影响RTS-4型四探针测试仪测量精度的主要因素
影响机器视觉检测设备测量精度的因素有哪些
近些年机器视觉系统应用已经的非常广泛，机器视觉系统的高精度、高检测效率、降低生产成本，深受企业青睐。
再好的东西也会出现问题，机器视觉系统在使用过程中，由于各种因素的影响，测量精度会降低，给企业带来不便。
今天就来讲讲影响机器视觉检测设备测量精度的因素有哪些，在遇到问题时能提供一些参考。
在一些机器视觉检测项目中，许多客户都遇到了检测精度的问题。
例如，要求以10um 的精度测量加工零件的外部尺寸、内径和外径。
目前很多配置选择500万工业相机镜头头，理论上可以达到10um的精度。
但是实际客户测试的精度离10um的要求还很远，能做到30um就很不错了。
误差大的主要原因如下：01、视觉检测设备硬件方面的选择1、工业相机的选择CMOS相机本身芯片的特点，在拍摄一些物体时，容易造成边缘轮廓的对比度较差，图像噪声较大，给软件测量带来误差，需要花较多的时间解决。
2、光源的选择光源也视觉检测精度中很重要的一环。
在某些应用场景要求高的情况下，背光源会在在某一点产生的光会向空间任意角度发散，如果检测圆形、柱形物体，在被测物体的边缘会产生很明显的衍射现象，导致拍摄的图像效果出现偏差。
另外，光源的亮度对物品拍摄的亮暗有着很大的影响。
3、镜头的选择因为很多机械部件都有高低差和大景深。
但是普通镜头由于透视因素很难拍摄在软件处理过程中，很难找到最真实、最准确的边缘轮廓，图像处理算法提出了更高的图像处理算法要求。
02、视觉检测设备软件方面的问题1.软件算法出现错误即使再严谨的视觉检测方法、计算公式和图像处理方法，在不同的环境与设备影响下，也难以避免对检测系统的测量精度产生影响，造成一定程度的误差，但这种误差处理起来相对容易。
2.校准误差校准过程是视觉检测必须的一个过程。
系统会在校准过程中引入误差。
该方法利用摄像机视场不同位置的多个图像校准标准部件，计算其平均值作为校正系数，消除镜头畸变引起的误差。
但有一点要注意，标定过程会产生随机性误差。
影响测量机测量精度因素
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空气压力
1.测量机采用气浮轴承使运动轴的运动无磨擦，其原理 是将压缩空气从气浮块的小孔中喷出，在气浮块和导轨之间 形成一定厚度的气膜，这个气膜使测量机的各轴运动时无摩 气浮轴承， 擦，保证测量机正常的运动状态和测量精度。 气浮块， 2.空气压力的波动会使气浮块的气浮间隙变化，影响测量重 三联体 复性。气压严重不足时，会使气浮块不能充分浮起造成与导 轨摩擦，轻者影响测量机运动状态和测量精度，重者会磨损 导轨和气浮块,严重损坏测量机。 空压机对空气压缩的同时会把空气中的水分子和油分子 压缩成水和油，而且空压机本身工作时也需要有润滑油对其 气浮轴承， 机构进行润滑，也使得有一部分润滑油进入压缩空气。进入 气浮块， 压缩空气的水和油会随着压缩空气进入到平衡气缸和气浮块 三联体， 。在测量机工作时水和油附着在导轨上，使导轨的直线度改 气源过滤器 变。当测量机不工作时管道中的油滴可能堵塞气浮块的气 孔，使气浮块不能正常浮起，造成气浮块与导轨的摩擦，从 而影响测量精度。 1.进入压缩空气的水和油会随着压缩空气进入到平衡气缸和 气浮块。在测量机工作时水和油附着在导轨上，使导轨的直 三轴导轨面 线度改变，影响测量精度 2.花岗石导轨面质地脆弱，任何小的磕碰会造成碰伤，如果 未及时发现，碎渣就会伤害气浮块和导轨。
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测量机导轨 的清洁保养
1.经常定期的用高织纱纯棉布粘无水酒精清洁三轴导轨面， 保持导轨面清洁。 2.导轨面禁止放置任何物品，禁止发生磕碰。如果发生磕碰 现象，应停止机器的运行并及时清理导轨面。
备注
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温度
1.温度是影响测量机精度的最大因素。 2.在测量机的机房内温度自下而上是逐渐升高的，而且温度 每时每刻又都在变化。因此每个轴的光栅温度和零件温度的 测量软件， 差别就影响了测量机测量的精度。 空调 3.不合理的温度控制方法（空调即用即开，测量机不用则关 空调），会导致测量室内温度不稳定均衡。测量机的温度也 一直在变化，机器处于一种不稳定状态，测量精度会很差。
四点探针法
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四探针测试方法
如上图，电流的路径与前幅图相同，但是测量电压使 用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了 导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻（>1012Ω）很 大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电 压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的 电压值。这样消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。 之后，四探针法变得十分普及。
