动态干涉仪干涉图位置配准及移相误差校正_郑东晖

动态干涉仪干涉图位置配准及移相误差校正_郑东晖
动态干涉仪干涉图位置配准及移相误差校正_郑东晖

第36卷第2期2016年2月

Vol.36,No.2

February,2016光学学报

ACTA OPTICA SINICA

动态干涉仪干涉图位置配准及移相误差校正

郑东晖1陈磊1李金鹏1朱文华1李建欣1韩志刚2

1南京理工大学电光学院,江苏南京210094

2南京理工大学先进发射协同创新中心,江苏南京210094

摘要为抑制动态干涉仪系统中存在的干涉图空间位置匹配误差以及移相误差,采用相位相关算法和载频交叠重构干涉术,前者以光斑边缘为匹配特征,通过配准测试光斑,实现对4幅移相干涉图在空间位置上的像素级配准;后者按列交叠重构4幅载频移相干涉图,实现相位谱与误差谱在傅里叶频谱中相分离,滤取相位谱即可抑制移相误差对测量结果的影响。实验结果显示,两种方法均可以有效抑制干涉图的位置配准误差以及移相量误差,其结果与干涉仪结果相吻合,均方根值和峰谷值分别相差0.0057λ和0.0235λ。相位相关算法不受光强畸变等因素的影响,而载频交叠重构干涉术可以同时抑制由移相器件造成的两倍频相位误差和由光强畸变引入的一倍频相位误差。

关键词物理光学;动态干涉;相位相关;像素配准;线性载频;移相误差

中图分类号O436文献标识码A

doi:10.3788/AOS201636.0226002

Position Registration for Interferograms and Phase-Shifting Error

Calibration in Dynamic Interferometer

Zheng Donghui1Chen Lei1Li Jinpeng1Zhu Wenhua1Li Jianxin1Han Zhigang2 1School of Electronic and Optical Engineering,Nanjing University of Science and Technology,

Nanjing,Jiangsu210094,China

2Advanced Launch Corporative Innovation Center,Nanjing University of Science and Technology,

Nanjing,Jiangsu210094,China

Abstract To suppress the spatial mismatching and the phase-shift error in dynamic interferometer,the phase correlation algorithm and carrier squeezing interferometry are used respectively.The former takes the edge of test beam spot as the match characteristics to achieve the matching precision with pixel level of4phase-shift interferograms in space by registrating the test spot.The latter achieves separating the phase lobe and the error lobe in Fourier spectrum through the rearranging of4carrier phase-shift interferograms,therefore the phase error can be suppressed by extracting the phase lobe.The experimental result shows that the mismatching error and the phase-shift error are suppressed well by the two techniques,and the corrected result accords with the interferometer,where the differences between their root-mean-square value and peak-to-valley value are0.0057λand0.0235λrespectively.The phase correlation algorithm is not affected by factors such as intensity distortion, and the carrier squeezing interferometry can also suppress the phase error whose spatial frequency is twice the fringes caused by phase-shifting devices and phase error with the same spatial frequency as the fringes caused by the intensity distortion error.

Key words physical optics;dynamic interferometry;phase correlation;pixel registration;linear carrier;

phase-shift error

OCIS codes260.3160;120.2650;120.5050;050.1950

收稿日期:2015-08-25;收到修改稿日期:2015-10-13

基金项目:国家自然科学基金(61108041,61409052)、中国科学院天文光学技术重点实验室项目(CAS-KLAOT-KF201404)、江苏省研究生科研创新计划(KYZZ15_0121)

作者简介:郑东晖(1989—),男,博士研究生,主要从事光干涉测量方面的研究。E-mail:zdonghui_njust@https://www.360docs.net/doc/1c13601250.html,

导师简介:陈磊(1964—),男,博士,教授,博士生导师,主要从事光学计量测试与光电智能化仪器等方面的研究。

E-mail:chenlei@https://www.360docs.net/doc/1c13601250.html,(通信联系人)

光学学报

1引言动态干涉仪能够在同一时刻、不同空间位置获得多幅移相干涉图,有效地避免了振动、空气扰动等时变误差因素的影响,实现被测相位的实时测量[1-6]。目前大多数动态干涉仪均采用空间分光、

偏振器件移相方案。如Kolipoulos [7]结合薄膜分束片(PBS)和1/4波片,

采用4个电荷耦合器件(CCD)同时获得4幅移相干涉图;Hettwer 等[8]采用衍射光栅分出0级和±1级光,

在±1级衍射光中插入1/4波片,波片快轴方向分别与P 光、S 光一致,3束光经检偏器后,在同一个CCD 上得到3幅相位差为π/2的移相干涉图;Yan 等[9]采用聚合物研制延迟阵列,通过与CCD 靶面的像素级匹配,实现动态干涉测量;Abdelsalam 等[5]在参考光路中引入1/4波片调制参考光的偏振态,使之与测试光平偏振态相互垂直,结合光栅与偏振阵列,在斐索共光路干涉仪中实现动态

测量;钱克矛等[10]采用龙基相位光栅分光、

偏振片组移相,实现了对动态过程相位的测量。以上方案中均采用一个或多个CCD 在同一时刻、不同空间位置获得多幅干涉图,由于干涉图在空间上是相互分离的,需要进

行位置配准,否则将引入相位恢复误差[11];

同时由波片、偏振片的加工和装调引起的延迟量以及方位角误差,将导致干涉图移相量偏离理想值[12]。Kiire 等[13]通过特定的方法使4幅干涉图具有相似的灰度分布,

采用互相关运算确定各幅干涉图之间的位置匹配关系;Chen 等[14]直接在光路中加入一个目标,

分光后各干涉图中均含该目标像,采用相关运算计算位置匹配关系;田枫等[15]基于方差分析、

阈值分割和改进Hough 变换的统计分析方法,提出一种圆形域同步移相干涉图位置配准方法;一些学者[13,16-18]采用迭代法和线性载频干涉图

等校正移相量误差;李博等[19-20]通过圆载频处理技术得到每个子图的基频能量和相位信息,

通过各子图之间的相位差校正位置匹配误差和移相量误差。

针对动态干涉仪系统中存在的干涉图空间位置匹配误差以及移相误差,本文采用相位相关算法对4幅干涉图进行像素级位置配准,校正位置匹配误差;位置配准完成后,采用载频交叠重构干涉术(CSI)校正移相量误差。2动态干涉仪的系统误差及其校正方法动态干涉仪光路图如图1所示。偏振方向相互正交的参考光与测试光,经二维相位光栅分光,通过小孔光阑选取(±1,±1)4支衍射效率一致的级次,分别经过延迟阵列的4个子波片,依次引入π/2、π、3π/2、2π的延迟量,最后经过透光轴与水平方向成45°的偏振片,由CCD 采集得到移相量依次相差π/2的4幅同步移相干涉图。该动态干涉系统基于光栅分光、延迟阵列移相,干涉图空间位置不匹配、移相量不准确为系统中重要的误差。

图1动态干涉仪光路图

Fig.1Light path of dynamic interferometer 由干涉图空间位置不匹配导致的相位恢复误差,称之为失配误差[11],可以表示为

Δφ=1+cos 2φ4é?êù?ú?φ?x ()Δx 0+Δx 2+?φ?y ()Δy 0+Δy 2+1-cos 2φ4é?êù?ú?φ?x ()Δx 1+Δx 3+?φ?y ()Δy 1+Δy 3,(1)

式中φ表示待测相位,()Δx n ,Δy n 表示第n 幅干涉图引入的x 方向以及y 方向的空间位置匹配误差。因此,

在解算待测相位前需要对4幅移相干涉图的空间位置进行配准。

除此以外,系统中的移相器件引入的移相量误差会导致测量误差。一些采用了类似动态干涉系统结构

的误差分析已经表明[21-22],

最主要的误差源就是作为空间移相器的偏振器件的加工或放置偏差,而其他偏振

器件导致的测量误差微乎其微。系统中偏振片透光轴方位角误差只改变干涉图的对比度,不会产生移相量误差;理想情况下,系统中作为移相器的延迟阵列4个子波片快轴均沿水平方向,由于加工和装调的原因,快轴方位角存在偏差,由快轴方位角偏差Δθn 引入的移相量误差Δδn 1可以表示为[12]

Δδn 1=Δθn ·cos δn 2-2cos δn ·é?êù?úsin ?è???÷arctan sin δn cos δn -1-sin δn ,n =0,1,2,3,(2)

式中δn 表示延迟量的名义值,

令子波片自身的延迟量误差为Δδn 2,则干涉图光强可以表示为I n =s 0é?êù?ú1+V cos ?è??φ+n π2+Δδn ,n =0,1,2,3,(3)

