XRF测试
xrf 测试方法 标准
xrf 测试方法标准XRF 测试方法标准XRF（X射线荧光光谱仪）是一种常用的分析技术，可用于材料的成分分析、质量控制和环境监测等领域。
为了确保测试结果的准确性和可比性，需要依据标准化的测试方法进行操作。
本文将介绍XRF测试方法的标准，以及其应用于不同领域的重要性。
一、XRF测试方法概述XRF测试方法是一种基于材料对X射线的吸收和再辐射现象而建立的非破坏性分析技术。
通过测量样品在受激发射X射线的同时产生的荧光辐射，可以确定样品中元素的种类和相对含量。
XRF测试方法主要包括样品制备、仪器校准和数据分析三个步骤。
1. 样品制备样品制备是确保测试结果准确性的重要环节。
常用的样品制备方法包括固体样品研磨、溶液样品稀释和气体样品净化等。
合适的样品制备方法能够提高测试的精度和可靠性。
2. 仪器校准在进行XRF测试之前，需要对X射线荧光光谱仪进行校准。
仪器校准包括能量刻度、灵敏度调整和元素定量三个方面。
准确的仪器校准可以确保测试结果的可比性和准确性。
3. 数据分析XRF测试生成的数据需要经过分析和处理，以得出样品中元素的含量和配比。
数据分析方法包括标准样品校正、基质效应校正和内标法校正等。
合理的数据分析方法能够提高测试的准确性和可靠性。
二、XRF测试方法在材料分析中的应用XRF测试方法在材料分析中具有广泛的应用，可用于金属、矿石、陶瓷、涂层等多种材料的成分分析和质量控制。
1. 金属材料XRF测试方法可以对金属材料进行快速和准确的成分分析。
在金属生产和加工过程中，使用XRF进行质量控制可以有效地检测材料中的杂质和元素含量，保证产品质量。
2. 矿石分析矿石中的元素含量对于矿石的开采和选矿具有重要意义。
XRF测试方法可以在无需破坏矿石样品的情况下，快速、准确地分析矿石中的元素含量，为矿石资源的开发提供技术支持。
3. 陶瓷材料陶瓷材料的成分对其性能和质量具有重要影响。
通过XRF测试方法可以确定陶瓷材料中的主要元素含量，从而进行配方控制和产品质量监测。
XRF检测业务标准
B、试料是否精密: 分析试料特别小或不好分析时也有。
C、分析时 其他成分妨害: - 参照事列
11 、 Pb 分 析 时 他 元 素 的 影 响 [ Br ]
B.Cr时不好区分 Cr和Cr6+
Br 检出
Br 未检出
☆ 大量含有Br時Pb Back-ground上升有可能检出大量
(如 抹 的 多 的 话 会 向 试 料 室 内 部 蹦 出 的 可 能 所 以 抹 少 量.)
2. Err or 发 生 科 目Det ect or. Tem per atu re Err or : Coo lin g Det ect or Err or 与 Det ect or 关 联 的 所 有 错 误 在 无 装 备 异 误 将
使用 Tool : 符合用途的适当的工具及装备使用 -.小刀, Cutting机, 剪刀, Stripper, Nipper, Long-nose等专用Tool使用 -.不使用专用Tool使用其他用途的Tool及工具的话, 以污染的异物投入进去会下降分析的正确度. -.使用Tool在使用前及Sample变换时事前洗涤必须.
退料
19 、 基 本 遵 守 事 项
1）测 定前 纯银 试片 (Ag) 放在 测定 装备 上进 行 Calib ration . 2) Calib ration (CH1 110) 时图 表上 的 chan nel 1110 必须 确认.
