晶体光学4

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晶体光学整理复习资料

晶体光学整理复习资料

一、名词解释(1)折射:当入射光波进入透明物后,其传播的方向和速度都发生改变的现象称为折射。

(2)矿物的消光位:矿片在正交偏光镜下处于消光位的位置,称为消光位,处于消光位时矿片光率体椭圆半径与上下偏光镜的振动方向一致。

(3)光率体:表示光波在晶体中传播,光波的振动方向与相应的折射率之间相关性指示体。

(4)干涉色:当白光通过正交偏光镜的矿片后,经干涉作用形成的颜色称为干涉色。

(5)晶体光性方向:晶体的光率体主轴与结晶轴之间的关系称为光性方向(6)全消光:在正交偏光镜间,载物台上放置均质体或非均质体垂直光轴的矿片,转动载物台360,矿片消光不改变,称为全消光。

(7)一轴晶:中级晶族中只有一个光轴方向,称为一轴晶(8)光性方向:光率体,主轴,晶体结晶轴三者之间的关系称为光性方向。

(9)二轴晶:低级晶族具有两个光轴方向,称为二轴晶。

(10)非均质体:中级晶族和低级晶族的矿物,其光学性质随方向而异称为光性非均质体。

(11)折射率的色散:同一晶体的折射率随单色光光波的波长不同而发生改变的现象称为折射率的色散。

(12)补色法则:两个非均质体除垂直光轴以外的任意方向切面,在正交偏光镜间45位置重叠,光波通过这两个矿片后,总光程差的增减称为补色法则。

(13)多色性和吸收性:在单偏光镜下转动载物台时,许多有色非均质体矿片的颜色及颜色的深浅发生变化,这种由于光波在晶体中波动方向不同,而使矿物的颜色发生变化的现象称为多色性,颜色深浅发生变化的现象称为吸收性。

(14)矿物的突起:在岩石薄片中,各种不同矿物表面高低不同,这种矿物表面突起来的现象称为突起。

(15)矿物的闪突起:在单偏光镜下,转动载物台,非均质体矿物边缘糙面及突起高低产生明显变化的现象称为闪突起。

(16)解理缝可视临界角:当解理面倾斜到一定角度时,解理缝就不见了,此时解理缝与矿片平面法线之间的夹角称为解理缝可见临界角。

(17)全反射临界角:入射光线的全部能量以反射光的形式全部返回入射介质的入射角。

PbMoO4晶体光学性质的第一性原理研究

PbMoO4晶体光学性质的第一性原理研究

g n r l e r d e ta p o i a in ( e e a i d g a in p r xm t s GGA)b s d o h e st u c i n t e r ( z o a e n t e d n iy f n to h o y DF I . e r s ls i d c t h tt e ' Th e u t n i e t a h ) a p a fi g n r a to ilc rcf n to o r s o d t h to e l a t f o d c iiy c m p e e r c i i a d e k o ma i a y p r fd ee t i u c i n c re p n swi t a fr a r n u tvt , o l x r fa t t n h p o c v y, a s r t n s e t a I d iin,t e r a o a l x l n t n i p e e t d f o t e e e t o r n i o e we n t e v — b o p i p cr. n a dt o o h e s n b e e p a a i S r s n e r m h l c r n ta st n b t e h a o i ln e b n n h o d c i n b n n t e d n i fs a e . e c a d a d t e c n u t a d i h e st o t t s o y

对应 的关 系, 且 可以从 电子 态密度 图 中的价带 和导 带间 的电子 跃迁得 到合 理解释 。 并
关 键 词 密度泛函理论 P Mo 4 电子结构 b O 光学性质
中 图分 类 号 : 423 0 8.

lammps 建sic晶体结构(4h相)

lammps 建sic晶体结构(4h相)

lammps 建sic晶体结构(4h相) SIC晶体是一种重要的半导体材料,具有优异的物理性质,被广泛应用于电子器件、光学器件等领域。

在LAMMPS中,我们可以通过模拟的方式构建SIC晶体结构,其中4H相是SIC的一种典型结构,具有一定的稳定性和特殊性质。

首先,让我们来了解一下SIC晶体的基本结构。

SIC晶体是由硅原子和碳原子构成的复合晶体,硅原子和碳原子以不同的方式排列形成不同的结构类型,其中4H相是硅原子和碳原子交替排列形成六方晶格的一种结构。

在LAMMPS中构建SIC晶体结构的步骤如下:
1.定义晶体结构:首先需要定义晶格参数和晶体的结构类型,对于4H相的SIC晶体,可以定义其晶格参数和原子的排列方式。

