FieldSpec 波谱仪使用过程中的问题与解答

FieldSpec 波谱仪使用过程中的问题与解答
FieldSpec 波谱仪使用过程中的问题与解答

FieldSpec 波谱仪使用过程中的问题与解答

北京欧普特科技有限公司

2008年9月

美国ASD公司设计制造的FieldSpec?系列波谱仪在中国的遥感应用已经相对普及。应用范围已经扩展到包括精准农业、林业、海洋与内陆水体、冰雪、环境污染监控、气象、地质与矿产、地面定标、教学等等领域。所使用的仪器型号包括了FieldSpec HandHeld, FieldSpec VNIR, FieldSpec Dual VNIR, FieldSpec Pro FR, FieldSpec Pro JR和FieldSpec 3等等。

随着FieldSpec仪器的普及应用,通过我们与客户的交流沟通,发现在仪器的使用上出现了各种各样的问题,造成了测量数据精度不够,甚至耽误了工作时间。

总结归纳曾经出现的问题,并考虑到不同的应用。我们认为,波谱仪的使用技巧,在关乎测量成败上,起到了比较关键的作用。

此文从仪器的原理为出发点,讨论了仪器型号和配件的选择原则以及操作使用技巧,希望不同的用户可以从中借鉴。但是,本文未涉及国内外可能的测量规范。因此,在使用此仪器进行不同的测量时,需要参考各种测量规范或者规程。也未涉及光谱数据的前期和后期处理方法。

一、ASD fieldSpec波谱仪结构介绍

ASD公司从成立之初就一直专注于可见-近红外遥感光谱测量。因此,在仪器硬件设计中充分考虑了遥感专业队仪器的要求,例如:高光谱分辨率、快速、足够的信噪比、供电时间和方便性、工作现场对光谱数据的初步判别以及测量视场、轻便性等等,也充分吸收了不同的用户在使用过程中所反馈的意见和建议。这里仅仅以FieldSpec 3为例作出介绍。

图1,ASD FieldSpec 3波谱仪

采用三个光谱仪构成的全光谱光谱仪称为Goetz光谱仪。这是以著名遥感学家、ASD 公司的发起人之一Goetz博士的名字命名的。

其中,近紫外到近红外短波(350-1000nm )光谱仪,使用如图1所示的固定光栅结构。近红外短波第一波段(SWIR1,1000-1700nm )和第二波段(SWIR2,1700-2500nm)采用如图2所示的旋转光栅结构。

这样的结构保证了能够测量到全光谱范围内的目标反射光谱。所谓全光谱是指能够到达地球表面的绝大部分太阳辐射能量(如图3所示)。

图2. 固定光栅结构 图3. 旋转光栅结构

图4.

地球表

面测量得到的太阳辐射光谱

不同光谱仪所采集的光谱数据,通过软件连接起来,构成所测量目标的完整光

谱曲线。一般来讲,可以通过察看ASD.INI 文件确定连接点的波长。 二,测量操作中可能出现的问题及解决

问题1,测量绝对辐射亮度或者辐射照度时在光谱连接处出现台阶跳跃,如图1红色曲线部分。

0.00

0.05

0.100.15

0.20

0.25

0.30

400

600

800

1000

1200

1400

1600

1800

2000

2200

2400

2600

2800

3000

S o l a r R a d i a n c e W /m 2

/s t e r a d i a n /n m

Wavelength (nm)

H 2

O absorption

H 2

O absorption

O

2

absorption

Chappius O 3

absorption band H 2

O doublet

absorption

Fraunhofer lines

O 3

absorption

CO 2

absorption

图5.测量辐射度时可能出现的跳跃

(图中蓝色曲线是经过80分钟预热后测得的,红色曲线是经过10分钟预热后测得的)

解答:

ASD公司的所有仪器光度标定都是在实验室内,仪器经过80-90分钟预热后作出的。

ASD公司经过大量实验发现,仪器所使用的三个传感器在不同的环境功能温度以及预热时间下具有变化的响应度。但是在SWIR1(1000-1800nm)波段传感器的响应度不受影响。并且,如果仪器经过足够长时间的预热,则这个问题不会出现。

但是野外测量时几乎不可能使用如此长的预热时间。

于是,ASD公司开发出了利用SWIR1的稳定特性,对问题数据进行修正的方法,即抛物线修正(Parabolic Correction)。

详细物理原理及必要计算等见附件I。

这个问题的解决方法就是:

A,仪器经过足够长时间的预热;这是最可靠的方法。

B,或者在测量辐射度时点击RS3软件界面上的PC图标。如图6所示。

C,回到实验室后,使用ViewSpec软件中的抛物线修正功能对数据进行修正。

抛物线修正图标

图6,PC图标

问题2,测量反射率时在光谱连接处出现于上述类似的问题。如图7所示。

连接点跳跃

图7.反射率测量时出现的光谱连接点跳跃

解答:

出现这样的光谱连接点跳跃的原因是不同的光纤采集到不同位置的样品光谱。

由于光纤输入端口是由57条光纤构成的,在某些部位可能会出现上述问题,特别是测量距离比较小的时候。

这个问题不会影响所采集到的数据质量。

这个问题的解决方法是:

A, 稍微旋转光纤,能够看到连接点的跳跃消失;或者

B,回到实验室后,使用ViewSpec软件中的Splice Correction修正功能对数据进行修正。

问题3:不能通过OPT快捷键对仪器进行优化

解答:

