origin红外和荧光模版
origin红外光谱横坐标
origin红外光谱横坐标
本文将介绍origin红外光谱图谱中横坐标的相关知识。
在
origin中，横坐标表示波数或者波长，这取决于用户选择的表示方式。
其中，波数是指单位长度内包含的波数，常用单位是cm^-1；而波长则是指波的周期长度，常用单位是um或nm。
在origin中，用
户可以通过设置图像属性来选择不同的横坐标表示方式。
对于红外光谱分析来说，波数是一种更为直观和方便的表示方式，因此在大多数情况下，我们都会选择波数作为横坐标。
同时，origin还可以通过
调整横坐标的起始点和终止点来控制红外光谱图谱的显示范围。
总之，掌握好origin红外光谱图谱的横坐标设置方法，可以帮助我们更好
地进行红外光谱分析。
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origin读红外光谱的峰值
origin读红外光谱的峰值红外光谱是一种重要的分析技术，常用于物质的结构和组成分析。
在红外光谱中，原子和分子之间的振动引起特定波数的吸收峰。
这些峰值提供了有价值的信息，可以用于确定物质的结构和化学组成。
红外光谱仪通常由光源、谱仪、检测器和数据处理系统等主要部分组成。
光源发出的光通过样品后，被检测器接收并转化为电信号，进而通过数据处理系统进行分析和展示。
红外光谱使用的光源通常是一种近红外光源，如电热辐射源或者红外激光器。
红外光谱的峰值是通过比较吸收谱和基准谱来确定的。
基准谱是通过理论计算或已知样品测定得到的。
在检测中，样品的吸收光谱与基准谱进行比较，通过比较吸收峰的位置、形状和强度等特征，可以确定样品中的振动频率和化学键信息。
在红外光谱中，吸收峰通常是以波数（cm^-1）来表示的。
波数是指单位长度内的波长数，它与波长成反比。
因此，波数越大，波长越短，振动频率越高。
红外光谱仪通常会记录多个波数范围内的吸收峰，以便全面分析样品。
红外光谱的峰值可以提供关于化学键和分子结构的信息。
不同类型的化学键会在特定的波数位置产生特征性的吸收峰。
例如，O-H键的振动频率通常出现在3600-3200 cm^-1之间，C=O键的振动频率通常出现在1800-1600 cm^-1之间。
这些峰值的位置和形状可以用于确定样品中存在的化学键种类和数量。
此外，红外光谱还可以用于确定样品的化学组成。
不同分子会在特定的波数位置产生特征性的吸收峰。
通过比较样品的吸收峰与已知参考物质的吸收峰，可以确定样品中存在的化合物种类和含量。
在红外光谱中，峰值的强度也提供了有关样品中化学键或化合物的信息。
峰值的强度通常与相应化学键的振动强度相关。
由于不同类型的化学键具有不同的振动强度，因此峰值的强度可以用于确定样品中化学键的相对含量。
总之，红外光谱的峰值是分析物质结构和组成的重要工具。
通过比较吸收峰的位置、形状和强度等特征，可以确定样品中化学键的种类和数量，进而推断出样品的化学组成和结构。
origin读红外光谱的峰值
origin读红外光谱的峰值
在红外光谱中，每个化学物质都有特定的峰值，可以通过测量和分析这些峰值来确定物质的组成和结构。
原子和分子在吸收红外辐射时，会发生特定的振动、弯曲和旋转，导致红外光谱中出现特定的峰。
每个峰对应于不同的振动或转动模式，因此可以通过比较特定峰的位置和强度来确定样品中存在的化学键、基团或官能团。