20 、 重 点 管 理 事 项
1）检 查完 了后 程序 结束 时 Tube setup 窗的 “ Enabl e HV ”核 对撤 销， 程序 结束 后装 备电 源 2) 测 定时 Cam ber绝 对不 允许 Open . 3) 异 常时 及时 将试 验机 的电 源 OFF 后联 络担 当者
xrf光谱仪测试范围
xrf光谱仪测试范围
XRF光谱仪的测试范围通常涵盖原子序数为12～92之间的元素，包括镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）、钙（Ca）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、铬（Cr）、锰（Mn）、铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、砷（As）、硒（Se）、锶（Sr）、钇（Y）、锆（Zr）、铌（Nb）、钼（Mo）、钌（Ru）、铑（Rh）、钯（Pd）、银（Ag）、镉（Cd）、铟（In）、锡（Sn）、锑（Sb）、铪（Hf）、钽（Ta）、钨（W）、铼（Re）、锇（Os）、铱（Ir）、铂（Pt）、金（Au）、汞（Hg）、铊（Tl）、铅（Pb）以及铋（Bi）等至少46种元素，但不限于上述元素。
XRF光谱仪的检测限大约在200ppm，对于低于这个浓度的元素，测试结果可能不太准确。
另外，如果样品中含碳元素超过10%，需要先对样品进行烧成灰处理再测试。
如果样品量过少或粘度低、硬度高等原因导致测试时必须用硼酸压片，需另行支付压样成本费。
XRF X射线荧光光谱测试介绍
溴系阻燃剂(BFR)
常用的工業溴系阻燃剂共有75种化学物质，各有不同的性质、特性和功能 这些物质唯一的共通点：全都含溴元素-一种可从自然界获得的元素 溴系阻燃剂被广泛添加于电气电子设备用的塑料中以延缓或阻止火花的点燃,
就全球阻燃劑用量而言,溴系約占鹵系的80%,至于品種,則溴系比氯系多的多. 其中最主要的工業溴系阻燃劑是十溴二苯醚和四溴雙酚A(PCB及計算機外殼), 兩者的產量約占溴系阻燃劑的50%,另一個重要的阻燃劑是六溴環十二烷.目前 全球電子產品使用的阻燃劑約有80%是溴系阻燃劑. 溴系阻燃劑如此大量應用的原因如下: 阻燃效率高;它可在氣相(主要)及凝聚相同時發揮作用,故 所需量少,性
3.IEC 61249-2-21規定的無鹵是氯,溴元素占均質材料的百分比小 于900PPM,而且需要滿足氯,溴元素總量占均質材料的百分比小于 1500PPM, 富士康根據IEC 61249-2-21來定義無鹵的限定值.
鹵素阻燃劑的發展
1930年,人們發現了鹵系阻燃劑(如氯化石蠟)與氧化銻的協同阻 燃效應,
环境有害的物质。
（Article 7，
P63-66）
注：1.配制品: 由两种或两种以上物质组成的混合物或溶液,合金是配制品 （ P242 ），其中的金属成分≥1吨/ 年需注册; 2.物品: 由一种或多种物质组成的物体,其在生产过程中具有特定形状、外 观或设计方案，其设计方案比其化学成分更能决定其最终使用功能.
地區或國家法規
歐盟指令 2002/95/EC RoHS 實施 89/677/EEC 修改 76/769/EEC 2002/45/EC 修改 76/769/EEC
2003/11/EC 修改 76/769/EEC
2006/122/EC 修改 76/769/EEC
xrf 测试方法 标准
xrf 测试方法标准
XRF（X-ray Fluorescence）测试方法，即X 射线荧光光谱分析法，是一种通过测量物质受X 射线激发后产生的荧光辐射的波长和强度，以确定物质中元素组成和含量的分析方法。
以下是XRF 测试方法的一些常见标准：
1. ASTM E1657：使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。
2. ISO 12677：使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。
3. EN ISO 12677：欧洲标准，与ISO 12677 相同。
4. JIS G1258：日本工业标准，使用X 射线荧光光谱法分析钢铁材料的标准测试方法。
5. GB/T 18877-2009：中国国家标准，使用X 射线荧光光谱法分析金属材料的标准测试方法。
这些标准通常涵盖了XRF 测试方法的基本原理、仪器设备要求、样品制备、测试步骤、数据处理和结果报告等方面的内容。