通常这是由于电池供电不足造成的。

仪器优化过程中需要启动电子快门。这是一个耗电相对较大的动作。如果电池不足,比如,仪器界面的电量显示已经到达黄线。尽管仍然可以采集光谱,但是电子快门不动作。因此,无法完成优化。

只需要更换电池即可解决此问题。

问题4:近紫外到近红外(350-1000nm)波段没有信号或者信号很弱。如图8。

图8. 短波段异常

解答:

电子快门的设置有利于及时减除暗电流提高数据的信噪比。但是,此部件在动作的时候耗电量相对较大。因此,即使在电池仍然有电(但是供电不足)的情况下会发现可以采集光谱数据但是却不能进行优化或者采集暗电流。

另外一个原因就是电子快门硬件损坏。

解决方法:

A, 更换电池或者改用市电供电。若仍然不能解决,则

B, 与供货商联系维修。

二,软件特点和操作中可能出现的问题

操作软件设计上不仅仅考虑了针对仪器技术特点的要求,还考虑了现场测量要求的快速性和对测量数据的要求。因此,软件功能上设计为无人为干涉的参数优化、直接采集需要的反射率或者绝对反射比,通过相应的光度标定和必要的附加和可以直接测量辐射亮度和辐射照度。

使用FieldSpec波谱仪,最直接地可以测量辐射度(配合必要的附件和定标)和光谱反射率。

为了方便用户的测量工作,RS3软件已经将以上测量操作模块化,只需要按照下面的步骤就可以直接完成并存储。

辐射度测量:在照明条件下,镜头对准白板(或者被测目标);优化(OPT);辐射度测量命令(RAD)。将镜头移到测量目标上,这时,按空格键即存储测量得到的辐射度光谱。

反射率测量:在照明条件下,镜头对准白板;优化(OPT);参比采集命令(WR)。将镜头移到测量目标上,这时,按空格键即存储测量得到的反射率光谱。

可能出现的问题包括:

辐射度测量时

●没有选择经过定标的镜头;

●优化时,白板或者目标没有完全覆盖镜头的视场;

●照明条件极大改变后没有重新优化;

●预热时间短,没有比较频繁地采集暗电流。

反射率测量时

●优化和采集白板参比时,白板没有完全覆盖镜头的视场;

●照明条件极大改变后没有重新优化;

经过较长时间后没有重新采集白板参比。

以上所有问题的解决方法,已经包含在问题自身当中了。

三,其它使用中出现的问题和解决方法

1,测量前的准备工作

这项工作包括:白板清洁、需要的镜头、电池寿命甚至包括了对光谱仪电池和电脑电池的充电。

充满电的电池工作时间最长为9小时,充电时间大约为4小时。影响野外测量时间的因素主要来源于控制电脑的电池工作时间。可能的话,尽可能多备几块电脑的电池。

2,预热时间

对于光谱反射率测量,仪器预热10分钟就足够了。需要注意的是,如果是辐射度测量,那么预热的时间应尽可能长一些,推荐的预热60分钟左右。

3,附件的选取与安装

根据不同的测量目的选取必要的附件。下面几个问题需要特别引起注意:

A,选择附件后,需要在RS3软件的相应为位置指明所选取的附件,以便于RS3软件自动调用存储的定标数据并将附件信息记录在光谱数据中;

B,附件的安装不需要十分用力,仅仅需要确认已经安装牢固即可;

4,镜头视场大小的计算

所有技术指标中给出的视场角都是全角。

垂直测量(图6)

近场测量(距离短于1米):

Y = D + 2 * X * Tan(A/2)

远场测量(距离大于1米):

Y = 2 * X * Tan(A/2)

图6,垂直测量视场大小计算倾斜测量(图7)

arctan(y/x) = α = (全视场角)/2

y/x = tan α,y = x tan α

z + w = h tan (β + α),w = [h tan (β + α)] – z,w = h tan β得到:

z = h [tan(β)+ tan(β + α)]

w = (x2 + h2 - 2xh cosβ)1/2

5,测量时间

如果所采集的光谱数据将要用于搞光谱图像的数据定标或者解疑,那么光谱数据的采集时间就非常重要了。在此条件下,应当使用与得到遥感图像时的照明条件近似的照明采集反射光谱数据。建议在卫星过境或者机载传感器采集数据的同时采集反射光谱数据。

如果采集时间差别很大,则建议使用大气辐射订正。

通常情况下,在10:00 – 14:00之间总是会得到相对较好的照明条件。

当然,根据研究或者工程目标选择光谱采集时间也是考虑的重点之一。

6,相对几何位置

根据采集光谱的目的选择适当的观测几何位置。

图像解译: 选择与卫星或者机载传感器采集图像时相似的几何观测条件。

可行性研究:通过固定观测角度和照明条件去取可能的干扰。

对于植被光谱采集来讲,可以在叶片、树干或者冠层这样的空间尺度采集光谱数据。冠层尺度下采集到的光谱数据更适用于图像解译。粗略地可以用叶片或者树干尺度的光谱数据直接解译图像。当然,使用叶片和树干尺度下采集的光谱数据对于理解叶片和树干如何影响冠层尺度的光谱是非常有用的。

7,光谱平均次数的选择

野外测量时,使用10-30次光谱平均就足够了。因为白板参比并不是总要采集,白板参比的平均次数可以增加到两倍的光谱平均次数。注意,信噪比是与光谱平均次数的平方根成正比。