原子和分子的振动模式可以分为拉伸和弯曲两种类型。
拉伸振动是指化学键中原子之间的拉伸和收缩，而弯曲振动是指原子或原子团相对于其平衡位置的弯曲运动。
不同的官能团或化学键具有特定的拉伸和弯曲振动频率，因此在红外光谱中可以观察到相应的峰。
红外光谱仪通常使用一束可变波长的红外光通过待测样品，测量样品吸收或透射的光强。
通过扫描一定的波长范围，可以获得红外光谱图。
红外光谱图中的峰对应于样品中不同的振动和转动模式。
不同的官能团和化学键具有特定的红外光谱峰位置和强度。
例如，羰基（C=O）具有酮、醛和酸等化合物中特定的红外吸收峰。
羟基（OH）官能团也具有特定的红外光谱峰。
这些峰值
信息可以用于确定化合物的结构和组成。
因此，通过分析样品的红外光谱峰，可以获得许多有关样品的化学信息。
红外光谱是一种常用的工具，在化学、生物化学、药物和材料科学等领域中广泛应用。
Origin软件使用指导
科学绘图和数据处理软件Origin高端图表和数据分析软件是科学家和工程师们必备的工具。
Origin软件集绘制图表和数据分析为一体，是绘制图表和数据分析的理想工具，在科技领域享受很高的声誉。
Origin是美国Microcal公司推出的数据分析和绘图软件，自1991年问世以来，版本从4.0、5.0、6.0、7.0、7.5到2007年推出的最新版本8.0，软件不断推陈出新，逐步完善。
在这十多年里，Origin为世界上数以万计需要科技绘图、数据分析和图表展示软件的科技工作者提供了一个全面解决方案。
与Origin 7.5相比，Origin 8.0在菜单设计、具体操作等很多方面都有显著改进，特别是采用了新的X-Functions技术，可直接使用指令行模式，把“模块化”和“对象化”发挥到了淋漓尽致的程度，方便了其他软件的调用和协同处理，可以认为Origin 8.0从各方面来说都是一个很现代化、很完善的软件。
OriginPro是Origin专业版，它除具有Origin所有功能外，还提供了更强、更专业的3D拟合、图形处理、统计分析和信号处理分析及开发工具。
OriginPro 8.0将以前版本中的峰拟合工具进一步完善，将其整合到“Peak and Baseline”菜单中。
在异常复杂的峰值分析方面，Origin 8.0将以前版本中峰拟合模块插件也整合在“Peak and Baseline”菜单里的峰拟合向导（“Peak Analyzer）中。
峰拟合向导功能强大，通过峰拟合向导界面，可以一步步完成如拉曼（Raman）光谱、红外光谱、X衍射谱线等多峰谱线高级分析，自动完成基线检测、多峰定位和多于100个峰的拟合，这对各种谱线的分析提供了便捷的工具，在材料学、工程学、光谱学、药理学及其他学科领域有着广泛的应用。
一.Origin 8专业版的安装破解激活方法及流程：1、下载后直接解压缩至指定文件夹，在目录下点击Origin 8.exe；2、软件的安装正式开始，在安装过程中，一路Next下去即可。
Origin 7.0软件在红外光谱数据处理中的应用
图２ 红 外 光谱 数据 的导 入
收稿 日期 ：２ １ —１ —１ Ｏ０ １ ０
作者 简 介 ：欧 光 Ｊ（９５ ， ，湖 南 永州 人 ，博 士，湖 南科 技 学 院 生化 系 讲 师，研 究 方 向为 功能 配 合 物 的合 成 。Ｅ ａｌ Ｉ１７ 一） 男 １ ｍｉ