R L L L ohms A Wt t W
方块电阻
因此，样品的电阻可以写成：
L R Rsh W ohms
R Rsh(ohms / square) Numberofsquares 5Rshohms
半导体样品方块电阻用来表征离子注入层和扩散层，金 属层等。由方块电阻公式可以看出，掺杂浓度的深度变 化不需要已知，它可以看成是掺杂浓度沿深度的积分， 而不必理会掺杂浓度到底是怎么变化的。下图给出了一 些不同物质的方块电阻随厚度变化图。
如果被测样品不是半无穷大，而是厚度、横向尺寸一定， 进一步的分析表明，在四探针法中只要对公式引入适当的 修正系数F即可，此时：
2 SF V23
I
F可以修正接近样品边缘的探针位置、样品的厚度及直径、探针位移和样品温度， 一般是几个独立修正因子的乘积。
修正因子F：
对于线性排列的探针，并且具有相等的探针间距，F可以 写成三个独立因子的乘积：
四探针法原理
四探针法原理
四探针法是一种用于测量材料电阻率的方法，它利用四个探针分别接触材料表面，通过测量电流和电压的关系来计算材料的电阻率。
四探针法原理简单而有效，被广泛应用于半导体材料和薄膜的电学性质研究中。
四探针法的原理基于欧姆定律，即电流和电压之间的关系。
在传统的两探针法中，由于电流通过了接触电极和材料之间的接触电阻，会导致测量结果不准确。
而四探针法通过使用四个探针，其中两个用于施加电流，另外两个用于测量电压，可以消除接触电阻对测量结果的影响，从而得到更准确的电阻率值。
在四探针法中，两个探针间的电流通过材料产生电压，而另外两个探针则测量这个电压。
通过测量电流和电压的关系，可以得到材料的电阻率。
由于四探针法可以消除接触电阻的影响，所以在测量高阻值材料或薄膜时特别有优势。
四探针法的原理也可以扩展到测量材料的电导率、载流子浓度等电学性质。
通过改变探针间的距离和布置方式，可以得到不同方向上的电学性质分布，从而更全面地了解材料的电学特性。
总的来说，四探针法原理简单而有效，可以得到准确的电阻率值，尤其适用于测量高阻值材料和薄膜。
它在半导体材料和薄膜的电学性质研究中有着重要的应用价值，为材料科学研究提供了重要的实验手段。
四探针法的原理也可以扩展到其他电学性质的测量，具有广泛的应用前景。
通过对四探针法原理的深入理解，我们可以更好地利用这一方法进行材料电学性质的研究和应用。
希望本文对四探针法原理的理解有所帮助，也希望能够为材料科学研究的发展做出一些贡献。
影响电测仪表测量准确度的原因分析
影响电测仪表测量准确度的原因分析电测仪表是发电企业和变电站控制接线的重要构成部分，它的作用是不容忽视的。
电测仪表能够直接并且全面的反映出整个供电系统和变电站的运行和生产情况方面的数据，对发电企业来说是至关重要的。
因此，电测仪表的测量准确度就成为了整个系统中的关键部分。
为了进一步的提高电力系统对测量数据的全面把握，就必须提高电测仪表的准确度。
1 促使电测仪表测量准确度失控的因素1.1 设备自身的因素任何一种测量仪器都会有其固定的测量范围，在进行仪器的选择时，最重要的就是选對设备。
很多供电系统在选择测量仪器方面都存在一种错误的观念，即认为仪器测量的精准度越高，仪器就越好。
这种观点是有其局限性的。
一个仪器的测量精准度再高，却没有用在适合的系统中，也是不可能发挥出仪器自身的作用的。
因此，在选择测量仪器时，首要考虑的因素就是采用最适合的测量仪器，只有选对了测量仪器，才能从根本上保证测量结果的准确程度。
那么，在确定了测量仪器之后，就要对仪器的测量准确度进行全面的检验。
在这一过程中，首先要保证操作人员要选取最合适的输入信号，避免零电流的影响。
其次，要检查仪器的电键按钮是否正常，如果按钮接触不良，或是按钮不清洁，就会导致测量仪器读数不准确;转换开关在测量准确度中的影响也是比较大的，如果转换开关质量不合格或是开关磨损严重，都会给测量结果带来较大的误差。
除此之外，其他辅助测量设备的状况也会影响测量的准确性。
1.2 环境因素的影响测量仪器安装现场的环境，对电测仪表的读数准确程度也有很大的影响，尤其是温度的变化，影响最为显著。
电测仪表的标准电阻都是由锰铜制作的，并且电阻值会随着温度的变化而发生变化，电阻值变化的大小又是由温度变化的程度来决定的。
正常条件下，标准电阻的使用条件应该在摄氏20度以下，一旦高于20摄氏度，就会失去电阻值的准确性。
这就要求对仪器安装环境的温度进行严格的控制。
另外，环境的湿度也是影响电测仪表测量准确性的重要因素。
四探针法测量电阻率和薄层电阻
RS C0
式中 C 0 为修正系数。
V23 I
（16）
四、实验装置
本实验使用 SDY-4D 型四探针测试仪，见图 6。仪器由主机（电气测量装置）和 DJ-2 型电动测试台组成，两部分独立放置，通过连接线连接，其主要技术参数如下： （1）测量范围：电阻率为 0.010～180 cm ；方块电阻为 0.10～2900Ω /□. （2）可测样品尺寸： 6mm～150mm . （3）可测样品厚度： 0.1mm～20mm . （4）测量误差：≤±5％. （5）探针间距： 1.0mm .