注意:实际使用的光谱平均次数还取决于测量要求。如果在室内测量,建议使用更大的光谱平均次数,这样得到的数据信噪比更好。

如果在野外很大的区域测量,则照明情况良好时,可以使用较少的光谱平均次数。

8,优化次数和时间间隔

如果测量数据没有出现饱和现象,则不强制要求重新优化。

通常来讲,每间隔10-15分钟重新优化一次对于避免照明条件的改变造成的干扰是有好处的。

9,暗电流的处理

并不强制要求频繁地采集按电流。但是在仪器启动的初期(10-15分钟内),间断性地采集按电流对于提高数据质量是有好处的。

10,白板参比采集时间间隔

室内测量:如果照明条件是基本恒定的,在仪器预热阶段每隔10-15分钟采集一次白板参比,之后每隔30分钟采集一次白板参比就可以了。

野外测量:应当尽可能频繁地采集白板参比,因为:

?太阳照明条件在不断变化,建议使分钟采集一次;

?大气状况在不断变化,例如云、湿度或者水气等等;

?温度在不断变化。

重要的是,采集参比和测量数据时的环境条件尽可能相同。

11,测量点的尺寸大于白板尺寸如何处理

最好的办法是购买一块大尺寸的白板。或者将探头靠近白板。

室内测量条件下,需要保证测量角度和距离保持不变。

野外采用太阳照明测量条件下,靠近白板测量参比,然后以较大的距离测量目标没有任何问题。

12,何时采用绝对反射比测量

取决于如何分析数据。绝对反射比和反射率之间的差别,在400-2000nm波段非常小;而在350-400nm和2000-2500nm波段才能够看出明显的偏差。

13,数据后处理

ViewSpec软件是众多数据后处理软件之一。

ENVI是图像处理软件,也可以直接倒入ASD的光谱数据进行处理。

14,什么造成了光谱数据上带有规律性的正弦振荡?

照明光源可能采用的是交流电。

15,反射率光谱数据带有台阶

光纤束导光的、使用前端镜头的仪器在近距离测量时可能产生这个现象。

稍微移动或者转动光纤或者测量角度,就可以避免这个干扰。

16,如何清洁白板

使用白板是一定要戴手套,以免油污。精确的清洁方法请参考随白板一起提供的指导书。

被浮土轻度污染的白板:用压缩氮气或者空气吹干净,或者用毛刷清理。

注意,不要使用氟利昂。

重度污染的白板:在流水下或者离子化蒸馏水内用220-240目的水砂纸轻轻打磨污染的表面,直到表面不沾水为止。阴干至少24小时。

注意,不要使用有或者肥皂。

17,室内照明光源

如果认为一个ASD提供的Pro Lamp照明光源不是足够的,建议使用两个或者三个同样的

光源。还可以使用灰板作为参考板。

白板和灰板之间的差别,可以使用ViewSpec软件做对比。

照明范围可以通过旋转光源上的聚焦旋钮得到。

更换灯泡时一定要戴手套,以免烫伤,也避免手上的油污污染灯泡上表面。

18,光纤与手枪式手柄连接松紧度

光纤出口端头位置的上下两端有两颗螺钉。下面的一颗螺钉头上有弹簧滚珠。调整此螺钉即可调整光纤固定松紧度。

19,

有Instrument Control 这个功能的仪器,不能优化完成。

解答:

20:状况:光谱仪和仪器无线连接不上

解答:1.首先需要重装一遍软件,因为asdcfg.ini文件已经损坏

2.双击RS3文件夹中的Netconfig.exe,逐步进行,到达第四步的时候,点击download new ini按钮,然后点击read instrument ini按钮,然后点击完成。

3.在这两步骤之前首先要选择是使用无线或者有线连接。如果选用无线,则

推荐笔记本的IP地址为10.1.1.55. 255.255.255.0

仪器的IP地址为10.1.1.77 255.255.255.0

4.如果从无线连接转为有线连接,则首先是笔记本的无线连接关闭,启用有

线连接,设置有线的IP地址为10.1.1.10,255.255.255.0

仪器的IP地址为10.1.1.11 255.255.255.0,重复步骤1和步骤2.

5.如果再从有线连接转回无线连接,则首先是有线连接不可用,启用无线连

接,并设置IP地址为10.1.1.**(**代表从0到255的数字,55,11,77除外)。21. 在中文的操作系统下不能查看文件的Headinformation,

解决方法:将控制面板中的区域语言选项中的三项均修改为英语(美国),重启计算机,重新安装程序。

第五章X射线能谱(波谱)分析技术

第五章 X射线能谱(波谱)分析技术

5.1 X射线(波谱)分析的理论基础 X射线的产生: 连续X射线电子束在原子实(由原子核与紧密束缚的电子组成)的库仑场中减速,形成能量连续的X射线谱, 其能量从零延伸到入射电子束的能量值 特征X射线电子束与内壳层电子相互作用驱出 束缚电子,使原子处于激发态,并在电子壳层内留出一个空位。在随后的去激过程中,某个外层电子发生跃迁填充这个空位.这个跃迁过程伴随着能量的变化,原子以发射X射线或者 发射一个俄歇(俄歇(Auger))电子的形式释放能量。由于 发射X射线的能量与原子中确定能级间的能量差有关,所以这 种X射线称为特征X射线

X射线作为电磁辐射,其能量E与波长λ的关系λ=hc/eE=1.2398/E(nm) 式中: h为普朗克常数,c为光速,e为电子电荷, E是以keV为单位的能量,λ的单位为nm。 由于用作X射线显微分析的谱仪包括波长谱仪(WDS)和能量谱仪(EDS),所以通常用波长(nm或?)或者能量(keV)单位描述X射线。

