干；7 腐蚀；8 去胶。
2、简述光刻工艺过程及作用。
答：（1）涂光刻胶：为了增加光刻胶和硅片之间的粘附性，防止显影时光刻胶的脱落，以及防止湿法腐蚀产生侧向腐蚀；（2）预烘干：以便除去光刻胶中的溶剂；（3）掩膜对准：以保证掩模板上的图形与硅片上已加工的各层图形套准；（4）曝光：使光刻胶获得与掩模图形相同的感光图片；（5）显影：将曝光后的硅片浸泡在显影液中，使正光刻胶的曝光部分和负光刻胶的未曝光部分被溶解掉；（6）后烘干：使残留在光刻胶中的有机溶剂完全挥发掉，提高光刻胶和硅片的粘接性及光刻胶的耐腐蚀性；（7）腐蚀：以复制在光刻胶上图形作为掩膜，对下层材料进行腐蚀，将图形复制到下层材料中；（8）去胶：除去光刻胶。
3、说明MOS晶体管的工作原理答：MOS晶体管有四种工作状态：（1）截止状态：即源漏之间不加电压时，沟道各电场强度相等，沟道厚度均匀，S、D之间没有电流I ds=0；（2）线性工作状态：漏源之间加电压Vds时，漏端接正，源端接负，沟道厚度不再均匀，在D端电位升为V d，栅漏极电位差为Vgs-Vtn，电场强度变弱，反型层变薄，并在沟道上产生由D到S的电场E ds，使得多数载流子由S端流向D端形成电流I ds，它与V ds变化呈线性关系：I ds=βn[(V gs-V tn)-V ds/2]V ds（3）饱和工作状态：Vs继续增大到V gs-V tn时，D端栅极与衬底不足以形成反型层，出现沟道夹断，电子运动到夹断点V gs-V ds=V tn时，便进入耗尽区，在漂移作用下，电子被漏极高电位吸引过去，便形成饱和电流，沟道夹断后，（V gs-V tn）不变，I ds 也不变，即MOS工作进入饱和状态，I ds=V gs-V tn/R c（4）击穿状态：当Vds增加到一定极限时，由于电压过高，晶体管D端得PN结发生雪崩击穿，电流急剧增加，晶体管不能正常工作。
1+X集成电路理论复习题与参考答案
1+X集成电路理论复习题与参考答案1、在集成电路中，将掩膜版上的图形位置及几何尺寸转移到光刻胶上的工艺是（）。
A、薄膜制备B、光刻C、刻蚀D、金属化答案：B在集成电路中，将掩膜版上的图形位置及几何尺寸转移到光刻胶上的工艺是光刻。
2、晶圆进行扎针测试时，完成晶圆信息的输入后，需要核对（）上的信息，确保三者的信息一致。
A、MAP图、探针台界面、晶圆测试随件单B、MAP图、测试机操作界面、晶圆测试随件单C、MAP图、软件版本、晶圆测试随件单D、MAP图、软件检测程序、晶圆测试随件单答案：B3、在制备完好的单晶衬底上，沿其原来晶向，生长一层厚度、导电类型、电阻率及晶格结构都符合要求的新单晶层，该薄膜制备方法是（）。
A、外延B、热氧化C、PVDD、CVD答案：A外延是在制备完好的单晶衬底上，沿其原来晶向，生长一层厚度、导电类型、电阻率及晶格结构都符合要求的新单晶层。
4、重力式外观检查是在( )环节之前进行的。
A、编带B、测试C、分选D、真空包装答案：D重力式分选机设备芯片检测工艺流程：上料→测试→分选→编带（SOP）→外观检查→真空包装。
5、使用化学机械抛光进行粗抛时,抛光区域温度- 般控制在()A、38~50°CB、20~50°CC、20~30°CD、20~38°C答案：A一般抛光区的温度控制在38~50°C (粗抛)和20~30°C (精抛)。
6、在版图设计过程中，N-MOS管的源极接（），漏极接（），P-MOS管的源极接（），漏极接（）。
A、地、高电位、电源、低电位B、地、高电位、GND、高电位C、地、高电位、GND、低电位D、电源、高电位、GND、低电位答案：C7、若遇到需要编带的芯片，在测试完成后的操作是( )。
A、测试B、上料C、编带D、外观检查答案：C转塔式分选机的操作步骤一般为：上料→测试→编带→外观检查→真空包装。
8、使用测编一体的转塔式分选设备进行芯片测试时，如果遇到需要编带的芯片，在测试完成后的操作是（）。
1+X集成电路理论试题库(附参考答案)
1+X集成电路理论试题库（附参考答案）一、单选题（共40题，每题1分，共40分）1、若想取下蓝膜上的晶圆或晶粒，需要照射适量（），能降低蓝膜的黏着力。
A、红外线B、太阳光C、蓝色光源D、紫外线正确答案：D答案解析：对需要重新贴膜或加工结束后的晶圆，需要从蓝膜上取下，此时只需照射适量紫外线，就能瞬间降低蓝膜黏着力，轻松取下晶圆或晶粒。
2、一般情况下，待编至( )颗时，需更换卷盘，并在完成编带的卷盘上贴上小标签，便于后期识别。
A、2000B、4000C、6000D、8000正确答案：B答案解析：一般情况下，待编至4000颗左右时，需要更换卷盘，即一盘编带一般装有4000颗的芯片。
3、晶圆检测工艺中，6英寸的晶圆进行晶圆墨点烘烤时，烘烤时长一般为（）分钟。
A、20B、1C、10D、5正确答案：D4、用编带机进行编带前预留空载带的原因是( )。
A、比较美观B、防止芯片散落C、确认编带机正常运行D、节省人工检查时间正确答案：B答案解析：空余载带预留设置是为了防止卷盘上编带的两端在操作过程中可能会出现封口分离的情况，导致端口的芯片散落。
