SMT焊点质量检测方法
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
SM T焊点质量检测方法
热循环为确保电子产品质量稳定性和可靠性,或对失效产品进行分析诊断,一般需进行必要的焊点质量检测。SMT中焊点质量检测方法很多,应该根据不同元器件、不同检测项目等选择不同的检测方法。
1焊点质量检测方法
焊点质量常用检测方法有非破坏性、破坏性和环境检测3种,见表1所示。
目视检测
目视检测是最常用的一种非破坏检测方法,可用万能投影仪或10倍放大镜进行检
测。检测速度和精度与检测人员能力有关,评价可按照以下基准进行:
⑴润湿状态钎料完全覆盖焊盘及引线的钎焊部位,接触角最好小于20°,通常以小于30°为标准,最大不超过60°。
表1焊点质量常用检测方法
⑵焊点外观钎料流动性好,表面完整且平滑光亮,无针孔、砂粒、裂纹、桥连和拉尖等微小缺陷。
⑶钎料量钎焊引线时,钎料轮廓薄且引线轮廓明显可见。
电气检测
电气检测是产品在加载条件下通电,以检测是否满足所要求的规范。它能有效地查出目视检测所不能发现的微小裂纹和桥连等。检测时可使用各种电气测量仪,检测导通不良及在钎焊过程中引起的元器件热损坏。前者是由微小裂纹、极细丝的锡蚀和松香粘附等引起,后者是由于过热使元器件失效或助焊剂分解气体引起元器件的腐蚀和变质等。
X-ray 检测
X-ray检测是利用X射线可穿透物质并在物质中有衰减的特性来发现缺陷,主要检测焊点内部缺陷,如BGACSP和FC焊点等。目前X射线设备的X光束斑一般在1-5叩范围内,不能用来检测亚微米范围内的焊点微小开裂。
超声波检测
超声波检测利用超声波束能透入金属材料的深处,由一截面进入另一截面时,在界面边缘发生反射的特点来检测焊点的缺陷。来自焊点表面的超声波进入金属内部,遇到缺陷及焊点底部时就会发生反射现象,将反射波束收集到荧光屏上形成脉冲波形,根据波形的特点来判断缺陷的位置、大小和性质。超声波检验具有灵敏度高、操作方便、检验速度快、成本低、对人体无害等优点,但是对缺陷进行定性和定量判定尚存在困难。
扫描超声波显微镜(C-SAM主要利用高频超声(一般为100MHz以上)在材料不连续的地方界面上反射产生的位相及振幅变化来成像,是用来检测元器件内部的分层、空洞和裂纹等一种有效方法。采用微声像技术,通过超声换能器把超声脉冲发射到元件封装中,在表面和底板这一深度范围内,超声反馈回波信号以稍微不同的时间间隔到达转化器,经过处理就得到可视的内部图像,再通过选通回波信号,将成像限制在检测区域,得到缺陷图。一般采用频率从100MHz到230MHz 最高可达300MHz检测分辨率也相应提高。
机械性破坏检测机械性破坏检测是将焊点进行机械性破坏,从它的强度和断裂面来检查缺陷的。常用的评价指标有拉伸强度、剥离强度和剪切强度。因为对所有的产品进行检测是不可能
的,所以只能进行适量的抽检。
显微组织检测显微组织检测是将焊点切片、研磨、抛光后用显微镜来观察其界面,是一种发现钎料杂质、熔蚀、组织结构、合金层及微小裂纹的有效方法。焊点裂纹一般呈中心对称分布,因而应尽量可能沿对角线方向制样。显微组织检测和机械性破坏检测一样,不可能对所有的成品进行检测,只能进行适量的抽检。光学显微镜是最常用的一种检测仪器,放大倍数一般达10000倍,可以直观的反映材料样品组织形态,但分辨率较低,约20nm。
