ZYGO干涉仪使用指导书
ZYGO干涉仪使用说明书
1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SAVE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view 界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
干涉仪的使用教程详解
干涉仪的使用教程详解干涉仪是一种重要的科学研究工具，它能够根据光的干涉现象来进行精密测量。
干涉仪广泛应用于光学、物理、天文等领域，具有优良的测量精度和灵敏度。
本文将详细介绍干涉仪的使用方法和注意事项。
一、基本原理干涉仪的基本原理是利用光的干涉现象进行测量。
光的干涉是指光波的相遇和叠加，分为相长干涉和相消干涉两种情况。
相长干涉时，光波叠加后得到的干涉条纹亮度增强；相消干涉时，叠加后的干涉条纹则呈现暗纹。
通过观察和分析干涉条纹的形态和变化，可以得到待测物体的特性参数。
二、使用步骤1. 设置实验装置：首先将干涉仪放置在稳定的台架上，并垂直于水平方向。
保证光源稳定，并对其进行准直处理，以获得单色、平行光。
2. 调整反射镜：根据干涉仪的类型不同，调整反射镜的位置和角度，确保光线能够正确地通过干涉仪的光程差调节装置。
3. 干涉条纹的观察：将待测物体放置在干涉仪的光程差调节装置上，通过调整该装置的位置或者改变待测物体的位置，观察和记录干涉条纹的形态和变化。
4. 数据处理与分析：根据记录的干涉条纹数据，利用干涉仪的相关公式进行计算和分析，得出待测物体的参数。
三、注意事项1. 实验环境的稳定：干涉仪对实验环境的稳定性要求较高，应确保光源的稳定性、噪声的减小以及实验装置的固定。
2. 防止光源污染：在进行干涉仪实验时，要注意保持光源的洁净，避免灰尘或其他污染物对光的质量和干涉条纹的观察造成干扰。
3. 干涉仪仪器的校准：定期对干涉仪的仪器进行校准，以确保其测量结果的准确性和可靠性。
4. 干涉条纹的观察技巧：观察和记录干涉条纹时，应利用光学仪器和图像处理软件等工具，以提高观察和分析的精度。
四、应用领域1. 光学研究：干涉仪被广泛应用于光学相关的实验研究中，如光学材料的折射率测量、光学组件的表面形貌检测等。
2. 物理实验：干涉仪可用于测量物体的形变、位移等参数，如材料的热膨胀系数、振动的频率和幅度等。
3. 天文观测：干涉仪在天文观测中有着重要的地位，例如进行星际介质的研究、天体形貌的探测等。
ZYGO干涉仪使用指导书
零件号
序列号
如果测量的是球面还需要在ISO10110窗口中输入曲率半径标称值、实测值、测试波长、零件有效口径。
标称半径
实测半径
波长
有效口径
9.6.3掩膜去除
去除自动掩膜在analysis control窗口中将 auto aperture栏中的ON改成
去除手动掩膜在mask窗口中选择pick然后选中需要去除的掩膜，点击
有掩膜都被清除。
测量
点击measure按钮或者控制盒上的measure按钮或按下键盘上“F1”键开始测量。
10.0 特殊测量：透过波前
10.1平面的透过波前
将干涉仪，待测平片，反射镜按光轴方向依次放置。
如果是棱镜，则将反射镜放置到与出射光垂直的位置。
ZYGO干涉仪使用说明
1目的为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
2范围本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
3 录取数据在检验过程中将会生成以下记录：3.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SA VE保存。
3.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SA VE DATE保存。
4 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的测试。
4.2 猫眼像（cateye）又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
4.3 镜片像从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息来源。
4.4 升降台可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view界面观察条纹。
4.6 标准镜 干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
4.7 长度基准设定图像的长度基准，因为放大率不同或者屈光度不同，同样大小的干涉图所代表的零件大小可能有很大的差异。
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪原理
ZYGO激光干涉仪是一种精密光学测量设备，利用干涉原理测量光程差来评估物体表面的形状和大小。
该设备通过发射激光光束，并将其分为两个光路，然后将这两个光路重新合并，形成一系列干涉带。