2.生成原子坐标:根据晶格参数和原子的排列方式,可以生成SIC 晶体中原子的坐标信息,包括硅原子和碳原子的坐标位置。

3.建立分子模型:将生成的原子坐标信息转化为分子模型,在LAMMPS中可以使用相应的命令将原子坐标信息导入并建立分子模型。

4.定义势能模型:在模拟SIC晶体的过程中,需要定义硅原子和碳原子之间的相互作用势能模型,以便进行相互作用力的计算。

5.进行分子动力学模拟:通过设置合适的温度和压力等参数,在LAMMPS中进行SIC晶体的分子动力学模拟,模拟晶体的结构和性质。

通过以上步骤,我们可以在LAMMPS中构建SIC晶体结构,并进行相应的模拟分析。

通过模拟,我们可以研究SIC晶体在不同条件下的物理性质,为相关领域的研究和应用提供参考和支持。

SIC晶体在电子器件和光学器件等领域的应用前景广阔,通过模拟研究可以更深入地了解其性质和结构,为相关领域的发展做出贡献。

晶体光学实验指导书

晶体光学实验指导书

晶体光学实验指导书赖健清编(地质工程专业A方向适用)中南大学地球科学与信息物理学院目录实验一偏光显微镜的调节和校正;解理的观察 (1)一.目的要求 (1)二.实验内容 (1)实验二突起等级和多色性的观察 (3)一.目的要求 (3)二.实验内容 (3)实验一、二报告内容: (3)实验三干涉色级序特征的观察,矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定 (4)一.目的要求 (4)二.实验内容 (4)实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察 (5)一.目的要求 (5)二.实验内容 (5)实验三、四实验报告内容 (5)实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图 (6)一.目的要求 (6)二.锥光镜下观察的操作程序 (6)三.实验内容 (6)实验六斜长石的牌码测定 (6)一、目的要求 (6)二、实验内容 (6)实验五报告内容 (9)实验六斜长石牌号的测定 (9)实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一) (10)一.目的要求 (10)二.实验内容 (10)实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二) (10)一、目的要求 (10)二、实验内容 (10)实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定 (10)附:常见透明矿物光学性质(一) (12)常见透明矿物光学性质(二) (13)实验一偏光显微镜的调节和校正;解理的观察一.目的要求1.了解偏光显微镜的主要构造,装置,使用和保养方法。

2.学会偏光显微镜的一般调节和校正。

3.认识解理等级,测定解理夹角。

二.实验内容1.打开光源为了延长光源灯泡寿命,打开光源及关闭光源之前,务必确认光源强度调至......最小...........。

临时离开不必关闭光源开关,只需将光源..。

永远不要把光源强度开至最大强度调至最小。

2.偏光显微镜的调节与校正1)调节照明2)调节焦距必须记住:通过下降物台来对焦.........。

3)校正中心4)下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下,找一具极完全解理的黑云母(12号薄片),置于视域中心。

晶体学基础4

晶体学基础4
4a 2
( H 2 K 2 L2 )
未知, 如何求出?
实验测出 未知
• 令 H2+K2+L2 = m • 同一花样中,任意线条 ,a 为定值,各衍射线条的 sin21 : sin22值测定后,即可得到 m 的顺序比值。 得到系统消光的信息,从而推得点阵型式,并估计可能的 空间群。
9
d. 衍射花样的指标化
• 指标化就是确定衍射花样中各线条相应晶面的衍
射指数 HKL,并以之标识衍射线条,是测定晶 体结构的重要程序之一。
• 不同晶系物质的衍射花样指数化方法不同。
10
立方晶系指数标定
该方程适用于衍射指数
d ( HKL ) a / H K L
2 2
2
sin2
2
d ( HKL )

2 sin
如果 R 不准确,会带来系统误差。 如果不需要 R 值,则可减小系统误差。 3
不知 R,是否可以求θ? • 采用不对称装法,可以!
4 S 2R 360
S 90 S 90 2 R 2 半周长
4
2
1
1
2
3 4
5
6
7
8
8
• 由d (HKL)及 H2+K2+L2 值可求晶格常数 a。
a d ( HKL ) H K L
2 2 2

2 sin
H 2 K 2 L2
• 理论上每条线计算的 a 相等,由于实验误差不等, 可以通过最小二乘法拟合得到最终 a 值。
14
e. 利用德拜照片测定晶胞参数
19
20 24 27
6.33
6.67 8 9

第4章 晶体光学及元器件概要

第4章 晶体光学及元器件概要


在此,介电常数ε=ε0εr是标量,电位移矢 量D与电场矢量E的方向相同,即D矢量的每 个分量只与E矢量的相应分量线性相关。对 于各向异性介质(例如晶体),D和E间的关系 为:
D 0 r E
D 0 r E
5

介电常数
0 r 是二阶张量。其分量形式为:

1 2 3 0
在各向同性介质或立方晶体中,沿任意方向传 播的光波折射率都等于主折射率n0,或者说, 光波折射率与传播方向无关。
8
(2).单轴晶体
单轴晶体的主介电系数为:
2 2 2 1 2 no , 3 ne no
在这种晶体中存在着一个特殊方向,当波矢K与 该方向一致时,光的传播特性如同在各向同性 介质中一样,该方向叫做光轴,所以晶体称为 单轴晶体。
p T q
3
中,上式可表示为矩阵形式 :
式中, 是关联p和q的二阶张量。在直角坐标系O-x1x2x3 T
T T T p 11 12 13 q1 1 p T T T q 2 21 22 23 2 q T T T 3 p3 31 32 33

Di 0 ij E j

i, j=1, 2, 3
即电位移矢量D的每个分量均与电场矢量E的各个分量线性 相关。在一般情况下,D与E 又由光的电磁理论,晶体的介电张量 是一个对称张 量,因此它有六个独立分量。 经主轴变换后的介电张量是 对角张量,只有三个非零的对角分量,为:
12

13
四、折射率椭球(光率体)
在传统的晶体光学中,人们引入了几何图形方法来使我们 直观地看出晶体中光波的各个矢量场间的方向关系,以及 与各传播方向相应的光速或折射率的空间取值分布。折射 率椭球便是其中一种描述晶体光学性质的三维曲面。 在主轴坐标系中,由光的电磁理论可知:

晶体光学实验报告

晶体光学实验报告

晶体光学实验报告晶体光学实验报告引言晶体光学是研究晶体对光的传播和相互作用的学科,是光学领域的重要分支之一。

本次实验旨在通过实际操作,观察和研究晶体在光学方面的特性,并探索晶体光学的应用。

实验一:晶体的偏光特性在实验一中,我们使用了一块薄片状的晶体样品,通过调整入射光的偏振方向,观察晶体对光的偏振现象。

实验结果显示,当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向垂直时,出射光完全消失,这种现象被称为偏光消光。

