原子吸收光谱法的定量分析方法和测定条件的选择
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
Ax c 当A=0时, k
cx
A kc Ax
A—c曲线
方法
特点
适用范围
注意事项
横 向 比 较
标准 曲线 法
简便、快 速、可扣 除空白值
1.所用标准溶液系列浓度应在 A-C曲线的线性范围内 2.标准溶液与试样溶液要用相 组成简单、 同的试剂处理。 大量试样 3.扣除空白值。 的快速分 4.测定过程中,操作条件不变。 析 5.标准试样的组成应尽量与待 测溶液相同。
670.78,323.26
335.96,328.17 285.21,279.55
Sn
Sr Ta
224.61,520.69
460.73,407.77 271.47,277.59
Cd
Ce
228.80,326.11
520.00,369.70
Mn
Mo
279.48,403.68
313.26,317.04
Tb
Te
标准加入法 直接计算法
取相同体积的试样溶液两份,分别移入容 量瓶A、B中 另取一定量的标准溶液加入到B中,然后将 两份溶液稀释至刻度 测出A、B的吸光度 Ax Ax=k∙Cx cx c0 A0 Ax A0=k(C0+Cx)
外推法
取若干份体积相同的样品溶液 从第二份开始加入不同量的待测元素的标液,稀 释至一定体积,各溶液的浓度分别cx+c1,cx+c2…… 依次测吸光度 做出A-c曲线
一、AAS的定量分析方法
定量依据 标准曲线法
标准加入法
定量依据
强度为 I0 的某一波长的辐射通过均匀的原 子蒸气时,根据吸收定律,有 I I 0 exp( K 0l )
I0 和I分别为入射光和透射光的强度,K0为峰值吸收系数, l为原子蒸气层厚度
当在原子吸收线中心频率附近一定频率范围 Δv测量,则 v I 0 Ivdv
火焰的氧化性随火焰高度 的变化而变化
Mg Ag
Cr
原则:使测量光束从自由 原子浓度最大的火焰区通 过,保证最大的吸收灵敏 度。
相对吸收值 自由原子在火焰中的分布
5.狭缝宽度的选择
单色器分辨能力大,或光源辐射弱或共振线吸收 小,应选择较宽的狭缝宽度。 单色器分辨能力小,火焰的背景发射强,或吸收 线附近有干扰时,应选择较窄的狭缝宽度。 合适的狭缝宽度应通过实验确定 原则:能将吸收线与邻近的干扰线分开
三、思考题
问题1: 标准加入法为什么能消除基体效应?
答:基体效应:试样的物理变化(试液粘度;试样喷 入火焰速率;表面张力:雾滴大小及分布;雾化气体 压力:喷入量;基体元素:原子化效率)。 它们的改变一般可以用一个系数校正。
Ax cx c0 A0 Ax
因此,对浓度测定不会有什么影响。
问题2: 现拟用原子吸收法测定碳灰中微量Si,为了选 择适宜的分析条件,进行了初步试验,当Si浓 度为5.0ug/mL时测得Si251.61nm、251.43nm和 251.92nm的吸光度分别为0.44、0.044和0.022。 试计算各谱线灵敏度,选择最适宜测量的谱 线。
3.火焰的选择
分析线200nm以下采用氢气—空气火焰 易离解的物质用低温火焰 易生成难离解化合物的物质用高温火焰,如乙 炔—空气火焰,乙炔—氧化亚氮火焰。
选定火焰类型后,应通过实验确定燃助比,才可 得到所需特点的火焰。
4.燃烧器高度的选择
火 焰 高 度
各元素在火焰 中都有合适的 测量位置
元素
Ru
Sb Sc Se Si Sm
λ/nm
349.89,372.80
217.58,206.83 391.18,402.04 196.09,703.99 251.61,250.69 429.67,520.06
Be
Bi Ca
234.86
223.06,222.83 422.67,239.86
Li
Lu Mg
原子吸收光谱法中常用的分析线
元素
Ag
Al As Au B Ba
λ/nm
328.07,338.29
309.27,308.22 193.64,197.20 242.80,267.60 249.68,249.77 253.55,455.40
元素
Hg
Ho In Ir K La
λ/nm
253.65
410.38,405.39 303.94,325.61 209.26,208.88 766.49,769.90 move1().13,418. 73
Thank you!
