粒度分析

6.1 激光粒度分析仪结构及原理
Rise-2006 激光粒度分析仪光路设计图
Rise-2006 激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充 分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质设计的 测量装置，能够准确测量出颗粒群的粒度分布，光路设计 如上图。
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
6.2 激光粒度分析仪测试结果
6.2 激光粒度分析仪测试结果
Z-average size (nm): 4594 Peak1:
Diam(nm) 2546
%Int 100
Width(nm) 172.4
表面zeta电位分析
60
40
Z e ta p o te n tia l / m V
20
p H = 4 .5
0
-2 0
-4 0
-6 0 2 4 6 8 10 12
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
图6.3 激光粒度仪原理示意图
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
Rise-2006激光粒度分析仪（济南润之科技有限公司）
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
Rise-2006 激光粒度分析仪采用无约束拟合反演 算法，这种方法是测试前对颗粒群不做任何假设， 通过光强直接计算出颗粒群的粒度分布。该法的 前提是合理的探测器设计和粒度分级，否则，使 用无约束拟合反演可能会产生不稳定的解或者无 解。Rise-2006 激光粒度分析仪采用最优的三维 非均匀性交叉探测器阵列，从而能够准确测量颗 粒粒度分布。
第6章. 粒度分析
粉体，即固体颗粒的集合体。 颗粒尺寸的大小：颗粒最重要的几何特征参数
表征颗粒尺寸的主要参数：粒径，粒度，及粒度分布
粒径：以单个颗粒为对象，表征单颗粒几何尺寸的大小 粒度：以颗粒群为对象，表征所有颗粒在总体上几何尺 寸大小的概念。
第6章. 粒度分析
粒度测量方法主要包括：
直接观察法：光学显微镜，电子显微镜静态图像分析法； 筛分法：振动筛分，音波筛分法； 沉降法：比重计、比重天平、沉降天平、光透过和X光透过等 重力沉降法；或光透过和X射线透过等离心力沉降法； 激光法：激光衍射、激光散射和激光光子相干法； 电感应法：小孔通过电感应法；
其它方法：光散射法、声散射法、流体透过法和吸附法等。
粒度在线测试方法：超声波衍射法、光脉动法和消光法等。
第6章. 粒度分析
第6章. 粒度分析
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
图6.1 激光束在无阻碍状态下的传播示意图
6.1 激光粒度分析仪结构及原理
图6.2 不同粒径的颗粒产生不同角度的散射光
p H v a lu e s
α-Fe2O3的表面zeta电位随pH值的变化曲线
电镜粒度分析结果
30
25
particle numห้องสมุดไป่ตู้er
20
15
10
5
0 20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
220
Particle size/(nm)
• 颗粒的平均长度为112 nm