(整理)光耦检验规范
NO 184 SMD光耦EL357-C进料检验规范
检验方法 测量本体长度
测量本体1、2-3、4PIN脚最大间距
备注பைடு நூலகம்
本体宽度 游标卡尺 万用表 电 性 AC电源 测试治具 耐 压 高压仪
测量本体宽度 用测试治具，对应相关电性检 验标准进行检验。 将高压仪调至DC3750V,正极接 IC的1、2PIN,负极接IC的3、 4PIN,无击穿现象。 PIN脚用烙铁上锡，沾锡良好。
参考资料： ＜＜厂商承认书＞＞ 抽样标准： ＜＜品管部抽样检验作业指导书＞＞
说 明：因需要，单项或多项全检时也可用此标准及方法 版 次：1.0 检验项目 量仪设备 本体长度 游标卡尺
PIN脚间距 游标卡尺
检验标准 ≤4.40mm 7.0± 0.3mm 4.1± 0.2mm 符合相应电性检验标准
A.Q.L% 0.4 0.4 0.4 0.4
包 装
目
1.5
核 准 制 作
检验项目量仪设备检验标准aql检验方法备注本体长度游标卡尺440mm04测量本体长度pin脚间距游标卡尺7003mm04测量本体1234pin脚最大间距本体宽度游标卡尺4102mm04测量本体宽度2
检验规范及方法
品名规格 目 的：
■进料
□制程 □出货
SMD光耦 EL357-C
确保原料品质
文件编号： QD-WI-001-184 页次：1/1 控制级别：机密 制定日期： 2012/10/07 修定日期：
Viso≥3750V
抽10PCS
可焊性
烙 铁
PIN脚沾锡性良好
抽10PCS
外 观
目
1.文字标示清晰,正确 2.PIN脚无刮伤、氧化、变 视 形等现象 3.主体无破损现象 1.内外包装之袋、盒、箱， 标示品名、规格、数量、 视 制造日期，及供应厂商。 2. 内外包装无破损。
光藕检验标准与规范
A类不合格：严重缺点（CRI） AQL：0
B类不合格：主要缺点（MAJ） AQL：0.65
C类不合格：次要缺点（MIN） AQL：1.0
3.常规项目检验标准及检验方法 表一
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
MI
外观
外包装
全数包装
目视全数外包装
5.检验环境
5.1在本标准中，除气候环境试验和可靠性试验外，其他试验均在下述正常大气条件下进行:
温度：10～35℃
相对湿度：35％～75％
大气压力：86～106kPB
5.2在本标准中,所有目视检验均在40W灯管下1.0米处，1.0以上视力距材料15cm检查10S.
6.相关表格
《进料检验报表》
《进料品质异常单》
√
直流电源 电流表
输入与输出端耐压测试
1-2PCS
把高压仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，然后跟据测试条件给光耦测试耐压
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符
√
高压测试仪
输入与输出端绝缘电阻测试
1-2PCS
把绝缘电阻仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，根据条件测试绝缘电阻
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符
√
绝缘电阻测试仪
XXXX股份有限公司
文件编号
版 次
原材料检验标准与规范
修 订 码
生效日期
2016-5-23
原材料名称：光耦
页 码
4/4
续上表一：
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
判别光耦好坏的标准
判别光耦好坏的标准《判别光耦好坏的标准》嘿，你知道吗？在电子世界的奇妙旅程中，光耦就像是一个神秘的“电子小精灵”，而判别光耦好坏的标准，那可就是掌握这个小精灵习性的秘籍呀！要是不搞清楚这些标准，那你在电子领域的探索就好比是盲人摸象，稀里糊涂还不知道问题出在哪呢！“小精灵的健康体检：电阻大考验”在这个小标题下呀，可以这么说：“光耦的电阻就像是它的健康指标，可不能随便超标呀！”电阻是判别光耦好坏的一个重要标准呢。
就像我们体检要检查各项指标一样，光耦的电阻也得符合一定的范围。
如果电阻异常，那这个“小精灵”可能就生病了哦！比如说，当输入和输出端之间的电阻值与正常值相差过大时，这就可能意味着光耦出现了问题。
就好比一个人的血压不正常，那肯定是身体哪里出状况啦！我们可以用万用表等工具来测量电阻，看看这个“小精灵”是不是健康着呢。