在任何能量E 或波长λ处的X 射线连续谱的强度I cm 由Kramers (1923)给出: 一、连续谱X 射线 E E E Z i Z i I o cm /)(~]1)/[(~min --λλ式中 i 为电流, 为靶的平均原子序数。 连续辐射强度随原子序数的上升而增加,是因为与低原 子序数的原子相比,重原子实(核与内层电子)中的库仑场强度较高的缘故,连续谱强度还直接随电子束的数量发生变化,即随束流i B 直接变化。因为连续谱形成各被测特征信号 的背底,所以连续谱辐射的高度对确定某个元素的最小检测限起着重要作用,通常认为连续谱有碍于分析。

第五章 X射线能谱(波谱)分析技术

第五章X射线能谱(波谱)分析技术

5.1 X射线(波谱)分析的理论基础 X射线的产生: 连续X射线电子束在原子实(由原子核与紧密束缚的电子组成)的库仑场中减速,形成能量连续的X射线谱, 其能量从零延伸到入射电子束的能量值 特征X射线电子束与内壳层电子相互作用驱出 束缚电子,使原子处于激发态,并在电子壳层内留出一个空位。在随后的去激过程中,某个外层电子发生跃迁填充这个空位.这个跃迁过程伴随着能量的变化,原子以发射X射线或者 发射一个俄歇(俄歇(Auger))电子的形式释放能量。由于 发射X射线的能量与原子中确定能级间的能量差有关,所以这 种X射线称为特征X射线

X射线作为电磁辐射,其能量E与波长λ的关系λ=hc/eE=1.2398/E(nm) 式中: h为普朗克常数,c为光速,e为电子电荷, E是以keV为单位的能量,λ的单位为nm。 由于用作X射线显微分析的谱仪包括波长谱仪(WDS)和能量谱仪(EDS),所以通常用波长(nm或?)或者能量(keV)单位描述X射线。

在任何能量E 或波长λ处的X 射线连续谱的强度I cm 由Kramers (1923)给出: 一、连续谱X 射线 E E E Z i Z i I o cm /)(~]1)/[(~min --λλ式中 i 为电流,为靶的平均原子序数。 连续辐射强度随原子序数的上升而增加,是因为与低原 子序数的原子相比,重原子实(核与内层电子)中的库仑场强度较高的缘故,连续谱强度还直接随电子束的数量发生变化,即随束流i B 直接变化。因为连续谱形成各被测特征信号的背底,所以连续谱辐射的高度对确定某个元素的最小检测限起着重要作用,通常认为连续谱有碍于分析。

核磁共振波谱仪

附件: 核磁共振波谱仪简介及样品要求 一、应用领域: 由于核磁共振技术具有深入物质内部,而不破坏样品的特点,已成为人们探索物质微观世界奥秘所必不可少的重要手段,广泛应用于有机化学、物理学、医学、分子生物学、石油化工、食品等领域。 根据本校所购买仪器的硬件参数可进行以下应用: 1、有机化合物分子结构的测定和有机反应历程研究。 2、互变异构现象和动态过程的研究 3、定量分析和分子量测定 二、核磁共振波谱仪硬件参数: 型号:A V ANCE III HD 400 MHz 产地及厂家:瑞士布鲁克 液体探头: 灵敏度: 1H灵敏度≥480:1(0.1% EB) 13C灵敏度≥200:1(ASTM) 31P灵敏度≥150:1(TPP) 15N灵敏度≥25:1 (90% formamide) 19F灵敏度≥500:1 (TFT)) 脉冲宽度: 1H pulse width ≤10 μs (0.1% EB sample) 19F pulse width ≤18 μs (TFT sample) 13C pulse width ≤10 μs (ASTM sample) 31P pulse width ≤8 μs (TPP sample) 15N pulse width ≤21 μs (90% formamide sample) 线形: 13C spinning lineshape ≤ 0.2/2/4Hz (50%/0.55%/0.11%, ASTM) 1H non-spinning lineshape ≤ 0.8/7/14Hz (50%/0.55%/0.11%, 1% CHCl ) 3固体探头:

X线能谱仪的优缺点

一,能谱仪 能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS). 目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,即锂漂移硅固态检测器,它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管. Si(Li)能谱仪的优点: (1)分析速度快能谱仪可以同时接受和检测所有不同能量的X射线光子信号,故可在几分钟内分析和确定样品中含有的所有元素,带铍窗口的探测器可探测的元素范围为11Na~92U,20世纪80年代推向市场的新型窗口材料可使能谱仪能够分析Be以上的轻元素,探测元素的范围为4Be~92U. (2)灵敏度高X射线收集立体角大.由于能谱仪中Si(Li)探头可以放在离发射源很近的地方(10㎝左右),无需经过晶体衍射,信号强度几乎没有损失,所以灵敏度高(可达104cps/nA,入射电子束单位强度所产生的X射线计数率).此外,能谱仪可在低入射电子束流(10-11A)条件下工作,这有利于提高分析的空间分辨率. (3)谱线重复性好.由于能谱仪没有运动部件,稳定性好,且没有聚焦要求,所以谱线峰值位置的重复性好且不存在失焦问题,适合于比较粗糙表面的分析工作. 能谱仪的缺点: (1)能量分辨率低,峰背比低.由于能谱仪的探头直接对着样品,所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到,从而使得Si(Li)检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时,背底也相应提高,谱线的重叠现象严重.故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差.能谱仪的能量分辨率(130eV)比波谱仪的能量分辨率(5eV)低. (2)工作条件要求严格.Si(Li)探头必须始终保持在液氦冷却的低温状态,即使是在不工作时也不能中断,否则晶体内Li的浓度分布状态就会因扩散而变化,导致探头功能下降甚至完全被破坏. 二,波谱仪 波谱仪全称为波长分散谱仪(WDS). 在电子探针中,X射线是由样品表面以下m数量级的作用体积中激发出来的,如果这个体积中的样品是由多种元素组成,则可激发出各个相应元素的特征X射线. 被激发的特征X射线照射到连续转动的分光晶体上实现分光(色散),即不同波长的X射线将在各自满足布拉格方程的2 方向上被(与分光晶体以2:1的角速度同步转动的)检测器接收. 波谱仪的特点: 波谱仪的突出优点是波长分辨率很高.如它可将波长十分接近的VK (0.228434nm),CrK 1(0.228962nm)和CrK 2(0.229351nm)3根谱线清晰地分开. 但由于结构的特点,谱仪要想有足够的色散率,聚焦圆的半径就要足够大,这时弯晶离X射线光源的距离就会变大,它对X射线光源所张的立体角就会很小,因此对X射线光源发射的X 射线光量子的收集率也就会很低,致使X射线信号的利用率极低. 此外,由于经过晶体衍射后,强度损失很大,所以,波谱仪难以在低束流和低激发强度下使用,这