其它几种检测方法染色试验荧光渗透剂检测是利用紫外线照射某些荧光物质产生荧光的特性来检测焊点表面缺陷的方法。检验时先在试件上涂上渗透性很强的荧光油液,停留5~10min,
然后除净表面多余的荧光液,这样只有在缺陷里存在荧光液。接着在焊点表面撒一层氧化镁粉末,振动数下,在缺陷处的氧化镁被荧光油液渗透,并有一部分渗入缺陷内腔,然后把多余的粉末吹掉。在暗室里用紫外线照射,留在缺陷处的荧光物质就会发出照亮的荧光,显示出缺陷。磁粉检测是利用磁粉检测漏磁的方法,检测时利用一种含有细磁粉的薄膜胶片,记录钎焊焊点中的质量变化情况。使用后的几分钟内,胶片凝固并把磁粉“ 凝结”在一定的位置上,就可以观察被检测试件上的磁粉分布图形,确定是否有缺陷。由于大多数钎料是非磁性的,因此不常用于钎焊焊点的检验。
化学分析方法可测量样品的平均成分,并能达到很高精度,但不能给出元素分布情况。染色与渗透检测技术(D&PT是通过高渗透性高着色性染料渗透到焊点开裂区域,然后拉开焊点,观测焊点内部开裂程度和分布。试验时必须小心控制拉断器件时的外力,以保证焊点继续沿预开裂区域断开。
X-ray衍射(XRD是通过X-ray在晶体中的衍射现象来分析晶体结构、晶格参数、缺陷、不同结构相的含量及内应力的方法,它是建立在一定晶格结构模型基础上的间接方法。
电子显微镜(EM是用高能电子束做光源,用磁场作透镜制作的电子光学仪器,主要包括扫描电子显微镜(SEM,透射电子显微镜(TEM,电子探针显微镜(EPMA 和扫描透射电子显微镜(STEM。其中SEM用来观察样品表面形貌,TEM用来观察样品内部组织形态和结构,EPMA用来确定样品微观区域化学成分,STEM具有SEM和TEM的双层功能。此外,红外热相(IRTI 分析、激光全息照相法和实时射线照相法等也可用于焊点质量检测。表2 为不同分析项目的一些主要分析方法。
2 加载检测及可靠性评价
产品失效主要原因包括温度、湿度、振动和灰尘等,各占比例为55%、19%、20%和6%。加载检测是每一个部件在实用条件下进行加载以检测其动作状况,方法有振动检测、
冲击检测、热循环检测、加速度检测和耐压检测等,一般根据实用条件把它们组合起来进行,且要求对每一个成品进行检测。这种方法最为严格,可靠性高,只有航天产品等可靠性要求特别严格的情形下才予以采用。
去2N对分析对应的升苗方医
注点中
聚底离子甘瑕和AHI,原子内力显徽镜
現M:扫描电糙A1K;俄燃电子光谱分析
H)X=能蚩离做性X世分析XI礼X 9•幽ft励加住子比讲分析
Ef%屯于援测型鼠舟析恥佻二次离予就昼耸析
WDX,波长井fft显KHSJt诰分析KR】hX射我衍対
TEMz避射电蜒汕叭熒龙X射我光皓分折
SAT:超雀熾胡战邀FIX 灿叶变换或红雌诰分析
丁氐:前1熱%体力析GCM$〔体色滸迭Sdft抽1B
【⑴-陋禺的朋应苟耳了帅辭怖】用叫逊仲於込锐测
近年来国际上采用一种全新的焊点可靠性评估方法,即等温加速扭转循环法(MD$,
通过在一定温度下周期扭转整个印刷电路板来考察焊点的可靠性。该方法在焊点内产生
的应力以剪切应力为主,和温度循环相似,因而失效模式和机理极为相似,但试验周期却可从温度循环的几个月减少到几天。该方法不但可以用来快速评估焊点可靠性,同时也可以用来进行快速设计和工艺参数优化。
可靠性评价分类见表3。迁移是金属材料在环境下化学反应形成的表面侵蚀现象,其生长过程分为阳极溶解、离子迁移和阴极还原,即金属电极正极溶解、移动,在负极析出导致短路。迁移的发生形态常称为Dendrite和CAF(见图1)。Dendrite指迁移使