当测量物体表面发生微小变形时，两条光线的光程差就会发生变化，因此干涉带也会发生变化。
该变化通过计算和分析验证，可以得出物体表面的形状和大小的毫米级测量精度。
ZYGO激光干涉仪主要应用于半导体、光学和航空航天等领域的研究中，以提高产品质量和性能。
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本文档旨在为用户提供关于ZYGO干涉仪的详细使用指导。
请按照以下章节逐步操作，以确保正确使用干涉仪并获取准确的测量结果。
1：干涉仪简介
1.1 仪器概述
1.2 技术原理
2：仪器安装与连接
2.1 安装步骤
2.2 供电与连接
3：仪器参数设置
3.1 参数调节与选择
3.2 光路对齐
3.3 系统校准
4：测量准备
4.1 样品准备
4.2 测量环境设置
5：测量操作
5.1 测量步骤
5.2 数据记录与分析
6：维护与保养
6.1 日常维护
6.2 故障排除
7：附件使用及注意事项
7.1 附件清单
7.2 使用方法
7.3 注意事项
8：法律名词及注释
8.1 法律名词解释
本文档涉及附件：
附件一、ZYGO干涉仪操作示例视频附件二、ZYGO干涉仪参考手册
注释：
1：干涉仪：一种用来测量光程差的仪器，利用光干涉的原理
实现测量。
2：技术原理：指干涉仪工作的基本原理，主要包括光干涉理
论和干涉信号处理技术。
3：参数调节与选择：指根据具体测量要求，对干涉仪参数进
行调节和选择。
4：光路对齐：指调整光路以保证光的传输和干涉的有效进行。
5：系统校准：指对干涉仪进行系统性静态和动态校准，以提
高测量精度和可靠性。
6：数据记录与分析：指记录测量数据并进行数据处理和分析，如计算干涉图中的相位信息等。
7：日常维护：指干涉仪的日常保养和常见故障的处理。
8：附件清单：列出本文档所提及的附件名称和数量。
干涉仪的操作方法
5.干涉仪的保养事项 5.干涉仪的保养事项 1. 在主体的非润滑面、光学器件和除标准镜头外的各附 件表面使用一块软布，擦去指印和灰尘等；
2. 显示器除了日常擦拭外壳及屏幕外，无需其它 维护； 3. 对干涉仪主机之螺丝、旋钮、螺杆、导轨用润 滑油或防锈油进行擦拭； 4. 检查干涉仪各紧固元件是否有松动，滑丝等现 象，保证其牢固可靠；
干涉仪标准镜头选用计算公式: 干涉仪标准镜头选用计算公式: (R:镜片 镜片R ,D:镜片外径 镜片外径) F=R/D (R:镜片R值,D:镜片外径) 若已知镜片R值为16,镜片外径为25.8,求出可选用标准镜头? 16,镜片外径为25.8,求出可选用标准镜头 例:若已知镜片R值为16,镜片外径为25.8,求出可选用标准镜头? 解:F=16/25.8=0.62 注:若无0.62的镜头时,只能选取比0.62小的镜头. 若无0.62的镜头时,只能选取比0.62小的镜头. 0.62的镜头时 0.62小的镜头 公式:D=R/F 公式:D=R/F
5.干涉仪的保养事项 5.干涉仪的保养事项
5. 点检者按规定定期负责气垫旋钮，气垫水 准，恒扭力弹簧，平衡微调旋钮，工作台 锁紧旋钮，X\Y轴微调旋钮的检查； 6. 对每项保养工作，予以如实记录TPM点检 保养状况。由担当者签名，管理人员作确 认。
6.标准镜头的保养 6.标准镜头的保养 1. 标准镜头属高精密元件，温度变化、振动、冲击都会 造成性能上的影响，因此使用时需特别小心，不要弄 脏和碰伤标准表面； 2. 上下移动工作台或者标准镜头时，应避免标准镜头被 碰伤； 3. 安装标准镜头时，应带上干净的手套或手指套将镜头 从箱子里取出旋转装到主机上，取下时应及时放入箱 内； 4. 不可将镜片掉入镜头中，操作时应杜绝标准镜头的任 何磕碰伤。
zygo干涉仪工作原理
zygo干涉仪工作原理介绍如下：
Zygo干涉仪（Zygo Interferometer）是一种高精度光学测试仪器，用于测量物体表面形状和平整度等参数。
它主要基于干涉原理，通过将光束分成两部分，再将其重新合并，来检测光束通过物体后发生的光程差，从而得到物体表面的高度差异信息。
下面是Zygo干涉仪的基本工作原理：
1.首先，干涉仪将一束激光光束分成两束，一束经过反射镜后被反射回来，另一束经
过被测试物体的表面后被反射回来。
这两束光线再次交汇，形成干涉。
2.在干涉的区域中，光束的光程差取决于被测试物体的表面高度差异。
如果被测试物
体的表面是平整的，两束光线会完全重合，形成明亮的干涉条纹；如果被测试物体
的表面存在高度差异，则两束光线的相位差会引起干涉条纹的相移，形成暗纹和亮
纹交替的条纹。
3.Zygo干涉仪使用一台高精度的控制器来计算这些条纹的位置和数量，并从中推断出
被测试物体表面的高度差异。
4.为了提高测量的精度和减少干涉条纹的噪声，Zygo干涉仪通常使用一些附加的技术，
如使用一个可调谐的激光源来保持干涉条纹的稳定性，以及使用相干的光源来减少
光源的噪声和干涉条纹的抖动等。
总的来说，Zygo干涉仪利用光的干涉原理来检测被测试物体表面的高度差异，具有高精度、高灵敏度和高可靠性等特点，广泛应用于光学制造、半导体制造、航空航天等领域的表面形状和平整度的测量和检测。
