SEM和EDS的现代分析测试方法
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三. 生物医学材料试样制备
清洗、固定 脱水、干燥 导电处理等
第七节 SEM的应用
一. 二. 三. 四. 在金属材料方面的应用 在高分子材料方面的应用 在石油、地质、矿物方面的应用 在半导体器件及集成电路方面的 应用 五. 在生物医学上的应用
一. 在金属材料方面的应用
断口分析:解理断口、准解理断
口、韧性断裂、沿晶断裂等. 铸铁研究:铸铁中的石墨形态、 铸铁中化学成分的微区分析. 事故、故障分析
第二章 电子探针显微分析仪 (EPMA) 第一节 概述
第二节 特征X射线检测
一. 波谱法(WDS) 1. 原理 布拉格方程: 2dsinθ=nλ 式中: λ——特征X射线波长; θ ——布拉格角 d ——分光晶体晶面间距 n ——衍射级数
检测器类型
1. 电子检测器:由闪烁体、光导 管和光电倍增器组成。 2. 阴极荧光检测器:由光导管、 光电倍增器组成。 3. X射线检测系统:由谱仪和检测 器两部分组成。
四. 图象显示和记录系统
组成:显示器、照相机、打印机 等。 作用:把信号检测系统输出的调 制信号转换为在阴极射线 管荧光屏上显示的样品表 面某种特征的扫描图象, 供观察或照相记录。
三. 景深
第六节 SEM的样品制备
SEM对样品的最重要的要求是 样品要导电. 一. 导电材料试样制备 二. 非金属材料试样制备 三. 生物医学材料试样制备
一. 导电材料试样制备
1. 试样尺寸尽可能小些,以减轻 仪器污染和保持良好真空。 2. 切取试样时,要避免因受热引 起试样塑性变形,或在观察面 生成氧化层;要防止机械损伤 或引进水、油污及尘埃等污物。
几种类型电子枪性能
二. 扫描系统
组成: 扫描信号发生器、放大控制器等 电子学线路和相应的扫描线圈。 作用: 提供入射电子束在样品表面上以 及阴极射线管电子束在荧光屏上 的同步扫描信号; 改变入射电子 束在样品表面扫描振幅,以获得 所需放大倍数的扫描像。
三. 信号检测放大系统
作用:检测样品在入射电子束作 用下产生的物理信号,然 后经视频放大,作为显象 系统的调制信号。
漫散射
漫散射的深度与原子序数有关
二. 放大倍数
显微镜的放大倍数: 象与物大小之比 TEM和OM: M总=M1M2……Mn 式中: M1……Mn——各个透镜的放大倍数 n ——透镜数目
SEM中透镜的作用:
缩小电子束交叉斑 总的缩小倍数:
M 缩小=(1/ M1)·(1/ M2)…… (1/ Mn) SEM图象放大倍数: 显象管荧光屏边长 . 电子束在试样上(相同方向)扫描宽度
第三节 SEM工作原理
第四节 SEM的构造
一. 电子光学系统
组成: 电子枪, 电磁聚光镜, 光阑, 样品室等. 作用: 用来获得扫描电子束, 作为 使样品产生 2. 聚光镜(电磁透镜) 3. 光阑 4. 样品室
用于SEM的电子枪有两种类型
热电子发射型: 普通热阴极三极电子枪 六硼化镧阴极电子枪 场发射电子枪: 冷场发射型电子枪 热场发射型电子枪
材料的现代分析测试方法
材料的现代分析测试方法
第一章 扫描电子显微镜(SEM) 第一节 概述
第二节 电子束与固体样品 相互作用
一.背散射电子 二.二次电子 三.吸收电子 四.透射电子
五.特征X射线 六.俄歇电子 七.阴极荧光 八.电子束感生电效应 1.电子束感生电导信号 2.电子束感生电压信号
莫塞莱定律:
hc
k z
式中:k、h、σ ——常数 c ——光速 z ——原子序数 λ——波长
2. 波谱仪组成 检测系统 放大系统 信号处理系统 显象系统等
波长分散法原理图
波长色散X射线谱仪示意图
二. 能谱法(EDS)
1. 原理
Eh
c
h
c E
式中:E ——X光子能量 λ——特征X射线波长 c ——光速 h ——普朗克常数
2. 能谱仪组成 检测系统 信号放大系统 数据处理系统 显示系统
X射线能谱仪的基本组成
三. 波谱仪与能谱仪比较
与波谱仪相比,能谱仪的优点:
1. 分析速度快. 2. 分析灵敏度高. 3. 结构紧凑、稳定性好.
三. 波谱仪与能谱仪比较
与波谱仪相比,能谱仪的缺点:
1. 能量分辨率低. 2. 峰背比差、检测极限高,定量 分析精度差. 3. Be窗. 4. LN2冷却.
3. 观察表面,特别是各种断口间 隙处存在污物时,要用无水乙 醇、丙酮或超声波清洗法清理 干净。 4. 故障构件断口或电器触点处存 在的氧化层及腐蚀产物,不要 轻易清除。
二. 非金属材料试样制备
1. 在试样表面上蒸涂或沉积一层 导电膜。碳、金、银、铬、铂 和金钯合金等均可做导电膜材 料。 2. 导电膜应均匀、连续,厚度为 200~300Å。
五. 电源系统
组成:稳压、稳流及相应的安全 保护电路等。 作用:提供扫描电子显微镜各部 分所需要的电源。
六. 真空系统
组成:机械泵、扩散泵、电磁阀 及相应的真空管路等。 作用:建立能确保电子光学系统 正常工作、防止样品污染 所必须的真空度。
第五节 SEM的主要性能 一. 分辨率
分辨率的主要决定因素: 1. 电子束斑直径 2. 入射电子束在样品中的扩展效应 3. 信噪比