而当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向平行时,出射光则不发生偏振现象。

通过这一实验,我们初步了解到晶体对光的偏振特性。

实验二:晶体的双折射现象在实验二中,我们使用了一块双折射晶体样品,通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态,研究晶体的双折射现象。

实验结果显示,当入射光垂直于晶体的光轴方向时,出射光不发生偏振现象;而当入射光平行于晶体的光轴方向时,出射光则发生偏振现象。

这表明晶体对不同方向的光具有不同的折射率,从而导致了双折射现象的产生。

通过这一实验,我们深入了解到晶体的双折射特性。

实验三:晶体的光学轴在实验三中,我们使用了一块具有光学轴的晶体样品,通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态,确定晶体的光学轴方向。

实验结果显示,当入射光平行于晶体的光学轴方向时,出射光不发生偏振现象;而当入射光垂直于晶体的光学轴方向时,出射光则发生偏振现象。

通过这一实验,我们成功确定了晶体的光学轴方向,并进一步认识到晶体在光学上的特性。

实验四:晶体的双折射角在实验四中,我们使用了一块双折射晶体样品,通过测量入射光和出射光的角度,计算晶体的双折射角。

实验结果显示,晶体的双折射角与入射光的偏振方向有关,当入射光平行于晶体的光轴方向时,双折射角最小;而当入射光垂直于晶体的光轴方向时,双折射角最大。

通过这一实验,我们进一步认识到晶体的双折射特性,并掌握了计算双折射角的方法。

结论通过本次实验,我们对晶体光学的基本特性有了更深入的了解。

晶体光学复习题答案

晶体光学复习题答案

晶体光学复习题答案一、单选题1. 晶体光学中,下列哪种晶体的光轴只有一个?A. 单轴晶体B. 双轴晶体C. 立方晶体D. 异轴晶体答案:A2. 光在单轴晶体中的传播速度,下列哪个描述是正确的?A. 沿光轴传播速度最快B. 垂直于光轴传播速度最快C. 沿光轴传播速度最慢D. 垂直于光轴传播速度最慢答案:A3. 在双轴晶体中,光的传播速度与光轴的关系是?A. 沿三个主轴传播速度相同B. 沿三个主轴传播速度不同C. 沿两个主轴传播速度相同D. 沿两个主轴传播速度不同答案:B4. 晶体光学中,光的双折射现象是由于?A. 晶体内部结构的对称性B. 晶体内部结构的非对称性C. 晶体外部环境的影响D. 晶体的光学性质答案:B5. 晶体光学中,下列哪种晶体的光轴有两个?A. 单轴晶体B. 双轴晶体C. 立方晶体D. 异轴晶体答案:B二、多选题1. 晶体光学中,晶体的光学性质包括哪些?A. 折射率B. 双折射C. 光轴D. 色散答案:A, B, C, D2. 晶体光学中,下列哪些因素会影响晶体的光学性质?A. 晶体的化学成分B. 晶体的晶体结构C. 晶体的外部环境D. 晶体的温度答案:A, B, C, D三、判断题1. 晶体光学中的光轴是晶体内部的一个虚拟轴,它与晶体的物理性质无关。

答案:错误2. 双轴晶体的三个主轴中,有两个主轴的折射率是相同的。

答案:正确3. 晶体光学中的色散现象是指光在晶体中的传播速度随波长的变化而变化。

答案:正确4. 晶体光学中的双折射现象只发生在非均质性晶体中。

答案:错误四、简答题1. 简述晶体光学中光的双折射现象及其产生的原因。

答案:晶体光学中的光的双折射现象是指当光入射到非均质性晶体时,会分解成两个偏振方向不同的光束,这两个光束在晶体中的传播速度不同,从而产生不同的折射率。

这种现象产生的原因是晶体内部结构的非对称性,导致光在晶体中的传播受到不同方向上的折射率的影响。

2. 描述晶体光学中光轴的定义及其在晶体光学研究中的作用。

第04章 正交偏光镜下的晶体光学性质

第04章  正交偏光镜下的晶体光学性质

转动载物台使 矿片达消光位 (图4-13B), 即光率体长短 椭圆半径方向 与十字丝平行, 再记下载物台 刻度数值。两 数值之差即为 矿物的消光角。
光 消
B
三、消光角的测定(3)
再转动载物台45°, 使光率体椭圆半径 与十字丝成45°夹 角,插入补色器, 根据干涉色的升降 情况,确定所测光 率体半径的名称(图 4-13C、D)。若是平 行光轴面的切片, 则长短半径分别为 Ng和Np,若不是平 行光轴面的切片, 则长短半径分别为 N g ′和N p ′。
二、常用补色器-石英楔
平行石英光轴方向磨成一个从薄至厚的楔 形石英片,用树胶粘在两块玻璃片之间 而成。光程差为0~1650nm左右,插入 石英楔从薄至厚依次产生一级至三级的 干涉色。石英楔长边为Ng方向。
第六节、正交偏光镜下主要光 学性质的观察与测定方法
晶体的消光、 消光位和消光 类型,测定消 光角的大小, 观察矿物的干 涉色并测定矿 物干涉色的级 序,观察双晶, 测定矿物的延 性正负等。
一、非均质体矿片上光率体椭 圆半径方向及名称的测定
1、将欲测矿片置视域 中心,转动载物台使 矿片消光(消光位)(图 4-11A),此时矿片上 光率体椭圆半径方向 必定平行上、下偏光 镜振动方向AA、 PP(即目镜十字丝方 向)。
A
P
P
A
消光与旋转
2、再转动载物台 45°,矿片干涉 色最亮,此时矿 片上光率体椭圆 半径与目镜十字 丝成45°夹角(图 4-11B)。
A K2 P P K1 R=2n 2
) +1 2 (2n R=
K2 P P K1 A P K2' 1
K2 P K1
A
P
P
P K2 K1