5、使用化学机械抛光进行粗抛时,抛光区域温度- 般控制在()A、38~50°CB、20~50°CC、20~30°CD、20~38°C正确答案：A答案解析：一般抛光区的温度控制在38~50°C (粗抛)和20~30°C (精抛)。
6、用比色法进行氧化层厚度的检测时，看到的色彩是（）色彩。
A、反射B、干涉C、衍射D、二氧化硅膜本身的正确答案：B答案解析：硅片表面生成的二氧化硅本身是无色透明的膜，当有白光照射时，二氧化硅表面与硅-二氧化硅界面的反射光相干涉生成干涉色彩。
不同的氧化层厚度的干涉色彩不同，因此可以利用干涉色彩来估计氧化层的厚度。
7、芯片检测工艺中，进行管装包装时，将真空包装的编带盘放入内盒、合上盖子后，需要在内盒的封口边（）处贴上“合格”标签。
(完整版)集成电路设计复习题及解答
集成电路设计复习题绪论1．画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2．集成电路分类情况如何？集成电路设计1．层次化、结构化设计概念，集成电路设计域和设计层次2．什么是集成电路设计？集成电路设计流程。
（三个设计步骤：系统功能设计逻辑和电路设计版图设计）3．模拟电路和数字电路设计各自的特点和流程4．版图验证和检查包括哪些内容？如何实现？5．版图设计规则的概念，主要内容以及表示方法。
为什么需要指定版图设计规则？6．集成电路设计方法分类？（全定制、半定制、PLD）7．标准单元/门阵列的概念，优点/缺点，设计流程8．PLD设计方法的特点，FPGA/CPLD的概念9．试述门阵列和标准单元设计方法的概念和它们之间的异同点。
10．标准单元库中的单元的主要描述形式有哪些？分别在IC设计的什么阶段应用？11．集成电路的可测性设计是指什么？Soc设计复习题1.什么是SoC？2.SoC设计的发展趋势及面临的挑战？3.SoC设计的特点?4.SoC设计与传统的ASIC设计最大的不同是什么？5.什么是软硬件协同设计？6.常用的可测性设计方法有哪些？7. IP的基本概念和IP分类8.什么是可综合RTL代码?9.么是同步电路，什么是异步电路，各有什么特点？10.逻辑综合的概念。
11.什么是触发器的建立时间（Setup Time），试画图进行说明。
12.什么是触发器的保持时间（Hold Time），试画图进行说明。
13. 什么是验证，什么是测试，两者有何区别？14.试画图简要说明扫描测试原理。
绪论1、 画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2、集成电路分类情况如何？集成电路设计1． 层次化、结构化设计概念，集成电路设计域和设计层次分层分级设计和模块化设计．将一个复杂的集成电路系统的设计问题分解为复杂性较低的设计级别，⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎪⎪⎪⎩⎪⎪⎪⎪⎨⎧⎩⎨⎧⎪⎩⎪⎨⎧按应用领域分类数字模拟混合电路非线性电路线性电路模拟电路时序逻辑电路组合逻辑电路数字电路按功能分类GSI ULSI VLSI LSI MSI SSI 按规模分类薄膜混合集成电路厚膜混合集成电路混合集成电路B iCMOS B iMOS 型B iMOS CMOS NMOS PMOS 型MOS双极型单片集成电路按结构分类集成电路这个级别可以再分解到复杂性更低的设计级别；这样的分解一直继续到使最终的设计级别的复杂性足够低，也就是说，能相当容易地由这一级设计出的单元逐级组织起复杂的系统。
《集成电路设计原理》试卷及答案解读
电科《集成电路原理》期末考试试卷一、填空题1.（1分） 年，第一次观测到了具有放大作用的晶体管。
2．（2分）摩尔定律是指 。
3.集成电路按工作原理来分可分为 、 、 。
4.（4分）光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。
5.（4分）MOSFET 可以分为 、 、 、四种基本类型。
6.（3分）影响MOSFET 阈值电压的因素有： 、 以及 。
7.（2分）在CMOS 反相器中，V in ，V out 分别作为PMOS 和NMOS 的 和 ； 作为PMOS 的源极和体端， 作为NMOS 的源极和体端。
8．（2分）CMOS 逻辑电路的功耗可以分为 和 。
9.（3分）下图的传输门阵列中5DD V V =,各管的阈值电压1T V V =，电路中各节点的初始电压为0，如果不考虑衬偏效应，则各输出节点的输出电压Y 1= V ，Y 2= V ，Y 3= V 。
10.（6分）写出下列电路输出信号的逻辑表达式：Y 1= ；Y 2= ；Y 3= 。
二、画图题：（共12分）1．（6分）画出由静态CMOS 电路实现逻辑关系Y ABD CD =+的电路图，要求使用的MOS 管最少。
2.（6分）用动态电路级联实现逻辑功能Y ABC =,画出其相应的电路图。
三、简答题：（每小题5分，共20分） 1.简单说明n 阱CMOS 的制作工艺流程，n 阱的作用是什么？2.场区氧化的作用是什么，采用LOCOS 工艺有什么缺点，更好的隔离方法是什么？3.简述静态CMOS 电路的优点。