I Iv exp(kvl )dv
0
v
0
使用锐线光源, Δv很小,用中心频率 处K0表示原子对辐射的吸收。
I0 A lg lg I
v
v
0
Ivdv
0
Iv exp( K 0l )dv
lg
v
0
dv
v 0
exp( K 0l ) Ivdv
ห้องสมุดไป่ตู้.43K 0l
解:对于Si251.61nm:C特=5×0.00434/0.44=0.049(ug/mL/1%) 对于Si251.43nm:C特=5×0.00434/0.044=0.49(ug/mL/1%) 对于Si251.43nm:C特=5×0.00434/0.022=0.99(ug/mL/1%) 由于Si251.61nm的灵敏度最高,因此选用 该谱线
432.65,431.89
214.28,225.90
2.灯电流的选择
灯电流过大:发射谱线变宽,自吸收增大,灵敏 度下降,灯寿命缩短。 灯电流过小:辐射锐线光谱窄,灵敏度高,但光 强小,信噪比降低。
通常选择最大灯电流的1/2~2/3为工作电流,实际 实验中,最合适的工作电流需通过试验确定。
原则:在保证稳定和合适光强输出的情况下,尽 量选用最小的灯电流。
标准曲线法
特点 AAS •曲线理论上过 原点,实际上 极谱 •适用 存在干扰 于组 法 成简 单, 大批 AES 量试 样的 测定 •标准曲线容易 •简便、 电位 快速 发生移动(K值 易受T、搅拌速 分析 度、电极表面 法 性质影响)可 代两点标准确 定曲线的位置 定量依据
标准加入法
特点
A kc h kc x
6.放大倍数的选择
原则:在保证最佳灵敏度的前提下,尽量 选择最大的放大倍数
石墨炉原子化条件的选择
合理的选择干燥、灰化、原子化及去残等阶段的 温度和时间
干燥
灰化
原子化
• 水溶液一般在105~120℃ 条件下,有机溶剂稍高 于其沸点即可 • 原则:既能消除试样中的 有机物或基体,又不会造 成被测元素的损失 • 原则:选择可达到待测元 素最大吸光度的最低温度
d VsCshx 波高h成正比 cx (Vx Vs ) H Vxhx
•极限浓度i 与
纵向比较
lg I lg a b lg c
•准确,只适用 于纯物质中低 含量成分分析 •背景干扰很严 重 仅用一种标准 溶液,简单快 速 •有大量络合剂 存在时,测得 是离子总浓度
消除基 体影响, 一定程 度上消 除其它 干扰
成员:杨 靖 邢忠银 班级:应化0902
原子吸收光谱法是基于被测元素蒸气对其原子的共 振辐射吸收,而进行定量分析的方法。
• 大量基体存在,盐蒸发与离解消耗 物理 大量热 干扰 • 待测元素与共存物生成难挥发化合 化学 物
干扰 干扰
干 扰
• 与光源有关的、光谱线重叠干扰、 光谱 与原子化器有关的
在实际工作中,这些干扰问题不可忽视, 某些情况下,干扰甚至是很严重的。
标准 加入 法
1.校正曲线是一条不过原点的 消除基体 曲线 效应,化 2.最少应采用4个点来做曲线 学干扰和 组成复杂, 3.第一份加入的标准溶液浓度 电离干扰,且不完全 与试样浓度应尽量接近 不能直接 确定组分 4.斜率太小的曲线易引起较大 消除背景 的试样 误差 干扰 5.应该扣除试剂的空白值。 (必须是标准加入法的空白值)
E K S lg ai
二、测定条件的选择
分析线 的选择 放大倍 数的选 择
狭缝宽 度
火焰原 子化法 仪器工 作条件
燃烧器 高度
空心阴 极灯电 流
火焰
1.分析线的选择
(1)一般选择最灵敏线(主共振线) (2)最灵敏线受干扰较大或测定高含量元素时,选 择次灵敏线或其它谱线 最适宜的分析线应视具体情况通过实验决定,其 原则是选用干扰小的谱线作为分析线。
由峰值吸收中
基态原 子数
2 K0 vD
In2 e N0 f mc
2
N0 c
A=k·c
标准曲线法
配制一系列已知浓度的标准溶液(可等差可不 等差) 在选定条件下,用空白溶液调吸光度为零。 (扣除空白值) 依次测吸光度A1、A2……An(由低到高) 绘制A-C曲线 测出待测液吸光度A',从曲线上找出对应浓度