晶体的光学性质及其应用

晶体的光学性质及其应用

晶体的光学性质及其应用晶体是由有序排列的原子或分子结晶而成的有机物,是一种具有均质结构的物质。

在晶体中,光的传播受到了严格规定的限制,因此晶体的光学性质非常特殊,这种性质具有非常广泛的应用。

晶体具有自然的光学活性晶体的光学性质表现在其对偏振光的旋光性质。

偏振光是指只在一个方向上震荡的光,而晶体中自然发出的光则是未偏振光。

但当朝向晶体中的光传播方向发生旋转时,未偏振光就会发生偏振。

这是由于晶体具有对不对称分子结构,不同方向的分子旋转角度互相不同,从而使光旋转的方向发生变化。

这种现象称作自然光学活性。

晶体的双折射现象双折射是指当光线穿过晶体时会分成两束光线,分别沿着不同的方向传播,并且光线传播的速度也不同。

这个现象由于晶体中分子的空间排列呈现出某些特殊的对称性导致的,这个对称性可以被表示为对称轴或对称平面。

这种现象可以被用来制造双折射支撑倍频器。

晶体的偏光性质及其应用光源分光是指光的分光学分解为不同波长的单色光,而光的偏振性则对应着光的横向振动方式,晶体具有光的偏振性质。

通过光源分光和偏光器,可以得到偏振光,这种光从中穿过的晶体具有除了其他部分外的方向振动,因此可以形成光的旋转现象。

在显微镜下,这种现象可以显像偏振显微镜。

晶体光的波速度调制及其应用在晶体中,当一个光子进入晶体时,其波动特性与晶体中的原子结构相互作用。

通过这种相互作用,可以改变光的波速,并且可以在早期光通信系统中被用来传输数字信息。

在这种传输方式中,光的波速被快速调制,从而传输出的信息就是由快速变化的光的波速表现出来的。

晶体在光学中是一种非常美丽和独特的材料,并且也是一种非常有用的功能材料。

晶体的光学性质和应用非常多,一些应用比如水晶振荡器等已经广泛使用,而在其他一些领域,晶体的使用也在快速发展之中。

固体光学晶体光学4

固体光学晶体光学4
单轴晶体的三波混频位相匹配方式和条件与倍频过程 大致相同。以和颇为例,假设3=1+2, 3 > 2 > 1, 并且1至3的频率范围内折射率具有正常色散、则位相 匹配方式和条件如下表:
单轴晶混频效应的位相匹配角m可由不同的位相匹配方 式及其条件求出。例如,对负单轴晶体的oo-e匹配方式
在和频效应的两入射光中至少有一束是强相干光(激光)。 若1为一束强激光(称为泵浦光),2是一个微弱的有待检测 的光讯号,1>>2,则将1+2=3过程称为频率上转换。 它可将远红外光向上变频至可见光乃至紫外光波段。同样, 参与差颇过程的1和2均为激光光束, 3为亚毫米波或远 红外光时1-2=3的差频过程称为频率下转换。
固体光学晶体光学4
一、单轴晶体相位匹配方式
•角度位相匹配 角度位相匹配就是控
制光波在晶体中其一特定 方向(,)上传播,该方 向应满足相位匹配条件。 利用折射率面的色散可以 很方便的找到这个特定方 向。画出了负单轴晶体的 基频光折射率面(实线)和 相倍频光折射率面(虚线)。 其中倍频的e光面与基频 的o光面相交于M点。显 然OM方向就是满足位相 匹配方向.
光学参量振荡器装置原理图
(a) 利用激光器输出之二次谐波辐射作泵浦光 而采用温度调谐的装置;图(b)利用激光器本身的
激光输出作泵浦光而采用的角度调谐的装置。
改变振荡频率的调谐方式有;
①温度调谐:泵浦光垂直于晶体光轴方向入射,改变晶 体温度,可以相应地改变振荡颇率。此时s和i两频率 的振荡光束在空间不分离。 ②角度调谐:当晶体温度保持一定时,改变晶体光轴相对 于泵浦光的入射角度,同样可改变振荡频率。此时p、 s和i三种频率的振荡光束在空间上可能出现分离。 ②外场调谐:对非线性晶体施加外加直流电场或磁场,利 用晶体的电光效应或磁光效应使其折射率发生改变,同样 可以达到可调谐振荡的目的。