4.简述动态电路的优点和存在的问题。
四、分析设计题：（共38分1.（12分）考虑标准0.13m μ CMOS 工艺下NMOS 管，宽长比为W/L=0.26/0.13m m μμ，栅氧厚度为 2.6ox t nm =，室温下电子迁移率2220/n cm V s μ=，阈值电压T V =0.3V,计算 1.0GS V =V 、0.3DS V =V 和0.9V 时D I 的大小。
集成电路基础知识单选题100道及答案解析
集成电路基础知识单选题100道及答案解析1. 集成电路的英文缩写是（）A. ICB. CPUC. PCBD. ROM答案：A解析：集成电路的英文是Integrated Circuit，缩写为IC。
2. 以下不属于集成电路制造工艺的是（）A. 光刻B. 蚀刻C. 焊接D. 扩散答案：C解析：焊接通常不是集成电路制造的核心工艺，光刻、蚀刻和扩散是常见的制造工艺。
3. 集成电路中，负责存储数据的基本单元是（）A. 晶体管B. 电容器C. 电阻器D. 触发器答案：D解析：触发器是集成电路中用于存储数据的基本单元。
4. 以下哪种材料常用于集成电路的制造（）A. 玻璃B. 塑料C. 硅D. 铝答案：C解析：硅是集成电路制造中最常用的半导体材料。
5. 集成电路的发展遵循（）定律A. 摩尔B. 牛顿C. 爱因斯坦D. 法拉第答案：A解析：集成电路的发展遵循摩尔定律。
6. 集成电路封装的主要作用不包括（）A. 保护芯片B. 散热C. 提高性能D. 便于连接答案：C解析：封装主要是保护、散热和便于连接，一般不能直接提高芯片的性能。
7. 在数字集成电路中，逻辑门是由（）组成的A. 二极管B. 三极管C. 场效应管D. 晶闸管答案：C解析：场效应管常用于数字集成电路中构成逻辑门。
8. 以下哪种集成电路属于模拟集成电路（）A. 微处理器B. 计数器C. 放大器D. 编码器答案：C解析：放大器属于模拟集成电路，其他选项通常属于数字集成电路。
9. 集成电路的集成度是指（）A. 芯片面积B. 晶体管数量C. 工作频率D. 功耗答案：B解析：集成度通常指芯片上晶体管的数量。
10. 集成电路设计中，常用的硬件描述语言有（）A. C 语言B. Java 语言C. VerilogD. Python 语言答案：C解析：Verilog 是集成电路设计中常用的硬件描述语言。
11. 以下关于集成电路测试的说法错误的是（）A. 可以检测芯片的功能是否正常B. 可以提高芯片的可靠性C. 测试只在生产完成后进行D. 有助于筛选出不合格的芯片答案：C解析：集成电路测试在生产过程的多个阶段都可能进行，不只是在生产完成后。
《集成电路设计原理》试卷及答案
电科《集成电路原理》期末考试试卷一、填空题1.（1分） 年，第一次观测到了具有放大作用的晶体管。
2．（2分）摩尔定律是指 。
3.集成电路按工作原理来分可分为 、 、 。
4.（4分）光刻的工艺过程有底膜处理、涂胶、前烘、 、 、 、 和去胶。
5.（4分）MOSFET可以分为 、 、 、 四种基本类型。
6.（3分）影响MOSFET 阈值电压的因素有： 、 以及 。
7.（2分）在CMOS 反相器中，V in ，V out 分别作为PMOS 和NMOS 的 和 ； 作为PMOS 的源极和体端， 作为NMOS 的源极和体端。
8．（2分）CMOS 逻辑电路的功耗可以分为 和 。
9.（3分）下图的传输门阵列中5DD V V =,各管的阈值电压1T V V =，电路中各节点的初始电压为0，如果不考虑衬偏效应，则各输出节点的输出电压Y 1= V ，Y 2= V ，Y 3= V 。
DD 13210.（6分）写出下列电路输出信号的逻辑表达式：Y 1= ；Y 2= ；Y 3= 。
AB Y 1AB23二、画图题：（共12分）1．（6分）画出由静态CMOS电路实现逻辑关系Y ABD CD=+的电路图，要求使用的MOS管最少。
2.（6分）用动态电路级联实现逻辑功能Y ABC=,画出其相应的电路图。
三、简答题：（每小题5分，共20分）1.简单说明n阱CMOS的制作工艺流程，n阱的作用是什么？2.场区氧化的作用是什么，采用LOCOS工艺有什么缺点，更好的隔离方法是什么？3.简述静态CMOS 电路的优点。
4.简述动态电路的优点和存在的问题。
四、分析设计题：（共38分1.（12分）考虑标准0.13m μ CMOS 工艺下NMOS 管，宽长比为W/L=0.26/0.13m m μμ，栅氧厚度为2.6ox t nm =，室温下电子迁移率2220/n cm V s μ=，阈值电压T V =0.3V,计算 1.0GS V =V 、0.3DS V =V 和0.9V 时D I 的大小。
(整理)集成电路设计习题答案1-5章
CH11．按规模划分，集成电路的发展已经经历了哪几代？它的发展遵循了一条业界著名的定律，请说出是什么定律？晶体管-分立元件-SSI-MSI-LSI-VLSI-ULSI-GSI-SOC。
MOORE定律2．什么是无生产线集成电路设计？列出无生产线集成电路设计的特点和环境。
拥有设计人才和技术，但不拥有生产线。