“小精灵的活力指数：电流的舞蹈”哇塞，“光耦的电流就像是它的活力源泉，活力满满才是好样的！”电流对于光耦来说可太关键啦！它就像小精灵的能量饮料，得恰到好处才行。
电流过大或过小，都可能让光耦“没精打采”或者“兴奋过度”。
比如，当输入电流不足时，可能导致光耦无法正常工作，就像人没吃饱饭没力气干活一样。
而电流过大呢，又可能会损坏光耦，这就像人吃撑了也难受呀！我们得时刻关注这个“活力指数”，确保光耦能欢快地“舞蹈”。
“小精灵的信号传输：顺畅的通信之路”哈哈，“光耦的信号传输就像是一条高速公路，可不能堵塞呀！”信号的传输对于光耦来说至关重要。
它得像快递小哥一样，把信号准确无误地送达到目的地。
如果信号传输出现问题，比如有衰减、失真等情况，那就好比快递送错地方或者包裹损坏了。
我们要检查光耦在传输信号过程中是否顺畅，有没有受到干扰或者阻碍。
这就像是给高速公路做安检，保障通行无阻。
“小精灵的稳定性：风浪中的坚守”哎呀呀，“光耦的稳定性就像是在风浪中坚守的灯塔，稳稳当当才可靠！”稳定性是判别光耦好坏的一个关键因素呢。
光耦检验
电气特性1、High Level output Current I OH2、Low Level output Current I OL3、High Level output Voltage V OH4、Low Level output Voltage V OL5、输入正向电压V F6、输入级与输出级之间的绝缘电阻Rio7、电流传输比CTR开关特性一、输入特性光耦合器的输入特性实际也就是其内部发光二极管的特性。
常见的参数有：1. 正向工作电压Vf（Forward Voltage）Vf是指在给定的工作电流下，LED本身的压降。
常见的小功率LED通常以If=20mA来测试正向工作电压，当然不同的LED，测试条件和测试结果也会不一样。
2. 反向电压Vr（Reverse Voltage ）是指LED所能承受的最大反向电压，超过此反向电压，可能会损坏LED。
在使用交流脉冲驱动LED 时，要特别注意不要超过反向电压。
3. 反向电流Ir（Reverse Current）通常指在最大反向电压情况下，流过LED的反向电流。
4. 允许功耗Pd（Maximum Power Dissipation）LED所能承受的最大功耗值。
超过此功耗，可能会损坏LED。
5. 中心波长λp（Peak Wave Length）是指LED所发出光的中心波长值。
波长直接决定光的颜色，对于双色或多色LED，会有几个不同的中心波长值。
6. 正向工作电流If（Forward Current）If是指LED正常发光时所流过的正向电流值。
不同的LED，其允许流过的最大电流也会不一样。
7. 正向脉冲工作电流Ifp（Peak Forward Current）Ifp是指流过LED的正向脉冲电流值。
为保证寿命，通常会采用脉冲形式来驱动LED，通常LED规格书中给中的Ifp是以0.1ms脉冲宽度,占空比为1/10的脉冲电流来计算的。
二、输出特性光耦合器的输出特性实际也就是其内部光敏三极管的特性，与普通的三极管类似。
光耦检验规范
奇燁電子(東莞)有限公司
項目
作業規範
名稱
光電耦合器檢驗規範
版次
01
頁次
1/3
1目的:對光電耦合器樣品零件進行規格及性能測試,使其能達到工程設計及生產之品質需求.
2.測試項目:(检查前必须先戴上静电带)
2.1.外觀:
2.1.1測試工具:目視﹑静电带
2.1.2測試方法:在自然光線下,把光電耦合器放在距離眼睛10cm~20cm處正視.
a.表面的丝印标记应清晰正确且符合样板和承认书规格。
b.表面应无崩缺、无裂痕，光耦的引脚应无变形、无粘杂物、无氧化、无生锈。
2.1.3判定:無以上不良為合格.
2.2.尺寸:
2.2.1測試工具:游標卡尺(精確度0.02mm)静电带﹑镊子
a.用萬用表R* 100(或R*1K)檔測量發射管的正﹑反向電阻,應呈單向導電性;再測量發射管的正向壓降.(具體測試方法參見二極管檢驗規範2.3.2.a.b)
b.對于無基極引纖的光電耦合器,需測量C-E极間電阻為無窮大,即穿透電流Iceo=0.對于有基極引纖的光耦還應分別測量接收管的集電極與發射結正.反向電阻,均應單向道通.(具體測試方法參見三極管檢驗規範2.3.2.)
CTR=(Ic/If)×100%=(K2n2/K1n1)×100%式1.2
若選用同一型號的兩塊萬用表且均置于R* 100檔,則并不需要求出Ic.If之值,只要記下表A.表B在測量時的偏轉格數n1.n2,就能迅速﹑準確地計算CTR值.
b.根據承認書和工程設計要求的CTR值作為標準.
2.4.2.3對於除2.2圖中(a)以外的光電耦合器其它功能請參見相關檢驗規範.