(
ln2
)d
V23 V 4.5324d 23 I I
（13）
（13）式说明：对于极薄样品，在等间距探针情况下，测量结果与探针间距无关，电 阻率与被测样品的厚度 d 成正比。
图4
薄层电阻的测试图
图 5 方块电阻定义示意图
实际工作中，仪器直接测试出薄层电阻（ RS ），又称方块电阻（ R ），其定义就 是表面为正方形的半导体薄层，在电流方向所呈现的电阻，见图 5。
（5）
（6）
V23 V2 V3
所以，样品的电阻率为：
I 1 1 1 1 ( ) 2 r12 r24 r13 r34
（7）
2 V23 1 1 1 1 ( ) 1 I r12 r24 r13 r34
（8）
上式就是利用直流四探针法测量电阻率的普遍公式。 我们只需测出流过1、4 探
图6
SDY-4D 型四探针测试仪
仪器电气原理如图 7 所示。
图7
SDY-4D 型四探针测试仪电气原理框图
图 8 四探针法测量原理图
仪器测量原理如图 8 所示。将排成一条直线且等间距的四根探针以一定的压力垂 直地压在被测样品的表面上，在 1、4 探针间通以电流 I (mA) ，2、3 探针间就会产生 一定的电压 V (mV ) 。测量此电压，并根据测量方式和样品的尺寸不同，可分别按以下 公式计算样品的电阻率或方块电阻： （1）薄圆片（厚度≤4mm）电阻率 ( cm) ：
四探针法测电阻率实验原理要点
实验 四探针法测电阻率1．实验目的：学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。
2．实验内容① 硅单晶片电阻率的测量：选不同电阻率及不同厚度的大单晶圆片，改变条件（光照与否），对测量结果进行比较。
② 薄层电阻率的测量：对不同尺寸的单面扩散片和双面扩散片的薄层电阻率进行测量。
改变条件进行测量（与①相同），对结果进行比较。
3． 实验原理：在半导体器件的研制和生产过程中常常要对半导体单晶材料的原始电阻率和经过扩散、外延等工艺处理后的薄层电阻进行测量。
测量电阻率的方法很多，有两探针法，四探针法，单探针扩展电阻法，范德堡法等，我们这里介绍的是四探针法。
因为这种方法简便可行，适于批量生产，所以目前得到了广泛应用。
所谓四探针法，就是用针间距约1毫米的四根金属探针同时压在被测样品的平整表面上如图1a 所示。
利用恒流源给1、4两个探针通以小电流，然后在2、3两个探针上用高输入阻抗的静电计、电位差计、电子毫伏计或数字电压表测量电压，最后根据理论公式计算出样品的电阻率［１］IV C23=ρ 式中，C 为四探针的修正系数，单位为厘米，C 的大小取决于四探针的排列方法和针距，探针的位置和间距确定以后，探针系数C 就是一个常数；V 23为2、3两探针之间的电压，单位为伏特；I 为通过样品的电流，单位为安培。
半导体材料的体电阻率和薄层电阻率的测量结果往往与式样的形状和尺寸密切相关，下面我们分两种情况来进行讨论。
⑴ 半无限大样品情形图1给出了四探针法测半无穷大样品电阻率的原理图，图中(a)为四探针测量电阻率的装置；(b)为半无穷大样品上探针电流的分布及等势面图形；(c)和(d)分别为正方形排列及直线排列的四探针图形。
因为四探针对半导体表面的接触均为点接触，所以，对图１（b ）所示的半无穷大样品，电流I 是以探针尖为圆心呈径向放射状流入体内的。
因而电流在体内所形成的等位面为图中虚线所示的半球面。
于是，样品电阻率为ρ，半径为r ，间距为dr 的两个半球等位面间的电阻为dr r dR 22πρ=， 它们之间的电位差为 dr rIIdR dV 22πρ==。
影响分光光度计测量误差的主要原因
影响分光光度计测量误差的重要原因分光光度计作为一种精密仪器，在运行工作过程中由于工作环境，操作方法等种种原因，其技术情形一定会发生某些变更，可能影响设备的性能，甚至诱发设备故障及事故。
因此，分析工必须了解分光光度计的基本原理和使用说明，并能适时发觉和排出这些隐患，对已产生的故障适时维护和修理才略保证仪器设备的正常运行。
1）若大幅度更改测试波长，需稍等片刻，等灯热平衡后，重新校正“0”和“100%”点。
然后再测量。
2）指针式仪器在未接通电源时，电表的指针必须位于零刻度上。
若不是这种情况，需进行机械调零。
3）比色皿使用完毕后，请立刻用蒸馏水冲洗干净，并用干净柔嫩的纱布将水迹擦去，以防止表面干净度被破坏，影响比色皿的透光率。
4）操作人员不应轻易动电灯泡及反光镜灯，以免影响光效率。
5）1900型等分光光度计，由于其光电接收装置为光电倍增管，它自身的特点是放大倍数大，因而可以用于检测微弱光电信号，而不能用来检测强光。
否则简单产生信号漂移，灵敏度下降。
针对其上述特点，在维护和修理、使用此类仪器时应注意不让光电倍增管长时间暴露于光下，因此在预热时，应打开比色皿盖或使用挡光杆，躲避长时间照射使其性能漂移而导致工作不稳。
6）放大器灵敏度换挡后，必须重新调零。
7）比色杯的配套性问题。
比色杯必须配套使用，否则将使测试结果失去意义。
在进行每次测试前均应进行比较。
实在方法如下；分别向被测的两只杯子里注入同样的溶液，把仪器置于某一波优点，石英比色杯；220nm、700nm装蒸馏水，玻璃比色杯：700nm处装蒸馏水，将某一个池的透射比值调至100%，测量其他各池的透射比值，记录其示值之差及通光方向，如透射比之差在0.5%的范围内则可以配套使用，若超出此范围应考虑其对测试结果的影响。