特点：电路设计，工艺制造，封装分立运行。
环境：IC产业生产能力剩余，人们需要更多的功能芯片设计3．多项目晶圆（MPW）技术的特点是什么？对发展集成电路设计有什么意义？MPW：把几到几十种工艺上兼容的芯片拼装到一个宏芯片上，然后以步行的方式排列到一到多个晶圆上。
意义：降低成本。
4．集成电路设计需要哪四个方面的知识？系统，电路，工具，工艺方面的知识CH21．为什么硅材料在集成电路技术中起着举足轻重的作用 ?原材料来源丰富，技术成熟，硅基产品价格低廉2．GaAs和InP材料各有哪些特点? P10,11 3．怎样的条件下金属与半导体形成欧姆接触？怎样的条件下金属与半导体形成肖特基接触？接触区半导体重掺杂可实现欧姆接触，金属与掺杂半导体接触形成肖特基接触4．说出多晶硅在CMOS工艺中的作用。
P13 5．列出你知道的异质半导体材料系统。
GaAs/AlGaAs, InP/ InGaAs, Si/SiGe, 6．SOI材料是怎样形成的，有什么特点?SOI绝缘体上硅，可以通过氧隔离或者晶片粘结技术完成。
特点：电极与衬底之间寄生电容大大减少，器件速度更快，功率更低7. 肖特基接触和欧姆型接触各有什么特点？肖特基接触：阻挡层具有类似PN结的伏安特性。
欧姆型接触：载流子可以容易地利用量子遂穿效应相应自由传输。
8. 简述双极型晶体管和MOS晶体管的工作原理。
P19,21CH31．写出晶体外延的意义，列出三种外延生长方法，并比较各自的优缺点。
意义：用同质材料形成具有不同掺杂种类及浓度而具有不同性能的晶体层。
外延方法:液态生长，气相外延生长，金属有机物气相外延生长2．写出掩膜在IC制造过程中的作用，比较整版掩膜和单片掩膜的区别，列举三种掩膜的制造方法。
集成电路设计复习题
集成电路设计复习题（部分）相关说明：（1）这只是部分内容，但基本可以保证大家通过考试；（2）请大家利用这个周末的时间好好复习，希望大家最好都能记住；（3）最后强调一下：因为最后一周是考试周，学校考场纪律会比较严格，巡考的老师和领导会比较多，大家最好不要带纸条到考场！也就是说，之前的允许大家打小抄的说法基本作废！该花的时间还是要花的！祝大家考试顺利！1、集成电路的发展遵循了什么定律？简述集成电路设计流程。
说明版图设计在整个集成电路设计中所起的作用。
2、（1）集成电路设计方法的种类主要有哪些？（2）名词解释：ASIC、SOC、DSP、HDL等常见缩写3、（1）描述多晶硅在CMOS工艺中所起的基本作用。
（2）假定某材料的方块电阻值为10 Ω，电阻的长度为30 μm，宽度为10 μm，该电阻阻值为多少？如果其他条件不变，长度变为25 μm，则该电阻的阻值又是多少？4、SOI材料是怎样形成的，有何特点？肖特基接触和欧姆型接触各有什么特点？5、讨论半导体工艺中掺杂的作用，举出两种掺杂方法，并比较其优缺点。
6、写出晶体外延的意义，列出三种外延生长方法，并说明各自的优缺点。
给出光刻的作用，光刻有哪两种曝光方式。
7、简述双阱CMOS工艺的基本工艺流程。
8、（1）MOSFET的饱和电流主要取决于哪些参数？（2）什么是MOS器件的体效应？请指出（3）版图中有源区接触孔、多晶硅接触孔和通孔的作用各是什么？8、讨论MOSFET的基本结构。
讨论MOSFET的阈值电压及其影响因素。
9、画出电阻的高频等效电路。
集成电路电路级模拟的标准工具是什么软件，能进行哪些性能分析？10、信号线的版图设计准则有哪些？集成电路封装工艺基本流程有哪些？11、（1）版图设计规则中的基本几何关系主要包括哪几种，试画图说明？（2）电源线的版图设计准则有哪些？（3）某电阻需要通过100微安电流，该电阻宽2微米，如果它的电流密度值为0.12毫安/微米，试通过计算判断该电阻能否可靠工作。
1+X集成电路理论知识复习题库含答案
1+X集成电路理论知识复习题库含答案1、组装电子产品有很高的技术要求，包括严格的安装顺序如（）。
A、先低后高B、先易后难C、先重后轻D、先一般元器件后特殊元器件答案：ABD2、电镀工序中在进行清洗后会进行干燥处理，一般采用（）或（）的方式。
A、悬挂晾干B、气泵吹干C、挤压速干D、高速甩干答案：BD略3、在集成电路制造工艺中，测量二氧化硅膜厚度的方法有（）。
A、比色法B、光干涉法C、椭圆偏振法D、四探针法答案：ABC4、运放组件的整体布局的一般按照以下顺序（）。
A、按照具体电路的对称性要求以及电路结构，将电路中的具体晶体管按照电路中的相对位置对称排布B、按照具体电路设计的文件，确定每个支路通过的最大工作电流C、按照每个支路的最大工作电流对应的导线宽度增加一定的裕量，确保电路的性能D、根据具体电路的要求，确定电路中的输入输出引线，确定其与电源和地在整体布局中的位置答案：ABCD5、切割机显示区可以进行（）、（）等操作。
A、给其他操作人员发送消息B、设置参数C、切割道对位D、操作过程中做笔记答案：BC略6、电镀的主要目的是增强暴露在塑封体外面的引线的（）和（）。
A、防水性B、抗氧化性C、抗腐蚀性D、耐高温能力E、美观性答案：BC略7、属于湿法刻蚀的优点的是（）。