光耦好坏的检测方法
光耦好坏的检测方法光耦是一种常见的电子元件，它可以将电信号转换成光信号，或者将光信号转换成电信号。
在电子设备中，光耦的应用非常广泛，例如在电源隔离、信号隔离、电压调节等方面都有着重要的作用。
然而，光耦的质量好坏直接影响到电子设备的性能和稳定性，因此如何检测光耦的好坏成为了电子工程师必须掌握的技能之一。
我们需要了解光耦的结构和工作原理。
光耦由发光二极管和光敏二极管组成，发光二极管将电信号转换成光信号，光敏二极管将光信号转换成电信号。
当发光二极管接收到电信号时，它会发出一束光，这束光会照射到光敏二极管上，光敏二极管会产生电流，从而实现信号的转换。
因此，我们可以通过检测光耦的发光和光敏二极管的电流来判断光耦的好坏。
我们需要准备一些工具和设备。
检测光耦需要用到万用表、示波器、光源等设备。
其中，万用表可以用来测量光敏二极管的电流，示波器可以用来观察光耦的输出波形，光源可以用来照射光耦，以检测其发光情况。
接下来，我们可以采用以下方法来检测光耦的好坏：1. 测量光敏二极管的电流将光耦的正极和负极分别接到万用表的电流档位上，然后用光源照射光耦，观察万用表的读数。
如果光敏二极管的电流正常，说明光耦工作正常；如果电流过小或者没有电流输出，说明光敏二极管可能损坏或者光源不足，需要更换或者调整。
2. 观察光耦的输出波形将光耦的正极和负极分别接到示波器的输入端，然后用光源照射光耦，观察示波器的输出波形。
如果波形正常，说明光耦工作正常；如果波形失真或者没有输出，说明光耦可能损坏或者接线不良，需要检查和修复。
3. 检测光耦的发光情况将光耦的正极和负极分别接到电源上，然后用眼睛观察光耦的发光情况。
如果发光正常，说明光耦工作正常；如果没有发光或者发光不足，说明发光二极管可能损坏或者电源不足，需要更换或者调整。
检测光耦的好坏需要结合多种方法和设备，需要仔细观察和分析，以确保光耦的质量和性能。
在实际工作中，我们还需要注意保持设备的清洁和维护，避免灰尘和污垢对光耦的影响，以保证检测结果的准确性和可靠性。
光藕检验指导书
日期：
检验指导书
机型
适用于通用产品
工序时间
无
工序名称
光藕检验
工序编号
无
测试工具/仪器：光耦测试仪或直流稳压电源、高精度万用表、
示波器
检验员
IQC
图示：
最大集电极直流电流
光耦不击穿
将光耦与合适的负载电阻串联，（有基极引线光
耦：输出端光电晶体基极开路），使光敏晶体管集电极通过规定的最大集电极直流电流IC
检验指导书
机型
适用于通用产品
工序时间
无
工序名称
光藕检验
工序编号
无
测试工具/仪器：光耦测试仪或直流稳压电源、高精度万用表、
示波器
检验员
IQC
图示：
检验步骤及内容
1、对单、抽样：
.根据货仓开出的IQC品检报告单或上料单，核对上料供方是否为合格供方,再查找相应订单和产品制造标准书，
核实相应机型和数量。
.取待检物料，准备检验工具/仪器，对照相应产品制造标准书，参照样板或规格承认书，以IQC检验标准为依据，按AQL：0.4/1.0均匀抽样。
1、物料送检时要及时检验。
2、所照参样板必须为合格样板。
3、引脚表面有氧化发黑时需做耐温/可焊性试验进行进一步确认。
★开通时间
应符合产品规格书要求
将光耦接入规定的试验电路，规定电路电源电压
或光电晶体集电极－发射极电压、集电极电流、负载电阻，测量光耦开通时间
6、判定/标识：
将不良品标识清楚并及时隔离，以物料检验报告单的形式交由上级处理。将PASS好的物料做好标识放入指定区域，并做好相关记录。
2、包装/外观检查：
.包装应合理，有无按常规或指定材料包装（以不伤物料本体为原则），重点检查方向要统一。
光耦检验标准
标识不准确。
V
4
外观
本体无变形、破损、污迹、缺Pin现象。
目视
本体有变形、破损、污迹、 缺Pin现象。
V
Pin脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。
Pin脚有弯曲成螺旋状、折 痕现象。
V
Pin脚无氧化、吃锡良好。
Pin脚有氧化、吃锡不良。
V
字体清晰易辩识，不能有模糊不 清。
无法辩识。
V
尚可辨识。
V
5
目视
有混料现象。
V
备注
本检验标准未尽项目，需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的检验项 目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
光耦检验标准
文件名称
光耦检验标准
生效日期
页码
1of1
使用状态
文件编号
版本
A/ 0
审核
拟定
目的
确保本公司电子兀器件---光耦品质符合客户要求。
范围
适应于电子兀器件---光耦进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次H级正常检验；CR=0;MA=1.0;Ml=2.5。
检验环境
在正常光源条件下，距离30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。
参照标准
1、GB/T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。序 号Fra bibliotek检验 项目