4正交偏光下晶体光学性质

4正交偏光下晶体光学性质

45 度 和 90 度
磷灰石一级白干涉色 (R1=150nm) 加入石膏试板
异名半径平行,R = R1 R2=550-150=400nm, 干涉色相对于试板降低 (一级红至一级黄)
同名半径平行, R = R1 + R2 =550+150=700nm, 干涉色相对于试板升高(一 级红至二级蓝)
补色法则——
45o A A 45o A
P
PP
PP
P
A
A
A
45o A
P
P
No Ne
A
利用石英楔测定干涉色级序
①随着石英楔的慢慢插入, 矿片上干涉色级序逐渐 升高,表明石英楔与矿 片上光率体椭圆切面的 同名半径平行,不可能 出现消色位,达不到测 定干涉色级序的目的, 必须转动载物台90°, 使二者异名半径平行, 再进行测定。
光程差是怎么推导出来的?
R=C0×(T慢光-T快光)=C0×(Tk1-Tk2)
= C0×(d/Vk1-d/Vk2) = d×(C0/Vk1-C0/Vk2) = d×(Nk1-Nk2)=d×(N1-N2)
思考:开始公式中为什么是用光在空气中的传播速度C0,而 不是在薄片中的传播速度?(一个可能会开始使你困惑,但 想清楚后感到funny的问题)
让我们看一下干涉色在实际薄片中是如何表现的:
plag ol ol ol ol ol plag plag
ol plag
plag
plag
注意:同种矿物有着不同的干涉色 – why?
(同种矿物的不同颗粒有着不同的切面方向向)
不同种矿物有相同的干涉色吗?
这个薄片中呈兰 色干涉色的矿物 既有辉石,也有 角闪石,怎么办?
矿物的干涉色取决于什么? ——重折射率

第4章 正交偏光下的晶体光学性质

第4章 正交偏光下的晶体光学性质
晶体光学
Optical Crystallograpgy
第四章 正交偏光下的 晶体光学性质
正交偏光镜下观察的光学性质
在正交偏光镜装臵下,可以观 察矿物的晶体光学性质包 括: 单 偏 光
1)消光、消光位
2)矿物的干涉色, 测定矿物干 涉色的级序 3) 补色法则的应用 4) 光率体切面半径方向和名 称测定 5) 消光类型和消光角的测定 6) 矿物延性测定等。
如何判断具体某个矿物切面的干涉色级序呢? 感觉?经验?准确的方法?
让我们看一下干涉色在实际薄片中是如何表现的:
pl ol pl
pl 如果同种矿物的每一颗看上去都不 同,那么我们又如何知道、如何鉴 ol pl ol 定??
ol
pl
ol
ol
pl
注意同种矿物有着不同的干涉色 – why??
同种矿物的不同颗粒有着不同的定向


干涉现象分析:过上偏光后的偏光汇聚
透过AA后的2束偏光K1′与 K2′特征为: 1) K1′与K2′是由同一种偏光 经过2次分解而形成的, 因此其频率相同 2) K1′与K2′光程差固定 3) K1′与K2′在同一平面内振 动(//AA) 因此, K1′与K2′是相干波,会发生干涉现象,并且取决于光程 差R
干涉现象分析:过上偏光镜时的再分解


-->上偏光镜— >k1'(//AA) + k1"(//PP) + k2'(//AA) + k2"(//PP) -->k1'(//AA) + k2'(//AA) 结论:k1' (//AA)+k2' (//AA) 两种偏光能通过上偏光镜 干涉现象发生的前提:四 次消光切面不处于消光位 的时侯, 即光率体椭圆的 半径与PP、AA斜交!

实验四单偏光镜下的晶体光学性质

实验四单偏光镜下的晶体光学性质

实验四单偏光镜下的晶体光学性质——矿物边缘、贝克线、糙面及突起(2学时,验证性) 一、预习内容:矿物的边缘、贝克线、糙面及突起特征,闪突起现象二、目的要求:1.进一步理解矿物边缘、贝克线、糙面、突起及闪突起的含义;2. 根据矿物边缘、糙面和贝克线移动方向来区分突起等级。

3. 学会应用贝壳线移动规律确定相邻矿物折光率的相对大小及其突起正负;4. 了解闪突起及折射率色散的特征。

三、实验内容:1.观察矿物的边缘、贝克线、糙面及突起薄片号:(3210) 石英、白云母和萤石(3460) 普通角闪石(1103) 橄榄石、单斜辉石(3480) 石榴石根据以上矿物边缘轮廓、糙面特征及突起高低,确定它们的突起等级和突起正负。

2.观察矿物闪突起现象薄片号:(3140) 方解石(3210) 白云母3.用贝壳线、色散效应法比较相邻矿物折光率的高低四、实验提示:1.矿物的边缘、贝克线的观察在单偏光镜下,从岩石薄片中找相邻两个折射率不同的物质接触处,置于视域中心,缩小缩光圈,在矿物边缘处可见到一条较黑暗的界限,即矿物的边缘;在边缘附近处还可见一条较明亮的细线,即贝克线。