ｏ ｕ ｎｇ ｈ ｎ＠ ｙ ｈ ｕｇ ａ ｃ ｕａ ａ ｏｏ．ｏｍ ．ｎ ｃ ｃ ４ ８
１ Ｏ ｉｉ ．软 件 简 介 ． ｒ ｎ７ ｇ ０
Ｏｉｉ ｒ ｎ是美国 Ｏ ｉｉＬ ｂ公司推出的数据分析和制图软件 ，是公认 的简单易学、操作灵活、功能强大的软件 ，既可 以满 ｇ ｒ ｎａ ｇ
足一般用户 的制图需要 ，也可以满足高级用户数据分析、函数拟合的需要…。自问世以来 ，由于其操作简便 ，功能开放 ，很 快就成为颇受欢迎的分析软件之一 ，是公认的快速、灵活、易学的制图和分析软件 ，像使用 Ｅ ｃｌ Ｗｏｄ那样简单 ，选择 ｘｅ 和 ｒ
红外光谱数据的导入 、坐标轴的设置和峰值的标注及显示方式的编辑 。 方法除用在红外光谱数据的处理外 ，其他 大型仪器 此
所 测 的 实验 数据 分析 处 理 也 可以 采用 此 法 作 图 。 关键 词 ：红外 光 谱 ，Ｏ ｉｉ ．软 件 ，光谱 数 据 ｒ ｎ ０ ｇ ７ 中图 分类 号 ：０ ４ ６６ 文献 标识 码 ：Ａ 文 章 编号 ：１ ７－ ２ ９ （０ １ ４ ０ ４ － ２ ６３ ２ １ ２ １ ）０－ ０ ８ ０
打开 Ｏ ｉ ｎ７ ０的“ ｉ ” ｒ ． ｉ ｇ Ｆｌ 菜单 ，在“ ｏ ｅ Ｉ ￣ＡＳ Ｈ 命令中选“ ｉｇ ｉ ” ｍｐ Ｃ” Ｓｎ ｌ Ｆｌ ，打开相应的存有化合物红外光谱谱图信息的源 ｅ ｅ
文件。由于仪器测出的红外光谱数据的波长是有小数 ，一般用取整函数对所有波长数据进行取整。具体操作为选定波长栏如 Ａ Ｘ ，右键选“ ｅＣ ｌ ａ ｅ” 在编辑 区域编辑 Ｃ ｌ ） ｏ ｎ （ｏ（ ），见图 １ （） Ｓｔ ｏｕ Ｖ ｌ ｓ ， ｍｎ ｕ ｏ（ ＝ｒｕ ｄＣ ｌ ） Ａ Ａ ，然后确定 ，Ａ ｘ） （ 栏就都是整数 。选定
origin高斯拟合荧光光谱
origin高斯拟合荧光光谱
高斯拟合荧光光谱是一种常用的数据处理方法，用于分析和解析荧光光谱的峰值位置、强度和形状等信息。
高斯拟合是一种基于高斯函数的数学拟合方法，可以用来拟合具有高斯分布特征的数据。
在荧光光谱分析中，荧光光谱通常呈现出高斯峰的形式，即荧光信号在不同波长上的强度随着波长的变化呈现高斯分布。
进行高斯拟合荧光光谱的步骤一般包括以下内容：
1. 数据预处理：读取荧光光谱数据并进行必要的预处理，如去除背景噪音、平滑等。
2. 峰值识别：通过寻找光谱峰值的位置，确定需要进行高斯拟合的峰的范围。
3. 参数初始化：对每个峰初始化高斯拟合的参数，包括峰值位置、峰值强度、波长范围等。
4. 高斯拟合：使用高斯函数对每个峰进行拟合，调整参数使拟合曲线与数据尽可能吻合。
5. 拟合评估：评估拟合效果，比较拟合曲线与原始数据之间的差异，确定拟合的准确性和可靠性。
6. 结果输出：将拟合得到的峰的参数和拟合曲线输出，用于后续分析和解释。
高斯拟合荧光光谱可以帮助研究人员获取荧光信号的具体特征和分析荧光峰的性质，对于荧光光谱的定性和定量分析具有重要作用。
荧光寿命指数拟合origin步骤
荧光寿命指数拟合origin步骤
荧光寿命指数拟合是一种常见的实验数据处理方法，通常用于
分析荧光光谱数据。
在Origin软件中进行荧光寿命指数拟合通常包
括以下步骤：
1. 导入数据，首先，在Origin软件中导入你的荧光光谱数据。
这可以通过直接拖拽文件或者使用导入数据功能来完成。