接收标准
检验 方法及
工具
缺陷描述
缺陷等级
致命
(CR)
严重
(MA)
轻微 (MI)
1
VF
符合技术要求。
电源 电压表
不符合技术要求。
V
2
电流转 换比
光耦检验规范
XXXXXXX有限公司
光耦检验规范
文件编号： 生效日期： 编制： 审核 ： 批准： 受控章： 版本/修订号： 使用部门：品管部
1.检验目的：
为使光耦来料符合本厂之产品要求，特制定检验和判定标准。
2.适用范围：
本标准适用于本公司入料产品，包括公司内部生产和发外加工的产品。
3.检验依据：
《进货单》.《材料样品承认书》.抽样计划《MIL-STD-105E》
4.名词定义：
CR严重缺点：使用者在使用产品或靠近产品时有安全上的顾虑。
MA主要缺点：使用者在使用产品时有功能性(电气.机构)问题发生或是降低产品在功能上的使用。
MI次要缺点：不会显著的影响或是降低产品价值。
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则背景随着现代工业的不断发展，对于电气设备的需求越来越高。
而在电气设备的使用中，往往涉及到电气隔离的问题。
为了保障电气设备的安全性，采用光电耦合器进行电气隔离已经成为目前常用的一种方式。
然而，由于各种因素，光电耦合器存在使用不当或者质量问题，可能导致电气设备的安全性受到威胁。
因此，对于光电耦合器的安全检验实施细则显得尤为重要。
检验方法1. 外观检查首先，需要对光电耦合器的外观进行检查。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的型号及规格是否与设计一致•检查光电耦合器的外壳，确认是否存在破损、变形、裂缝等情况•检查光电耦合器的端子、插座是否完好无损，接触是否良好2. 电性能检查电性能检查是检验光电耦合器是否正常工作的关键环节。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器是否与电源、接收器连接正确•检查光电耦合器的工作电压是否与设计一致•检查光电耦合器的漏电流是否符合标准•检查光电耦合器的开通、关断时间是否达到标准3. 耐压性能检查耐压性能检查是对光电耦合器的安全性进行审查的重要环节。
主要是通过模拟实验来检测光电耦合器的耐压性能，并比对是否符合标准要求。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的工作电压•在设计工作电压面前施加高压电，观察是否发生电弧、击穿等现象，对光电耦合器进行不小于5min的耐压试验•检查耐压试验后光电耦合器的外观和电性能是否正常4. 终端性能检查终端性能检查主要是检验光电耦合器和信号源之间的联系，保证信号源能准确地接收光电耦合器的信号。
主要包括以下内容：•确认光电耦合器的端子和信号源的接口是否配套•在信号源工作情况下，检查光电耦合器能否正常输出幅值、带宽、稳定性等信号指标制定依据本文档制定依据主要来自以下标准：•GB/T 18802.1-2015 机电产品与设备电气装置用光电耦合器第1部分：一般规定•GB/T 18802.2-2015 机电产品与设备电气装置用光电耦合器第2部分：性能试验方法结论通过上述检验方法的实施，能够全面、综合地检验光电耦合器的安全性和可靠性。
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则
安全电气隔离用光电耦合器安全检验实施细则1. 引言安全电气隔离用光电耦合器是用于实现电气隔离的重要设备，其稳定性和可靠性对于保障电气设备的安全运行至关重要。
为了保证其性能和质量，需要进行定期的安全检验。
本文档旨在提供安全电气隔离用光电耦合器安全检验的实施细则，以指导工程师进行检验操作。
2. 检验范围安全电气隔离用光电耦合器的安全检验主要包括以下方面：1.外观检查：检查光电耦合器的外观是否完好无损、无锈蚀等情况。
2.电气参数测试：测量光电耦合器的输入输出电阻、输入输出电流和输入输出电压等参数。
3.绝缘测试：通过绝缘电阻测试，评估光电耦合器的绝缘性能是否符合要求。
4.温升测试：在正常工作条件下测量光电耦合器的温度升高情况，确保其工作温度在安全范围内。
5.安全间隔测试：通过对光电耦合器的输入输出端进行带电间隔测试，验证其电气隔离性能是否合格。
6.阻燃性能测试：对光电耦合器进行阻燃性能检验，判断其受热后的自燃蔓延情况。
3. 检验设备进行安全电气隔离用光电耦合器安全检验时，需要准备以下仪器和设备：1.数字万用表：用于测量电阻、电流和电压等电气参数。
2.绝缘电阻测试仪：用于测量绝缘电阻。
3.温度计：用于测量光电耦合器的温度升高情况。
4.带电间隔测试仪：用于进行带电间隔测试。
5.阻燃性能测试仪：用于检测光电耦合器的阻燃性能。
4. 检验步骤4.1 外观检查1.检查光电耦合器的外壳是否存在明显的损坏、变形或锈蚀等情况。
2.检查连接器和插座的安装是否牢固，插座中的引脚是否变形或松动。
4.2 电气参数测试1.使用数字万用表测量光电耦合器的输入输出电阻。