分光光度计分操作中简单显现的几个典型故障及其排出方法：1）仪器不能调零。
可能原因：a）光门不能完全关闭。
解决方法：修复光门部件，使其完全关闭。
b）透过率“100%”旋到底了。
计量器具出现失准的原因及应对措施
计量器具出现失准的原因及应对措施Abstract: Measuring instruments are widely used in daily production, life and scientific research, and the relevant measuring standards are gradually improved. Only by ensuring the accuracy of the measuring instruments can the final unification of the measurement values be promoted. Howeve, measuring instruments will have varying degrees of inaccuracy when they are used resulting in the inability to effectively guarantee the quality of product testing. Therefore, this paper deeply analyzed the reasons for the inaccuracy of measuring instruments and proposed corresponding solutions in order to improve the detection accuracy of measuring instruments.Keywords : measuring instruments;inaccuracy;testing quality;countermeasures计量器具是指通过直接或间接的方式获取被检测对象具体量值的各种仪器设备、仪表量具等。
人们的日常生产、生活和科研工作离不开计量器具，其已经普遍应用在诸多行业［1-3］，相关计量标准逐渐完善。
罗氏探头测量误差的原因及解决方法
罗氏探头测量误差的原因及解决方法脉冲电流测试有几个非常关键的词-方便-安全-正确。
从使用上用户需要方便，不能太麻烦的拆装，太费时费力的测试效率太低，比如闭环的霍尔探头拆装就是一个非常考验体力的活，罗氏探头是快插式闭环，可以完全不改变电路的情况下，直接穿线测试电流！另外功率电子的特点就是高压，大电流，强磁场环境，测试不能保证安全，所有的方便和精度都无从谈起，所以浮地绝缘的测量非常非常重要，罗氏探头最大隔离电压达到10KV，电池供电，非接入式实际隔离测量，应付99%的应用是妥妥的安全感；前面所提到的方便和安全只是做测试的基本要求，对于做实验来讲，最终的结果是想拿到数据准确，稳定可靠的数据或波形，所以数据正确是电流测试的最根本需求！从探头规格书所展示的精度，通常都非常保守，定规在+/-2%,线性度通常为+/-0.05%，某些品牌探头还允许用户进行零点调整-ZERO ADJ来修正测试精度，比如IWATSU的SS系列罗氏探头全都支持调零功能。
实际上，我们跟用户的交流中发现，工程师通常对探头的规格书精度都比较了解，大部份使用精度都在1%左右，但也有特例使用时会有些情况下发现数据会超过规格书范围，甚至达到5%左右，除了探头确实损坏外，一般通常有以下几个方面的原因造成，下面我们就花点时间来叨叨罗氏探头误差的这些事：1、大量程探头测量小幅值信号：比如用6000A量程的探头测量60A左右的电流信号，量程/实际信号比达到了100：1，这样会产生非常大的量化误差及示波器无法对过小信号进行正确解析导致！比如IWATSU SS-627的电流量程为3000A，其伏安比为2mv/A，假设我们用SS-627去测量30A的电流，即示波器实际获得的信号仅为2mV*30=600mV，大家使用示波器时会发现示波器测量纹波非常难，对于罗氏探头的使用是同样的道理。
所以建议工程师们选择探头时，应考虑量程适当性及经济性，建议实际量程应约为测量值3倍左右或以内。
与探针有关的测试不准问题
無側壓力
中段縮口
無縮口
●電阻/阻抗
彈簧空間小
◆針頭與針管側壓力爲漸進式
◆電流通路經由電感性的彈簧，常有中斷現象
◆惻壓不穩定，造成探針電阻值變化太大，假性開路
●針頭甩尾-TIR (total indicator run-out)
◆針頭與針管誤差太大
◆旗杆效應，刺點位置太分散
◆平均甩尾TIR .0075”- .008”
●彈簧力/機械壽命 ◆針頭縮短，彈簧空間加大 ◆可設計高彈力彈簧，壽命延長 ◆強力彈簧及過壓縮不至於影響壽命
最新Pogo Plus設計
錐形加側壓球
雙圈縮口
●電阻
彈簧空間大
◆針頭與針管側壓確實
◆探針壓縮的全部過程中，電阻都保持小而穩定
◆無假性開路
●針頭甩尾-TIR
◆雙圈縮口，嚴防甩尾
◆刺點集中
◆平均甩尾 TIR爲 .0024”
●彈簧力/機械壽命
◆針頸短，彈簧空間加大
◆彈簧空間大，壽命長，可容納強力彈簧
◆強力彈簧及過壓縮不影響壽命
各種頭型的選用
●彈簧力/機械壽命
◆彈簧空間不夠，壽命減少
◆壓縮過量時造成機械壽命急速縮短