2. 糙面的观察在单偏光镜下,可观察到某些矿物表面象粗糙皮革一样,不光滑,呈麻点状的现象,即糙面。

矿物与树胶折射率差值愈大,糙面愈显著,反之亦然。

如石榴石、橄榄石、萤石的糙面显著;而石英糙面就不显著。

3. 突起等级的观察(1) 根据矿物边缘、糙面的明显程度及突起高低,可将突起划分为六个等级,分别为负高突起、负低突起、正低突起、正中突起、正高突起和正极高突起。

(2) 观察贝克线的注意事项贝克线是矿物颗粒黑暗边缘附近的明亮细线,不仔细观察难于发现。

在观察贝克线时要选择颗粒较清洁的边缘部分,将其移至视域中心,适当缩小锁光圈,微微提升镜筒或下降物台,这样贝克线会显得更清晰。

观察矿物与树胶之间的贝克线移动方向,可确定矿物突起正负;结合糙面、边缘的明显程度,可确定矿物突起等级。

晶体光学及光性矿物学

晶体光学及光性矿物学

《晶体光学及光性矿物学》教学大纲(总学时:50学时)●序言:晶体光学的研究内容及其在岩石学中的地位,晶体光学的学习方法及要求。

第一章:晶体光学基础自然光与平面偏振光;光的折射、反射和全反射;光波在介质分界面上的折射定律。

光在光性均质体和非均质体中的传播特点。

双折射现象,光轴位置。

光率体的概念;均质体光率体、非均质体光率体。

一轴晶光率体及其特征:常光(No)与非常光(Ne);正光性与负光性;一轴晶光率体主要切面及切面特征:垂直光轴、斜交光轴、平行光轴。

二轴晶光率体及其特征:光学主轴及主折射率(Ng、Nm、Np)、光轴(OA)、光轴面(Ap)、主轴面(NgNp面、NgNm面、NmNp面)、光轴角(2V)、锐角等分线(Bxa)、钝角等分线(Bxo)、正光性与负光性;●二轴晶光率体主要切面及切面特征:垂直光轴、斜交光轴、垂直(Bxa)、垂直Bxo、平行Ap等五种切面。

中级晶族和低级晶族的光性方位。

第二章:偏光显微镜及岩石薄片偏光显微镜的构造、检查与校正,使用与保养。

岩石薄片磨制法简介(参观磨片厂)。

第三章:单偏光镜下的晶体光学性质单偏光镜的装置,调节与校正。

●矿物结晶形态、集合体形态与切片形态。

●矿物切片上的解理,可见临界角,完善程度及解理夹角测定。

●矿物颜色,多色性及其成因。

●矿物切片的边缘特征,突起与糙面,贝克线,色散效应(折射率色散),相对折光率高低的比较,突起等级的确定,闪突起。

第四章:正交偏光镜下的晶体光学性质正交偏光镜的装置、特点、调节与校正。

●晶体的消光现象及消光位。

●正交偏光镜下光波的干涉原理,光程差及其影响因素,干涉色的成因,干涉色级序及各级序的特征,干涉色色谱表,异常干涉色(双折射色散)。

●补色法则及主要补色器(云母试板、石膏试板、石英楔、贝瑞克消色器)。

●矿片上光率体椭园半径方向及轴名测定。

●矿物主要光学性质的测定:矿物干涉色级序,双折射率的测定;消光类型、消光角、晶体延性符号的测定。

4.3-4.4晶体光学性质的图形表示

4.3-4.4晶体光学性质的图形表示

(2)、由先到界面的A点作另一边缘入射线的垂线AB,它便是入射线的波面。 求出B到B’的时间 (3)、以A为中心,νt为半径 ( ν为光在折射介质中的波速) 在折射介质中作半圆(实际上是半球面),这就是另一边缘入射线到达B’点时由A点发出的次波面。 (4)、通过B’点作上述半圆的切线(实际上是切面)这就是折射线的波面(包络面)
根据定义,这平面也是两折射线的主平面,这样我们可以判知,两折射光的偏振方向:o光的振动垂直纸面,e光的振动在纸平面内。 e光波法线方向与e 光线方向不一致。 对于普遍的一般情况, 光轴既不与入射面平行 也不与它垂直,这时e光 次波面与包络面的切点Ae’和e光本身都不在入射面内,就不能用一张平面图来表示了。
折射率椭球
x
y
z
nz
ny
nx
D
o
因此,折射率椭球的矢径r可以表示为: 是D矢量方向的单位矢量。 第二、从折射率椭球的原点O出发, 作平行于给定波法线方向k0的直线OP, 如图所示,再过原点O作一平面与OP垂直,该平面与椭球的截线为一椭圆。 椭圆的长轴方向和短轴方向就是对应于波法线方向的两个允许存在的光波的矢量方向,
680
710
光轴
S1
770
130
自然光
由于要使其中一支光发生全反射,利用了方解石和加拿大树胶。 加拿大树胶是一种各向同性透明的物质。它对钠黄光的折射率为1.550。介于方解石对寻常光的折射率1.6548和对非常光的主折射率1.5159之间。 所以就e光来说,树胶相对于方解石是光密介质;而对o光来说,树胶相对于方解石却是光疏介质。于是在特定的条件下,o光就可能发生全反射,射向棱镜壁,被棱镜壁吸收。
尼科耳棱镜的孔径角约为±140 尼科耳棱镜不适用于高度会聚或发散的光束,价格昂贵,入射光束与出射光束不在一条直线上。对激光:是一种优良的偏振器。 2.格兰棱镜 是为改进尼科耳棱镜入射光束与出射光束不在一条直线上,带来使用不便的问题而设计的。 特点: 端面与底面垂直

4-吸收性晶体光学基本原理

4-吸收性晶体光学基本原理

矿物的吸收性
矿物吸收性的物理解释
1)矿物由元素或化合物组成, 其结合方 矿物由元素或化合物组成, 式有离子键、共价键、金属键和分子 式有离子键、共价键、 键等不同。 键等不同。
矿物的吸收性
矿物吸收性的物理解释
2)固体物理学中能带理论解释
四、吸收性晶体复数光性指示体
• 对于 K 值小于 0.03 的透明矿物而言, 的透明矿物而言, 光波在其中的传播(速度) 光波在其中的传播(速度)主要受控于 矿物的折射率(N)。 矿物的折射率( 晶体光学中, 晶体光学中,针对透明矿物主要以矿 值为参数, 物的 N 值为参数,通过光率体认识晶体 光学性质。 光学性质。
* 当△=0º 合成直线偏光
光的基本性质
*当 △=±90º E1=E2 合成圆偏光
光的基本性质
• 当△≠ 0º △≠90º E1≠E2 合成椭圆偏光
光的基本性质
光的基本性质
三、吸收性和吸收性晶体
光波进入矿物晶体传播时, 光波进入矿物晶体传播时,透射光的 强度会不断减弱; 强度会不断减弱; 绝对透明的矿物是不存在的, 绝对透明的矿物是不存在的,矿物程 度不等均表现出对光波的吸收。 度不等均表现出对光波的吸收。
kx/λ 则:兰伯特公式写为: IX = I·e-4πkx/λ。 兰伯特公式写为:
矿物的吸收性
吸收系数( 吸收系数(K)的物理意义: 的物理意义: • 当光波进入矿物的距离为一个真空波长 λ。时,光强减弱至原光强的
1/e4πK
通常: 通常:
矿物的吸收性
• 不透明矿物 K = 5 ~ 0.73 (自然金属元素矿物 K = 5 ~1.5) ~1.5) • 半透明矿物 K = 0.73 ~ 0.03 • 透明矿物 K < 0.03