将万用表的测量量程调至适当范围，通过接触电极测量输入输出电阻值，并记录结果。
2.测量光电耦合器的输入输出电流。
根据实际情况选择合适的接线方式，使用数字万用表测量输入输出电流，并记录结果。
3.测量光电耦合器的输入输出电压。
在合适的电路接线下，使用数字万用表测量输入输出电压，确保其值在规定范围内，并记录结果。
光电耦合器检查基准书
光电耦合器检查基准书
（ISO9001-2015/IATF16949）
1.0目的：
规范光电耦合器的检验标准，确保检验工作有充分依据。
2.0范围
此标准适用于光电耦合器检验，其中斜体字部分，因当前测试设备所限，暂不强制要求检验。
3.0职责
质量控制部依据本检验标准进行光电耦合器检验。
4.0定义
4.1缺陷类别分为：严重缺陷缺陷（CR）、主要缺陷（MA）和次要缺陷（MI）；
4.2严重缺陷（CR）：不符合安全规范或可能对使用者、维护者造成人身危害的缺陷；
4.3主要缺陷（MA）：关键质量特性不合格，影响生产并可能导致故障或降低产品性能的缺陷；
4.4次要缺陷（MI）：一般质量特性不合格，但不影响使用功能及性能的缺陷。
5.0检验条件
5.1光照度：300-400LX(相当于40W日光灯500mm~600mm距离的光源)
5.2检验距离：550mm-650mm
5.3检验人员视力要求在0.8以上
6.0检验标准
备注：尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准。
7.0抽样方案与判定标准
外观检验抽样方案按GB/T2828.1-2013标准，正常检验一次抽样方案，一般检验水平Ⅱ，AQL:致命缺陷（CR）=0 重缺陷（MA）=0.65 轻缺陷（MI）=1.5。
尺寸及其他特性测试5-10PCS，0收1退。
取样方式：采取分散取样方式，5箱以内，每箱都应取样；超出10箱，按（5+总箱数÷5）箱进行分散取样。
注：有关抽样标准或判定标准可视客户的要求做修订。
光电耦合器检测方法
光电耦合器检测方法由于光电耦合器的组成方式不尽相同，所以在检测时应针对不同的结构特点，实行不同的检测方法。
例如，在检测一般光电耦合器的输入端时，一般均参照红外发光二极管的检测方法进行。
对于光敏三极管输出型的光电耦合器，检测输出端时应参照光敏三极管的检测方法进行。
1.万用表检测法。
这里以MF50型指针式万用表和4脚PC817型光电耦合器为例，说明详细检测方法：首先，根据图1（a）所示，将指针式万用表置于“R×100”（或“R×1k”）电阻挡，红、黑表笔分别接光电耦合器输入端发光二极管的两个引脚。
假如有一次表针指数为无穷大，但红、黑表笔互换后有几千至十几千欧姆的电阻值，则此时黑表笔所接的引脚即为发光二极管的正极，红表笔所接的引脚为发光二极管的负极。
然后，根据图1（b）所示，在光电耦合器输入端接入正向电压，将指针式万用表仍旧置于“R×100”电阻挡，红、黑表笔分别接光电耦合器输出端的两个引脚。
假如有一次表针指数为无穷大（或电阻值较大），但红、黑表笔互换后却有很小的电阻值（＜100Ω），则此时黑表笔所接的引脚即为内部NPN型光敏三极管的集电极c、红表笔所接的引脚为放射极e。
当切断输入端正向电压时，光敏三极管应截止，万用表指数应为无穷大。
这样，不仅确定了4脚光电耦合器PC817的引脚排列，而且还检测出它的光传输特性正常。
假如检测时万用表指针始终不摇摆，则说明光电耦合器已损坏。
图1光电耦合器的检测需要说明的是：光电耦合器中常用红外发光二极管的正向导通电压较一般发光二极管要低，一般在1.3V以下，所以可以用指针式万用表的“R×100”电阻挡直接测量，并且图1（b）中的电池G电压取1.5V （用1节5号电池）即可。
还可用图1（a）所示的万用表接线直接取代图1（b）所示的输入端所接正向电压（即电阻器R和电池G），使测量更便利，只不过需要增加一块万用表。
至于多通道光电耦合器的检测，应首先将全部发光二极管的管脚判别出来，然后再确定对应的光敏三极管的管脚。
光耦测量方法
用两个万用表就可以测了。
光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。
如光电耦合器４Ｎ２５，采用ＤＩＰ－６封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的ｅ、ｃ、ｂ极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。
这里以光耦４Ｎ２５为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
１．判断发光二极管好坏与极性：用万用表Ｒ×１ｋ挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。
测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
２．判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管ｈＦＥ挡，使用ＮＰＮ型插座，将Ｅ孔连接④脚发射极，Ｃ孔连接⑤脚集电极，Ｂ孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。