◆高彈力=壽命短，低彈力=接觸不良
其他廠商設計#2
斜面式側壓力
單圈縮口
彈簧空間大
●電阻/阻抗 ◆側壓較1爲佳 ◆在工作行程時，電阻夠低，夠穩定 ◆假性開路不常發◆平均甩尾 TIR爲 .004”
試工程師？
●改進測試良率 ●增進産出量 ●在整個産品生命周期內，測試
程式維持穩定 ●難測零件量測精准 ●消除探針導致的假性開路 ●提高精確測試結果 ●降低成本
最新Pogo Plus 系列探針 如何挑戰PCB設計新趨勢
论影响电测仪表测量准确度的原因及防范措施
论影响电测仪表测量准确度的原因及防范措施摘要：随着我国经济的持续发展，人们对化工产品也有了更高的需求。
在我国国民经济发展过程中，化工行业是十分重要的支柱产业，通过生产化工产品，不仅可以使人们的日常生活需求得到满足，而且还可以为生产领域提供重要原材料。
在化工生产过程中，电测仪表自动化管理是十分重要的一项内容，通过提高化工电测仪表的自动化管理水平，可以进一步保障化工生产过程的安全性和准确性，促进我国化工行业的自动化和智能化发展。
关键词：电测仪表；测量；原因；防范引言用于高精度温度计量检测的电测仪表一般由高性能电子元器件和高稳定性模拟电路组成，环境温度的变化会影响电子元器件和模拟电路的物理特性，引起测量系统的温度漂移误差，环境温度变化引起的误差在高精度测温中是不可忽略的，实验室用的高精度测温电测仪表(以下简称测温电测仪表)的工作参考温度一般区间范围是(23±5)℃，应用在恒温实验室内能够满足电测仪表规定的最大允许误差。
随着计量校准行业服务质量的不断提升，在线校准、现场校准需求日益增加，这就要求测温电测仪表也能够应用于不同的场地条件，其计量特性需要能够满足现场测温环境的需求。
1、自动化电测仪表的作用与功能1.1作用在化工企业生产过程中，通过对自动化电测仪表加以使用，可以使企业生产力得到有效提升。
对比企业的传统生产模式，在对自动化电测仪表加以使用后，可以显著提升企业生产效率，并使不必要的人力成本得到节省，可以进一步保证生产工作的安全性和有效性。
在实际使用自动化电测仪表时，相关工作人员也由原本的主导地位逐渐向辅助地位进行转变，对此，相关工作人员需要对机械设备的自动化技能加以利用，避免有人工工作失误的情况出现。
通过对自动化电测仪表具有的智能化特性加以利用，可以进一步保证生产工作的安全性和可靠性。
除此之外，通过应用自动化电测仪表，可以提升工作效率，并压缩工作时间，使企业的人力、节省物力及财力。
1.2功能（1）编程功能。
影响工程测量精准度的原因及控制对策
影响工程测量精准度的原因及控制对策摘要：整个工程控制系统质量会受到工程测量精度的影响，在工程设计与施工中发挥了巨大作用。
近些年，各项工程的结构类型日趋复杂化，加上测量设备以及测量技术的制约，导致无法更好的把控工程测量精度。
关键词：工程测量；精度；影响因素；控制方法中图分类号：TU198文献标识码：A引言在建筑工程中，工程测量主要通过各种测量仪器获取精确数据，为完善施工规划、提高施工质量、保证设计方案可靠性提供了重要的数据依据。
但是工程测量实际中存在的不可确定影响因素也有很多，导致数据精准性差，也会对施工进度控制和质量产生影响。
因此，工程测量在建筑工程中应该作为重点关注的内容，并且从人员、制度、测量技术等多方面制定好工作方案，保证测量工作井然有序进行，提高建筑工程测量精度。
1建筑工程中影响测量精度的主要因素1.1测量人员的因素建筑工程测量中，测量数据的精度更多的取决于测量人员的工作态度、测量技术是否先进、测量仪器的准确性以及操作是否存在失误等多方面。
当前建筑领域中，存在一部分企业为了节省成本，聘请非专业的测量人员，很容易在实际测量中出现操作不当、技术欠缺等影响测量精度的情况发生。
因此，在建筑工程测量工作中，控制数据精度首先要从测量人员方面入手解决。
1.2建筑施工单位资金投入不足当前我国很多建筑施工单位在进行工程建设过程当中，由于施工资金的投入量不足，造成工程测量设备的数量以及先进程度远远不足，形成了测量工作人员在工作过程当中所使用的设备比较陈旧，测量精确度大大折扣[1]。
如果相关建筑施工单位没有对测量工作加以充分的重视，那么会在测量仪器的资金投入量上不断缩减，进而会直接影响到工程测量工作人员的工作效率以及工程测量的准确度，进而影响到了整个工程的高效化开展。
除此之外，相关施工单位需要针对测量工作人员进行科学化管理，工程测量工作当中制定出相对完善的管理体制以及人员监督制度，充分保证每一个工程测量工作人员对测量工作的重视程度加以重视，以此来保证整个工程测量工作的科学化和高效化开展。
工程测量过程中精度的影响因素及控制 卜敏花
工程测量过程中精度的影响因素及控制卜敏花摘要：工程测量是整个工程建设的重要环节，测量人员对多种数据与信息进行收集，为工程的后续施工与设计提供参考依据。
如果测量结果的精度得不到保证，会对工程施工进度与施工质量产生极为严重的影响。
本文将从工程测量的含义出发，分析工程测量过程中精度的影响因素，并针对控制测量精度提供几点建议。
关键词：工程测量；测量精度；施工单位引言：随着社会经济的快速发展与科学技术水平的不断进步，建筑行业得以飞速发展，同时，人们对工程项目的功能与质量要求逐渐提高。
在这一背景下，工程测量应不断提高测量精度，对工程测量过程中精度的影响因素进行总结与分析，合理地制定控制工程测量精度的措施，运用科学的测量方法与测量技术进行精准测量。