晶体光学与光性矿物-实验四干涉色级序的观察和测定

晶体光学与光性矿物-实验四干涉色级序的观察和测定

实验四干涉色级序的观察和测定
内容:
1.检验校正正交偏光镜
(1)检验校正上下偏光,使二者正交;
(2)调整目镜,使目镜十字丝与上下偏光振动方向一致。

2.利用石英楔观察1-3级干涉色级序的特征
报告用文字描述,参考P46
3.观察方解石高级白干涉色特征(3440)
注意与一级灰白的区别。

报告用文字描述。

4.利用楔形边法判断橄榄石干涉色(1106),并用石英楔测定同一颗粒的干涉色。

报告用示意图表示。

5.利用云母试板和石膏试板分别测定石英颗粒的干涉色。

报告用示意图表示。

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4.3 干涉现象
• 相干波的条件:频率相同、振动 方向相同和周相差相等。当周相 差Δθ= 2nπ 时,干涉增强;当 Δθ= (2n+1)π 时干涉减弱。其 中n=R/λ光程差
1.干涉条件 光波产生干涉的必要条件是: (1) 频率相同;(2)在同一平面内振动。 干涉结果取决于两偏光的位相差: 位相差为2nπ时(波长的整数倍), 干涉增强;位相差为 (2n+1)π时 (半波长的奇数倍),干涉减弱
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2. 干涉结果
干涉结果可能是干涉增强, 也可能是减弱,主要取决 于两偏光K1’和K2’的位 P 相差(Δ θ )。 K1’和K2’的位相差是由 两个方面决定的:
A
K1 P K2
K1’ K1
K2 A K2’ d
(1)下偏光经矿片和上 偏光的两次分解产生了 1π 的位相差
特点:
• 当正交偏光间不放矿片时,视域全黑
• 当正交偏光间放入矿片时,则会因为矿物的性质和 切片方向的不同而显示出不同的光学现象
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正交偏光显微镜光学行程示意
west (left)
north (back)
south (front) east (right)
Black!! (“extinct”)
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4.4 干涉色及干涉色谱表
1.干涉色及成因
如果用白光(混合光)照射,则在同一光程差的情况下,有的色光会 干涉增强,而有的色光则干涉减弱,而显示出示被干涉抵消的部分色 光的混合色,即干涉色。
这是因为白光中七种 不同波长的单色光不 可能同时增强或减 弱,必然有一部分单 色光增强,而另一部 分单色光减弱。这 样,不同程度加强的 单色光波混合起来就 构成了与该光程差相 应的混合颜色。(见 左图)这就是干涉色
旋转物台 360度,可出现4 次消光
P
P
A
上偏光镜 A
矿片 P 下偏光镜
P
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4.3 干涉现象
如果光源为单色光波,则当光程差为光波半波长的偶数倍时,干 涉结果是二者相互抵消而变黑暗;而当光程差为光波半波长的奇 数倍时,干涉结果是二者相互叠加,其亮度增加一倍(见下图)
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想一想
几级绿?
几级绿?
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3.双折率的测定
在确定干涉色级序后,可结合薄片厚度用色谱表求双折率 也可以通过光程差(一个级序550mμ ,一个色序147m μ ) 公式R=d(n1-n2)求双折率
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4.消光类型及消光角
4. 消光类型 : 消光类型是指非均质矿片处于消光位时, 其解理、双晶缝、晶体轮廓等与目镜十字丝的 关系。可分以下三种: 平行消光:矿片消光时,其解理缝、双晶缝、 晶体轮廓与目镜十字丝之一平行 对称消光:矿片消光时,目镜十字丝为两组解 理或两个晶面迹线夹角的平分线 斜消光:矿片消光时,其解理缝、双晶缝、晶 体轮廓与目镜十字丝斜交 矿物的光性方位(晶系)和切片方向决定 消光类型
Ng Z Z Ng’ Nm Y
Np’ Nm Y
X ∥(001) Z
Y=Nm X Np
Ng
Np
X
以角闪石为例
∥(100)
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A
K1,
正交偏光镜下,当非 均质体矿片的椭圆半 径与上下偏光斜交时: (1)下偏光经过矿 片时分解为K1和K2 两束偏光 (2) K1和K2在达到 上偏光镜时,以K1’ 和K2’分量通过上偏 光
K2,
A K1 P P K2
P
P
(3) K1’和K2’在同 一平面AA内振动, 且来自同一光源,具 相同的频率,可产生 干涉。
石英楔法:将矿片放至十字丝中心45度位置,并使其与石英
试板异名半径平行,缓慢插入石英楔使矿片消色,再在缓慢拨出 石英楔的同时,观察矿片表面的干涉色变化,如出现n次紫红色, 则矿片干涉色级序为n+1级
石膏试板法:大部分矿物可能过其与石膏试板的同名半径平
行和异名半径平行时干涉色的变化来确定干涉色级序。如图
45°位
非45°位
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4.干涉色色谱表
是表示干涉色级序、光程差、双折率与薄片厚度之间关系 的图表,当知道R=d(n1-n2)中的任意两项时,可求第三项
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4.5 补色法则及补色器
1.补色法则
在正交偏 光镜间,两个非均质体的任意切片在45度位置重叠时, 光通过两矿片后光程差的增减法则。 R=R1+R2 R=R1-R2或 R2 - R1 Np2
Light vibrating in many planes and with many wavelengths