在进行XRF 测试时，应根据具体的测试需求和样品类型，选择适合的标准进行参考和遵循。
XRF测试样品
XRF样品测试注意事项：
一、Rohs分析
1、选用30mm样品盒，当样品小于30mm时，用导电胶固定在样品盒底盖板上，表面应和样品盒表面齐平。
2、X射线不能照射到样品盒底盖板，当测试样品小于30mm时，应把样品垫高至离样品盒底盖板3-5cm。
3、样品盒应保持整洁，粉末样品压制成型装入样品盒后应用洗耳球吹掉灰尘。
二、S，Cl分析
1、选用30mm样品盒，当样品小于30mm时，用导电胶固定在样品盒底盖板上，表面应和样品盒表面齐平。
2、X射线不能照射到样品盒底盖板，当测试样品小于30mm时，应把样品垫高至离样品盒底盖板3cm。
3、样品盒应保持整洁，粉末样品压制成型装入样品盒后应用洗耳球吹掉灰尘
三、成分分析
1、根据被测样品大小，选择合适的测量方法，当选用20mm样品盒时，禁止选用照射光为30mm的测试方法，选用测试样品应与样品盒表面齐平。
2、X射线不能照射到样品盒底盖板，当测试样品小于30mm时，应把样品垫高至离样品盒底盖板3cm。
XRF有害物质检测规范(含表格)
XRF有害物质检测规范（QC080000-2012）1、目的本要求规范了工厂的XRF分析人员、测试样品、XRF设备（含软体）、及XRF测试操作等方面的要求，以提高工厂XRF分析结果的准确性及可靠性，确保工厂及供应商交货之HSF产品符合客户要求。
2、范围本公司产品自设计、零部件采购、生产、成品出货及供货商提供给本公司之零部件，及本公司委托外包厂商制造之产品、零部件皆函盖之。
3、参考资料电子电器产品中有害物质检测样品拆分通用要求 GB/Z 20288-2006客户规范4、定义4.1XRF：X射线荧光分析仪。
4.2HSF：无有害物质。
4.3均质材料：指不能通过机械手段进一步拆分为不同材质的材料，均质材料各部分的组成均相同，例如各种陶瓷、玻璃、合金、纸张、木板、树脂、塑胶及涂料等。
5、作业程序与权责5.1人员要求设备使用人员需定期进定义教育训练，所有与XRF检测分析人员应按照教育训练计划进行适当的内部或第三方培训及必要的考核。
考核合格人员需取得合格证书。
5.1.1人员资格检验操作人员需具备高中或同等学历（含）以上学历，或有累计2年以上类似检测设备操作经验，且经培训合格并取得合格证书。
实验室主管需具备大专（含）以上学历，且已累积3年以上检测设备操作经验或2年以上实验室管理经验。
休假超过两个月的人员，需经重新培训后才能上岗作业。
5.1.2人员培训5.1.2.1XRF相关人员培训方式可为内训、仪器公司或第三方实验室培训，培训时间不得少于6小时。
5.1.2.2培训讲师应具备大专以上学历，或有3年以上类似检测设备操作经验，或实验室主管（或其指定人员）、教材的拟定人员。
5.1.2.3培训内容应包含XRF设备（含软体）的操作，样品的制备，仪器、标准曲线的校正，数据、谱图识别，检测结果判定等。
5.1.2.4参加培训人员应参与理论及实际操作等方面的考核，且考核合格并颁发合格证书后方可参与XRF检测作业。
5.1.2.5与XRF作业有关的培训、考核相关的记录至少完好保存5年。
化学品物料XRF测试规范
化学品物料XRF测试规范（QC080000-2012）1.目的1.1规范化学品来料的检测，以确保所购化学品原材料及用原材料生产的物料通过测试，得到的数值符合客户对产品的环保要求，确保客户收到美好健康的产品。
2.测量范围2.1宜家客户产品所用的化学品原材料。
2.2宜家产品在生产过程中的配料、配件、成枝。
2.3非宜家客户对产品有环保要求，须做测试的原材料。
2.4可测试物料范围：2.4.1塑胶PE类(包括PET、PU、EVA、PVC、)2.4.2色粉类（包括植毛粉）2.4.3涂料类（包括油漆、水性涂料、胶浆、稀释剂、助剂）2.4.4金属类（包括有包胶或有表面涂层的金属）3.测量设备工具及功能3.1XRF测试仪(测试XRF九项：Pb铅As砷Cr铬Br溴Cd镉Hg汞Cl氯Sb锑Sn锡)3.2XRF标准汞样品（机器初始化），3.3塑胶标准样品（测试数据校准）3.4电脑（启动软件进行测试操作，贮存数据及报告）3.5打印机(打印报告用)4.测试环境4.1所有待测试样品都应放置于实验室内相对湿度：50%±3%，温度：23℃±2℃条件下进行。
4.2确保测试期间使机器处于环境条件同样在50%±3%，温度：23℃±2℃范围。
5.测试取样5.1从总仓原材料来料中取样。
5.2从生产过程中随机抽取配料、配件、成枝样品。
5.3其它特别要求测试物料。