超导核磁共振谱仪的原理及应用指导书

超导核磁共振谱仪的原理及应用实验指导书 贵州大学精细化工研究开发中心(绿色农药与生物工程重点实验室) 1、实验类型及学时数 a)实验类型:设计性实验(研究性实验) b)学时数:10学时 2、实验目的和意义 核磁共振是1946年由美国斯坦福大学布洛赫(F.Block)和哈佛大学珀赛尔(,两人因此获得1952年诺贝尔物理学奖。50多年来,核磁共振已形成为一门有完整理论的新学科。 在各种各样的化学分析仪器中,核磁共振谱仪被公认为是一种非常重要的研究和测试工具,它的许多功能是其它手段无法代替的。 核磁共振谱仪可以给出小到原子核在分子中的精确位置及其周边环境的微小变化,大到整个人体的断层成像等具有丰富内涵的信息。被广泛用于工业、农业、化学、生物、医药、地球科学和环境科学等领域。 通过学习核磁共振波谱仪的构成、使用方法及其在定性、定量分析中的应用,培养学生严谨的科学态度、细致的工作作风、实事求是的数据报告和良好的实验习惯(准备充分、操作规范,记录简明,台面整洁、实验有序,良好的环保和公德意识);培养学生的动手能力、理论联系实际的能力、统筹思维能力、创新能力、独立分析解决实际问题的能力、查阅手册资料并运用其数据资料的能力以及归纳总结的能力等。 3、实验原理 (1)基本原理 自旋不为零的粒子,如电子和质子,具有自旋磁矩。如果我们把这样的粒子放入稳恒的外磁场中,粒子的磁矩就会和外磁场相互作用使粒子的能级产生分裂,分裂后两能级间的能量差为 ΔE = γhB 0 (1) 其中:γ为旋磁比,h为约化普朗可常数,B0为稳恒外磁场。 如果此时再在稳恒外磁场的垂直方向加上一个交变电磁场,该电磁场的能量为

波谱仪和能谱仪

波谱分析和能谱分析之间的对比 https://www.360docs.net/doc/3316849357.html,2010年01月28日来源:说仪网 在电子探针或扫描电子显微镜中进行微区分析可以采用两种方法:波谱分析或能谱分析。波谱分析发展较早,但近年来没有太大的进展;能谱分析虽然只有将近20 年的历史,但发展迅速,成为微区分析的主要手段。以下为两种方法的比较。 (a)通常的能谱仪探测器采用8μm 厚的铍窗口,由于它对入射X 射线的吸收无法探测到超轻元素的特征X 射线,元素探测范围为Na (11)到U(92)。而波谱仪的探测范围为B (5)到U(92)。 虽然能谱仪过去也曾采用过超薄窗口(UTW)或无窗探测器扩大元素探测范围,但由于种种原因实际上无法推广。近年来出现了一种单窗口轻元素探测器,可以探测B(5)到U (92)之间的元素,甚至还可探测Be。 (b)波谱仪的瞬间接收范围约为5eV ,即在同一瞬间只能接收某一极窄的波长范围内的X 射线信号。因此采集一个全谱往往需要几十分钟。在此期间要求整个系统的工作条件(加速电压、束流等)有较高的稳定度。因此波谱分析不能用于束流不稳定的系统(如冷场发射电子枪的系统)中。 能谱仪在瞬间可以接收全部有效范围内的X 射线信号,亦即在一短时间内(例如1 秒)可接收成千上百个各种能量的X 射线光子。由于其随机性,所以对整个系统的稳定度无严格要求,而且采集一个谱通常只需1~2min 。 (c)波谱仪的几何收集效率(接收信号的立体角)较低(<0.2%),而且随X 射线的波长变化。量子效率(进入谱仪和被计数的X 射线之比)也较低(< 30 %)。为了增加接收到的信号强度,不得不加大束流,束斑也随之加大,因此当扫描电子显微镜观察高分辨图像时,或透射电镜中由于薄膜样品的X 射线信号强度太低,均无法进行波谱分析。