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪原理
zygo激光干涉仪使用的是Michelson干涉仪的原理。
Michelson 干涉仪是一种基于光的干涉原理进行测量的仪器。
其基本原理是将激光分成两路，经过反射镜反射后再汇聚到一起，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的形态和位移，可以得到被测物体的形状和表面高度变化等参数。
zygo激光干涉仪使用的是双频激光干涉原理，其优点是干涉条纹的稳定性高、测量精度高、适用于复杂表面、具有三维测量功能等。
其基本原理是利用激光的相位差来测量物体表面的高度差异，通过调整激光波长差来调整干涉条纹的间距和形态，从而实现对物体表面高度的测量。
总之，zygo激光干涉仪是一种高精度、高稳定性的测量仪器，可以广泛应用于机械制造、光学制造、电子制造、医学等领域。
- 1 -。
zygo干涉仪
zygo干涉仪1. 引言干涉测量是一种非常重要的光学测量技术，广泛应用于工业制造、材料检测、精密测量等领域。
zygo干涉仪是一种高精度的干涉仪器，具有可靠性高、测量精度高、操作简便等特点，在物体形貌测量、光学元件表面质量检测等方面有着广泛的应用。
2. zygo干涉仪的原理zygo干涉仪基于激光干涉原理，利用干涉比较测量的方法来获取待测物体的表面形状、表面质量等参数。
主要包括两个核心部分：激光干涉仪和信号处理系统。
2.1 激光干涉仪激光干涉仪是zygo干涉仪的核心部分，它主要由激光器、分束器、反射镜、衍射光栅、像差补偿系统等组成。
•激光器：激光器产生单色、相干性好的激光光源，通常采用氦氖激光器。
•分束器：将来自激光器的光束分成两束，一束作为参考光束，另一束照射到待测物体上。
•反射镜：将待测物体反射回激光干涉仪，与参考光束进行干涉。
•衍射光栅：衍射光栅用于分离干涉光，提供测量干涉光波面的行程差信息。
•像差补偿系统：可根据待测物体表面形状的不同，调整光路，消除干涉图像中的像差。
2.2 信号处理系统zygo干涉仪的信号处理系统主要是将测得的干涉图像转化成数字信号，并通过数学算法对图像进行处理，最终得到待测物体表面形貌、表面质量等参数。
信号处理系统通常包括光电转换模块、数据采集卡、计算机等。
光电转换模块将干涉图像转换成电信号，数据采集卡将电信号转换成数字信号，计算机对数字信号进行处理和分析。
3. zygo干涉仪的应用zygo干涉仪具有测量精度高、表面形貌检测范围广、使用灵活等特点，因此在多个领域有广泛的应用。
3.1 光学元件表面质量检测zygo干涉仪可以用于光学元件的表面形貌检测和表面质量评估。
通过测量元件的表面高度数据、表面粗糙度等参数，可以判断元件表面是否达到要求，并对表面缺陷进行定量评估。
3.2 材料形貌测量zygo干涉仪可以用于材料形貌的测量，例如金属、陶瓷、半导体等材料的表面形状、平坦度等参数测量。
ZYGO干涉仪GPI-XP-D常用命令中文注解
Sm Aperture小孔径
Measure测量——测试按钮（也可用F1键）
Analyze分析——数据分析（对已保存数据进行分析）
Mask data屏蔽数据——区域选择（测试和参考区域）
Save data保存数据——对测试数据起保存作用
Load data载入数据——导入已保存数据的按钮
MTF调制传递函数
MTF Profile传函图
Zernikes泽尼克多项式
Intensity亮度
ISO 10110-5ISO-10110窗口
SynthFringe合成的条纹
Environment Test环境测试
Measure Attr测量属性
Analyze Attr分析属性
Process方法
Report报告
Removed远离
Auto aperture自动孔径
Aperture size孔径大小
Trimmed裁边
Trim mode调整方式
Filter滤光镜
Type类型
Window size窗口大小
Freq频率
Print Panel打印标准
Destination目的地
White白色
File文件
Color颜色
Calibrate校准——校准按钮（打开进入校准界面）
Reset复位——点击可初始化程序
Measure ctrl测量控制——数据控制按钮
Analyze ctrl分析控制
S/W Map图
S/W Profile剖面图
Slope Mag斜面图
Slope x x方向斜面
Slope y y方向斜面
PSF点列图
te删除
ZYGO干涉仪说明书 ppt课件
ZYGO干涉仪说明书
D
d
ZfYGO干涉仪说明书 R
ZYGO儀器名稱說明
凹透鏡
控制器控制桿說明
上方(放 大) ( ZOOM )
中央(焦 點) ( FOCUS )
下方(設 定) (QUICK FAS)
一倍 1X
近 Near
設定 Align
系統焦點
六倍 6X
遠 Far
顯像 View
凸透鏡 鏡片承座
左右旋鈕(水平) 前後旋鈕(垂直)
顯像器 前後旋鈕 (垂直)
zygo
ZYGO干涉仪说明书
旋鈕 (水平) 標準鏡頭
範例說明
☺ 鏡片CA為∮50，曲率-100，應用何種鏡頭?