2. 创建荧光寿命指数拟合图，选择你导入的数据，然后在
Origin软件中创建一个荧光寿命指数拟合图表。
这通常涉及选择合
适的图表类型，如散点图或者线图，并将数据导入到图表中。
3. 添加荧光寿命指数拟合函数，在创建的荧光寿命指数拟合图中，找到添加函数的选项。
选择荧光寿命指数拟合函数，并根据你
的实验数据选择合适的拟合函数模型。
4. 调整拟合参数，一旦添加了荧光寿命指数拟合函数，你可以
调整拟合参数以最好地拟合你的数据。
这可能涉及到调整初始参数值、拟合范围等。
5. 进行拟合，在调整参数后，进行荧光寿命指数拟合。
Origin 软件会根据你的数据和参数进行拟合计算，并在图表中显示拟合曲线。
6. 分析拟合结果，一旦完成拟合，你可以对拟合结果进行进一步分析。
这可能包括查看拟合参数的统计学信息、残差分析等。
7. 导出结果，最后，你可以将荧光寿命指数拟合的结果导出为图片、数据或者报告，以便进一步分析和分享。
总的来说，在Origin软件中进行荧光寿命指数拟合涉及导入数据、创建图表、添加拟合函数、调整参数、进行拟合、分析结果和导出结果等多个步骤。
通过这些步骤，你可以对荧光光谱数据进行全面的拟合分析。
Origin-的使用及谱图简单处理
Origin 的使用及谱图简单处理晁星化学化工学院061130008 谱图平滑在红外的测量中，所得到的红外吸收很容易受到一些高频波的影响，如交流电产生的电磁波。
这些电磁波会对所得到的红外谱图造成干扰，在图谱解析的时候造成困难，所以需要通过谱图平滑来降低这样的影响，同时又不能破坏图谱所携带的信息。
因此在平滑的时候不能仅仅用Origin 里的smooth 工具直接平滑，这样会造成信息的丢失。
一般使用傅立叶变换（FFT）对谱图进行平滑处理，以去除高频的影响。
在特殊的条件下，也可以选取不同频段的信息进行平滑处理。
下图即傅立叶变换前后的醋酸羟基的吸收峰。
图1. FFT 平滑前后醋酸羟基的红外吸收峰分峰处理在红外光谱、拉曼光谱，甚至是X 射线光电子能谱等谱图中都可能需要对重叠的峰进行分峰处理，这样才能确定各个峰的归属，从而判断相应的化学键状态或是化学组成。
在分峰时可以使用Gaussian 方法和Lorentzian 方法。
对于交平缓的峰可以使用Gaussian 方法进行分峰，如红外中的宽峰。
对于较尖锐的峰，则需要用Lorentzian 方法进行分峰，如拉曼光谱、X 射线光电子能谱。
在Origin 中可以分别使用这两种方法进行多个峰的拟合，同时也可以自行定义函数，进行两种方法的混合拟合分峰。
以下就是对醋酸羧基部分的分峰处理。
由于在醋酸水溶液中，醋酸与水，醋酸与醋酸会形成氢键，从而导致羰基的吸收峰偏移。
对羰基部分的吸收峰进行分峰后，就可以帮助判断醋酸水溶液中，醋酸和溶剂相互作用的形式。
以下分别采用Gaussian 方法和Lorentzian 方法处理。
可以很容易看出两种方法结果的区别。
Gaussian 方法需要5 个峰才能得到满意的结果，Lorentzian 方法可以通过4 个峰得到满意的结果。
虽然是在红外谱图中，但是由于羰基的峰都是比较尖锐的强吸收，因此使用Lorentzian 方法也有其合理性。
从而可以得出4 种可能较主要的不同的醋酸存在形式。
origin积分面积荧光量子产率
Origin软件中积分面积荧光量子产率的计算步骤如下：打开Origin软件，导入需要计算的数据。