第十五章习题答案final

1、电子探针仪与扫描电镜有何异同?电子探针仪如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微区化学成分的同位分析? 答:相同点: ①镜筒及样品室无本质差别。 ②原理相同。利用电子束轰击固体样本产生的信号进行分析。 不同点: ①检测信号类型不同。电子探针检测的是特征X射线,扫描电镜检测的是二次电子和背散 电子。 ②用途不同。电子探针得到的是元素种类和含量,用于成分分析;扫描电镜主要用于形貌 分析。 透射电镜成像操作用来组织观察,通过选取衍射操作用来分析选定区域的晶体结构,结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分,这样组织结构与微区化化学成分做到同位分析。扫描电镜用于形貌观察,结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分,这样形貌与微区化化学成分做到同位分析。 2、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点? 答: 能谱仪: ①能谱仪分辨率比波谱仪低,能谱仪给出的波峰比较宽,容易重叠。在一般情况下,Si(Li) 检测器的能量分辨率约为160eV,而波谱仪的能量分辨率可达5-10eV。 ②能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素X射线的测量,因此它只能分析原 子系数大于11的元素,而波谱仪可测定原子序数4-92之间所有的元素。 ③能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温状态,因此必须时时用液氮冷却。 波谱仪: ①波谱仪由于通过分光体衍射,探测X射线效率低,因而灵敏度低。 ②波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。 ③波谱仪结构复杂。

④波谱仪对样品表面要求较高 3、直进式波谱仪和回转式波谱仪各有什么特点? 答:直进式波谱仪的优点是X射线照射分光晶体的方向是固定的,即出射角ψ保持不变,这样可以使X射线穿出样品表面过程中所走的路线相同,也就是吸收条件相等。 回转式波谱仪结构比直进式波谱仪结构来得简单,出射方向改变很大,在表面不平度较大的情况下,由于X射线在样品内行进路线不同,往往会因吸收条件变化而造成分析上的误差。 4、要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,应选用哪种电子探针仪?为什么? 答:分析钢中碳化物成分可用能谱仪(不分析原子序数少于11的元素)。能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。说明碳化物量少也能分析。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内可得到定性分析结果,而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 分析基体中碳含量可用波谱仪,这是因为能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量,因此它只能分析原子序数大于11的元素;而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。 5、要在观察断口形貌的同时,分析断口上粒状夹杂物的化学成分,选用什么仪器?用怎样的操作方式进行具体分析? 答:在观察断口形貌的同时,分析断口上粒状夹杂物的化学成分,选用能谱仪来分析其化学成分。先用扫描电镜观察其断口形貌,找到断口上粒状夹杂物,选用能谱仪进行成分点分析。 6、举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。 答:(1)定点分析:将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时,改变分光晶体和探测器的位置,即可得到分析点的X射线谱线;用能谱仪分析时,几分钟内即可直接从荧光屏(或计 算机)上得到微区内全部元素的谱线。 如需分析ZrO2(Y2O3)陶瓷析出相与基体含量成分高低,用定点分析几分钟便可得到结果。 (2)线分析:将谱仪(波、能)固定在所要测量的某一元素特征X射线信号(波长或能量)的

浅谈核磁共振波谱在化学中的应用

浅谈核磁共振波谱在化学中的应用 核磁共振现象早在1936年就被人们所预测,而1945年哈佛大学Purcell小组和斯坦福大学Bloch小组几乎同时观测了石蜡和水中质子的信号因此获1952年诺贝尔物理奖;50年代发现化学位移和自旋—自旋耦合;60年代提出快速FT 变换方法;利用不同的脉冲组合获得特定的分子结构信息:驰豫时间,共振峰的分类(DEPT,INEPT);70年代发现二维核磁;80年代600MHz核磁共振仪问世;90年代脉冲场梯度技术;高灵敏度的超导探头;流动注射核磁技术;高压核磁技术;丰富的多维脉冲序列等多种新手段的使用更是促进了核磁共振技术在化学领域中的应用。核磁共振技术作为分析物质的化学组成、结构及其变化的重要手段之一, 可深入探测物质内部而不破坏样品, 并具有准确、快速和对复杂样品不需预处理就能进行分析等特点. 经过60 多年的发展, 核磁共振技术形成了两个主要学科分支, 即核磁共振波谱(NMR)和磁共振成像(MRI). 随着磁场强度的提高, 信号检测(硬件和信号处理)、脉冲实验、自旋标记等技术的进步, 困扰核磁共振的低灵敏度的问题已大大改善. 现今, 核磁共振已广泛应用于化学、生物学、医学、食品以及材料科学等诸多学科领域, 成为在这些领域开展研究工作的有力工具, 成为一种不可或缺的分析与测量手段. 一、核磁共振技术简介 核磁共振是指处于外磁场中的物质原子核系统受到相应频率的电磁波作用时,在其磁能级之间发生的共振跃迁现象。检测电磁波被吸收的情况就可以得到核磁共振波谱。其中最重要的一个概念是化学位移。化学位移的差别约为百万分之十,精确测量十分困难,现采用相对数值。以四甲基硅(TMS)为标准物质,规定:它的化学位移为零,然后,根据其它吸收峰与零点的相对距离来确定它们的化学位移值。 二、影响化学位移的因素 影响化学位移的因素有多种,现在简单介绍如下。 诱导效应 分子中某一氢核的化学位移与该核外层的电子云密度有很大的关系,电子云密度越大,所产生的感应磁场越大,核的实受磁场越弱,即受到的屏蔽作用越大。