A、各向同性B、各向异性C、提高刻蚀的选择比D、不产生衬底损伤答案：CD湿法刻蚀可以控制刻蚀液的化学成分，使得刻蚀液对特定薄膜材料的刻蚀速率远大于其他材料的刻蚀速率，从而提高刻蚀的选择比，同时也不产生衬底损伤。
湿法刻蚀的效果是各向同性的，这导致刻蚀后的线宽难以控制，是湿法刻蚀的缺点。
8、防静电铝箔袋的作用是（）。
A、防静电B、防电磁干扰C、防潮D、防水答案：ABCD防静电铝箔袋具有防静电、防电磁干扰、防潮三大功能，具有良好的防水、阻氧、避光等特点，可以最大程度地保护静电敏感元器件免受潜在静电危害。
9、在进入集成电路制造车间前注意着装规范，其目的是为了防止人体、衣物等产生（）和（）对芯片造成损害。
集成电路设计基础作业题解答(1～4)word资料5页
第一次作业：1、 为什么PN 结会有单向导电性？答PN 结是由P 型半导体和N 型半导体结合在一起形成的。
P 型半导体多子是空穴，N 型半导体多子是电子。
当形成PN 结后由于载流子的浓度差，电子会向P 型侧扩散，空穴会向N 型侧扩散。
随着扩散的进行，会在接触处形成一定厚度的空间电荷区，电荷区中的正负离化中心形成内建电场。
随着空间耗尽区的扩展和内建电场的增强，电场作用下的漂移得到加强，扩散随之减弱，最后漂移电流和扩散电流达到平衡。
若给PN 结两端加上正电压，外加电场将会削弱内建电场从而加强扩散削弱漂移，此时扩散电流电流大于漂移电流从而形成正向导通电流。
当PN 结加上反向偏压后，外加电场和内建电场同向，此时扩散进一步收到抑制，漂移得到加强。
但漂移的少数载流子非常少，所以没能形成大的反向导通电流。
这就是PN 结的单向导电性。
2、 为什么半导体掺杂后导电能力大大增强答：本征半导体在常温情况下由于热激发产生的空穴电子对浓度大约在1010量级。
而在常温下本征半导体的导电能力非常弱。
当掺入B 或P 等杂质后，在常温下的掺杂杂质基本全部离化，杂质的离化而会在价带或导带产生大量的能做共有化运动的空穴或电子。
在杂质没有补偿的情况下，载流子浓度近似等于杂质浓度，半导体掺杂后n,p 大大增加。
根据电导率σ=nq µ(n)+pqµ(p)可知，掺杂半导体的电导率大大增加，即导电能力明显增强。
3、 为什么晶体管有放大作用？答：我们定义晶体管集电极电流和基极电流的比值为晶体管放大倍数。
只有当晶体管处于放大状态时才具有线性放大能力。
当BE 结正偏，BC 结反偏时管子处于放大状态。
因为发射极高掺杂，在BE 正向导通时，发射极的大量电子（以NPN 管为例）扩散到基区。
基区空穴扩散到发射极，而基区浓度远比发射极来得低，所以电子扩散电流占主要部分。
因为基区很薄且载流子寿命很长，到达基区的电子只有一小部分和基区注入得空穴复合，绝大部分要在反偏的集电结内建电场作用下而漂移到集电极。
集成电路期末试题及答案
集成电路期末试题及答案Michael Chen2022年1月10日第一部分：选择题1. 集成电路是指（）A. 多个电路板连接在一起B. 多个电子元件连接在一起C. 多个电气设备连接在一起D. 多个电子器件集成在一起答案：D2. 集成电路的分类依据是（）A. 外部尺寸B. 工作原理C. 制造工艺D. 功耗大小答案：C3. 集成电路的封装形式包括（）A. DIPB. SIPC. QFPD. 以上都是E. 以上都不是答案：D4. CMOS是指（）A. 生物科学中的一种病毒B. 一种通信协议C. 一种数字电路设计技术D. 一种模拟电路设计技术答案：C5. 集成电路的发展趋势是（）A. 更小封装B. 更低功耗C. 更高速度D. 以上都是答案：D第二部分：填空题1. 集成电路的最早应用是在（电子计算机）中。
2. 集成电路制造工艺的重要步骤包括薄膜沉积、光刻和（蚀刻）。
3. 集成电路的数字功耗由（开关功耗）和（短路功耗）组成。
4. 集成电路的封装形式除了DIP、SIP、QFP外，还有（BGA）。
5. 集成电路的发展史上的一个重要里程碑是第一个微处理器（Intel 4004）的发布。
第三部分：简答题1. 请简要解释集成电路的概念，并举例说明。
答：集成电路是将多个电子器件（如晶体管、电容器等）集成在一个芯片上的电路。
通过微影工艺在芯片上形成电路连接，实现各种电路功能。
例如，常见的操作放大器、时钟芯片、存储器等都是利用集成电路技术制造的。
2. 请介绍集成电路制造工艺中的薄膜沉积步骤。
答：薄膜沉积是集成电路制造工艺中的重要步骤之一。
它通过在芯片表面上沉积一层薄膜，为后续工艺提供基础。
常用的薄膜沉积工艺包括物理气相沉积（PVD）和化学气相沉积（CVD）。
PVD是通过物理方法将金属或其它物质蒸发或溅射到芯片表面形成薄膜；CVD则是通过化学反应使气相中的化合物在芯片表面沉积。
薄膜沉积可以实现金属导线、绝缘层等结构的形成，为后续的光刻、蚀刻工艺提供基础。
半导体集成电路复习题及答案
半导体集成电路复习题及答案第8章动态逻辑电路填空题对于⼀般的动态逻辑电路，逻辑部分由输出低电平的⽹组成，输出信号与电源之间插⼊了栅控制1、极为时钟信号的 ,逻辑⽹与地之间插⼊了栅控制极为时钟信号的。