在Origin软件中，选择合适的图表类型，并将导入的数据添加到图表中。
在Origin软件中，通过添加积分函数来计算面积。
选择图表中的数据点，然后利用Ctrl+C和Ctrl+V将数据信息填入空格，得到积分面积。
需要注意的是，以上步骤仅适用于Origin软件中计算积分面积荧光量子产率的一般情况。
具体的操作步骤可能会因数据类型、图表类型等因素而有所不同。
因此，在实际操作中，需要根据具体情况进行相应的调整和修改。
origin作图规范格式要求
作图规范图谱为四方框形，只留x向外的坐标数据，其他标轴是宽度为3的直线段。
图线宽度为3，坐标数据点字号为28，坐标及文本字体：36号Time New Roman1.红外图谱：x坐标名称为Wavenum ber/cm-1 正确格式为：\b(Wavenum ber/cm\+(-1)) 其坐标范围为3800—400Y坐标名称为Transmi ssion/% 正确格式为：\b(Transmi ssion/%) 2.X衍射：x坐标为2θ/°其正确格式为：2\f:Symbol(q)／\+(o) 范围使主要的峰在图谱中间位置Y坐标名称为I ntensi ty/a.u 正确格式：Intensi ty/a.u无论何种谱图都要求其字体一致，标注用36号小写字母Time New Roman 字体，中文36号宋体常规。
如需箭头标注的，线宽为3，不要超出3厘米。
X射线图谱中如需表明峰面得采用36号T ime New Roman 字体，在小括号内平行y坐标轴标出。
如果多数据在一个图中画出的，两曲线尽量靠近但不能有覆盖。
基本要求：1.坐标注释要正确2.坐标刻度要为1，2，5或10的倍数。
3.坐标刻度要向图外。
4.图要被坐标轴框起来。
5.各组数据点差异要明显6.在重要的地方标示。
例图： 101520253035404550（311）I n t e n s i t y / a .u .2 ／o350030002500200015001000500T r a n s m i s s i o n /%Wavenumber/cm -1a ：zhdr-03 b ：dr1ba。
Origin科技绘图实例
点击文本添 加工具
在需要添加文本的 地方点击鼠标左键. 输入"1643"
线条工具: 此工具可 以在峰非 常靠近的 情况下分 开标示
画上 线条
方法二 通过数据区找出峰值数据
(此方法找峰值更准确) 此方法找峰值更准确)
方法二:通过数据表 找出相应的峰值.如 此处的"1520"
标示数据
将图层复制到"Word"去. 方法:右击绘图区, 点"Copy Page"
数据添加完 毕后的界面
将A{X}和B{Y}同时 选择,右击鼠标, 点击"Plot"下拉菜 单"直线"
绘图区 数据区
最大化后的 绘图区
修改坐标名称:鼠 标双击坐标名称
输入坐标名称,单 位符号
鼠标左键选择"-1", 点击菜单栏"X2", "-1"即可变为上标
编辑曲线名 称:双击鼠 标左键,输 入"TiO2" TiO2"
进入Word程序,点 击"粘贴"或 "Ctrl+V" Ctrl+V"
此图为红外光谱仪自带的绘图层
Origin 绘图
两图层对比 两图层对比
红外光谱 仪绘图
�
点击"Find Peaks"后 自动标峰
手动标峰方法
方法一:通过图层曲线,读出峰值数据; 方法二:通过数据区找出峰值数据.