6.测试样品要求6.1样品体积要求：不超过450mmx280mmx100mm.6.2样品重量要求：不少于20g6.3对样品的标识要求：注明：抽样日期/客人名称/所用到的产品名称/物料名称/订单号/批次号/供应商/使用部门.以便通知及追溯。
6.4对固体物料及液体物料样品测试要求：6.4.1对固体的物料样品无形态要求6.4.2对液体的物料样品需涂抹在测试板上（白布、玻璃、金属介质）烘烤干后再做测试。
7.测试操作流程7.1.打开电脑，启动XRF测试仪，按XRF测试仪《测试流程图》检查仪器待机状态是否正常.7.2点击电脑桌面上“ROHS”软件图标，进入测试操作界面。
XRF检测作业规范
文件名耦XRF＞测作渠战篇文件编虢文件版本A4 直次第11共4直一、目的：石霍保公司崖品（包括材料，半成品，成品，言殳借及其它物料）符合璟保要求，以便公司封零部件、原材料等内部,幺且成成份含量迤行洌情式；卷原材料的控制、工蓼控制、新崖品提供依摞，以满足世界各阈封璟保法律法规的要求。
二、章隗1、相同身原材料（包括包装材料，裂程附圈材料）皆遹用之；2、客户棣品皆遹用之；3、本公司生崖的所有崖品皆遹用之；4、制程中所涉及到的患错、工/治/模具皆遹用之；三、参考文件：1、《崖品作棠烧靶》2、若相^法律法规及客户要求有建更日寺，剧以最新版及客户要求^准；四、旗惜式言殳借：ELVA X受光光谱倭（XRF）五、^^1、原材料、半成品：由IQC人具迤行送椀。
2、成品：由品保提供送椀。
3、幸甫料：由各罩位提供棣品送椀。
4、GP人最幺更谩言殳借摩商技戊具培金I合格彳灸负！■操作松吸殳借。
六、内容：1材料按HSF凰除等级一霓表迤行椀洌J,送椀日寺必须注明同批棣品的收货罩虢、料虢及摩商名耦。
、幺空椀测合格彳灸才能入廛。
嚏十封三星崖品的材料（含共用材料、辅料）需每批使用XRF迤行RoHS&HF椀洌J。
2制程横洌J ：2.1制程中^^：每天封制程中每^^^的^迤行取棣椀洌J，加招椀测言己爱泰填嘉於《、幺彖色^品椀^^M 表》。
取棣要求：戴上手套，符勺子放入^^中，^^^拌均匀至少10S,刮除^面^渣彳灸，彳他^ 表面用勺子取一小勺（规格直彳至卷27±3mm,厚度不小於5mm的圄形），放入乾浮的^^冷郤。
27 3mm2.2蜀•封三星在制品每天取棣使用XRF迤行RoHS&HF椀测一次，且不可舆其它崖品混洌J。
2.3成品每遇更换遇期彳灸第一批^品椀洌J，同系列、同裂程、同材料檄不重可混洌J。
2.4蜀•封三星崖品出货日寺需每票取棣使用XRF迤行RoHS&HF椀测一次，且不可舆其它崖品混洌J。
文件名耦XRF椀测作渠战46 文件编虢文件版本A4 直次第2直共4直2.5棣品旗惟式面须辗亲隹^、平整；旗惜式面须舆^ （修戴）盆未接斶面。
XRF测试常识
XRF测试常识a) X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。
这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。
该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF。
两个关于XRF光谱仪的实际例子是波长散射型（WDXRF）荧光光谱和能量散射型（EDXRF）荧光光谱仪。
b) X-射线激发源：通常是X-射线管或放射性同位素。
c) X-射线探测器：检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲。
X-射线荧光光谱仪用的探测器必须满足所有波长谱线的需要才能达到表3中列出的测量样品的极限（具体要求见附录）。
仪器/设备和材料X-射线荧光光谱仪（XRF）：由X-射线激发源、样品测试台、X-射线检测器、数据处理器和控制系统。
注：XRF 所用的射线对人体有害，所以所有产生射线的设备应该按照严格的安全程序来操作，另外要做好对试验人员的健康防护。
测试程序光谱仪准备a) 按照仪器的工作指南给仪器通电，加热设备，并按照厂家的指导说明使仪器稳定。
b) 确保测试稳定，按厂家的指导使检测器稳定。
校准a) 根据仪器用户手册的说明，按照7节中的描述去选择参比样品作为校准样品。
样品中元素的浓度必须各不相同。
如果校准覆盖了很多元素，浓度范围跨度很大，就需要很多校准样品。
校准样品的数量因以下原因减少：—用基本参数法校准（元素少于标准物）—用基本参数法校准（用一个相似元素的标准物）—用基本参数法分析加上经验来校准b) 分析方法校准考虑到光谱的干扰、基体效应和其它效应，这些都会影响到光谱中荧光散射强度的确定。
