粗糙度计量基础 PPT

波纹度波长 = 8.0 mm
2CR 粗糙度滤波效果
粗糙度幅值 = 15µ m
Filters
0.25 mm取样长度滤波
粗糙度波长 = 0.25 mm
波纹度幅值 = 0µ m
2CR 粗糙度滤波效果
粗糙度幅值= 4µ m
Filters
0.08 mm取样长度滤波
粗糙度波长 = 0.25 mm
波纹度幅值 = 0µ m
未滤波图形
X
更进一步的信息
粗糙度幅值 = 20µ m
波纹度幅值 = 100µ m
滤波
未滤波图形
粗糙度波长 = 0.25 mm
滤波的效果
波纹度波长 = 8.0 mm
粗糙度幅值 = 20µ m
滤波
8.0 mm 取样长度滤波
粗糙度波长 = 0.25 mm
波纹度幅值 = 75µ m
波纹度波长 = 8.0 mm
导头
测量方向 (X) 测头移动 (Z)
导头基准
测量基准
• 降低振动的影响 • 不需要表面调平 • 仪器便携性 • 牢固的设计
使用导头基准的优点
测量基准
H1
H2
实际高度
测量高度
测头到导头间隔对测量的影响
测量基准
测量结果 P-V = 0µm
P-V = 10µm 测头到导头间隔对测量的影响
测量基准
滤波
形状
取样长度
参数
Ra,Rq,Rz 等...
粗糙度滤波
滤波
形状
取样长度
参数
Wa,Wq,Wz etc...
波纹度滤波
滤波 • ISO 2CR 滤波器 • 2CR PC滤波器 •Gaussian高斯滤波器
电子和数字滤波器
滤波
未滤波图形
ISO 2CR 滤波后的图形
ISO 2CR 滤波器
更进一步的信息
表面粗糙度 计量
泰勒•霍普森有限公司 演示中心
© 2000 Taylor Hobson Ltd
1. 为什么要测量表面粗糙度? 2. 测量方法 3. 测量基准 4. 表面再现 5. 术语 6. 滤波 7. 参数
目录
8. 承载区域 (材料比) 9. Rk 参数 10. 形状测量 11. 标定方法 12. Conics and Aspherics. 13. 三维测量 14. Drawing Indication.
滤波
由滤波建立的中线
相对于滤波中线经修正后的图形
ISO 2CR 滤波的效果
滤波
未滤波图形
2CR PC滤波后的图形
2CR PC 滤波器
滤波
由滤波建立的中线
相对于滤波中线经修正后的图形
ISO 2CR PC 滤波器
滤波
未滤波图形
高斯滤波器
高斯滤波后的图形
滤波
Z
图形滤波
取样长 度
中线
取样长度
高斯滤波器
2CR 粗糙度滤波效果
粗糙度幅值 = 20µ m
Filters
2.5 mm取样长度滤波
粗糙度波长 = 0.25 mm
波纹度幅值 = 24µ m
波纹度波长 = 8.0 mm
2CR 粗糙度滤波效果
粗糙度幅值 = 20µ m
Filters
0.8 mm取样长度滤波
粗糙度波长 = 0.25 mm
波纹度幅值 = 2µ m
粗糙度计量基础
日程安排
3月28日 3月29日
09:30-11:30 11:30-12:30 13:00-16:30
09:30-11:30 11:30-12:30 13:00-16:30
粗糙度计量学 午餐 英国泰勒·
内容
圆度计量学 午餐 英国泰勒·
英国泰勒·霍普森有限公司
上海代表处 (5人) 北京代表处 (3人) 上海维修站 (5人) (上海演示中心)
为什么需要测量表面粗糙度?
生产过程控制 预测工件的表现 监控零件的性能
为什么需要测量表面粗糙度? 理想的情况
为什么需要测量表面粗糙度? 实际情况 – 生产过程控制
为什么需要测量表面粗糙度? 预测工件的表现
为什么需要测量表面粗糙度?
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监控零件的性能
2. 测量方法
测量方法
接触式测量 非接触式测量
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5. 术语
真实信号
术语 数据点
信号混淆
采样间隔
混淆
更进一步信息
术语 采样表面
粗糙度、波纹度和形状
术语 形状
粗糙度、波纹度和形状
术语 波纹度
粗糙度、波纹度和形状
术语 粗糙度
粗糙度、波纹度和形状
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6. 滤波
表面相互作用
术语
滤波-区分粗糙度和波纹度
滤波
取样长度
用图形技术滤波
如何测量表面粗糙度? 比对样板
测量方法
数据间隔 (X) 测头摆动 (Z)
测量方向 (X)
接触式测量
测量方法 电感式传感器
测杆
线圈 铁芯 线圈
测头
刀口支点
测量方法 压电式传感器
测杆
压电晶体
测头
测量方法 激光式传感器
测头
测杆
激光器 光电二 极管
更进一步的信息 返回目录
3. 测量基准
测量基准
1. 为什么要测量表面粗糙度?
表面的特性
材料的微观结构
大家学习辛苦了，还是要坚持
继续保持 安静
表面的特性
材料的微观结构 刀具的作用
表面的特性
材料的微观结构 刀具的作用 刀具在材料表面的不稳定
表面的特性
材料的微观结构 刀具的作用 刀具在材料表面的不稳定 机床导轨的误差
表面的特性
材料的微观结构 刀具的作用 刀具在材料表面的不稳定 机床导轨的误差 工件表面由于压力而产生的变形
驱动箱基准
测量方向
独立基准
测量基准
驱动箱基准
测量方向
基准导头
光学平晶
独立基准
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4. 表面再现
表面再现
2µm
2µm
测量方向
锥形测头
切去顶端的金字塔型测头
测头针尖几何形状
更多信息
表面再现 测尖 – 尺寸和形状的影响
表面再现 测尖 – 侧面接触
表面再现
由测头测量的形状
B A
测尖
B A
测尖 – 侧面接触
滤波类型
滤波
0.8mm
Baidu Nhomakorabea
取样长度 (Cut-off)
表面的特性
材料的微观结构 刀具的作用 刀具在材料表面的不稳定 机床导轨的误差 工件表面由于压力而产生的变形
在表面上有害的缺陷
深的谷易于导致裂纹的可能扩展 当与其紧密配合的零件接触时，太多的峰将引起过早的磨损 和失效 过多的波纹将导致噪音或预示加工问题
在表面上需要的特性
当润滑非常重要时，表面上需有足够多的谷用于存储油 表面上足够的的峰用于吸附油漆和粘结剂 表面分布充足的谷可提高工件的可锻(塑)性 光滑的表面可减小噪音、振动或得到高的反射率
2CR 粗糙度滤波效果
启动长度
滤波
测量长度
停止长度
取样长度 (Cut-off)
评价长度
测量长度、评价长度和取样长度的关系 (ISO 2CR)
滤波
• ISO 2CR- 第1、2个取样长度舍弃
• 2CR PC- 第1个和最后一个取样长度舍弃 •Gaussian- 第1个半个和最后一个半个取样长度舍弃