一般通用型光耦ｈＦＥ值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。
３．光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。
这时，表内基准电压２．８Ｖ经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的ｃ、ｅ结之间。
但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。
当输入端②脚插入Ｅ孔，①脚插入Ｃ孔的ＮＰＮ插座时，表内基准电源２．８Ｖ经表内三极管ｈＦＥ挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到１８８的示值。
当断开①脚阳极与Ｃ孔的插接时，显示值瞬间从１８８示值又回到溢出符号。
不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。
由于表内多使用９Ｖ叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。
817是常用的线性光藕，在各种要求比较精密的功能电路中常常被当作耦合器件，具有上下级电路完全隔离的作用，相互不产生影响。
光耦检验标准
4
耐压
输入与输出端耐压DC5000V/1min/1mA(具体参照相应的承认)
*
5
可焊性
温度260±5℃，时间5±1S，上锡表面光滑，无起珠和波纹状
*
6
封装
封装符合要求(参照样板)
*
7
包装
7.1包装牢固，符合要求，能保护好产品不受损坏
*
7.2标识正确，有物料编号，品名，规格型号，数量，出厂日期பைடு நூலகம்信息
制定：
审核：
核准：
品管（IQC）检验标准书
CT-QM-032
芯科电子科技有限公司
文件名称
光耦检验规范
检验标准
编号
CT-QM-032
版本
A/0
日期
2009-11-9
页次
1
NO
检查项目
检验内容
判定水准
CR
MA
MI
1
外观
1.1整体外观清洁无污，引脚无氧化、无损坏
*
1.2型号丝印、标识正确，印字清晰（对比样板）
*
1.3不得混有其它型号的产品
*
2
尺寸
尺寸(长、宽、高、脚距、直径)符合要求(参照承认书和样板)
*
3
电气
特性
3.1 VF=1.2-1.4V/IF=20mA(具体参照相应的承认)
*
3.2 IR≤10uA/VR=4V(具体参照相应的承认)
*
3.3 Vceo≥35V/Ic=0.1mA(具体参照相应的承认)
*
3.4 Vce(sat)≤0.2V/IF=20mA,IC=1mA(具体参照相应的承认)
*
3.5工装测试功能正常,指示灯正常点亮(工装输入DC5V)
新手必看 光耦的使用原则与检测方式
新手必看光耦的使用原则与检测方式
光耦在电路中的作用是对光电进行转换的同时防止电路之间互相产生干扰。
在电子电路设计中是非常常见但也非常重要的一种器件。
本文将为大家介绍光耦在电路中的主要作用以及如何对光耦进行检测，最后附上光耦的使用原则。
作用
对输入、输出电信号起隔离作用，光耦合器一般由三部分组成：光的发射、光的接收及信号放大。
输入的电信号驱动发光二极管（LED），使之发出一定波长的光，被光探测器接收而产生光电流，再经过进一步放大后输出。
这就完成了电—光—电的转换，从而起到输入、输出、隔离的作用。
由于光耦合器输入输出间互相隔离，电信号传输具有单向性等特点，因而具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力。
又由于光耦合器的输入端属于电流型工作的低阻元件，因而具有很强的共模抑制能力。
检测
1、用万用表判断好坏，断开输入端电源，用R×1k档测1、2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，3、4脚间电阻应为无限大。
1、2脚与3、4脚间任意一组，阻值为无限大，输入端接通电源后，3、4脚的电阻很小。
调节RP，3、4间脚电阻发生变化，说明该器件是好的。
注：不能用
R×10k档，否则导致发射管击穿。
2、简易测试电路，当接通电源后，LED不发光，按下SB，LED会发光，调节RP、LED的发光强度会发生变化，说明被测光电耦合器是好的。
使用原则
1、光耦合器的电流传输比（CTR）的允许范围是50%～200%。
这是因为。
3光耦测试规范
实验方法及步骤：取样品光耦按电路图连接如下，调整R1，使A1读数为5mA ，此时读取A2，则CTR=A2/A1*100%。
（R1、R2的取值要使R1/R2大于CTR ），算出CTR 后跟规格书进行比对，看是否满足规格书要求和整表要求。
4、 耐压测试：实验设备：耐压测试仪实验方法及步骤：给光耦施加规格书上规定的耐压值，漏电流1mA ，时间1min ，实验过程中应无击穿、飞弧现象，实验结束后光耦应能正常使用。
5、 绝缘电阻测试：实验设备：兆欧计（1000VDC ）实验方法及步骤：按照兆欧计测试方法测试出绝缘电阻，要满足规格书要求。