Light and colors reach eye!
How does this work??
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4.2 矿片的消光现象及消光位
消光现象:
矿片在正交偏光镜 下变黑暗的现象, 称消光现象 均质体矿物任意切 片、非均质体矿物 垂直光轴的切片, 在转动物台360度时, 始终处于消光状态, 称全消光
Ng2
Ng1
Ng1
同名半径平行,光程差增加,干 涉色级序升高
异名半径平行,光程差减小,干 涉色级序降低
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2.常用补色器
石膏试板:光程差550 mu,一级紫红,可使 矿片干涉色增高(同名 半径平行)或降低一个 级序 云母试板:光程差147 mu,可使矿片干涉色 增高(同名半径平行) 或降低一个色序 石英楔:光程差为01680 mu,可使矿片干 涉色连续增高(同名半 径平行)或连续降低。
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矿片干涉结果的明亮程度除取决于光程差外,还与透出上偏镜两种偏光的振 幅大小有关,其振幅越大亮度就越强。而这两种偏光的振幅大小则取决于矿 片上光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向之间的夹角。当它们之间的夹 角为45度时,振幅最大,矿片最明亮。这时的矿片位置称45度位。(见下图)
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4.6 正交偏光镜下主要光学性质的观测
1.非均质体矿片光率体椭圆半径方向和名称测定
石膏试板
A P A P
A 45° P Np’ A
A
Ng’ P
A 90° P A
A
将矿片放到 转动物台45度, 由试板孔插入试 十字丝中心,转 使矿片干涉色最 板,判断矿片干涉色 动物台致消光位, 亮,此时两半径 升(同名轴平行)降 此时两半径分别 分别与上下偏光 (异名轴平行),从 与上下偏光平行 成45度斜交 而确定轴名
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3.影响干涉色级序高低的原因
光程差R=d(n1-n2)是决定干涉色级序的原因 其中n1-n2是矿片的双折率,因此矿物的切片方向是影 干涉色级序的原因之一,由于同种矿物不同的切面双折率 可由最大(∥OP切面)变化到0(⊥OA)切面,因此只 有最大双折率才有鉴定矿物的意义。 d是矿片的厚度,薄片的标准厚度为0.03mm(此时石英 的最大干涉色为一级黄白),鉴定薄片时要注意薄片是否 切制成了标准厚度。 矿物本身的最大双折率的大小。
R
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白光干涉效果
单 色 光 干 涉 效 果
λ=700 λ=620 λ=560
λ=515
λ=470 λ=410 石英楔
R=d(n1-n2)=0.009d
1120 1680
R=0
560
在正交偏光镜下白光通过非均质体矿片后发生干涉而显示 出来的颜色称为干涉色
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R=R1+R2
同名半 径平行
Ng1
R=R1-R2 或R2 - R1
异名半 径平行
Ng1
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4.6 正交偏光镜下主要光学性质的观测 1.非均质体矿片光率体椭圆半径方向和名称测定 2.干涉色级序的观察和测定 3.双折率的测定 4.消光类型及消光角测定 5.延性符号的测定 6.双晶的观察
2.干涉色级序及各级序的特征
第一级序
第二级序
第三级序
第四级序
随着光程差由小到大的变化,石英楔将显示出不同的干涉色。而不管 其它干涉色如何变化,紫红色干涉色总是具有规律地以560mu的等间距重 复出现,由于其对光程差增减的反应敏感,又称为灵视色。 以紫红色为界,可将干涉色划分为与光程差相对应的4个级序。各级 序内部色调之间的一次明显变化,称为一个色序 当光程差很大时,将出现各色光波混杂的干涉现象,形成高级白干 涉—具珍珠晕彩的亮白色,如方解石因双折率很大,可现高级白干涉色。
(2) K1和K2在经过矿片 时因折射率不同,产生的 位相差: R/λ ×2 π 。 R=d(N1-N2),称光程差
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总相位差
Δθ=R/λ×2 π+ π 由该式可看出:
R=2n λ/2 (半波长的偶 数倍)时, Δθ=(2n+1) π
两偏光正好存在180度 的位相差,干涉减弱 R=(2n+1)λ/2 (半波 长的奇数倍)时, Δθ=2nπ R=2n λ/2
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中级晶族: 光性方位:? 消光类型:大多数切面平行消光
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斜方晶系:
•光性方位:? • 消光类型:大多数切面平 行消光,只有同时斜切三个 主轴的切面可能出现斜消光
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单斜晶系: 光性方位:? 消光类型:不同切面有不同的消光类型
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4.4 干涉色及干涉色谱表
1.干涉色及成因
在正交偏光装置下,光通过非均质体矿片时会产生干涉。 如果使用单色光作光源,在上下偏光之间缓慢插光程差为0—2000mμ 的石英楔,由于光程差的变化,就会出现明暗相间的颜色变化,不同 波长光波的明暗条带的间距不同。
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