式中s 0表示入射光强,V 为调制度,φ为待测相位,Δδn =Δδn 1+Δδn 2。由以上分析可知,子波片的延迟量误

差以及快轴方位角误差实表现为干涉图的移相量误差。针对动态干涉仪系统中的失配误差与移相误差,一方面,采用相位相关算法(PCA)可以校正干涉图的空间位置匹配误差,实现4幅移相干涉图在空间位置上的精确配准;另一方面,采用CSI 可以抑制系统中移相器件产生的移相误差。

2.1基于PCA 的干涉图空间位置配准方法PCA 是一种基于傅里叶平移特性的平移参数估计方法,它建立了图像在空域的平移运动和频域线性相位差变化的对应关系。即当一幅图像平移运动之后,其频谱与原始图像相比发生了线性相移,提取该线性相移信息就可以确定空间平移量。该方法常用于光学遥感中高分辨率图像的亚像素匹配,其特点是对图像的阶跃

点敏感,能够根据图像的细节部分实现匹配[23]。一幅图像f 0在空域产生平移后,

令其为f 1,两者可以表示为f 0=f ()x ,y ,

(4)f 1=f ()x -Δx 1,y -Δy 1,(5)式中()Δx 1,Δy 1表示f 1相对f 0沿x 轴和y 轴的平移量,

分别对f 0和f 1作傅里叶变换,设图像大小为M ×N ,可以得到

F 0()u ,v =F ()u ,v ,

(6)F 1()u ,v =F ()u ,v exp é?êù?ú-j2π?è???÷u Δx 1+v Δy 1.(7)

计算两者的归一化功率谱,对归一化功率谱进行傅里叶逆变换,得到单位脉冲函数为

C ()x ,y =?-1?è????÷÷?{}f 1·?{}f 0*?{}f 1·||?{}f 0=δ()x -Δx 1,y -Δy 1,(8)式中*为取共轭运算,δ为狄拉克函数。得到f 1相对f 0沿x 轴和y 轴的平移量()Δx 1,Δy 1:ìí?Δy 1=-()M -x +1,Δy 1=x -1,x >M 2x

,(9)ìí?Δx 1=-()N -y +1,Δx 1=y -1,y >N 2

y

(10)图1所示基于光栅分光、延迟阵列移相的动态干涉仪,CCD 在获取4幅同步移相干涉图后,需对干涉图进行分割配准,旋转半波片,使参考光消光,得到4个测试光光斑,对4个光斑进行分割配准,以其中一个光斑为基准,采用PCA 计算其他3个测试光斑相对基准测试光斑的平移量,实现同步移相干涉图的空间位置配准。

2.2基于CSI 的移相误差校正方法CSI 通过在4幅移相间隔为π/2干涉图中引入线性载频,对4幅干涉图交叠重构得到载频挤压条纹图,对其进行傅里叶变换,由于线性载频的存在,使得误差谱与相位谱相分离,提取相位谱即可实现相位的精确重构[24]。动态干涉仪中的移相误差主要表现为波片组的延迟量误差、由加工和装调产生的波片组快轴方位角误差引入

的延迟量误差,CSI 不受移相误差形式的限制,可以实现对以上误差的联合校正。引入适当的线性载频f c ,

一般取每幅干涉图15~25根条纹,得到4幅同步移相干涉图,按列交叠重构得

到载频挤压条纹图,并对载频挤压条纹图做二维傅里叶变换。在载频挤压条纹图的全局线性载频±f 0附近,

分别有一个与其距离为2f c 的误差谱旁瓣,表示为S ()f 0+f c ,0=s 0V 2()1+R 1Θ+1()u -f 0-f c ,v ,(11)S ()f 0-f c ,0=s 0V 2R 2Θ-1()u -f 0+f c ,v ,(12)式中R 1=-14i ∑n =03()Δδn 1+Δδn 2,R 2=-14i ∑n =03()Δδn 1+Δδn 2exp ()-i4πnf 0,均为误差因子,Θ±1=FT é?ù?exp ()

±i?+2πf c x ′=Θ±1()f x ?f c ,f y

,式中x ′为扩展坐标,?为?在x 方向的扩展相位。采用合适的高斯滤波器G ()u ,v 提取(11)式表示的相位谱,恢复扩展相位?:?()x ′,y +2π()f c +f 0x ′=tan -1

Im {}FT -1[]S ()u ,v G ()u ,v Re {}FT -1[]S ()u ,v G ()u ,v =tan -1Im {}I 0V ()1+R 1exp ()i ?+i2πf c +i2πf 0Re {}I 0V ()1+R 1exp ()i ?+i2πf c +i2πf 0,(13)

由(13)式可知,误差项R 1在运算中通过除法消除,将(11)式表示的展宽相位恢复到原始大小,进行解包得到原始待测相位。3数值仿真设由波片延迟量精度和快轴方位角误差引入的延迟量误差在()-π9,π9内随机取值。倾斜泰曼干涉仪的参考镜,在x 方向引入载频,构造如图2(a)所示的移相干涉图,背景光强呈高斯分布,待测相位包含球差

和象散。以干涉图I 0为基准,

干涉图I 1相对I 0的空间偏移量为()-8pixel,-10pixel ,干涉图I 2相对I 0的空间偏移量为()6pixel,5pixel ,

干涉图I 3相对I 0的空间偏移量为()-4pixel,-3pixel

。图2(a)含有位置匹配误差与移相量误差的仿真干涉图;(b)仿真测试光斑图

Fig.2(a)Simulation interferograms with mismatching error and phase shift error;(b)simulation test light spots with registration

3.1PCA 干涉图空间位置配准在图2(a)所示仿真干涉图基础上,得到如图2(b)所示的没有干涉条纹的测试光斑,对光斑f 0和f 1进行傅里叶变换,计算归一化功率谱,再进行傅里叶逆变换,得到如图3所示的脉冲函数,通过坐标寻址运算找出脉冲函数的峰值坐标(210,208),根据(9)式和(10)式计算出空间偏移量为(-8,-10),即干涉图I 1相对干涉图I 0分

别沿x 和y 方向偏离8pixel 和10pixel 。同样地,可以得到干涉图I 2相对I 0的偏移量(6pixel,5pixel),

干涉图I 3相对I 0的偏移量(-4pixel,-3pixel),与预设值相同。

3.2CSI 抑制移相误差对4幅移相干涉图进行空间位置配准后,按列进行交叠重构,得到如图4(a)所示的载频挤压条纹图,对其进

行傅里叶变换,得到如图4(b)所示的傅里叶频谱,由于原始干涉图中引入了载频f c ,

相位谱与误差谱相互分离,滤取出相位谱就可以正确恢复相位。利用移相干涉算法(PSI)直接从4幅干涉图中求解得到的相位分布如图5(a)所示,由于移相误差的存在,在相位分布中存在波纹现象,波纹的空间频率是干涉条纹频率的两倍。利用CSI

求解得到的相位分布如图5(b)所示,由于排除了移相误差,相位分布中的波纹消失。

图3PCA算法得到的脉冲函数

Fig.3Impulse function with PCA

图4(a)载频挤压条纹图;(b)载频挤压条纹频谱图

Fig.4(a)Carrier frequency squeezing interferogram;(b)spectrum of carrier frequency squeezing interferogram

图5(a)PSI相位解调结果;(b)CSI相位解调结果

Fig.5(a)Phase derived by PSI;(b)phase derived by CSI

4实验结果

基于图1所示的动态干涉仪光路图,搭建了实验系统,波长为632.8nm。采用中心波长为632.8nm的He-Ne激光器;分光器件采用二维棋盘相位光栅,光栅周期40μm;延迟阵列采用1/4波片、1/2波片、3/4波片及全波片胶合件,4个子波片快轴方向一致,均沿水平方向,波片材料为石英晶体;CCD相机采用Imaging Source DMK23G374Gigabit Ethernet camera。对一块球面镜进行测试,得到如图6(a)所示的4幅载频同步移相干涉图。对4幅同步移相干涉图进行分割,同时转动半波片,使参考光消光,得到如图6(b)所示的没有干涉条纹的4个光斑。采用PCA算法对图6(b)所示4个光斑进行空间位置配准,以光斑f0为基准,计算得到光

斑f 1相对光斑f 0的位置偏移量为(0pixel,0pixel),光斑f 2相对光斑f 0的位置偏移量为(0pixel,2pixel),光斑

f 3相对光斑f 0的位置偏移量为(-1pixel,1pixel)。校正完位置匹配误差后,采用CSI 算法对4幅干涉图进行重构得到载频挤压条纹图,经傅里叶变换提取相位谱,得到的结果如图7所示。图7(a)所示为直接采用4步移相算法解算得到的待测相位分布,峰谷(PV)值为0.4555λ,均方根(RMS)值为0.0720λ,结果中存在明显的波纹误差,周期为条纹周期的两倍;图7(c)所示为动态干涉仪(4D PhaseCam6000)测试结果,PV 值为0.3346λ,RMS 值为0.0570λ;图7(b)所示为采用CSI 算法对移相误差进行抑制后解算得到的待测相位分布PV 值为0.3581λ,RMS 值为0.0627λ,由移相误差引入的波纹误差得到有效抑制,结果与4D PhaseCam6000测试结果相吻合。