一、工程测量的含义工程测量是依据有关测量技术和测量规范，获取工程项目的空间数据和位置信息，并对其进行定位计量的工作。
工程测量是整个工程项目施工与设计的基础，是对工程项目进行管理的重要技术手段，为工程项目的验收、施工与设计提供了较为基础的图像、图形、数据及信息服务，如果不能进行精准的工程测量，工程项目的质量不但难以保证，甚至还会使工程建设工作存有安全隐患。
工程测量作为工程建设的技术基础，贯穿项目施工及项目竣工的始终。
在进行施工设计时，工程测量能够为设计人员提供相对准确的数据信息。
在工程施工过程中，工程测量能够用技术手段严格控制工程项目的精度与质量。
在工程项目竣工后，工程测量能够对工程质量进行严格把关。
通过工程测量，可以全面控制工程的结构、形状等基本要素，对工程功能与质量进行实时监测，从而实现工程的技术目标和质量目标。
建筑、道路、桥梁、水利等诸多工程都要以工程测量为支撑，而且在工程项目的设计、施工及竣工等不同阶段有着多种形式的应用[1]。
从某种角度来说，工程测量逐渐成为当代建筑行业的核心基础。
因此，相关部门应对工程测量工作加以重视。
二、工程测量过程中精度的影响因素（一）测量质量监管不完善许多施工单位没有全面、充分的执行工程测量工作，也没有对工程测量质量进行有效监管，大多由相关部门与社会进行管理和监督。
关于电测量仪表测量精度不稳定的因素和措施探讨
关于电测量仪表测量精度不稳定的因素和措施探讨摘要：随着我国电力市场的快速发展，对电测仪表的测量准确度提出了新的要求。
因此，对测量仪表在测量过程中，可能导致其测量失准的因素有一个全面的了解就变得至关重要。
本文通过分析影响电测仪表测量准确度的原因，进而提出了一些应对措施及建议，希望可以对电力企业有所帮助。
关键词：电测仪表；测量；精准度；防范措施电测仪表作为检测电力系统工作情况的主要工具，其可以全面监控整个供电系统的运行及生产情况，被电力企业广泛使用。
为了保障电力企业供电系统的稳定运行，分析影响电测仪表测量精准度的原因，从而选择适当的防范措施来保证电测仪表测量的稳定性。
这样能最大可能减小/避免因电测仪表测量精准度失稳给电力企业带来的损失。
1、促使电测仪表测量准确度不稳定的因素1.1 电测量仪表自身的因素任何一种测量仪器都有其固定的测量范围，在选择仪器时，最重要的是选对设备。
很多供电系统在选择测量仪器进时都有一种错误认知，总认为测量仪器有精准度越高越好。
此观点是极其片面的。
一个测量仪器的精准度再高，假如没有运用到适当的系统中，也是发挥不出仪器的效果的。
那么，在选择测量仪器时，首先要考虑挑选最合适的测量仪器，唯有采用了对的测量仪器，才能有效的确保测量结果的准确度。
[1]在经过测量仪器的选择后，还需全面检查仪器的测量精确度。
在此过程中，第一步需确保操作人员选取最适合的输入信号，避免受到零电流的影响。
第二步，应检查仪器的电键按钮是否处于正常状态，一旦按钮出现接触不良的现象，或是按钮不清洁，就容易导致测量仪器在读数时出现误差；另外，转换开关也会严重影响到测量准确度，如果转换开关质量不合格或是开关破损严重，都能引起测量仪器读数不准确。
除此之外，其他辅助测量设备也会在一定程度上影响测量的准确度。
1.2 测量环境影响因素测量仪器安装现场的环境变化，也会在很大程度上影响电测仪表测量结果的准确性，特别是温度的改变，影响尤为明显。
四探针培训资料
4、提高测量精度的措施
在使用四探针测试仪时，为了能够尽可能避免引起测量不 稳定的因素的干扰，可以通过一些方法使受到的影响降到最低， 从而得到较为精确的测量结果。 为了降低探针和被测样品之间的接触电阻，探针的针尖要 比较尖。探针与样品的接触半径要远远小于探针间距，以减小 非平衡少子的影响。探针通常用钨或碳化钨制成，但是钨材料 不耐磨，而碳化钨的接触电阻较大。可以选用高速钢制成的探 针，坚硬耐磨且接触电阻不大。实际测量时，为保证被测样品 微区范围内电阻率的均匀性，探针的间距不宜过大，且尽可能 减小探针游移。在测量时探针应被施加适当的压力，但是压力 不能过大。 由于样品中流过的电流会使样品发热，使样品局部温度升 高，造成局部载流子浓度改变，从而影响电阻率的大小，所以 通入样品的电流数值不宜过大。
8 0.006 0.013 0.020 0.027 0.035 0.042 0.049 0.056 0.063 0.071 0.078 0.085 0.092 0.100 0.107 0.114 0.121 0.128 0.136 0.143 0.150 0.157
9 0.006 0.014 0.021 0.028 0.035 0.043 0.050 0.057 0.064 0.071 0.079 0.086 0.093 0.100 0.107 0.115 0.122 0.129 0.136 0.144 0.151 0.158
6 0.004 0.012 0.019 0.026 0.033 0.040 0.048 0.055 0.062 0.069 0.077 0.084 0.091 0.098 0.105 0.113 0.120 0.127 0.134 0.141 0.149 0.156
