X射线衍射方法
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X射线衍射方法
照相法 衍射仪法
多晶体衍射方法
德拜法(德拜-谢乐法) 聚焦法 针孔法
单晶体衍射方法
劳埃(Laue)法 周转晶体法 四圆衍射仪
第一节 多晶体衍射方法
一、(粉末)照相法(照相法采用感光底片来检测衍射
线的方向和强度 ) (粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光 (特征X射线,一般为K射线)照射(粉末)多晶体 (圆柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。 用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德 拜(Debye)法; 用平板底片记录者称为针孔法。 较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常 用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相装 置称德拜相机
立方晶系衍射花样指数标定
由立方系晶面间距公式[
]
与布拉格方程,可得
m——衍射晶面干涉指数平方和,即 对于同一底片同一(物)相各衍射线条的sin2(从小到
大的)顺序比(因2/4a2为常数)等于各线条相应晶面干 涉指数平方和(m)的顺序比,即
立方系不同结构类型晶体因系统消光规律不同,其产
生衍射各晶面的m顺序比也各不相同。
立方晶系衍射晶面及其干涉指数平方和(m)
照相法的优点:
①所需样品极少,而由试样发出的稀有衍 射线条,除很小一部分外,几乎能全部同时记 录在一张底片上。
②此法可以调整试样的吸收系数,使整个照 片的衍射强度比较均匀。
③保持相当高的测量精度,这些都是其他衍 射方法所不能同时兼得的。
软片作平面式安放,垂直于入射线, 位于样品与射线源之间(背射式)或位于 入射线穿透样品之后的光路上(透射式)
背射和透射平板照相法
德拜相机构造示意图
这种相机是圆筒形的,简里四周贴着 软片.在相机中心有一可以安置试样的中 心轴,并各有调节机构,使试样中心与相 机中心轴线一致而且绕其中心旋转时,没 有任何偏斜。入射线经光阑射至试样处, 穿透试样后的入射线进入后光阑,经过一 层黑纸及荧光屏后被铅玻璃所吸收。
衍射花样的测量和计算
主要是通过测量底片上衍射线条的相对位置计
算角(并确定各衍射线条的相对强度)。 (HKL)衍射弧对与其角的关系如下图所示。
对于前反射区(2<90)衍射 弧对,有 2L=R· 4 式中:R——相机半径; 2L——衍射弧对间距。 为弧度
衍射弧对与角的关系
若用角度表示
二、 衍射仪法
X射线(多晶体)衍射仪是以特征X射线Байду номын сангаас射多晶体
样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装 置。 由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器和辐 射探测电路4个基本部分组成,现代X射线衍射仪还 包括控制操作和运行软件的计算机系统。 X射线衍射仪成像原理(厄瓦尔德图解)与照相法相 同,但记录方式及相应获得的衍射花样[强度(I)对位 置(2)的分布(I-2曲线)]不同。 衍射仪采用的具有一定发散度的入射线,也因 “同一圆周上的同弧圆周角相等”而聚焦,与聚焦 (照相)法不同的是,其聚焦圆半径随2变化而变化。
记录、分析物质X射线衍射图谱的仪器,形 式多种多样,用途各异。但其构成,都可以纳入 图2.1所示的框图里,其基本的组成部分如下:
X射线测角仪
测角仪是X射线衍射仪的核心部分
。
X射线测角仪结构示意图 C-计数管 D-样品 E-支架 F-接收(狭缝)光栏 G大转盘(测角仪圆) H-样品台 M-入射光栏 O-测角 仪中心 S-管靶焦斑
德拜法的衍射花样
样品制备
粉末样品制备一般经过粉碎(韧性材料
用挫刀挫)、研磨、过筛(250-325目) 等过程,最后粘接为细圆柱状(直径 0.2~0.8mm左右),长度约为10~15mm。 经研磨后的韧性材料粉末应在真空或保 护气氛下退火,以清除加工应力。
软片作圆柱面状安放,样品处于柱 面的轴上,X射线垂直柱面轴线射到样 品上