图6(a)实验采集得到载频同步移相干涉图;(b)待配准光斑图

Fig.6(a)Experimental simultaneous phase-shifting interferograms with carrier frequency;(b)light spots with registration

图7(a)PSI 相位解调结果;(b)CSI 相位解调结果;(c)4D PhaseCam6000测试结果

Fig.7(a)Phase derived by PSI;(b)phase derived by CSI ;(c)phase measured by 4D PhaseCam6000

5讨论5.1光强畸变误差

参考光与测试光经光栅衍射后,处于共光路系统中,因此可以认为由光栅衍射产生的波前畸变对测量

结果没有影响,考虑光栅衍射引入的光强匹配误差,设理想背景光强为I 0,4幅干涉图的光强畸变系数(光强畸变量与理想背景光强的比值)分别为a 1、

a 2、a 3、a 4,则4幅干涉图的光强表达式为I i =I 0()1+a i é?êù?ú1+cos ?è??φ+iπ2,i =1,2,3,4,(14)

则由光强匹配误差产生的测量误差为

光学学报Δφ=arctan I 3-I 1I 2-I 4

-φ,(15)对于误差小量,有Δφ≈tan ()Δφ=I 3-I 1I 2-I 4-tan φ1+I 3-I 1I 2-I 4tan φ=()I 3-I 1cos φ-()I 2-I 4sin φ()I 2-I 4cos φ+()I 3-I 1sin φ,(16)

对(16)式作泰勒级数展开,得

Δφ≈12é?ù?()a 3-a 1sin φ+()a 4-a 2cos φ+12()a 4+a 3-a 2-a 1sin 2φ,(17)

因此光强畸变产生的相位误差与干涉条纹周期相同。实验装置中采用棋盘相位光栅,采用熔石英材料,其占

空比为0.5,选取(±1,±1)4支衍射级次,相关的分析表明[25],

采用该类型的棋盘相位光栅,(±1,±1)4支衍射级次的衍射效率相对误差为1.46%,在此基础上仿真分析4幅干涉图光强不匹配情况下的测量误差。其中一组仿真结果如图8所示,图8(a)为其中一帧仿真干涉条纹图,图8(b)为4步移相算法解算结果,相位分布图中存在一倍条纹周期的波纹误差,图8(c)为CSI 解调结果,波纹误差得到明显的抑制。因此,采用CSI 法也可以抑制光强不匹配引入的一倍频相位误差。

图8(a)其中一帧干涉图;(b)PSI 相位解调结果;(c)CSI 相位解调结果

Fig.8(a)One of the interferograms;(b)phase derived by PSI;(c)phase derived by CSI

5.2干涉图载频的选取为了使恢复的相位不受移相误差的影响,要求载频f c 大小能使得相位谱与误差谱之间不发生混叠。二

者分别对±1级相位频谱Φ±1进行了调制,

而调制的系数为()1+R 1和R 2,由于移相误差Δδ通常为小量,因此R 2的幅度将明显小于()1+R 1。设相位谱的半宽度为H ,误差谱的半宽度为H ′,有

H ′=R 21H ,(18)

式中R 21=R 2()1+R 1,

则载频要求为f c ≥H ′+H 2=1+R 212H .(19)由于载频挤压条纹图载频f 0远大于背景光强频谱的半宽度,因此干涉图背景光强不均匀分布对测试结

果没有影响。

6结论针对动态干涉仪系统中存在的干涉图位置配准误差和移相量误差,采用相位相关算法,以测试光斑为匹配特征,可以实现4幅移相干涉图在空间位置上的像素级配准,该方法不受光强畸变等因素的影响;采用CSI 法,通过构造载频挤压条纹图,可以实现相位谱与误差谱的分离,提取相位谱即可抑制移相误差的影响,可以同时抑制由移相器件造成的两倍频相位误差和光强畸变引入的一倍频相位误差,同时不受误差形式的限制,实现了对系统中移相器件由加工和装调产生的方位角误差、延迟量误差引入的移相量误差的联合校

正,通过仿真和实验验证了以上方法的可行性,适用于分光结构的动态干涉系统。

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interferometry[J].Applied Optics,2012,51(8):1037-1044.

21Xu Chen.Study of Dynamic Interferometry Technology and Application[D].Nanjing:Nanjing University of Science and Technology, 2009.

徐晨.动态干涉测试的理论与技术研究[D].南京:南京理工大学,2009.

22Zuo Fen,Chen Lei.Errors researching for a simultaneous phase shifting interferometer[J].Optical Technique,2009,35(4):536-540.

左芬,陈磊.一种同步移相干涉测量系统的误差研究[J].光学技术,2009,35(4):536-540.

23Wang Yun,Yan Changxiang.Sub-pixel image registration of spectrometer images[J].Optics and Precision Engineering,2012,20(3): 661-667.

王运,颜昌祥.光谱仪图像的亚像素配准[J].光学精密工程,2012,20(3):661-667.

24Bo Li,Lei Chen,Tuya Wulan,et al..Carrier squeezing interferometry:suppressing phase errors from the inaccurate phase shift[J]. Optics Letters,2011,36(6):996-998.

25Fang Bo.Wavefront Measurement with Four-Wave Lateral Shearing Interferometry Based on Phase Grating[D].Nanjing:Nanjing University of Science and Technology,2014.

方波.基于相位光栅的四波横向剪切干涉法波前检测技术研究[D].南京:南京理工大学,2014.

栏目编辑:张雁

全站仪在使用中的误差

全站仪在使用中的误差 时间:2010-05-07 10:21:08 来源:本站作者:四眼我要投稿我要收藏投稿指南 随着现代高新技术的发展与运用,促使测绘工作正从传统的测绘技术手段向现代数字测绘过渡,全站仪在现代测绘工作中的应用比例也越来越大。因此,有必要对全站仪在使用过程中的误差产生及大小做分析。 全站仪是全站型电子速测仪的简称,它集电子经纬仪、光电测距仪和微电脑处理器于一体,因此,它也兼具经纬仪的测角误差和光电测距仪的测距误差性质。本文分别对这两项误差在城市测量中的大小进行分析,然后综合两方面的影响对地面点的点位误差进行分析与估算。最后单独分析全站仪的高程误差。 一、全站仪测图点位中误差分析 1、全站仪测角误差分析 检验合格的全站仪水平角观测的误差来源主要有: ①仪器本身的误差(系统误差)。这种误差一般可采用适当的观测方法来消除或减低其影响,但在全站仪测图中对角度的观测都是半测回,因此,这里还是要考虑其对测角精度的影响。分析仪器本身误差的主要依据是其厂家对仪器的标称精度,即野外一测回方向中误差M 标,由误差传播定律知,野外一测回测角中误差M1测= M 标,野外半测回测角中误差M 半测= M1测=2M 标。 ②仪器对中误差对水平角精度的影响,仪器对中误差对水平角精度的影响在《测量学》教材中有很详细的分析其公式为M 中= ρ e/ ×S AB/S1S2其中e 为偏心距,熟练的仪器操作人员在工作中的对中偏心距一般不会超过3mm ,这里取e=3mm 。S1在这里取全站仪测图时的设站点(图根点)至后视方向是(另一通视图根点)之间的距离,S2取全站仪设站点至待测地面点之间的规范限制的最大距离。由公式知,对中误差对水平角精度的影响与两目标之间的距离S AB成正比,即水平角在180 时影响最大,在本文讨论中只考虑其最大影响。 ③目标偏心误差对水平角测角的影响,《测量学》教材推导出的化式为m 偏= ρ /2× √ (e1/S1)2+(e2/S2)2,S1、S2的取法与对中误差中的取法相同,e1取仪器设站时照准后视方向的误差,此项误差一般不会超过5mm ,取e1=5mm ,e2取全站仪在测图中的照准待测点的偏差。因为常规测图中棱镜中心往往不可能与地面点位重合,偏差为棱镜的半径 R=50mm ,固取e2=50mm 因为对中误差与目标偏心误差均为“对中”性质的误差,就对中本身而言,它是偶然性的误差,而仪器一旦安置完毕,测它们就会同仪器本身误差一样同时对测站上的所有测角发生影响,根据误差传播定律,则测角中误差M β= 。 下面就以上分析,根据《城市测量规范》中给出的各比例测图,图根控制测量与各比例测图

激光干涉仪报告讲解

机械工程综合实 践 实验报告 课程名称机械工程综合实践 专业精密工程 指导教师彭小强 小组成员刘强14033006 谌贵阳 吴志明 实验日期2012.4.2—2011.6.25 国防科学技术大学机电工程与自动化学院