【答案：NMOS, PMOS, NOMS】对于⼀个级联的多⽶诺逻辑电路，在评估阶段：对PDN⽹只允许有跳变，对 PUN⽹只允许有跳变，2、PDN与PDN相连或PUN与PUN相连时中间应接⼊。
【答案：】解答题从逻辑功能，电路规模，速度3⽅⾯分析下⾯2电路的相同点和不同点。
从⽽说明CMOS动态组合逻辑1、电路的特点。
【答案：】图A是CMOS静态逻辑电路。
图B是CMOS动态逻辑电路。
2电路完成的均是NAND的逻辑功能。
图B的逻辑部分电路使⽤了2个MOS管，图A使⽤了4个MOS管，由此可以看出动态组合逻辑电路的规模为静态电路的⼀半。
图B的逻辑功能部分全部使⽤NMOS管，图A即使⽤NMOS也使⽤PMOS，由于NMOS的速度⾼于PMOS，说明动态组合逻辑电路的速度⾼于静态电路。
2、分析下⾯的电路，指出它完成的逻辑功能，说明它和⼀般动态组合逻辑电路的不同,说明其特点。
【答案：】该电路可以完成OUT=AB的与逻辑。
与⼀般动态组合逻辑电路相⽐，它增加了⼀个MOS管M kp,这个MOS 管起到了电荷保持电路的作⽤，解决了⼀般动态组合逻辑电路存在的电荷泄漏的问题。
3、分析下列电路的⼯作原理，画出输出端OUT的波形。
【答案：】答案：4、结合下⾯电路，说明动态组合逻辑电路的⼯作原理。
【答案：】动态组合逻辑电路由输出信号与电源之间插⼊的时钟信号PMOS,NMOS逻辑⽹和逻辑⽹与地之间插⼊的时钟信号NMOS组成。
当时钟信号为低电平时，PMOS导通，OUT被拉置⾼电平。
此时电路处于预充电阶段。
当时钟信号为低电平时，PMOS截⾄，电路与V DD的直接通路被切断。
这时NOMS导通，当逻辑⽹处于特定逻辑时，电路输出OUT被接到地，输出低电平。
集成电路设计岗位招聘笔试题及解答(某大型国企)2024年
2024年招聘集成电路设计岗位笔试题及解答(某大型国企)(答案在后面)一、单项选择题（本大题有10小题，每小题2分，共20分）1、集成电路设计的主要目的是实现以下哪种功能？A、数据存储B、数据传输C、信号放大D、逻辑运算2、在CMOS工艺中，以下哪一项不是晶体管的工作状态？A、线性放大区B、饱和区C、截止区D、存储区3、在CMOS逻辑电路中，当输入信号从低电平变为高电平时，NMOS晶体管的工作状态会如何变化？A. 从导通变为截止B. 保持导通C. 从截止变为导通D. 保持截止4、在数字集成电路中，同步复位与异步复位的主要区别在于：A. 同步复位只在时钟边沿有效，而异步复位则与时钟无关。
B. 异步复位比同步复位更节省电力。
C. 同步复位需要额外的外部信号来触发。
D. 异步复位可以实现更快的数据处理速度。
5、集成电路设计中，以下哪种类型的逻辑门在数字电路中应用最为广泛？A. OR门B. AND门C. NOT门D. XOR门6、在集成电路设计中，以下哪个术语用于描述在模拟电路中，由于温度、电源电压等因素变化而导致的电路性能变化？A. 时钟抖动B. 静态功耗C. 温度系数D. 信号完整性7、在CMOS工艺中，哪种场效应管使用最为广泛？A、NMOS管B、PMOS管C、NMOS2管D、CMOS管8、在高速运算电路中，如何减小延迟时间？A、增加晶体管尺寸B、降低电源电压C、优化布局布线D、提高环境温度9、题目：下面哪个选项描述的是集成电路设计中常见的半导体材料？A. 硅和锗B. 钨和钼C. 氮气和氢气D. 金和银 10、题目：在集成电路设计中，下面哪个术语描述的是电路中模拟信号转换为数字信号的过程？A. 编译器B. 读取操作C. 模数转换（A/D转换）D. 命令二、多项选择题（本大题有10小题，每小题4分，共40分）1、关于CMOS逻辑门电路的描述，哪些是正确的？（多选）A. CMOS逻辑门在静态情况下几乎不消耗电流。
集成电路(全部复习题)
②晶体管的输出曲线
9.集成双极晶体管的寄生效应有哪些？如何改善？
答：①无缘寄生：寄生电阻和电容与PN结和电流通过的路径相关联
②有缘寄生：由基极、集电极、隔离墙、衬底组成的PNP晶体管
改善：①在工艺加工中掺金，增加复合中心数量
②在集电区下设置n+埋层，加大寄生PNP管基区宽度
根据 其中 要求tr=0.5ns，则τp=0.28ns
又根据τp=CL/KPVDD得KP=7.14×10-4A/V2
因则要求PMOS管宽长比满足：
同理要求NMOS管宽长比满足：
取LN=LP=0.6um则WN=6.9um，WP=14.28um
在画版图时，MOS管的沟道宽度要根据实际情况取整
3.CMOS与NMOS反相器的比较
②CMOS施密特触发器，是一种阈值转换电路，有两个逻辑阈值电平，带来的回滞电压可改善其噪声效果
作用：①作为电平转换的接口电路
②改善输入信号的驱动能力
输出特征：在CMOS集成电路中，用多级反相器构成反相器链
作用：①提高所需要的驱动电流
②使缓冲器的总延迟时间最小
2.ESD保护电路如何产生，怎样保护？
答：ESD指静电释放
③在NPN管收集结上并连一个SBD
10.EM2模型怎么来的？
答：在本征EM模型基础上增加反映寄生效应的元件。
11.晶体管特征频率fT：晶体管交流输出短路共发射极电流增益β（f）=1时的工作频率。
12.无源元件分为：电阻器，电容器，电感器，（互连线）
第四章