X射线能谱分析

X射线能谱分析简介 导言: 早在二十世纪年代中期就开始了X射线能谱分析课题的研究。例如,Parrish和Kohler(1956)曾指出用分解正比计数器脉冲高度谱的方法进行X射线能量分析的可能性。后来Dolby(1959、1960)发展了这种方法并且获得了Be、C、O等超轻元素的扫描X射线图像。同年,Duncumb提出一种用纯元素的标准谱拟合实际谱进行分析的方法。而Birks等人用正比计数器和一台400道多道分析器配合,在电子探针中首次进行了能谱分析。到了1968年,Fitzgerald、Keil和Heinrich等人开始把锂漂移硅探测器用到了电子探针中。 由于锂漂移硅探测器有一些独到的优点,得到了有关专家的广泛重视。在1963年和1970年,美国材料试验学会先后两次就能谱分析技术进行了专门的讨论,促进了能谱技术的发展。例如,在1966年,锂漂移硅探测器的能量分辨率还只能达到约800eV,但是到了1970年,就迅速提高到约150eV。探测器分辨率的提高,反过来促进了能谱分析方法及其相关技术的迅速发展。 目前,能谱分析系统已成为电子探针和扫描电镜/透射电镜微区分析的一项标准设备,同时与其相关的波谱分析、电子被散射衍射等有机结合,愈来愈成为微区分析中不可或缺的分析手段。 锂漂移硅探测器简述: 能谱分析系统的心脏是一只硅晶体二极管,它是由一块p型硅晶片经锂(向硅中)扩散和飘移后制成的,因此称为锂漂移硅探测器

(Lithium Drifted Silicon Detector),通常缩写为Si(Li)探测器。 我们知道硅是一种典型的半导体材料。硅晶体的结晶结构与金刚石结构相同,即为面心立方体结构,每个晶胞含有两个硅原子,每个硅原子有四个价电子(两个3s电子,两个3p电子)。在晶体中,每个原子与相邻四个原子构成四条共价键。根据能带理论,四个价电子形成四个能带,由于每个格点上有8个价电子,因此,如果格点数为N,则四个能带上将填满8N个电子,这种能带称为满带。满带的上方有一个能隙,称为禁带,禁带中不可能有任何电子,或者说,不可能存在其能量相当于禁带能量的电子。在禁带上面有很多可能的能带-----导带。在纯净而完整的晶体中,导带中没有电子,因此呈绝缘体特性。但是,即使纯度非常高的硅单晶,仍有极少量的杂质存在,而且难免有些晶格缺陷,加上硅的禁带宽度较小(~1.1eV),在热骚动下可能有极少量的电子进入导带,因此硅晶体有一定程度的导电性。温度愈高,由于热骚动而进入导带的电子愈多,晶体的导电性就愈强,因而使硅晶体成为一种典型的半导体。 半导体的导电率取决于杂质的类型和含量。杂质的作用是这样的:假如有一种五价杂质(P,As等)参入硅中,它将取代硅原子的位置,用四个价电子与相邻的四个硅原子结合而维持原来的四条共价键,并把多余的一个电子释放出去,被释放的电子很可能进入导带,使晶体呈电子性导电,这种晶体就称为n型半导体。如果掺入的杂质是三价原子,那么这些杂质将会俘获满带中的电子而使满带中出现空穴,从而使晶体成为p型半导体。在硅中常见的一种杂质是硼(B),它的

第十五章习题答案final

答:相同点: ①镜筒及样品室无本质差别。 ②原理相同。利用电子束轰击固体样本产生的信号进行分析。 不同点: ①检测信号类型不同。电子探针检测的是特征X射线,扫描电镜检测的是二次电子和背散 电子。 ②用途不同。电子探针得到的是元素种类和含量,用于成分分析;扫描电镜主要用于形貌 分析。 透射电镜成像操作用来组织观察,通过选取衍射操作用来分析选定区域的晶体结构,结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分,这样组织结构与微区化化学成分做到同位分析。扫描电镜用于形貌观察,结合电子探针可分析选定区域的微区化化学成分,这样形貌与微区化化学成分做到同位分析。 2、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点? 答: 10 min 2~3 min

能谱仪: ①能谱仪分辨率比波谱仪低,能谱仪给出的波峰比较宽,容易重叠。在一般情况下,Si(Li) 检测器的能量分辨率约为160eV,而波谱仪的能量分辨率可达5-10eV。 ②能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素X射线的测量,因此它只能分析原 子系数大于11的元素,而波谱仪可测定原子序数4-92之间所有的元素。 ③能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温状态,因此必须时时用液氮冷却。 波谱仪: ①波谱仪由于通过分光体衍射,探测X射线效率低,因而灵敏度低。 ②波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。 ③波谱仪结构复杂。 ④波谱仪对样品表面要求较高 3、直进式波谱仪和回转式波谱仪各有什么特点? 答:直进式波谱仪的优点是X射线照射分光晶体的方向是固定的,即出射角ψ保持不变,这样可以使X射线穿出样品表面过程中所走的路线相同,也就是吸收条件相等。 回转式波谱仪结构比直进式波谱仪结构来得简单,出射方向改变很大,在表面不平度较大的情况下,由于X射线在样品内行进路线不同,往往会因吸收条件变化而造成分析上的误差。 4、要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,应选用哪种电子探针仪?为什么? 答:分析钢中碳化物成分可用能谱仪(不分析原子序数少于11的元素)。能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。说明碳化物量少也能分析。在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内可得到定性分析结果,而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。