目录 1激光干涉仪 1.1激光干涉仪介绍 1.2激光干涉仪原理 2 激光干涉仪测量机床的直线度 2.1实验器材以及平台的搭建 2.2激光干涉仪的调试 2.3直线度的测量 3 激光干涉仪测量机床的重复定位精度3.1实验器材以及平台的搭建 3.2激光干涉仪的调试 3.3重复定位精度的测量 4 实验分析与总结

目录 一、实验目的与任务 (2) 二、实验内容与要求 (2) 三、实验条件与设备 (2) 四.实验原理 (3) 1.定位精度测量 (3) 2.直线度测量 (4) 五、实验步骤 (5) 1.设定激光测量系统 (5) 2.调整激光光束,使之与机器运动轴准直。 (5) 3.数据记录与数据处理 (6) 六、实验过程和结果 (8) 1.X轴定位精度 (8) 2.X轴直线度 (9) 3.误差分析 (11) 七、实验总结与体会 (14) 1.实验总结 (14) 2.实验心得体会 (14) 3.对课程的一些建议 (14)

综合实践3 伺服系统运动精度建模与评价 一、实验目的与任务 通过对三轴机床的X轴进行定位误差实验,使学生掌握一般机构空间运动精度的测量与分析评价方法。主要内容包括了解双频激光干涉仪测量位移的基本原理,掌握利用双频激光干涉仪测量机床进给轴的定位误差的方法,深刻理解轴运动的精度的概念。在对机床进给轴运动定位误差测量的基础上,分析机床的运动误差。 二、实验内容与要求 (1)直线轴运动误差测量。利用双频激光干涉仪建立直线轴定位精度、直线度、姿态误差的测量系统,并对机床典型三维进给机构各轴的运动误差进行测量,分析测量结果的不确定度; (2)垂直度测量。任选进给机构两轴,利用双频激光干涉仪建立两轴垂直度的测量系统,并对垂直度进行测量,并对测量结果进行评价; (3)典型三维进给机构的精度建模。在分析多轴进给机构拓扑结构的基础上,用多体系统理论和变分法建立多轴进给机构运动空间各点的运动误差传递模型; (4)典型三维进给机构的精度分析与评价。在测量得到的进给机构轴运动误差的基础上,利用所建立的精度模型,对机构的典型运动轨迹如直线、圆弧、平面等的运动误差进行分析,并对分析结果的不确定度进行评价。 三、实验条件与设备 双频激光干涉仪,含直线度、定位精度测量组件。具体如图1所示。 (图1 定位精度测量组件直线度测量组件)

全站仪测量误差分析

全站仪测量误差分析 随着新仪器新设备的不断出现,测量技术的不断提高,同时对工程质量的要求也是愈来愈高,这就对精度的要求加强了许多,随着全站仪在施工放样中的广泛应用,为了使全站仪在实际生产中更好地运用,现结合工程测量理论,对全站仪在测量放样中的误差及其注意事项进行分析。 在我们建筑施工测量中,全站仪主要是用于测量坐标点位的控制和高程的控制,在以下几个方面对全站仪放样的误差作简要概述。 1、全站仪在施工放样中坐标点的误差分析 全站仪极坐标法放样点点位中误差MP由测距边边长S(m)、测距中误差ms(m)、水平角中误差mβ(″)和常数ρ=206265″共同构成,其精度估算公式为: 而水平角中误差mβ(″)包含了仪器整平对中误差、目标偏心误差、照准误差、仪器本身的测 角精度以及外界的影响等。 式(3)表明,对固定的仪器设备,采用相同的方法放样时,误差相等的点分布在一个圆周上,圆心为测站O。因此对每一个放样控制点O,可以根据点位放样精度m计算圆半径S,在半径范围内的放样点都可由此控制点放样。由式(1)可看出,放样点位误差中,测距误差较小,主要是测角误差。因此,操作中应时时注意提高测角精度。 2、全站仪在控制三角高程上的误差分析 一般情况下,在测量高程时方法为:设A,B为地面上高度不同的两点。已知A点高程HA,只要知道A点对B点的高差HAB即可由HB=HA±HAB得到B点的高程HB。 当A、B两点距离较短时,用上述方法较为合适。 在较长距离测量时要考虑地球曲率和大气折光对高差的影响。 设仪器高为i,棱镜高度为l,测得两点间的斜距为S,竖直角α,则AB两点的高差为: 一般情况下,当两点距离大于400m时须考虑地球曲率及大气折光的影响,在高差计算时需加两差改正。 式中R为地球曲率半径,取6371km, k为大气折光差系数,k=1-2RC (C为球气差,C=0.43D2/R,D:两点间水平距离)。 从上式中可以看出,当距离较远时,影响高差精度的主要因素就是地球曲率及大气折光,如果高程传递次数较多,累计误差就会加大,在测量时,最好是一次传递高程,若有需要,往返测高程,取其平均值以减小误差。 (1)、地球曲率改正 以水平面代替椭球面时,地球曲率对高差有较大的影响,测量中,采取视距离相等,消除其影响。三角高程测量是用计算影响值加以改正。地球曲率引起的高差误差,按下式计算 P=D2 /2R (2)、大气折光改正 一般情况下,视线通过密度不同的大气层时,将发生连续折射,形成向下弯曲的曲线。视线读数与理论位值读数产生一个差值,这就是大气光引起的高差误差。按下式计算 r =D2 /14R

大影响激光干涉仪测量精度的因素完整版

大影响激光干涉仪测量 精度的因素 HUA system office room 【HUA16H-TTMS2A-HUAS8Q8-HUAH1688】

6大激光干涉仪影响因素,提高数控机床检测准确度全靠它了! 激光干涉仪是精度最高的线性位移测量仪器,其光波可以直接对米进行定义,可溯源至国家标准,通过与不同的光学组件结合,可以实现对各类机床的线性、角度、平面度、直线度(平行度)、垂直度、回转轴等参数的精密测量,并能对设备进行速度、加速度、频率-振幅、时间-位移等动态性能分析,在相关软件的配合下,可自动生成误差补偿方案,为设备误差修正提供依据。 但是我们在使用中往往会出现检测偏离值,偏离我们的预估,以至于在高精度检测时,对设备产生怀疑。今天我们来扒一扒引起激光干涉仪测量误差的部分原因。 因测量光学镜组的安装高度不在被测设备的运动轴上引起的测量误差称之为阿贝误差。产生的原因是设备移动时存在俯仰、扭摆差,因此光学镜组与运动轴偏置距离越远,引起的阿贝误差越大。 角度、偏置距离引起的误差表(单位:um) 上表可得:角度1″在500mm偏置距离下引起的误差大约是2.40um。 来个实际案例:以检测机床时不同安装高度为具体说明。

线性镜组安装距工作台10cm: 线性镜组安装距工作台30cm 线性镜组安装距工作台50cm 实验结果:按GB/T17421.2《机床检验通则》2000版分析标准得出结果,镜组安装高度偏离设备运动轴线越远,检测结果中重复精度以及定位精度就越差。 正确方式:设备校准时线性镜组的安装高度应该尽量靠近被测轴,使激光光束与运动轴重合(或尽量靠近),减小阿贝误差。 扩展:SJ6000激光干涉仪用户在进行两台同类设备定位精度的对比时,应该进行同轴比对,即共用线性镜组,这样才具有可比性。 环境补偿单元能准确采集空气温度、压力、相对湿度信息,基于Edlen公式计算空气折射率,以此对激光波长进行补偿。

原子陀螺仪

姓名张翔 学号XS10032006 学院与学科 专业1院:导航制导与控制论文类别惯性导航类

摘要 本文介绍了惯性导航系统的组成与原理,原子干涉仪的原理以及在导航系统中的应用。对原子陀螺仪的组成与作用进行了详细介绍。 关键词:惯性导航;原子干涉;原子陀螺仪 Abstract This thesis has introduced the principles and constitutions of inertial navigation systems.It analysed the foundations and applications of the cold atom gyroscope. Keywords:inertial navigation;cold atom;gyroscope