德拜-谢乐(Debye-Scherrer)照相机及其不同的 底片安装方式的德拜图
底片的安装
德拜相机底片安装方法 (a)正装法 (b)反装法 (c)偏装法
1)正装法:衍射线成对称弧段分布.低 θ 在中间.高 θ在两边, 衍射线对间的距离离S和θ之间的关系为4θR=S(θ单位为rad), 或4θR/57.3=S(θ的单位为。) 。2θ较小的衍射线,除了接近 0O者因承光管影响不能出现外其余均能记录在底片上,物相 分析常驻用此法. 2) 倒装法;衍射线也成对称弧段分布,高 θ 在中间,低 θ 在 两边,衍射线对间的距离S和θ之间的关系为(2π—4 θ)R=S(θ单 位为rad).。 在精确测定中。考虑到底片的长度受各种因素影响而引起 的误差(例如,底片在显影定影过程中的收缩等).为此,在底 片两边固定两片刀边、使底片曝光过程中留下两条边缘。 此 法常用于点阵常数测定 3)不对称法:低θ在右边,高θ在左边,这时衍射线对间距离S 与对应的θ角的关系为2 θ/ π=S/2W,W的长度可以从底片上直 接量出。
对于背反射区(2>90),有2L=R· 4(为弧度)。 若用角度表示,则有 式中,=90-。 当相机直径2R=57.3mm时,由上述二式有
应用上述各式计算时,值受相机半径误差和底片收
缩误差等的影响。
衍射花样指数标定
衍射花样指数标定,即确定衍射花样 中各线条(弧对)相应晶面(即产生该 衍射线条的晶面)的干涉指数,并以 之标识衍射线条,又称衍射花样指数 化。
1.测角器的衍射几何及构造
目前广泛使用的衍射仪测角器是根据变换聚焦圆半径原 理设计的,在聚焦相机中.入射束光阑至试样间的距离不 变,但各个衍射线束焦点和试样间距离则随衍射角不同而 改变。在衍射仪的测角器中,以探测器来代替原来的照相 底片,为了使这种扫描记录便于实现,让探测器与试样之 间的距离保持不变,并等于光源(F)至试样的距离。这样, 当试样和探测器绕试样中心轴按1:2的转速旋转时,光源 (F)、试样(S)和探测器(G)始终处在由FSG所组成的聚焦圆上, 随着衍射角增大,聚焦圆逐渐减小。当2θ=0°时,聚焦圃 的半径r=∞,当2θ=180°时,聚焦圆的半径最小, r=SF/2=SG/2。为此,测角器的机构必须完成下列动作:即 试样和探测器同时绕试样表面中心线(即测角器中心轴)转动, 其转速比为1:2。在衍射仪运行中,由于聚焦圆半径是变 化的,所以要求样品表面是平的,并始终与聚焦圆相切。
照相法 衍射仪法
多晶体衍射方法
德拜法(德拜-谢乐法) 聚焦法 针孔法
单晶体衍射方法
劳埃(Laue)法 周转晶体法 四圆衍射仪
第一节 多晶体衍射方法
一、(粉末)照相法(照相法采用感光底片来检测衍射
线的方向和强度 ) (粉末)照相法以光源(X射线管)发出的单色光 (特征X射线,一般为K射线)照射(粉末)多晶体 (圆柱形)样品,用底片记录产生的衍射线。 用其轴线与样品轴线重合的圆柱形底片记录者称为德 拜(Debye)法; 用平板底片记录者称为针孔法。 较早的X射线衍射分析多采用照相法,而德拜法是常 用的照相法,一般称照相法即指德拜法,德拜法照相装 置称德拜相机
立方晶系衍射花样指数标定
由立方系晶面间距公式[
]
与布拉格方程,可得
m——衍射晶面干涉指数平方和,即 对于同一底片同一(物)相各衍射线条的sin2(从小到
大的)顺序比(因2/4a2为常数)等于各线条相应晶面干 涉指数平方和(m)的顺序比,即
立方系不同结构类型晶体因系统消光规律不同,其产
生衍射各晶面的m顺序比也各不相同。
立方晶系衍射晶面及其干涉指数平方和(m)
照相法的优点:
①所需样品极少,而由试样发出的稀有衍 射线条,除很小一部分外,几乎能全部同时记 录在一张底片上。
②此法可以调整试样的吸收系数,使整个照 片的衍射强度比较均匀。
③保持相当高的测量精度,这些都是其他衍 射方法所不能同时兼得的。
软片作平面式安放,垂直于入射线, 位于样品与射线源之间(背射式)或位于 入射线穿透样品之后的光路上(透射式)
背射和透射平板照相法
德拜相机构造示意图
这种相机是圆筒形的,简里四周贴着 软片.在相机中心有一可以安置试样的中 心轴,并各有调节机构,使试样中心与相 机中心轴线一致而且绕其中心旋转时,没 有任何偏斜。入射线经光阑射至试样处, 穿透试样后的入射线进入后光阑,经过一 层黑纸及荧光屏后被铅玻璃所吸收。
衍射花样的测量和计算