方法一 通过图层曲线,读出峰值数据
点击" 点击"screen reader"
点击" 点击"screen reader" 后,将"+"移动到需 移动到需 要读数的曲线点上, 要读数的曲线点上, 即可读出X和 值 即可读出 和Y值.此 时X=1643
origin荧光相对强度
origin荧光相对强度Origin荧光相对强度荧光相对强度是指荧光物质在不同条件下的发光强度相对于某个基准条件的比值。
在荧光研究中，荧光相对强度是一个重要的参数，它可以用来评估荧光物质的性能和特性。
荧光相对强度与荧光发射光谱有关。
荧光物质在受到激发后会发出特定波长的光，这些光谱上的峰值对应着不同的荧光颜色。
荧光相对强度可以通过测量荧光发射光谱的峰值强度来确定。
荧光相对强度的测量需要借助荧光光谱仪或荧光分光光度计等仪器。
首先，需要将荧光物质溶解在适当的溶剂中，并在特定的激发波长下进行激发。
然后，通过荧光光谱仪或荧光分光光度计测量荧光发射光谱的峰值强度。
最后，将测得的峰值强度与基准条件下的峰值强度进行比较，计算得到荧光相对强度。
荧光相对强度的大小取决于荧光物质的性质和外界条件。
一般来说，荧光相对强度越大，说明荧光物质的发光性能越好。
荧光相对强度的提高可以通过调节激发波长、溶剂、温度等条件来实现。
此外，荧光相对强度还与荧光物质的浓度和环境因素（如pH值、温度等）有关。
在荧光应用领域，荧光相对强度的大小对于荧光标记、荧光探针、荧光染料等的选择和设计具有重要意义。
例如，在生物医学研究中，荧光相对强度可以用来评估荧光探针的灵敏度和稳定性；在材料科学中，荧光相对强度可以用来评估荧光染料在材料中的分布和稳定性。
荧光相对强度的研究不仅对于荧光物质的合成和应用具有指导意义，也为荧光技术的发展提供了理论基础。
通过研究荧光相对强度的变化规律，可以揭示荧光物质的发光机制和光物理过程，为制备高性能的荧光材料提供参考。
荧光相对强度是评估荧光物质性能和特性的重要参数，它可以通过测量荧光发射光谱的峰值强度来确定。
荧光相对强度的大小取决于荧光物质的性质和外界条件，对于荧光标记、荧光探针、荧光染料等的选择和设计具有重要意义。
荧光相对强度的研究对于荧光物质的合成和应用以及荧光技术的发展具有重要意义。
origin荧光相对强度
origin荧光相对强度Origin荧光相对强度是指荧光物质在激发后发出的荧光相对于其激发光强度的比值。
在荧光分析中，荧光相对强度是一个重要的指标，可以用来评估荧光物质的荧光效率以及其在样品中的含量。
本文将从荧光分析的原理、应用及影响荧光相对强度的因素等方面进行探讨。
一、荧光分析的原理荧光分析是一种基于荧光现象的分析方法，利用荧光物质在激发后发出的荧光信号来进行定性和定量分析。
在荧光分析中，荧光相对强度是一个重要的参数，它可以反映荧光物质的荧光效率以及样品中的含量。
荧光物质在受到激发光的激发后，其内部电子会跃迁到高能级，然后再从高能级跃迁回到低能级，释放出荧光信号。
荧光信号的强度与荧光物质的浓度成正比，但受到荧光物质的荧光效率和样品基质的影响。
二、荧光分析的应用荧光分析在生物医学、环境检测、食品安全等领域有广泛的应用。
例如，在生物医学领域，荧光分析可以用来检测生物标志物、细胞内分子的分布和相互作用等。
在环境检测中，荧光分析可以用来监测水质、大气污染物等。
在食品安全领域，荧光分析可以用来检测食品中的有害物质和添加剂等。
三、影响荧光相对强度的因素1. 荧光物质的结构：荧光物质的结构会影响其荧光效率和荧光相对强度。
一般来说，芳香环结构和共轭体系的荧光物质具有较高的荧光效率和荧光相对强度。
2. 激发光的波长和强度：激发光的波长和强度会影响荧光物质的激发效率和荧光相对强度。
通常情况下，选择合适的激发光波长和适当的激发光强度可以提高荧光相对强度。
3. 样品基质的影响：样品基质的性质和浓度对荧光相对强度有重要影响。
一些样品基质可能会发生荧光猝灭或增强现象，从而影响荧光相对强度的测量结果。
4. 温度和溶剂的影响：温度和溶剂的选择也会对荧光相对强度产生影响。
一般来说，较低的温度和适当的溶剂可以提高荧光物质的激发效率和荧光相对强度。
四、荧光相对强度的测量方法荧光相对强度可以通过荧光分光光度计或荧光显微镜等仪器进行测量。