反相器的直流噪声容限，开、关门电平分别针对什么？
产生：在VLSI芯片四周环绕有很长的电源线和地线，它们有较大的寄生电阻和电容，使ESD放电时间延迟，造成远离ESD的器件容易受到ESD损伤。
soc复习题答案
Soc复习题1、集成电路的发展分哪几个阶段？2、SOC的构成及其优势是什么？构成：在目前的集成电路设计理念中，IP是构成soc的基本单元。
所谓IP可以理解为是满足特定规范，并能在设计中复用的功能模块，又称IP核(IPCcore)。
从IP的角度出发，SOC可以定义为基于IP模块的复用技术，以嵌入式系统为核心，把整个系统集成在单个(或少数几个)芯片上，从而完成整个系统功能的复杂的集成电路。
目前的SOC集成了诸如处理器、存储器及输入/输出端口等多种IP。
SOC的优势：与传统设计相比较，由于SOC将整个系统集成在一个芯片上，使得产品的性能大为提高，体积显著缩小。
此外．SOC适用于更复杂的系统，具有更低的设计成本和更高的可靠性，因此具有广阔的应用前景。
1．SOC可以实现更为复杂的系统。
2．SOC具有较低的设计成本。
3．SOC具有更高的可取性。
4．缩短产品设计时间。
5.减少产品反复的次数。
6．可以满足更小尺寸的设计要求。
7.可达到低功耗的设计要求3、soc设计中验证分为哪几类？1动态验证2静态验证比较动态验证和静态验证，各有优势和不足。
动态仿真主要是模拟电路的功能行为，必须给出适当的激励信号，然而很难选择激励来达到覆盖电路所有功能的目的。
同时动态仿真很耗费时间。
静态验证是针对模拟电路所有的工作环境，检查电路是否满足正常的性能指标，此类验证只限于数字逻辑电路，其准确性低于动态仿真，偶尔还会提供错误信息。
4、SOC中物理验证的分类如何？各自完成的功能是什么？1、设计规则检查就是由芯片代工厂提供的反映工艺水平及版图设计的必须满足的一些几何规则。
2．电气规则检查是检查版图中存在的一些违反基本电气规则的点。
这里的电气规则主要是指，电路开路、短路及浮动点等。
3、版图电路图同一性比较当完成版图设计之后，有必要进行Lvs，用来确认版图和原理图是否一致。
此类工具用于比较版图和原理图在晶体管级的连接是否正确，并用报告的形式列出其差异之处。
模拟集成电路试题及答案
模拟集成电路试题及答案一、选择题1. 在模拟集成电路设计中，以下哪个因素不是影响电路性能的主要因素？A. 晶体管的尺寸B. 电源电压C. 温度D. 电路的布局答案：D2. 以下哪个不是模拟集成电路中的放大器类型？A. 共射放大器B. 共基放大器C. 共栅放大器D. 差分放大器答案：C二、填空题1. 在模拟集成电路中，________是用来减少晶体管的热噪声。
答案：晶体管的尺寸2. 模拟集成电路设计中，________是一种常用的信号处理方法。
答案：反馈三、简答题1. 简述模拟集成电路中使用差分放大器的优点。
答案：差分放大器的优点包括：- 提高了信号的共模抑制比（CMRR）。
- 减少了温度漂移。
- 增强了电路的稳定性。
2. 解释模拟集成电路中反馈的概念及其作用。
答案：反馈是指将放大器输出的一部分信号以某种方式返回到输入端。
反馈的作用包括：- 稳定放大器的增益。
- 减少非线性失真。
- 提高电路的带宽。
四、计算题1. 给定一个共射放大器，其基极电阻Rb=1kΩ，集电极电流Ic=2mA，求集电极电压Vc。
答案：首先计算集电极电阻Rc的值，Rc = Vcc / Ic，假设Vcc为5V，则Rc = 5V / 0.002A = 2.5kΩ。
然后计算Vc，Vc = Vcc - Ic * Rc= 5V - 0.002A * 2.5kΩ = 2.5V。
2. 假设一个差分放大器的差模增益为Ad，共模增益为Ac，求差模增益与共模增益的比值。
答案：差模增益与共模增益的比值即共模抑制比（CMRR），CMRR = Ad / Ac。
五、论述题1. 论述模拟集成电路设计中，如何通过电路设计来减少噪声和干扰。
答案：在模拟集成电路设计中，减少噪声和干扰的方法包括：- 使用低噪声元件。
- 优化电源管理，确保电源稳定性。
- 采用适当的布局和布线技术，减少电磁干扰。
- 使用屏蔽和接地技术来减少外部噪声的影响。
- 应用适当的信号处理技术，如滤波和信号隔离。
集成电路设计基础期末考试复习题
集成电路设计基础期末考试复习题全部复习题均可在教材上找到参考答案1.摩尔定律的容：单位⾯积芯⽚上所能容纳的器件数量，每12-18个⽉翻⼀番。
2.摩尔定律得以保持的途径：特征尺⼨不断缩⼩、增⼤芯⽚⾯积及单元结构的改进。
3.图形的加⼯是通过光刻和刻蚀⼯艺完成的。
4.在场区中，防⽌出现寄⽣沟道的措施：⾜够厚的场氧化层、场区注硼、合理的版图。
5.形成SOI材料的三种主要技术：注氧隔离技术、键合减薄技术、智能剥离技术。
6.实际的多路器和逆多路器中输⼊和输出⼀般是多位信息，如果对m个n位数据进⾏选择，则需要n位m选⼀多路器。
7.在氧化层上形成所需要的图形的步骤：甩胶、曝光、显影、刻蚀、去胶。
8.版图设计规则可以⽤两种形式给出：微⽶规则和λ规则。
9.常规CMOS结构的闩锁效应严重地影响电路的可靠性，解决闩锁效应最有效的办法是开发多晶硅技术。