原子陀螺仪在惯性导航系统中的应用 0引言 惯性导航(Inertial Navigation)是20世纪中期发展起来的完自主式的导航技术。1942年德国在V-2火箭上首先应用了惯性导航原理。1954年惯性导航系统在飞机上试飞成功。1958年舡鱼号潜艇依靠惯性导航在北极冰下航行21天。惯性导航系统通过惯性测量组件(IMU)测量载体相对惯性空间的角速率和加速度信息,利用牛顿运动定律自动推算载体的瞬时速度和位置信息,具有不依赖外界信息、不向外界辐射能量、不受干扰、隐蔽性好的特点,且惯导系统能连续地提供载体的全部导航、制导参数(位置、线速度、角速度、姿态角),故广泛应用于航天、航空、航海领域,特别是军事领域。 惯性导航系统中使用的惯性测量组件包括加速度计和陀螺仪两大类。加速度计是测量运载体线加速度的仪表,由检测质量(也称敏感质量)、支承、电位器、弹簧、阻尼器和壳体组成。陀螺仪是用来测量载体相对参考坐标系下的角速度的仪表。通过对加速度计和陀螺仪测得的信息进行处理可以进行载体的导航。 近三十年以来,原子物理的最新进展允许对原子的外部量子态实施精细控制,其中包括从超冷原子产生任意形式的物质波。这为开发物质波干涉测量技术以测量施加在物质自身上的力提供了基础。基于超冷原子干涉技术的陀螺,加速度计和重力梯度仪的原理样机已制作完成,其精度比目前最好的惯性器件高出2~3个数量级,并且还有很大的提升空间。原子干涉技术即将对惯性测量领域带来革命性的影响。 2003年,美国DARPA斥资千万美元启动了基于超冷原子干涉仪技术的精确惯导系统项目,目的是探索使用超冷原子干涉仪技术替代GPS位置更新。基于该技术的惯导系统将具有前所未有的精度,预计十年内可投入使用。本文将针对该技术进行介绍,分析与研究。

全站仪在施工测量放样中的误差及其注意事项

全站仪在施工测量放样中的误差及其注意事项 目前,随着科学技术的发展,全站仪已经相当普及而且不断向智能化方向发展,全站仪以其高度自动化和准确快捷的定位功能在目前工程测量中广泛应用。许多新技术运用到全站仪的制造和使用当中,如无反射棱镜测距、目标自动识别与瞄准、动态目标自动跟踪、无线遥控、用户编程、联机控制等。为了使全站仪在实际生产中更好地运用,现结合工程测量理论,对全站仪在施工测量放样中的误差及其注意事项进行探讨。 1仪器精度的选择 为了能够满足施工中测量精度,应该严格按照有关规范和设计技术文件规定的测角和测距精度要求匹配的原则进行仪器选用: mβ/(ρ)≈mS/S或mγ/ρ≈ms/S 式中mβ、mγ为相应等级控制网的测角中误差、方向中误差,(″);ms为测距中误差,m;S为测距边长,m;ρ为常数,ρ=206265″。 例如:使用的测距仪标称精度为±(5mm+5×10-6S),平均测距长度S为按 500m计,按照精度匹配原则有:mγ=ms/S×ρ=5P500000×206265=2″,因此,当 使用的测距仪标称精度为±(5mm+5×10-6S)时,应选用测角精度为2″级经纬仪。 2全站仪在施工放样中坐标点的精度估算 全站仪极坐标法放样点点位中误差MP由测距边边长S(m)、测距中误差 ms(m)、水平角中误差mβ(″)和常数ρ=206265″共同构成,其精度估算公式为: Mp=± (1) 而水平角中误差mβ(″)包含了仪器整平对中误差、目标偏心误差、照准误

差、仪器本身的测角精度以及外界的影响等。 由式(1)可得S2=[(M2P-m2s)×ρ2]/m2β (2) 顾及s2=(Xi-XA)2+(Yi-YA)2 因此(Xi-XA)2+(Yi-YA)2=(M2p-m2s)/(mβ/ρ)2 (3) 式(3)表明,对一定的仪器设备,采用相同的方法放样时,误差相等的点分布在一个圆周上,圆心为测站A。因此对每一个放样控制点A,可以根据点位放样精度m计算圆半径S,在半径范围内的放样点都可由此控制点放样。由式(1)可看出,放样点位误差中,测距误差较小,主要是测角误差。因此,操作中应时时注意提高测角精度。 3全站仪三角高程的精度估算 设仪器高为i,棱镜高度为l,测距仪测得两点间的斜距为 S,竖直角α,则AB两点的高差为: hAB=Ssinα+i-l (4) 式(4)是假设的水平面来起算的,实际上,高程的起算面是平均海水面。因此,在较长距离测量时要考虑地球曲率和大气折光对高差的影响,在高差计算中加两差改正,即: hAB=Ssinα+i-l+h球+h气 =Ssina+i-l+s2/(2R)-k2s/(2R) (5) 式中R为地球曲率半径,取6371km,h球、h气为大气折光系数。一般来说,两差改正很小,当两点间的距离小于400m时,可以不考虑。 由式(5)可知: m2h=m2ssin2α+(s/ρ)2m2a+[s2/(2R)]2m2k+m2i+m2l (6) 由于α角一般比较大,因此,测距误差ms对测定高差的影响不是主要的,若采用对中杆,仪器和棱镜高的测量误差mi,ml大约为1mm,竖直角的观测误差mɑ

激光干涉仪测量三坐标示值误差方法步骤

激光干涉仪测量三坐标示值误差方法步骤 仪器的校准是产品控制的重要一环。随着三坐标测量机的不断发展,传统的校准方法已经无法满足一些大型三坐标测量机的校准工作。JJF1064-2010《坐标测量机校准规范》是我国各计量技术机构及校准实验室对三坐标测量机进行校准的唯一技术依据。JJF 1064-2010中规定,在实物标准器无法满足测量要求时,可使用激光干涉仪进行位置示值误差测量,并且测量可以只在使用尺寸实物标准器不能满足要求的轴向进行。关于尺寸实物标准器的要求中有“在尺寸实物标准器的最大长度无法达到空间对角线的66%时,可以增加测量位置或使用激光干涉仪进行位置示值误差测量”的规定。 激光干涉仪测量三坐标测量机 本文以深圳中图仪器公司的SJ6000激光干涉仪为例,因其具有极高的测量准确度、广泛的用途度,能够实现准确定位、距离测量、重复性测量等任务。激光干涉仪的示值误差直接影响对三坐标测量机示值误差的校准结果,因此要尝试各种不同的校准试验方法,尽量避免或减少由激光干涉仪的激光友生器(以下简称激光器)、XC80环境补偿系统、夹持器组、线性长度测量镜组、重负荷三脚架等引入的测量误差。 1.测量系统的建立 选择工作状态良好、稳定、测量数据准确可靠的三坐标测量机为被测对象,其测量范围为X轴方向0~ 900 mm;Y轴方向0~1600 mm;Z轴方向0~ 800 mm。在稳定的温度、湿度和大气压测量环境中,选用双频激光干涉仪对三坐标测量机进行校准试验。校准试验过程如下:确立试验方法和步骤,建立测量模型(包括如何减小激光干涉仪引入的各项误差),通过线位移法,按照试验流程图1进行校准试验,最后得到测量结果。 校准过程中首先对三坐标测量机X、Y、Z坐标轴上的移动距离进行测量,并将三坐标测量机的示值与激光干涉仪的示值进行比对,得到三坐标测量机的示值误差。因为在三个坐标轴方向上的测量过程类似,而在Y方向的测量范围为0~1 600 mm,是本次试验对象中测量范围最大的一个方向,用标准实物量具无法有效测量Y轴全量程的示值误差,所以Y轴是本次试验中最有效的一个测量轴方位。本次试验仅对Y轴的测量进行详细说明。

激光干涉仪软硬件介绍讲解

激光干涉仪软硬件介绍 本次试验我们使用的仪器为:Renishaw 激光器测量系统。 这个系统由“软件”与“硬件”两个部分组成,所以我们认识他,就是搞清楚各是什么硬件和软件。 看到这个章节时,可定有人会问还有什么硬软件之分的吗?答案是肯定的! 先问大家一个问题:只有躯体的人就是一个正常的人吗?答案是否定的! 一个正常的人不但须要一个实实在在的躯体,还需要由看不见的意识性的东西——思想的存在! 3.1 激光干涉仪是由什么硬件组成 3.1.1 什么是硬件? 硬件:硬件就是我们看到的一堆由金属、塑料等材料堆成的被称之为“Renishaw 激光干涉仪”的东西(事实上,它是由一些机壳和电路板等物构成)。因为是一些看得见、摸得着的东西,又因为都是“硬”的,所以被人们形象地称为“硬件”。 3.1.2具体硬件名称以及各自的用途是什么? 一、本次使用激光检测仪主要检测螺距误差,因此我们主要使用到以下的仪器: (1)ML10 激光器 Renishaw ML10 Gold Standard 激光器

以上四个图案为激光罩在不同的状态下的作用 A)无光束射出 B)缩小横截面光束及目标 C)最答光束及目标 D)标准测量位置射出最大光来的横截面以及反射光束的探测器孔Renishaw ML10 Gold Standard 激光器:

ML10 是一种单频 HeNe 激光器,内含对输出激光束稳频的电子线路及对由测量光学镜产生的干涉条纹进行细分和计数处理。 其主要作用简单概括为:发射红外线以及返收红外线供特定的软件做分析,记录相关的数据。 (2)三脚架