6、 高低温测试：实验设备：高低温箱，万用表，稳压源，可调电阻实验方法及步骤：1） 将光耦放入环境实验箱，温度调至80℃，稳定2小时后进行CTR 测试，记录下CTR值；2） 将光耦焊接到整表上，整表放入环境实验箱，温度调至80℃，稳定2小时，进行485通信，测试每一种波特率通讯是否正常；3） 将光耦放入环境实验箱，温度调至-40℃，稳定一段时间后进行CTR 测试，记录下CTR 值；4） 重复步骤2）。
7、极限工作环境测试：实验设备：整表、高低温箱、台体实验方法及步骤：将换上新光耦的整表（必须为载波表）放入高低温箱，施加1.15倍额定电压和最大电流，将表计的脉冲、时钟、485端子都引线出来，温度设置成80℃，时间4小时，电量要求正常计量，误差正常，时钟输出正常，485通信正常。
8、整机验证：实验设备：整表实验方法及步骤：将光耦样品装入表中，做性能实验，主要关注耐压、群脉冲，实验后的485通信、时钟输出、脉冲输出。
A2 R1R2 VccVccA1。
QSI-042.光耦检验规范
要求或另有規范時﹐依客戶規定執行。 3.定义
3.1.致命缺陷（CR）:对产品的使用，维护容易造成危害或不安全状况的缺陷，或妨碍重要工作性能的缺陷。 3.2.主要缺陷（MAJ）:产品容易造成故障或大大降低单位产品预定可用性的缺陷，或对制程造成不易排除
良好，标签能清晰识别 相应的 P/N,供应商,规 格型号,品名,物料合 格状态,生产日期等内
容，标示正确。
目视 目测
E1.3 本体
1、无破损 PIN 脚无断 裂、变形、氧化不良。 2、光耦丝印、极性标 志正确、清晰与样品一 致。
E2
尺寸与规格一致 依据图纸检验。
测量 卡尺
缺陷等级 CR MAJ MIN
2010.7.17
PREPARED 制订
刘礼鹏
APPROVED 核准
黄孝春
DEPT 部门
QM
DEPT 部门
IQC
QTY 份数
1DEPT 部门来自DISTRIBUTION TO DEPTS 分发部门
QTY 份数
DEPT 部门
QTY 份数
DEPT 部门
QTY 份数
DEPT 部门
QTY 份数
CONFIDENTIALITY 保密等级 （ ）TOP CONFIDENTIAL 绝密
之影响之缺陷。 3.3.次要缺陷（MIN）:与承认书，样品，图纸要求有差异，但不严重降低单位产品的预定的可用性，或不
严重违背规定的标准，仅轻微地影响单位产品有效使用和操作的缺陷或该缺陷易于排除者。 4.权责
IQC 检验员﹕ 依据本作业书对来料进行检验。必要时可参考承认书。 工程师或工程师级别以上职员:拟定和更新作业指导书。 5.作业规定 5.1 抽样标准依据 GB/T 2828.1-2003 抽样计划执行。 5.2 允收水准：CR=0，MAJ=0.65，MIN=1.0 5.3 对于量产的来料必须有有效之承认书。 6.参考文件 6.1.GB/T 2828.1-2003 6.2. 承认书
光耦国标执行标准
光耦国标执行标准光耦是一种将输入光信号转化为输出电信号的光电子装置，广泛应用于电子产品、通信设备等领域。
为了规范光耦的制造和应用，光耦国标执行标准被制定并得到全面执行。
本文将就光耦国标执行标准进行详细介绍。
一、引言光耦国标执行标准是国家针对光耦制造和应用制定的一系列标准，旨在确保光耦产品的质量与安全性。
光耦国标执行标准由国家标准化管理委员会制定，并经相关机构认可和颁布。
二、标准内容概述1. 光耦产品分类根据不同的应用场景和功能特点，光耦产品被划分为多个分类。
光耦国标执行标准细化了各类光耦产品的技术要求和测试方法，以确保其在不同应用场景下的可靠性和稳定性。
2. 材料选择和制造工艺规范光耦国标执行标准对光耦产品的材料选择和制造工艺进行了规范。
这包括了光耦外壳、光电芯片、封装材料等方面的要求，旨在保证光耦产品的质量和可靠性。
3. 光学参数测试光耦国标执行标准中还包含了对光耦产品光学参数的测试方法和标准。
这些光学参数包括光电转换比、截止频率、光照度等，通过测试确保光耦产品的性能指标符合要求。
4. 电学参数测试光耦国标执行标准对光耦产品的电学参数进行了详细的测试方法和标准规范。
这些参数包括输入电流、输出电压、绝缘电阻等，通过测试可以准确评估光耦产品的电性能。
5. 可靠性和环境试验光耦国标执行标准还对光耦产品的可靠性和环境适应性进行了规范。
这包括了温度循环试验、湿热试验、冲击试验等，以验证光耦产品在不同环境条件下的可靠程度。
三、标准的实施和推广为了确保光耦国标执行标准的实施和推广，相关部门和企业需要加强标准宣传和培训。
同时，对于不符合标准的产品，需要进行整改或淘汰，以保护消费者的权益和安全。
四、标准的优势与不足光耦国标执行标准的制定和实施有助于提高光耦产品的质量和可靠性，推动行业的发展。
然而，个别标准的更新速度和缺乏创新性也是需要关注的问题，需要与时俱进。
五、结论光耦国标执行标准的制定和实施对于推动光耦行业的发展具有重要意义。
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2.4.2.2(CTR電流傳輸比)測試工具要求:静电带、萬用表兩塊(需選同一型號).