这些影响的列表可以在这章的附件中找到。
c) 为了保证对每个测量元素合格的分析性能，必需通过选择合适的激发参数使仪器处于最佳的测量条件。
这些条件是仪器特有的。
具有代表性地，这些信息可以分析者的指导手册中找到。
d) 作为一般的指导，建议方法的使用者知道相互元素光谱的干扰和样品间的基体的变化会充分影响到每个分析物结果的准确度、精密度和最小检测限。
XRF检测规范
XRF检测规范1.目的本要求规范了XRF检测分析人员、测试样品、XRF设备（含软体)、及XRF测试操作等方面的要求，以提高XRF分析结果的准确性及可靠性，确保公司及供应商交货之HSF产品符合客户要求。
2.范围使用X荧光测试仪的人员培训、操作规范、判定依据、进行测试的所有产品的原材料、辅料、及工装。
3.参考资料本管理规范参照《设备管理工作程序》，其他管理规范在文件适用范围内与本文件不符的，以本文件所述为准。
4.定义XRF: X射线荧光分析仪。
HSF:无有害物质。
均质材料：指不能通过机械手段进一步拆分为不同材质的材料，均质材料各部分的组成均相同，例如各种陶瓷、玻璃、合金、纸张、木板、树脂、塑胶及涂料等。
5.作业程序与权责5.1人员要求设备使用人员需定期进定义教育训练，所有与XRF检测分析人员应按照教育训练计划进行适当的内部或第三方培训及必要的考核。
考核合格人员需取得上岗证。
5.1.1人员资格检验操作人员需具备高中或同等学历（含）以上学历，或有累计2年以上类似检测设备操作经验，且经培训合格并取得上岗证。
休假超过两个月的人员，需经重新培训后才能上岗作业。
5.1.2人员培训5.1.2.1XRF相关人员培训方式可为内训、仪器公司或第三方实验室培训，培训时间不得少于6小时。
5.1.2.2培训内容应包含XRF设备（含软体）的操作，样品的制备，仪器、数据、谱图识别，检测结果判定等。
5.1.2.3参加培训人员应参与理论及实际操作等方面的考核，且考核合格并颁发后上岗证后方可参与XRF检测作业。
5.1.2.4与XRF作业有关的培训、考核相关的记录至少完好保存10年。
5.1.3安全防护XRF检测作业人员需做相应的安全防护，使其免遭辐射危害。
如进行辐射监护、定期体检等。
5.2 XRF检测样品要求同《X荧光光谱仪(XRF)操作规范》制样要求。
5.3 XRF设备要求XRF仪器应符合国际或国家规定并经计量合格的。
其基本组成包括X射线激发源（X光管）、放置样品的样品室、X射线检测器、数据处理系统和仪器控制系统。
金属样品XRF测试流程
金属样品测试流程一、启动仪器（如果仪器已启动则转步骤二）：1.确认仪器供电电源是否正常？2.按下仪器前面板红色电源开关，开关内红色状态灯亮，仪器进行自检。
3.启动电脑系统。
4.双击桌面Elvax 图标，进入软件操作介面。
二、放入测试样品：5.打开上盖。
6.将测试样品放置在检测窗口上，可透过软件上的影像窗口来确认样品的精确放置位置。
7.关下上盖。
电源开关检测窗口样品图像三、检测：8.选择测试条件（如果此处为灰色无法选择，请点击新建按钮），金属为Metals 202（202为仪器编号，不同仪器此编号不一样）。
9.点击START按钮，仪器开始进行样品检测。
10.当看到如右图“测试完成信息”时，点击“确定”完成检测。
11.保存能谱。
START，按下后变为STOP。
自动电流侦测，OK后开始检测。
测试完成保存能谱新建测试条件四：1、计算测试结果：(自动分析)12.点击AnalyzeAutomatically 计算出结果。
13.点击Templates…按钮可以选择导出报告的模板格式。
14.点击Save report按钮导出最终测试报告。
1．选择报告模板2．导出分析报告自动分析四：2、计算测试结果：(手动分析)15.点击PT按钮，弹出元素周期表，选择此样品所含元素，后退出。
16.点击Analyze using selection 计算出结果。
17.点击Templates…按钮可以选择导出报告的模板格式。
18．点击Save report按钮导出最终测试报告。
*手动与自动分析差异：1).自动分析由软件自动分析能谱,计算结果,分析速度快.缺点:无法排除能谱干扰及含量过低漏检问题.2). 手动分析由操作人员通过人工分析能谱图得到样品所含元素,再进行计算的方法,结果精度、准确性高。
缺点：对人员操作熟练程度及分析能力要求高。
3).通常操作是先用自动分析，再通过人员对结果的分析，排除干扰及漏检元素后，再用手动分析方法得出最终结果。
