两极单极检测型霍尔IC设计指南(中文)

Rev.2.7_00

两极/单极检测型

S-5711A系列霍尔IC

S-5711A系列是采用CMOS技术开发的高灵敏度、低消耗

电流的霍尔IC(磁性开关IC)。

可检测出磁束密度的强弱，使输出电压发生变化。通过与磁

石的组合，可进行各种设备的开/关检测。

由于采用了超小型的SNT-4A或SOT-23-3封装，因此可高

密度安装。同时，由于消耗电流低，因此最适用于便携设备。

特点

•内置斩波放大器

•可选范围广，支持各种应用

极性检测：检测两极、检测S极、检测N极

磁性检测逻辑：动态“L”、动态“H”

输出方式： Nch开路漏极输出、CMOS输出

•宽电源电压范围： 2.4 V ~ 5.5 V

µA 典型值、8.0 µA 最大值

•低消耗电流： 5.0

•工作温度范围：－40°C ~ ＋85°C

磁性的温度依赖性较小

SOT-23-3

•采用小型封装： SNT-4A,

•无铅产品

用途

•手机(翻盖式、滑盖式等)

•膝上型电脑

•数码摄像机

•玩具、游戏机

•家用电器产品

封装

图面号码

封装名

封装图面卷带图面带卷图面焊盘图面SNT-4A PF004-A PF004-A PF004-A PF004-A

－

MP003-Z

MP003-C

SOT-23-3 MP003-C

两极/单极检测型霍尔IC

S-5711A系列Rev.2.7_00 框图

1.Nch开路漏极输出产品

OUT

VSS

*1.寄生二极管

图1

2.CMOS输出产品

OUT

VSS

*1.寄生二极管

图2

两极/单极检测型霍尔IC Rev.2.7_00S-5711A系列 产品型号的构成

1.产品名

(1) SNT-4A

S-5711 A x x x – I4T1 G

封装简称和IC的包装规格*1

I4T1 ：SNT-4A、卷带产品

磁性检测逻辑

L ：动态“L”

H ：动态“H”

极性检测

D ：检测两极

S ：检测S极

N ：检测N极

输出方式

N ：Nch开路漏极输出

C ：CMOS输出

*1.请参阅卷带图。

(2) SOT-23-3

S-5711 A x x x x – M3T1S

封装简称和IC的包装规格*1

M3T1 ：SOT-23-3、卷带产品

磁性灵敏度

无：B OP = 3.8 mT典型值

1 ：B OP = 5.0 mT典型值

磁性检测逻辑

L ：动态“L”

H ：动态“H”

极性检测

D ：检测两极

S ：检测S极

N ：检测N极

输出方式

N ：Nch开路漏极输出

C ：CMOS输出

*1.请参阅卷带图。

两极/单极检测型霍尔IC

S-5711A系列Rev.2.7_00

2.产品名目录

表1

输出方式极性检测磁性检测逻辑磁性灵敏度

(B OP)

SNT-4A SOT-23-3

Nch开路漏极输出检测两极动态“L” 3.8

mT典型值S-5711ANDL-I4T1G S-5711ANDL-M3T1S CMOS输出检测两极动态“L” 3.8

mT典型值S-5711ACDL-I4T1G S-5711ACDL-M3T1S CMOS输出检测两极动态“H” 3.8

mT典型值S-5711ACDH-I4T1G S-5711ACDH-M3T1S Nch开路漏极输出检测S极动态“L” 3.8

mT典型值S-5711ANSL-I4T1G S-5711ANSL-M3T1S CMOS输出检测S极动态“L” 3.8

mT典型值S-5711ACSL-I4T1G S-5711ACSL-M3T1S CMOS输出检测N极动态“L” 3.8

mT典型值－S-5711ACNL-M3T1S Nch开路漏极输出检测两极动态“L” 5.0

mT典型值－S-5711ANDL1-M3T1S CMOS输出检测两极动态“L” 5.0

mT典型值－S-5711ACDL1-M3T1S

备注如果需要除上述以外的选项时，请向本公司营业部咨询。

两极/单极检测型霍尔IC Rev.2.7_00S-5711A系列 引脚排列图

表2

引脚号符号描述

1

VDD

电源端子

2

VSS

GND端子

3

NC*1无连接

4

OUT

输出端子SNT-4A

Top view

4

*1.

NC表示处于电气开路状态。

所以，可以与VDD或VSS连接。

图3

表3

引脚号符号描述

1

VSS

GND端子

2

VDD

电源端子

3

OUT

输出端子

2 3

SOT-23-3

Top view

图4