7 0.005 0.012 0.019 0.027 0.034 0.041 0.048 0.056 0.063 0.070 0.077 0.084 0.092 0.099 0.106 0.113 0.120 0.128 0.135 0.142 0.149 0.157
影响测量精度的因素
TC210覆层测厚仪使用说明书北京时代天晨科技有限公司北京时代天晨科技有限公司北京时代天晨科技有限公司北京时代天晨科技有限公司1概述 ___________________________________________________________________________________ 1 1.1测量原理 ___________________________________________________________________________ 1 1.2配置清单 ___________________________________________________________________________ 2 1.3仪器视图 ___________________________________________________________________________ 31.3.1测头视图及名称_________________________________________________________________ 31.3.2主机视图及各部分名称 ___________________________________________________________ 31.3.3屏幕显示_______________________________________________________________________ 4 1.4技术参数 ___________________________________________________________________________ 51.4.1测量范围及测量误差（见附录1）_________________________________________________ 51.4.2使用环境_______________________________________________________________________ 51.4.3电源___________________________________________________________________________ 51.4.4外型尺寸和重量_________________________________________________________________ 5 2仪器的使用 _____________________________________________________________________________ 52.1基本测量步骤 _______________________________________________________________________ 5 2.2各项功能及操作方法 _________________________________________________________________ 72.2.1测量方式（单次测量⇔连续测量） _________________________________________________ 82.2.2工作方式（直接方式⇔成组方式） _________________________________________________ 82.2.3单位制式转换（公制<=>英制） ___________________________________________________ 92.2.4统计计算_______________________________________________________________________ 92.2.5存贮___________________________________________________________________________ 92.2.6删除___________________________________________________________________________ 92.2.7设置限界______________________________________________________________________ 102.2.8操作一览表____________________________________________________________________ 122.2.9关于测量和误差的说明 __________________________________________________________ 12 3仪器的校准 ____________________________________________________________________________ 133.1校准标准片（包括箔和基体） ________________________________________________________ 13 3.2基体 ______________________________________________________________________________ 13 3.3校准方法 __________________________________________________________________________ 133.3.1零点校准______________________________________________________________________ 133.3.2二点校准______________________________________________________________________ 143.3.3修改组FX中的校准值__________________________________________________________ 15 3.4基本校准的修正 ____________________________________________________________________ 16 4影响测量精度的因素 ____________________________________________________________________ 164.1影响因素相关表 ____________________________________________________________________ 16北京时代天晨科技有限公司4.2影响因素的有关说明 ________________________________________________________________ 17 4.3使用仪器时应当遵守的规定 __________________________________________________________ 19 5保养与维修 ____________________________________________________________________________ 205.1环境要求 __________________________________________________________________________ 20 5.2更换电池 __________________________________________________________________________ 20 5.3故障排除 __________________________________________________________________________ 20 6用户须知 ______________________________________________________________________________ 21 7附表 __________________________________________________________________________________ 22北京时代天晨科技有限公司1概述本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
电测仪表测量准确度的影响因素及防范措施分析
电测仪表测量准确度的影响因素及防范措施分析在当前阶段，保障电力供应系统的稳定性是电力供应系统的重点工作。
而电测仪表就是在进行电力检查维修工作中的常用检测设备。
使用者在使用电测仪表时，通过测量电气参数，便可获取所需信息，以便于对电力网络和线路发生的故障进行判读，进而采取相应的解决措施以及后续的维修等。
随着电子行业的发展，电测仪表的数据可靠性显著提升。
但是，其测量仍存在着一定的不稳定性，为企业造成较大的经济风险。
这就要求企业掌握影响电测仪表测量准确度的因素，进而采取相应对策。
标签：电测仪表;测量;准确度;影响因素;防范措施电测仪器的精度对电力行业至关重要。
电测仪器表主要包括电流表、电压表及功率表等。
电测仪器测量是电力行业发展和电厂日常控制管理的重点。
电厂的工作人员需要根据电测仪器的数值进行电厂电力系统的控制和管理。
对于电厂而言，电测仪器就等于工作人员的眼睛。
因此，电测仪器的准确度直接影响电力系统的控制管理效果。
电测仪器的精确度主要包括仪器的读数、量程、电测仪器的最小单位、计量方式和工作环境等。
一、影响电测仪表测量准确度的因素（一）表计准确度级别当前的国家标准对电测仪器精度分为七个等级，包括从0.1～5.0七个档次，这些等级对应的误差分别在±0.1%～±5%。
使用电测仪器进行测量时，要根据电测仪器的精确度选择合适的读数方式，并在使用前确保电测仪器的使用环境符合标准。
同时，要确保被测数值在电测仪器的测量范围内。
精确度越高的电测仪器，使用环境也更加严苛。
在相同测量条件和量程范围内，尽量选择精度更高的电测仪器。
精度越高，读数也越准確。
但需注意，不同精度的电测仪器使用环境有所不同，要根据环境选择合适的电测仪器，以期获得更准确的测量结果。
仪器选择失误不仅会导致测量结果出现误差，还可能对仪器造成损坏。
（二）表计量程影响实际测量数据的因素主要是表计的精准度和量程。
核算测量数据的误差时，数据误差的计算公式是测量仪器的量程乘以引用的误差数。