主要是通过测量底片上衍射线条的相对位置计
算角(并确定各衍射线条的相对强度)。 (HKL)衍射弧对与其角的关系如下图所示。
对于前反射区(2<90)衍射 弧对,有 2L=R· 4 式中:R——相机半径; 2L——衍射弧对间距。 为弧度
衍射弧对与角的关系
若用角度表示
二、 衍射仪法
X射线(多晶体)衍射仪是以特征X射线Байду номын сангаас射多晶体
样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装 置。 由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器和辐 射探测电路4个基本部分组成,现代X射线衍射仪还 包括控制操作和运行软件的计算机系统。 X射线衍射仪成像原理(厄瓦尔德图解)与照相法相 同,但记录方式及相应获得的衍射花样[强度(I)对位 置(2)的分布(I-2曲线)]不同。 衍射仪采用的具有一定发散度的入射线,也因 “同一圆周上的同弧圆周角相等”而聚焦,与聚焦 (照相)法不同的是,其聚焦圆半径随2变化而变化。
记录、分析物质X射线衍射图谱的仪器,形 式多种多样,用途各异。但其构成,都可以纳入 图2.1所示的框图里,其基本的组成部分如下:
X射线测角仪
测角仪是X射线衍射仪的核心部分
。
X射线测角仪结构示意图 C-计数管 D-样品 E-支架 F-接收(狭缝)光栏 G大转盘(测角仪圆) H-样品台 M-入射光栏 O-测角 仪中心 S-管靶焦斑
德拜法的衍射花样
样品制备
粉末样品制备一般经过粉碎(韧性材料
用挫刀挫)、研磨、过筛(250-325目) 等过程,最后粘接为细圆柱状(直径 0.2~0.8mm左右),长度约为10~15mm。 经研磨后的韧性材料粉末应在真空或保 护气氛下退火,以清除加工应力。
软片作圆柱面状安放,样品处于柱 面的轴上,X射线垂直柱面轴线射到样 品上
德拜-谢乐(Debye-Scherrer)照相机及其不同的 底片安装方式的德拜图
底片的安装
德拜相机底片安装方法 (a)正装法 (b)反装法 (c)偏装法
1)正装法:衍射线成对称弧段分布.低 θ 在中间.高 θ在两边, 衍射线对间的距离离S和θ之间的关系为4θR=S(θ单位为rad), 或4θR/57.3=S(θ的单位为。) 。2θ较小的衍射线,除了接近 0O者因承光管影响不能出现外其余均能记录在底片上,物相 分析常驻用此法. 2) 倒装法;衍射线也成对称弧段分布,高 θ 在中间,低 θ 在 两边,衍射线对间的距离S和θ之间的关系为(2π—4 θ)R=S(θ单 位为rad).。 在精确测定中。考虑到底片的长度受各种因素影响而引起 的误差(例如,底片在显影定影过程中的收缩等).为此,在底 片两边固定两片刀边、使底片曝光过程中留下两条边缘。 此 法常用于点阵常数测定 3)不对称法:低θ在右边,高θ在左边,这时衍射线对间距离S 与对应的θ角的关系为2 θ/ π=S/2W,W的长度可以从底片上直 接量出。
对于背反射区(2>90),有2L=R· 4(为弧度)。 若用角度表示,则有 式中,=90-。 当相机直径2R=57.3mm时,由上述二式有
应用上述各式计算时,值受相机半径误差和底片收
缩误差等的影响。
衍射花样指数标定
衍射花样指数标定,即确定衍射花样 中各线条(弧对)相应晶面(即产生该 衍射线条的晶面)的干涉指数,并以 之标识衍射线条,又称衍射花样指数 化。
1.测角器的衍射几何及构造
目前广泛使用的衍射仪测角器是根据变换聚焦圆半径原 理设计的,在聚焦相机中.入射束光阑至试样间的距离不 变,但各个衍射线束焦点和试样间距离则随衍射角不同而 改变。在衍射仪的测角器中,以探测器来代替原来的照相 底片,为了使这种扫描记录便于实现,让探测器与试样之 间的距离保持不变,并等于光源(F)至试样的距离。这样, 当试样和探测器绕试样中心轴按1:2的转速旋转时,光源 (F)、试样(S)和探测器(G)始终处在由FSG所组成的聚焦圆上, 随着衍射角增大,聚焦圆逐渐减小。当2θ=0°时,聚焦圃 的半径r=∞,当2θ=180°时,聚焦圆的半径最小, r=SF/2=SG/2。为此,测角器的机构必须完成下列动作:即 试样和探测器同时绕试样表面中心线(即测角器中心轴)转动, 其转速比为1:2。在衍射仪运行中,由于聚焦圆半径是变 化的,所以要求样品表面是平的,并始终与聚焦圆相切。