10.要实现四选⼀多路器，应该⽤2位⼆进制变量组成4个控制信号，控制4个数据的选择。
11.摩尔分析了集成电路迅速发展的原因，他指出集成度的提⾼主要是三⽅⾯的贡献：特征尺⼨不断缩⼩、芯⽚⾯积不断增⼤、器件和电路结构的不断改进。
12.缩⼩特征尺⼨的⽬的：使集成电路继续遵循摩尔定律提⾼集成密度；提⾼集成度可以使电⼦设备体积更⼩、速度更⾼、功耗更低；降低单位功能电路的成本，提⾼产品的性能/价格⽐，使产品更具竞争⼒。
13.N阱CMOS主要⼯艺步骤：衬底硅⽚的选择→制作n阱→场区氧化→制作硅栅→形成源、漏区→形成⾦属互连线。
14.解决双极型晶体管纵向按⽐例缩⼩问题的最佳⽅案之⼀，就是采⽤多晶硅发射极结构，避免发射区离⼦注⼊对硅表⾯的损伤。
15.n输⼊与⾮门设计考虑，根据直流特性设计：Kr=KN/KP=n3/2；根据瞬态特性设计：Kr=KN/KP=n。
n输⼊或⾮门设计考虑，根据直流特性设计：Kr=KN/KP=n-3/2；根据瞬态特性设计：Kr= Kr=KN/KP=1/n. 16.CE等⽐例缩⼩定律要求器件的所有⼏何尺⼨，包括横向和纵向尺⼨，都缩⼩k倍；衬底掺杂浓度增⼤K倍；电源电压下降K倍。
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集成电路设计复习题
绪论
1．画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2．集成电路分类情况如何？
集成电路设计
1．层次化、结构化设计概念，集成电路设计域和设计层次
2．什么是集成电路设计？集成电路设计流程。
（三个设计步骤：系统功能设计逻辑和电路设计版图设计）
3．模拟电路和数字电路设计各自的特点和流程
4．版图验证和检查包括哪些内容？如何实现？
5．版图设计规则的概念，主要内容以及表示方法。
为什么需要指定版图设计规则？6．集成电路设计方法分类？（全定制、半定制、PLD）
7．标准单元/门阵列的概念，优点/缺点，设计流程
8．PLD设计方法的特点，FPGA/CPLD的概念
9．试述门阵列和标准单元设计方法的概念和它们之间的异同点。
10．标准单元库中的单元的主要描述形式有哪些？分别在IC设计的什么阶段应用？11．集成电路的可测性设计是指什么？
Soc设计复习题
1.什么是SoC？
2.SoC设计的发展趋势及面临的挑战？
3.SoC设计的特点?
4.SoC设计与传统的ASIC设计最大的不同是什么？
5.什么是软硬件协同设计？
6.常用的可测性设计方法有哪些？
7. IP的基本概念和IP分类
8.什么是可综合RTL代码?
9.么是同步电路，什么是异步电路，各有什么特点？
10.逻辑综合的概念。
11.什么是触发器的建立时间（Setup Time），试画图进行说明。
12.什么是触发器的保持时间（Hold Time），试画图进行说明。
13. 什么是验证，什么是测试，两者有何区别？
14.试画图简要说明扫描测试原理。
绪论
1、 画出集成电路设计与制造的主要流程框架。
2
、集成电路分类情况如何？
集成电路设计
1． 层次化、结构化设计概念，集成电路设计域和设计层次
分层分级设计和模块化设计．
将一个复杂的集成电路系统的设计问题分解为复杂性较低的设计级别，⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎩
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双极型单片集成电路按结构分类集成电路
这个级别可以再分解到复杂性更低的设计级别；这样的分解一直继续到使最终的设计级别的复杂性足够低，也就是说，能相当容易地由这一级设计出的单元逐级组织起复杂的系统。
从层次和域表示分层分级设计思想
域：行为域：集成电路的功能
结构域：集成电路的逻辑和电路组成
物理域：集成电路掩膜版的几何特性和物理特性的具体实现层次：系统级、算法级、寄存器传输级(也称RTL级)、逻辑级与电路级2．什么是集成电路设计？集成电路设计流程，
根据电路功能和性能的要求，在正确选择系统配置、电路形式、器件结构、工艺方案和设计规则的情况下，尽量减小芯片面积，降低设计成本，缩短设计周期，以保证全局优化，设计出满足要求的集成电路。
三个设计步骤：系统功能设计，逻辑和电路设计，版图设计
3．模拟电路和数字电路设计各自的特点和流程
A.数字电路：RTL级描述
逻辑综合(Synopsys,Ambit)
逻辑网表
逻辑模拟与验证，时序分析和优化
难以综合的：人工设计后进行原理图输入，再进行逻辑模拟
电路实现(包括满足电路性能要求的电路结构和元件参数)：
调用单元库完成；
没有单元库支持：对各单元进行电路设计，通过电路模拟与分析，预测电路的直流、交流、瞬态等特性，之后再根据模拟结果反复修改器件参数，直到获得满意的结果。
由此可形成用户自己的单元库；
单元库：一组单元电路的集合；
经过优化设计、并通过设计规则检查和反复工艺验证，能正确反映所需的逻辑和电路功能以及性能，适合于工艺制备，可达到最大的成品率。