三脚架及云台可用来安装 ML10 激光器,将 ML10 激光器设置在不同的高度,并充分控制 ML10 激光束的准直。对于大多数机床校准设置,建议将 ML10 激光器安装在三脚架和云台上。 三脚架、安装云台和 ML10 激光器三合一体,可为 ML10 光束准直提供下列调整:高度调整 水平平移调整 角度偏转偏转调整 角度俯仰调整 其中高度调整是由图9上显示的高度曲柄控制的,水平平移是由图2上显示的平移控制旋钮控制,角度偏转偏移是由图2上显示的旋转微调旋钮控制。图2后的两个示意图为水平平移和角度偏移的使用方法。 (3)EC10 环境补偿装置

全站仪校正方法

全站仪校正方法 1,长气泡:首先将气泡平行于两脚螺旋,假设为0度方向,再调平。再旋转90度使气泡垂直于第三个脚螺旋再调平。然后回到0度位置看是否居中,如不居中照之前方法重来,再90度方向看是否居中,如不平如前一样。要是这两方向都平就旋转至180度方向。看气泡是否居中,是则不用校,不是则要校。其方法如下(首先看差多少,再确定差的一半距离。再通过调校正螺丝使其改正一半。在调的时候始终把握这样一个观念气泡在那边就那边高,校正螺丝是顺时针升高,逆时针降低。只把握住这点不管校正螺丝在左边还是右边都可照此做。上面做完之后回到0度位置。看是否居中,如不居中照以上方法重来。) 2,圆气泡:这项是在长气泡完好的基础上做的,首先将长气泡调平,这里是指各方向都已平了。然后看圆气泡是否居中,如不是则通过调气泡下面三颗螺丝将其调平。当然这里面有经验,总之在保证各螺丝既紧又能使其居中。一般哪边高就调哪颗。 3,对中器:这项相对以上要难点。书上说是首先要将仪器调平,但经验告诉不必这么做,因为我们这是在校对中器。将仪器架好之后,我们假设0度方向,把对中器对准地面一个目标,目标越小越好。最好是自己做个十字点。然后旋转180度,看是否对中,如不是则要校。这是只说全站及电经,光经比较难而且实用性不大。首先打对中器护盖看到四颗螺丝。再看对中器的十字丝或者小圆点在地面目标的哪边。例如在上边就松上面那颗螺丝,紧下面那颗。在这里请注意,也只是改一半,调到差距一半即可。同理左边就松左边紧右边。其它方向按此理推。然后旋转至0度位置看是否居中,如不是照止方法重做。(注意,一般几个螺丝都会动才行。但基本方法都是如此。但这只针对于对中器是正镜才这样调,倒镜反之。国产仪器及日本仪器都是这样的。) 4,2C值校正:首先将仪器整平,在20米外贴一十字丝。先在盘左照准目标再置0,再旋转180度盘右照准目标读数,正常情况是180度正负15秒。如不是就要校正,最好是这样多做几次以确定误差到底有多大,然后通过水平微动改误码差一半,这时十与目标不重合,十字丝在目标左边就松左边紧右边,反之松右边紧左边。再回到盘左按之前方法重来。反复几次看误差是否达到允许范围。(这是水平角} 5,I角校正:仪器调平,打开补偿器,这中是针对于有补偿器的全站及电子经纬仪的。这类仪器都是自动校正的,只需我们按步骤做就行。盘左照准目标读垂直角,再盘右位置读垂直角。然后盘左加盘右看是否是360正负15秒。如不是则需校正。方法如下: 关机然后电源加F1开机,(电源和F1同时按下,但电源只按将近不到1秒钟就行,F1不放)进入仪器校正模式,按F1垂直角校正,千万不要按F2。再过0盘左照准目标按回车, 盘右照准目标按回车,校正完毕。自己再按最先的方法再做几次看是否在允许范围内。 一台仪器如全站其校正指标共十项,但条件限制一般野外只能校正五项,以上方法也不一定全对,但很多是经验之谈。望共同学习。

大影响激光干涉仪测量精度的因素

大影响激光干涉仪测量 精度的因素精选文档 TTMS system office room 【TTMS16H-TTMS2A-TTMS8Q8-

6大激光干涉仪影响因素,提高数控机床检测准确度全靠它了! 激光干涉仪是精度最高的线性位移测量仪器,其光波可以直接对米进行定义,可溯源至国家标准,通过与不同的光学组件结合,可以实现对各类机床的线性、角度、平面度、直线度(平行度)、垂直度、回转轴等参数的精密测量,并能对设备进行速度、加速度、频率-振幅、时间-位移等动态性能分析,在相关软件的配合下,可自动生成误差补偿方案,为设备误差修正提供依据。 但是我们在使用中往往会出现检测偏离值,偏离我们的预估,以至于在高精度检测时,对设备产生怀疑。今天我们来扒一扒引起激光干涉仪测量误差的部分原因。 因测量光学镜组的安装高度不在被测设备的运动轴上引起的测量误差称之为阿贝误差。产生的原因是设备移动时存在俯仰、扭摆差,因此光学镜组与运动轴偏置距离越远,引起的阿贝误差越大。 角度、偏置距离引起的误差表(单位:um)

上表可得:角度1″在500mm偏置距离下引起的误差大约是。 来个实际案例:以检测机床时不同安装高度为具体说明。 线性镜组安装距工作台10cm: 线性镜组安装距工作台30cm 线性镜组安装距工作台50cm 实验结果:按GB/《机床检验通则》2000版分析标准得出结果,镜组安装高度偏离设备运动轴线越远,检测结果中重复精度以及定位精度就越差。

正确方式:设备校准时线性镜组的安装高度应该尽量靠近被测轴,使激光光束与运动轴重合(或尽量靠近),减小阿贝误差。 扩展:SJ6000激光干涉仪用户在进行两台同类设备定位精度的对比时,应该进行同轴比对,即共用线性镜组,这样才具有可比性。 环境补偿单元能准确采集空气温度、压力、相对湿度信息,基于Edlen公式计算空气折射率,以此对激光波长进行补偿。 1000mm示值因环境温度、压力、空气湿度各自变化引起的示值变化量(单位:um)

移相干涉术(Phase-shift Interferometry Experiment Report

Phase-Shift Interferometry Experiment Report 一、前言: 在傳統光學中,相位的計算是以干涉條紋之條紋中心為定位,用此方式計算時,(1)中心條紋定位不易;(2)易受到外界或CCD雜訊影響而導致解析之相位誤差甚大,解析度與可靠度均甚低。因而造成移相干涉術(phase-shift interferometry,PSI)的發展,利用此技術不必透過辨識干涉條紋便可將空間相位精準的還原。 常見的干涉術其架構如下: 1.Twyman-Green架構:利用PZT 壓電奈米致動器來造成參考相位移相的目的。 (具PZT 壓電致動器之Twyman-Green 移相干涉儀) 2.Mach-Zehnder干涉儀:參考相位的移動由液晶元件(liquid crystal device, LCD) 來完成。

(具LCD 之Mach-Zehnder 移相干涉儀) 二、移相干涉術實驗儀器基本功能介紹、實驗流程簡介: 三、移相干涉術實驗原理:(Hariharan相位還原演算法) (五步還原演算法)

移相干涉術基本原理乃規則改變參考光光程,並經由影像擷取卡將參考光與信 號光所形成的干涉條紋數位化並且編碼記錄,經過程式演算解碼出信號光的波前相 位狀態,因此為一資料收集與分析的方法。 假設在一x,y 空間平面上,一參考光),,(t y x W r 與一待測光),(y x W t 分別表示如下 參考光:)](),([),(),,(t y x i r r r e y x a t y x W δφ-= 待測光:),(),(),(y x i t t t e y x a y x W φ= 其中,),(y x a r 和),(y x a t →光波的振幅 ),(y x t φ和),(y x r φ→光波的相位 )(t δ→代表兩道光間的相位移。 當兩道光相互干涉後,其光強度可表示為: )](),(cos[),("),(),(),,(),,('2 t y x y x I y x I y x w t y x w t y x I t r δφ+?+=+= 其中),(),(),(22'y x a y x a y x I t r +=→為強度偏壓; ),(),(2),("y x a y x a y x I t r ?=→為強度調變; ),(),(),(y x y x y x r t φφφ-=→為波前相位差。 為求解出波前相位差φ(x, y)之結果,我們選擇Hariharan 先生所提出得演算法, 又稱為五步還原演算法,利用此方式可以減低相位移位移量不精準所衍生的量測誤 差,並且資料運算量也不會太高是為其優點。 假設每一張分析圖的相位移差為α,我們利用CCD 擷取五張干涉影像圖,而圖 上每一點的干涉強度值可表為: ]2),(cos[),("),(),,(1αφ-?+'=y x y x I y x I t y x I ]),(cos[),("),(),,(2αφ-?+'=y x y x I y x I t y x I )],(cos[),("),(),,(3y x y x I y x I t y x I φ?+'= ]),(cos[),("),(),,(4αφ+?+'=y x y x I y x I t y x I ]2),(cos[),("),(),,(5αφ+?+'=y x y x I y x I t y x I 經還原計算可得1 53422)sin(2)] ,(tan[I I I I I y x ---=?αφ 當2πα=時,代入便可得到相位值→?? ? ???---=-1534212)(2tan ),(I I I I I y x φ