IEC62321 XRF
机械拆分及XRF测试
机械拆分
5 机械制样程序 1. 应用领域
主要描述了电工产品及其附属部件机械制样的通常的方法，具体选 择合适的方法要依靠程序对样品颗粒大小的要求。
2. 质量保证 由于分析结果在样品处理过程中可能会受到污染、挥发、减少，需 要选择合适的设备及清洁程序。实验室应能够通过实验证明机械样品 制备过程并没有使所需分析元素的检测结果直接增加也不会导致这些 元素的减少。实验室还必须通过实验证明清洗机械样品制备的设备可 以防止前面的样品中所需分析元素对后面样品的影响。 可以通过处 理有证标准物质或空白样品来验证。
的数值还需要进一步的研究。术语“3σ”表明分析仪
器的重现性，99.7%的置信度。
20
BL ≤ (700-3σ) < X < (1 300+3σ) ≤ OL
BL ≤ (700-3σ) < X < (1 300+3σ) ≤ OL
Composite LOD < X < (150+3σ) ≤
OL
BL ≤ (500-3σ) < X < (1 500+3σ) ≤ OL
BL ≤ (500-3σ) < X < (1 500+3σ) ≤ OL
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6 XRF光谱筛选法——附件D
D3.结果解释： 1.测试结果合格: Ri<Li-Ui
Ri为每次分析结果、Li控制限、Ui为不确定度
2.测试结果超出管控限: Ri>Li+Ui
( 注：PBB/PBDE 、Cr6+例外）
3.不确定：介于1和2之间：Li-Ui<Ri<Li+Ui
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XRF检测原理
XRF检测原理·12009-11-16 12:29原理（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。
样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。
探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。
然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。
利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。
在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（钠Na）到92号元素（铀U）。
全反射X-光荧光分析仪 (Total-reflection X-ray Fluorescence Spectrometer, TXRF )传统 X-光荧光分析仪 (X-ray Fluorescence Spectrometer, XRF )系利用X-光束照射试片以激发试片中的元素，当原子自激发态回到基态时，侦测所释放出来的荧光，经由分光仪分析其能量与强度后，可提供试片中组成元素的种类与含量，具有快速、非接触、非破坏性及多元素分析等特点；然而X-光荧光分析仪分析的灵敏度受到试片基质散射效应及入射X-光与试片基座反应产生的制动幅射的限制，尔后逐渐发展出全反射X-光荧光分析仪，才大幅提高X-光荧光分析仪的灵敏度。
XRF是一项非破坏性的元素定性和定量分析的技术，其原理是根据被入射X 光提升到激发态的样品，在回复到基态时，所放射的X光荧光，具有因元素种类和含量不同而有不同的波长X光射线的特性。
当X光照射样品时，有两种主要的现象发生，即：散射现象（Scattering）和光电吸收（Photoelectric Absorption）。
前者为当入射X光弹性碰撞到晶体样品中的原子时，入射X光的波长λ，和晶格平面间距d，绕射程度n，以及绕射角度θ，有下列的关系：nλ＝2dsinθ（1）（1）式即为布拉格定律（Bragg's Law）。
x射线荧光光谱法测仪器校验快的astm标准
x射线荧光光谱法（XRF）是一种常用的表面分析技术，广泛应用于材料分析、金属检测、环境监测等领域。
而X射线荧光光谱仪器校验是保证仪器准确性和可靠性的重要环节，ASTM标准作为全球公认的仪器校验标准，对XRF仪器校验具有指导意义。
本文将探讨X射线荧光光谱仪器校验快速化的方法，以ASTM标准为依据，为相关行业提供技术参考。
