某公司进料检验指导书

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4.1.4、缺陷分类

4.2、插件电阻检验规

4.2.1、检验仪器和设备:数字电桥、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.2.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.2.4、缺陷分类

4.3.1、检验仪器和设备:数字电桥、恒温烙铁、数字卡尺。

4.3.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.3.4、缺陷分类

4.4、压敏电阻检验规

4.4.1、检验仪器和设备:万用表、晶体管特性仪、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.4.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.4.4、缺陷分类

4.5、热敏电阻检验规

4.5.1、检验仪器和设备:万用表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.5.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.6、电位器检验规

4.6.1、检验仪器和设备:万用表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.6.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.6.4、缺陷分类

4.7、插件瓷片/独石电容检验规

4.7.1、检验仪器和设备:数字电桥、电容表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.7.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.7.3、检验项目、检验方法和技术要求

4.7.4、缺陷分类

4.8、插件电解电容检验规

4.8.1、检验仪器和设备:数字电桥、电容表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。

4.8.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.8.4、缺陷分类

4.9、贴片瓷电容检验规

4.9.1、检验仪器和设备:数字电桥、电容表、恒温烙铁、数字卡尺。

4.9.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.10、插件晶体三极管检验规

4.10.1、检验仪器和设备:晶体管特性测试仪、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.10.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.11、贴片晶体三极管检验规

4.11.1、检验仪器和设备:晶体管特性测试仪、恒温烙铁、数字卡尺。

4.11.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.12、插件普通晶体二极管检验规

4.12.1、检验仪器和设备:晶体管特性测试仪、数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.12.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.12.4、缺陷分类

4.13、贴片普通晶体二极管检验规

4.13.1、检验仪器和设备:晶体管特性测试仪、数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.13.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.13.4、缺陷分类

4.14、插件稳压二极管检验规

4.14.1、检验仪器和设备:数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.14.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.14.3、检验项目、检验方法和技术要求

4.14.4、缺陷分类

4.15、贴片稳压二极管检验规

4.1

5.1、检验仪器和设备:数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.1

5.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.16、插件发光二极管检验规

4.16.1、检验仪器和设备:晶体管特性仪、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.16.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.16.3、检验项目、检验方法和技术要求

4.16.4、缺陷分类

4.17、贴片发光二极管检验规

4.17.1、检验仪器和设备:晶体管特性仪、恒温烙铁、数字卡尺。

4.17.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.17.4、缺陷分类

4.18、插件电感检验规

4.18.1、检验仪器和设备:数字电桥、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.18.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.18.4、缺陷分类

4.19、贴片电感检验规

4.19.1、检验仪器和设备:数字电桥、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.19.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.19.4、缺陷分类

4.20、空芯电感检验规

4.20.1、检验仪器和设备:半成品样板、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.20.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.20.3、检验项目、检验方法和技术要求

4.20.4、缺陷分类

4.21、可调电感检验规

4.21.1、检验仪器和设备:半成品样板、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.21.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.21.4、缺陷分类

4.22、晶振检验规

4.22.1、检验仪器和设备:频率计、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。

4.22.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

4.22.3、检验项目、检验方法和技术要求

4.22.4、缺陷分类

4.23、声表检验规

4.23.1、检验仪器和设备:频率计、恒温烙铁、数字卡尺。

4.23.2、环境条件:常温(25℃±5℃),40W荧光灯下。

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