麦克森 (Michelson) 干涉仪

實驗八 麥克森 (Michelson) 干涉儀 實驗題目 1.試進行調整得到直線條紋 2.試進行調整得到圓形條紋 3.試進行調整得到雙曲線條紋 4.試進行光源同調長度之量測。 5.試進行溫度場之量測。 6.試進行工作系統穩定性之量測。 一.前言 所謂干涉,乃指兩個有週期性或規則性的波相遇而形成的現象。如果我們想利用這個干涉現象,就必須希望這個干涉現象能夠讓觀測者清楚分辨並且能夠持續一段時間。我們可以疊紋(Moire)來瞭解麥克森干涉儀兩個的光場疊加在一起產生干涉條紋的原因,就二組直線狀的光柵(grating)之Moire 條紋而言,兩光柵間有少量角度差或有少量頻率差(兩個並不完全相同但非常近似的訊息),都可以產生Moire,用這原理可以量測兩光柵間之微細位移現象。通常在主尺表面刻劃上一組光柵而在此尺之前擺上一參考光柵作為副尺,當副尺產生位移而與主尺光柵會產生Moire 干涉條紋移動之現象,而將小的位移量放大成大信號。麥克森干涉儀之干涉條紋千變萬化,視其所分出之兩個的光場而有所不同,有直線形狀、圓圈形狀、雙曲線形狀、橢圓形狀...等,因此我們模擬麥克森干涉儀之兩個的光場疊加時必須使用各種形狀的光柵來合成疊紋。廣義的來說,疊紋也稱得上是一種干涉,但在此我們的討論範圍侷限於光的干涉方式。 我們可以把干涉儀的兩道光場予以剖析,前面一道光場,與後面第二

道光場只有極微細的差異,當兩個以上的光場疊加在一起,即產生了干涉條紋,也就能夠將微小的差異量放大成大信號。總而言之,光學干涉量測技術就如同一般的許多量測行為一般,將兩個並不完全相同但非常近似的訊息疊加在一起,這時我們不會去留意訊息中相同的部份,反而是訊息中那些細微的不同之處在疊加時顯現出來,因而使得訊息中極細微的不同變化量成為很明顯的信號﹐麥克森干涉儀因此十分靈敏,正由於麥克森干涉儀的靈敏特性,因此極微小的量也可以察覺。甚至我們可以說,越是微小的量,越能得到精確的測量結果,如果待測值太大,反而因干涉條紋過密,得不到正確的測量值呢! 干涉儀是利用所使用之光的特性,將來自有相同特性的兩個或多個光源的光波,在空間某點相互會合,因相位之間的差異而產生光強度變強或弱的現象,我們稱之為干涉。所謂有相同特性的光源,是指具有相同頻率和穩定的相位關係的光源(例如有相同的相位差)。在使用兩道光作干涉時,有時必須注意到兩者的偏極性,以免雖然兩道光交會了,卻沒有干涉條紋產生。通常比較容易出現光束偏極特性偏轉的情形,是利用面鏡將光束之水平面高度上升或下降時引起的,如果將光束分光後即保持在同一水平面,便比較沒有這一層顧慮。在組合各種類型的實驗時,無論是太曼格林(Twyman Green) 干涉儀、麥克詹達干涉儀(Mach-Zender)、菲索(Fizeau )干涉儀、剪像(shearing)干涉計、法布里-派洛(Fabry-Perot)干涉儀和麥克森(Michelson) 干涉儀,皆屬於一種以光的干涉方式進行的量測技術,必須留意到光束偏極特性的問題,這點是常為眾人所忽略的地方。 光的干涉方式可按波動說的解釋:光以正弦波的波形前進,因此兩相同頻率及相同相位的光波向同一方向前進,即波峰對波峰,波谷對波谷時,會產生光波增強的現象,該處即得明亮條紋。若兩相同頻率,相位差180 度,即波峰對波谷,波谷對波峰時,兩光波會互相干涉而抵銷,該處即得黑暗的條紋。利用條紋數及其分佈情形即可進行待測物之物理量差

激光干涉仪使用技巧讲解

厨 f静堂鸯溅斌技术)2007亭第弘誊第{O麓 激光干涉仪使用技巧 Precise G口洫to Vsine a Laser Interferometer 魏纯 (广州市计最检测技术研究院,广东广州510030) 瓣萎:本文讨论了激光予涉仪在使用巾的准直等技礴,用户在实际使用中增加葺芒件以及维护巾邋蓟的同舔。燕键词:激光平涉仪;准直 l引言高性能激光干涉仪具有快速、高准确测量的优点,是校准数字机床、坐标测量机及其它定位装置精度及线性指标最常用的标准仪器,弦者所在单位使用的是英国RENISHAW公闭生产的MLl0激光干涉仪,具有性能稳定,使罱方便等特点。 通过较长时闯使用,作者认为测量人员除了要考虑环境、温度、原理等影响测量的常规因素外,掌握一些激光干涉仪的使用技巧会使测量互作事半功倍。 2原理介绍

MLl0激光干涉仪是根据光学千涉基本原理设计磊成酌。从MLl0激光器射出的激光束有单一频率,其标称波长隽0.633pLIn,且其长期波长稳定健(真空状态)要高于0.1ppm。当此光束抵达偏振分光镜时,会被分为两道光束一一道反射光糯一道透射光。这两道光射向其反光镜,然后透过分光镜反射圈去,在激光头内的探测器形成一道干涉光束。若光程差没有任俺变讫,探测器会在樵长性秘楣潢性于涉的两极找到稳定的信号。若光程差确实有变化,探测器会在 每一次光程改变时,在相长性和相消性干涉的弼极找 到变动的信号。这些变化(援格)会被计算并用来测量两个光程闻的差异变化。测量的光程就是栅格数乘以光束大约一半的波长。 值褥注意的是,激光束的波长取决于所通过敖空气折射率。由于空气折射率会随着温度、压力和相对湿度而变化,用来计算测蹩值的波长值可能需要加以李}偿,以配合这魍环境参数豹改变。实际上就测量准确度而言,此类补偿在进行线性位移(定位精度)测量,特别是量程较大时,非常重要。3激光干涉仪使用技巧 3.1 Z轴激光光路快速准直方法 用激光干涉仪进行线性测量时,无论是数字机 床、还是坐标测燮枫,z轴测量酵激光光路的礁童榻对X、Y轴准直来说,要困难的多。尤其是在z轴距离较长的情况下,要保证激光光束经反射镜反射后回到激 先探测器的强度满足测量对对光强的要求,准妻激光光路往往需要很长时间。 根据作者长期使用的经验,按照“离处动尾部,低处动整体”的调整方法,将会大大缩短漆直时闻。(“尾部”是指MLl0激光器电源接口边上的倾斜度调蹩旋钮和三兔架云台上的旋转微调控制旋锂,“整体”是指三

激光干涉仪发展史

一.概述 SJ6000激光干涉仪产品具有测量精度高、测量速度快、最高测速下 分辨率高、测量范围大等优点。通过与不同的光学组件结合,可以实现对直线度、垂直度、角度、平面度、平行度等多种几何精度的测量。在相关软件的配合下,还可以对数控机床进行动态性能检测,可以进行机床振动测试与分析,滚珠丝杆的动态特性分析,驱动系统的响应特性分析,导轨的动态特性分析等,具有极高的精度和效率,为机床误差修正提供依据。 二.激光干涉仪发展史

现代激光干涉技术是在人类关于光学的几乎全部知识的基础上发 展起来的。激光与普通光源相比,具有一些独特的性质:单色性好、相干性好、方向性强、亮度高。激光干涉仪是以激光波长为已知长度,利用迈克尔逊干涉系统测量位移的通用长度测量,广泛应用于各领域,已经成为人类认知世界的重要工具。 1604年开普勒(J.Kepler)写出光学著作,指出光的强度和到 达光源距离的平方成反比。并于1611年出版《折射光学》。 1801年托马斯?杨(Thomas Young)用双狭缝实验演示了光的干 涉现象,即著名的杨氏双缝实验。 1881年迈克尔逊(Albert.A.Michelson)设计了著名的实验来 测量“以太”漂移。当然没测到漂移,由此导致“以太”说的破灭和相对论的诞生。它首次用于干涉仪,以镉红谱线与国际米原器作对比。正是由于他的工作导致后来用光的波长定义“米”。由于他在精密光学仪器、光谱和计量领域的研究工作于1907年获得诺贝尔奖。