一、X射线荧光光谱仪器校验的重要性1. 保证测试准确性：XRF仪器的校验可以确保其测试结果的准确性和可靠性，为后续的科研和生产提供可靠数据支持。
2. 提高仪器稳定性：经过定期校验，可以发现并解决仪器中的问题，提高仪器的稳定性和稳定性。
二、ASTM标准在XRF仪器校验中的应用1. ASTM E1621标准：该标准适用于X射线荧光光谱仪器的性能验证和校正，包括仪器的分辨率、计数率稳定性、线性和准确性等方面的要求。
2. ASTM E1755标准：该标准主要涉及X射线荧光光谱仪的校正和性能验证，要求对仪器的灵敏度、线性、分辨率等进行验证和校准。
三、XRF仪器校验快速化的方法1. 校验模块化：将XRF仪器所需的校验项目模块化，可以根据实际情况选择需要进行的校验项目，减少不必要的校验步骤，提高校验效率。
2. 自动化校验：引入自动化设备或软件，对XRF仪器进行快速校验，大大缩短校验时间，提高校验效率。
自动化校验也能减少人为误差，提高校验的准确性。
3. 校验标准化：根据ASTM标准的要求，建立XRF仪器的校验标准化流程和要求，提供标准化校验方案，确保校验的一致性和可追溯性。
四、XRF仪器校验的案例分析通过引入自动化校验设备和校验标准化流程，某公司成功将XRF仪器的校验时间缩短了50，大大提高了校验效率。
校验结果的准确性也得到了有效保障，在生产过程中取得了明显的实际效益。
五、结语X射线荧光光谱仪器校验是保证仪器准确性和可靠性的重要环节，ASTM标准作为全球公认的仪器校验标准，对XRF仪器校验具有指导意义。
XRF测试
XRF测试若干问题：XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。
目前市场上使用较多的是EDXRF。
无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是否存在某种元素，所以具有方便、快捷、不破坏样品、省时省事的优点，非常适用于大批量原材料的验货分析。
但它存在下述问题：第一，XRF只能进行元素分析，而不能进行价态分析。
即它的分析结果包括所有价态的元素总量。
例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金属Cr、三价铬还是六价铬的形式存在，只能给出总铬的含量。
第二，XRF受基体干扰非常严重。
即材料的组成成分对结果影响很大。
一般来说对单纯的材料，如PP、PE、PS、高纯度的金属等，XRF测试结果的误差范围为±30％甚至更低；对复合材料，如PC+ABS、PS+PE、各种合金（含量大于1％的元素超过2种），XRF测试结果的误差范围为40～50％，材料越复杂误差越大。
所以合金的测试结果误差一般要比复合塑胶的测试结果大。
下面以RoHS测试为例，对台式EDXRF测试结果X进行如下解释：元素单纯的塑胶材料单纯的金属材料复合材料Cr X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析Br X＜300ppm，可视为满足要求—— X＜250ppm，可视为满足要求X＞300ppm无法判断是否满足要求—— X＞250ppm无法判断是否满足要求Pb X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求Hg X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求Cd X＜70ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜70ppm，可视为满足要求1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求从上述描述可知，XRF最适合用于材料是否符合法规要求的快速筛选，XRF的测试属于定性半定量测试，XRF的测试结果不能用于符合性判断的准确结果。
XRF膜厚测试仪开机效验流程
XRF膜厚测试仪开机效验流程
XRF光谱仪的主要部件组成为X射线管、光圈、探测器、对焦系统、相机以及样品台。
X射线管是仪器的一部分，产生照射样品的X射线。
光圈是引导X 射线指向样品的装置的第一部分。
XRF仪器中的光圈将决光斑尺寸，正确的光圈选择对精密度和测量效率至关重要。
探测器与相关电子设备一并处理从样品中激发出的X射线。
XRF镀层测厚仪对焦系统确保每次测量中X射线管、零部件和探测器间的X 射线可测量且几何光路连续一致；否则会导致结果不准确。
XRF镀层测厚仪相机帮助用户精确定位测量区域。