公式1.1CTR=(Ic/If)×100%(Ic為輸入電流.If為輸出電流.)
如下圖:
a.設表A﹑表B代表兩塊萬用表,均拔至R*100檔,電流比例系數分別為K1.K2.被測光電耦合器為PC817型.先不接表A,只將表B的黑表畢接第4腳,紅表畢接第3腳,因接收管呈截止狀態,故電阻讀數為無窮大.然後接上表A,其黑表畢接1腳,紅表畢接2腳.此時觀察到表B的讀數從無窮大迅速減小到幾百歐,說明接收管已導通.在同樣測試條件下(測試環境不變),指針偏轉角度愈大,證明光電耦合器的CTR值愈高.設測量時表A.表B的正向偏轉格數分別為n1.n2,利用測負載電流法得到:If=K1n1,Ic=K2n2,代入公式1.1中
CTR=(Ic/If)×100%=(K2n2/K1n1)×100%式1.2
若選用同一型號的兩塊萬用表且均置于R* 100檔,則并不需要求出Ic.If之值,只要記下表A.表B在測量時的偏轉格數n1.n2,就能迅速﹑準確地計算CTR值.
b.根據承認書和工程設計要求的CTR值作為標準.
2.4.2.3對於除2.2圖中(a)以外的光電耦合器其它功能請參見相關檢驗規範.
2.2.3判定:實測尺寸值符合工程設計要求且與承認書相符為合格.
（三）安全评价的内容和分类2.3.耐溫測試:
2.3.1測試工具:静电带﹑電錫爐﹑鑷子
本章中环境影响评价制度，2010年的真题中全部集中在环境影响评价这一节。环境保护的对象，环境影响评价制度，环境影响评价文件的组成、文件的报批等是历年考试的热点。2.3.2測試方法:取待測試樣品進行測試,將電錫爐溫度調至260±20℃,將光電耦合器引腳放入電錫爐加熱3~~5秒鐘.
2.5.3判定:相應功能符合工程設計要求且與承認書相符為合格
核準
審核
制定
江渭萍
日期
2006.01.05
文件編號:WI-02-009
2.环境影响评价工作等级的划分依据2.3.3判定:表面無裂痕,無碳化,引腳無松動判定為合格.
二、安全预评价2.4基本功能測試:
1.直接市场评估法2.4.1測試工具:静电带、萬用表.
2.4.2測試方法:
报告内容有：建设项目基本情况、建设项目所在地自然环境社会环境简况、环境质量状况、主要环境保护目标、评价适用标准、工程内容及规模、与本项目有关的原有污染情况及主要环境问题、建设项目工程分析、项目主要污染物产生及预计排放情况、环境影响分析、建设项目拟采取的防治措施及预期治理效果、结论与建议等。核準
第二节 安全预评价
審核
A.环境影响报告表
制定
江渭萍
日期
1）直接使用价值。直接使用价值（DUV）是由环境资源对目前的生产或消费的直接贡献来决定的。2006.01.05
2.早期介入原则；文件編號:WI-02-009
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光電耦合器檢驗規範
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2.4.2.1(基本測試)
a.用萬用表R* 100(或R*1K)檔測量發射管的正﹑反向電阻,應呈單向導電性;再測量發射管的正向壓降.(具體測試方法參見二極管檢驗規範2.3.2.a.b)
b.對于無基極引纖的光電耦合器,需測量C-E极間電阻為無窮大,即穿透電流Iceo=0.對于有基極引纖的光耦還應分別測量接收管的集電極與發射結正.反向電阻,均應單向道通.(具體測試方法參見三極管檢驗規範2.3.2.)
a.表面的丝印标记应清晰正确且符合样板和承认书规格。
b.表面应无崩缺、无裂痕，光耦的引脚应无变形、无粘杂物、无氧化、无生锈。
2.1.3判定:無以上不良為合格.
2.2.尺寸:
2.2.1測試工具:游標卡尺(精確度0.02mm)静电带﹑镊子
2.2.2步驟:對所測試樣品的长、宽、高、管脚大小及管脚间距進行測量.
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光電耦合器檢驗規範
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1目的:對光電耦合器樣品零件進行規格及性能測試,使其能達到工程設計及生產之品質需求.
2.測試項目:(检查前必须先戴上静电带)
2.1.外觀:
2.1.1測試工具:目視﹑静电带
2.1.2測試方法:在自然光線下,把光電耦合器放在距離眼睛10cm~20cm處正視.
2.4.3判定:測試產品性能符合承認書和工程設計要求判定合格
核準
審核
制定
江渭萍
日期
2006.01.05
文件編號:WI-02-009
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光電耦合器檢驗.5.電氣性能測試:
2.5.1測試工具:與之相對應的PCB成品板、静电带
2.5.2測試步驟:根據工程設計要求和電路所具有的相應功能進行判定.