迈克尔逊激光干涉仪原理图 1960年Maiman研制成功第一台红宝石激光器,从此开始了光学 技术飞速发展的新时代。从此,激光干涉测量被广泛地用于长度、角度、微观形貌、转速、光谱等领域,并和微电子技术、计算机技术集成,成为现代干涉仪。 1982年G.Binning和H.Rohrer研制成功扫描隧道显微镜,1986 年发明原子力显微镜,1986年获得诺贝尔奖。从此开始了干涉仪向纳米、亚纳米分辨率和精度前进的新时代。 由于激光具有极好的时间相干性,自问世以来,已研制出多种激光干涉仪:单频激光干涉仪、双频激光干涉仪、半导体激光干涉仪、法布里-珀罗(F-P)干涉仪、X射线干涉仪等。 激光干涉仪是激光在计量领域中最成功的应用之一。利用光的干涉实现测量,具有非接触、无损检测的特点,已经在各个不同领域得到广泛的应用。

激光干涉仪如何测量五轴机床的垂直度误差

激光干涉仪如何测量五轴机床的垂直度误差SJ6000激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、最高测速下分辨率高等优点,结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。

SJ6000激光干涉仪典型应用就是数控机床精度测量,本文讲解如何用激光干涉仪测量五轴机床的垂直度误差。 对于三根平移轴而言,其轴间误差即垂直度误差有三个:xy ε、z x ε和yz ε。激光干涉仪测量垂直度误差的根本原理是与直线度测量原理一致。它是通过一个共同的基准来测量两个垂直的轴的直线度从而实现垂直度的测量。这个共同的基准就是直线度反射镜,因此在整个测量过程中,它相对于工作台不可移动,不可调整,如下所示。图中的方块就是光学直角器,它用来保证在测量第一个轴时的激光光束完全垂直于第二个轴测量时的激光光束。

垂直度测量配置主要由SJ6000主机、短直线度镜组(或长直线度镜组)、垂直度镜组(含光学直角尺)、SJ6000静态测量软件等组件构成。 附:SJ6000激光干涉仪垂直度测量精度。 轴向量程测量范围测量精度分辨力 短距离(0.1~3.0)m±3/M±(2.5+0.25%R+0.8M)0.01μm/m 长距离(1.0~15.0)m±3/M±(2.5+2.5%R+0.08M)0.01μm/m 注:R为垂直度结果;M为测量距离,单位:m

激光干涉仪如何对光

激光干涉仪概述 SJ6000激光干涉仪产品采用美国进口高稳频氦氖激光器、激光双纵模热稳频技术、高精度环境补偿模块、几何参量干涉光路设计、高精度激光干涉信号处理系统、高性能计算机控制系统技术,实现各种参数的高精度测量。通过激光热稳频控制技术,实现快速(约6分钟)、高精度(0.05ppm)、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出,采用不同的光学镜组可以测量出线性、角度、直线度、平面度和垂直度等几何量,并且可以进行动态分析。 SJ6000激光干涉仪产品具有测量精度高、测量速度快、最高测速下分辨率高、测量范围大等优点。通过与不同的光学组件结合,可以实现对直线度、垂直度、角度、平面度、平行度等多种几何精度的测量。在相关软件的配合下,还可以对数控机床进行动态性能检测,可以进行机床振动测试与分析,滚珠丝杆的动态特性分析,驱动系统的响应特性分析,导轨的动态特性分析等,具有极高的精度和效率,为机床误差修正提供依据。 激光干涉仪原理

激光器发射单一频率光束射入线性干涉镜,然后分成两道光束,一道光束(参考光束)射向连接分光镜的反射镜,而第二道透射光束(测量光束)则通过分光镜射入第二个反射镜,这两道光束再反射回到分光镜,重新汇聚之后返回激光器,其中会有一个探测器监控两道光束之间的干涉(见图)。若光程差没有变化时,探测器会在相长性和相消性干涉的两极之间找到稳定的信号。 若光程差有变化时,探测器会在每一次光程变化时,在相长性和相消性干涉的两极之间找到变化信号,这些变化会被计算并用来测量两个光程之间的差异变化。 激光干涉仪功能 1.几何精度检测可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等; 2.位置精度的检测及其自动补偿可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等; 3.动态性能检测利用动态特性测量与评估软件,可用激光干涉仪进行机床振动测试与分析,滚珠丝杠的动态特性分析,伺服驱动系统的响应特性分析,导轨的动态特性(低速爬行)分析。

组装迈克尔逊干涉仪

组装迈克尔逊干涉仪 姓名:曾宇平院系:材料科学与工程学院班级:07材料物理二班 学号:200710240224 摘要:迈克尔逊干涉仪是一种在近代物理和近代计算机技术中有重要地位的光学仪器。迈克尔逊与他的合作者曾经用这种干涉仪完成了著名的迈克尔逊——莫雷实验,为否定以太的存在提供了重要的依据,从而推动了物理学的发展. 另外,迈克尔逊进行了光谱线的结构的研究和光的波长标定标准米尺等重要工作,为物理学科的发展作出了重大的贡献。 本实验是用实验的基本仪器来组装迈克尔逊干涉仪,了解迈克尔逊干涉仪的结构和原理,并掌握利用基本实验仪器来组装迈克尔逊干涉仪的方法。 关键词:迈克尔逊干涉仪光的干涉干涉条纹 一.实验任务与要求 实验要求 1.组装一个机器简易的迈克尔逊干涉仪装置的光路。 2.仔细调整光路,分别观察等厚干涉,等倾干涉,非定域干涉等 各种干涉现象。 3.将固定反射镜粘贴在压电晶片的一侧,进行压电晶片电致伸缩 效应的观测。 4.可写出实验报告,最好以小论文的形式完成,实验报告中应写 心得体会。 实验要求: 1.学习按一定的原理自行组装仪器的技能,通过自行组装迈克尔逊 干涉仪学习光路的调整 2.学习在组装的迈克尔逊干涉仪上开拓应用的技能 3.在组装的迈克尔逊干涉仪上进行压电晶片电致伸缩效应的观测。 粗略测出压电晶片的的压电效应。 二.实验方案 实验原理

相干光源:根据麦克斯韦的电磁理论,光是一种电磁波,具有干涉,衍射和偏振等特性.行进的光波是电磁扰动在空间的传播,当空间的两 束光波在某一区域相遇时,它们相互叠加,当满足相干条件时,可以观察到光的干涉现象,一般情况下是不满足相干条件的. 对于普通的光源,保证相位差恒定成为实现干涉的关键。为了解决发光机制中初相位的无规则迅速变化和干涉条纹的形成要求相位差恒定的矛盾,可把同一原子所发出的光波分解成两列或几列,使各分光束经过不同的光程,然后相遇。这样,尽管原始光源的初相位频繁变化,分光束之间仍然可能有恒定的相位差,因此也可能产生干涉现象。 光的干涉:定义,两列或几列光波在空间相遇时相互迭加,在某些区域始终加强,在另一些区域则始终削弱,形成稳定的强弱分布的现象。 产生稳定干涉的条件: 只有两列光波的频率相同,位相差恒定,振动方向一致的相干光源,才能产生光的干涉。由两个普通独立光源发出的光,不可能具有相同的频率,更不可能存在固定的相差,因此,不能产生干涉现象。 ①在交迭区域内各处的强度如果不完全相同而形成一定的强弱分布,显示出固定的图象叫做干涉图样。也即对空间某处而言,干涉迭加后的总发光强度不一定等于分光束的发光强度的迭加,而可能大于、等于或小于分光束的发光强度。 ②通常的独立光源是不相干的。这是因为光的辐射一般是由原子的外层电子激发后自动回到正常状态而产生的。由于辐射原子的能量损失,加上和周围原子的相互作用,个别原子的辐射过程是杂乱无章而且常常中断,持续对同甚短,即使在极度稀薄的气体发光情况下,和周围原子的相互作用已减至最弱,而单个原子辐射的持续时间也不超过 10^-8秒。当某个原子辐射中断后,受到激发又会重新辐射,但却具有新韵初相位。这就是说,原子辐射的光波并不是一列连续不断、振幅和频率都不随时间变化的简谐波,即不是理想的单色光,而是如图所示,在一段短暂时间内(如τ=10-8s)保持振幅和频率近似不变,在空间表现为一段有限长度的简谐波列。此外,不同原子辐射的光波波列的初相位之间也是没有一定规则的。这些断续、或长或短、初相位不规则的波列的总体,构成了宏观的光波。由于原子辐射的这种复杂性,在不同瞬时迭加所得的干涉图样相互替换得这样快和这样地不规则,以致使通常的探测仪器无法探测这短暂的干涉现象。 尽管不同原子所发的光或同一原子在不同时刻所发的光是不相干的,但实际的光干涉对光源的要求并不那么苛刻,其光源的线度远较原

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