某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以精确定位需要测量的区域。
样品可放置于固定或可移动的XRF 镀层测厚仪样品台上。
快速或慢速移动对于找到测试位置至关重要，随后聚焦于准确的区域进行测量。
工作台移动的精准度是带来测试定位准确的一个因素，并进而贡献于仪器的整体准确度。
XRF技术的最小检测厚度为大约1nm。
如果低于这个水平，则相应的特征X射线会淹没于噪声信号中，无法对其进行识别。
最大范围约为50μm左右。
如果在该水平之上，则镀层厚度将导致内层发射的X射线无法穿透镀层而到达探测器。
即厚度的任何进一步增加都不会导致更多的X射线到达探测器，因此厚度达到饱和无法测出变化。
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XRF测试若干问题：
XRF中文称为X射线荧光光谱仪，它包括能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）和波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)，WDXRF在精度和准确度方面要比EDXRF好，价格也较高。
目前市场上使用较多的是EDXRF。
无论是哪种X射线荧光光谱仪，它都是利用荧光散射的原理探测样品中是否存在某种元素，所以具有方便、快捷、不破坏样品、省时省事的优点，非常适用于大批量原材料的验货分析。
但它存在下述问题：
第一，XRF只能进行元素分析，而不能进行价态分析。
即它的分析结果包括所有价态的元素总量。
例如Cr的分析，它分辨不出材料中Cr是以金属Cr、三价铬还是六价铬的形式存在，只能给出总铬的含量。
第二，XRF受基体干扰非常严重。
即材料的组成成分对结果影响很大。
一般来说对单纯的材料，如PP、PE、PS、高纯度的金属等，XRF测试结果的误差范围为±30％甚至更低；对复合材料，如PC+ABS、PS+PE、各种合金（含量大于1％的元素超过2种），XRF测试结果的误差范围为40～50％，材料越复杂误差越大。
所以合金的测试结果误差一般要比复合塑胶的测试结果大。
下面以RoHS测试为例，对台式EDXRF测试结果X进行如下解释：
元素单纯的塑胶材料单纯的金属材料复合材料
Cr X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求
X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析
Br X＜300ppm，可视为满足要求—— X＜250ppm，可视为满足要求
X＞300ppm无法判断是否满足要求—— X＞250ppm无法判断是否满足要求
Pb X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求
1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析
X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求
Hg X＜700ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜500ppm，可视为满足要求
1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析
X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满足要求
Cd X＜70ppm，可视为满足要求X＜700ppm，可视为满足要求X＜70ppm，可视为满足要求
1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1300ppm＞X＞700ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析1500ppm＞X＞500ppm无法判断是否满足要求，需进行化学分析
X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1300ppm可视为不满足要求X＞1500ppm可视为不满
足要求。
从上述描述可知，XRF最适合用于材料是否符合法规要求的快速筛选，XRF的测试属于定性半定量测试，XRF的测试结果不能用于符合性判断的准确结果。