核磁共振的原理及其应用发展

核磁共振的原理及其应用发展 摘要:核磁共振是能够深入到物质内部而不破坏被测量对象的一种分析物质构造的现代技术,它通过利用原子核在磁场中的能量变化来获得关于原子核的信息,具有迅速、准确、分辨率高等优点,因而在科研和生产中获得了广泛的应用。本文主要介绍了核磁共振技术的基本原理,以及核磁共振在化学化工、生物化学、医药等方面的应用,并指出核磁共振波谱技术将成为21世纪一个异常广阔的谱学研究领域. 关键词:核磁共振;NMR谱仪 引言 核磁共振( Nuclear Magnetic Resonance,NMR)波谱学是一门发展非常迅速的科学。核磁共振是根据有磁的原子核,在磁场的作用下会引起能级分裂,若有相应的射频磁场作用时,在核能级之间将引起共振跃迁,从而得到化学结构信息的一门新技术。最早于1946年由哈佛大学的伯塞尔(E. M. Purcell)和斯坦福大学的布洛赫(F. Bloch)等人用实验所证实[1]。两人由此共同分享了1952年诺贝尔物理学奖[2]。核磁共振技术可以提供分子的化学结构和分子动力学的信息,已成为分子结构解析以及物质理化性质表征的常规技术手段[3],在物理、化学、生物、医药、食品等领域得到广泛应用,在化学中更是常规分析不可少的手段。从70年代开始,在磁共振频谱学和计算机断层技术等基础上,又发展起一项崭新的医学诊断技术,即核磁共振成像技术,并在医学临床上获得巨大成功。本文主要介绍了核磁共振技术及其在化学领域的应用进展。 1.核磁共振原理 泡利(W.Pauli)在1924年首先提出原子核具有磁矩,并认为核磁矩与其本身的自旋运动相联系,用此理论成功地解释了原子光谱的超精细结构[4]。核磁矩μ与核自旋角动量L之间的关系为:

分析习题十二答案

1、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点? 具有以下优点(与波谱仪相比) 1)能谱仪探测X射线的效率高。其灵敏度比波谱仪高约一个数量级。 2)在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内可得到定性分析结果,而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 3)结构简单,稳定性和重现性都很好(因为无机械传动) 4)不必聚焦,对样品表面无特殊要求,适于粗糙表面分析。 具有以下缺点和不足: 1)分辨率低:Si(Li)检测器分辨率约为160eV;波谱仪分辨率为5-10eV 2)能谱仪中因Si(Li)检测器的铍窗口限制了超轻元素的测量,因此它只能分析原子序数大于11的元素;而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。 3)能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温态,因此必须时时用液氮冷却。 2、举例说明电子探针的三种工作方式(点、线、面)在显微成分分析中的应用。(1)定点分析:将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时,改变分光晶体和探测器的位置,即可得到分析点的X 射线谱线; 用能谱仪分析时,几分钟内即可直接从荧光屏(或计算机)上得到微区内全部元素的谱线。 (2) 线分析: 将谱仪(波、能)固定在所要测量的某一元素特征X 射线信号(波长或能量)的位置把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描,便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。 改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。 (3) 面分析: 电子束在样品表面作光栅扫描,将谱仪(波、能)固定在所要测量的某一元素特征X 射线信号(波长或能量)的位置,此时,在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X 射线调制图像的方法。

X射线能谱仪及其应用

X射线能谱仪及其应用 摘要:在许多材料的研究与应用中,需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。其中,X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。本文介绍了X射线能谱仪的基本原理、定量、定性分析,以及能谱仪的特点及其在工业生产分析等方面的应用。并对其发展进行了简要介绍。 关键词:X射线能谱仪;基本原理;工业生产 1 引言 在国外六十年代初期发展起来的一种新的核辐射探测器—锉漂移硅核辐射探测器,在七十年代初因探测效率高, 能量分辨率好,被应用于X射线能谱仪。目前硅(锂)谱仪的能量分辨率达110电子伏。近几十年来, 扫描电子显微镜(包括大型、小型)、电子探针仪和透射电子显微镜等都普遍地装配了X射线能谱仪,广泛地应用于冶金学、地质学、物理学、动物学、医药学、环保学等若千科学领域,分析的对象包括半导体材料、电子封装材料、催化剂、策合物、建材、肉瓷、生物材料等。成为七十年代最有用途的科学研究仪器之一。 它的发展经过了三个阶段: 初期:在1978年以前,X射线能谱仪尚在初级阶段,由于技术的原因,只可进行定性或半定量分析。 中期:1978年至1984年前后,随着探测器和计算机技术的发展,除了可以进行定性分析外,还可以进行无标样定量分析。在这一时期,能谱仪得到了广泛的应用。 近期:从1984年至今,X射线能谱仪的发展进入了一个全新的阶段。可以使用比较复杂的方法进行定量分析;可以对来自能谱仪和电镜的图象进行分析和处理;由于有了功能强大的计算机,对数据进行加工,可以更好地显示分析结果。 1.1 X射线能谱仪的简介 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在六十年代由瑞典科学家Kai Siegbahn教授发展起来的。由于在光电子能谱的理论和技术上的重大贡献,1981年,Kai Siegbahn获得了诺贝尔物理奖。三十多年的来,X射线光电子能谱无论在理论上和实验技术上都已获得了长足的发展。XPS已从刚开始主要用来对化学元素的定性分析,已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。XPS的研究领域也不再局限于传统的化学分析,而扩展到现代迅猛发展的材料学科。目前该分析方法在日常表面分析工作中的份额约50%,是一种最主要的表面分析工具。 1.2 X射线能谱仪工作的基本原理

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