∵ 為了檢驗∮50的範圍，光線通過待測面 直徑應≧50
R ＝ d ≧ 50
F
100 F
≧ 50
∴ 該選F=0.75或F=1.5之鏡頭
ZYGO干涉仪说明书
ZYGO 鏡頭選用及光圈判讀
1.F=f/D F: F/#=0.75, 1.5, 3.3, 7.2
f: focal length)
D: 鏡頭有效徑 (4”~100mm)
2.ZYGO 鏡頭上有2組數字:
例 F 1.5 D=4”
待測面曲率半徑
f R
=
D d
R,依d 相=似RfD三=角形RF原理,可得
最新ZYGO干涉仪-使用说明
11目的2为了使员工正确熟悉的使用ZYGO干涉仪。
本文详细说明了如何使用ZYGO 干3涉仪来测试晶体的平行度、波前、平面度等指标。
42范围5本文件涉及用ZYGO 干涉仪检测平面元件的一般方法。
63 录取数据7在检验过程中将会生成以下记录：83.1干涉图（保存文件名为*.Tif），在实时窗口上点击FILE-SAVE保存。
93.2测试数据（保存文件名为*.Dat），测试完成后点击SAVE DATE保存。
104 Zygo干涉仪的定义4.1 应用（application）1112应用是ZYGO 干涉仪中一系列功能的组合，保存为后缀名为“*.app”的文件。
13不同的应用用于不同项目的测量。
比较常用的是GIP.app 用于一般的平面和球面的测量，GPI-Cylinde.app 用于柱面面形的测量，Angle.app用于平行角度的1415测试。
164.2 猫眼像（cateye）17又称为标准镜的像。
标准镜的出射光在焦点处被返回时出现的干涉条纹，是18透过干涉仪的光线与和它对称的标准面之间的干涉图形。
14.3 镜片像1920从标准镜出射的光在整个零件表面被原路反射回来与标准面的反射光发生干21涉产生的干涉图形。
包含待测零件的表面或波前信息，是面形检测的主要信息22来源。
234.4 升降台24可以升降的平台，带有小倾角调节功能，一般用于放置平面元件。
4.5 Align/View 模式2526按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一。
align模式可以看到一个27黑色固定的十字线和反射回干涉仪的光点，一般用于零件对准，特点是视场较28大。
View 模式是按下控制盒上的align/view 切换的2 个模式之一，可以看到29干涉条纹，特点是放大率较高，但是视场较小。
一般在align界面对准后在view Array界面观察条纹。
304.6 标准镜31干涉仪上使用的参考表面，用于生成理想的平面、球面波，作为测量基准。
ZYGO干涉仪使用指导书2024
引言概述：正文内容：1.原理说明1.1干涉仪的基本原理1.1.1干涉仪是通过光的干涉来实现测量的原理1.1.2干涉仪利用光程差的变化来测量物体的形状、表面粗糙度等参数1.1.3干涉仪的工作原理与Michelson干涉仪类似，基于光的分波器和合波器的原理1.2ZYGO干涉仪的特点1.2.1高分辨率和高灵敏度1.2.2宽波长范围和大工作距离1.2.3快速测量和数据处理能力2.操作方法2.1仪器准备2.1.1确保仪器位置稳定，免受振动和干扰2.1.2进行仪器校准，包括波前校正和零点校正2.2测量设置2.2.1选择适当的测量模式，如表面形状测量、表面粗糙度测量等2.2.2设置测量参数，包括光源波长、采样点数、测量范围等2.3测量操作2.3.1将样品放置在适当的位置，避免阴影和反射干扰2.3.2调整仪器参数和位置，使样品与仪器对准并获得清晰的干涉图像2.3.3启动测量程序，记录数据并保存结果2.4数据处理2.4.1利用仪器提供的数据处理软件对测量结果进行分析和处理2.4.2使用滤波、拟合等方法提取所需参数，如表面形状、曲率半径等2.5结果解释2.5.1根据测量结果解释样品的特征和性能2.5.2与标准数据或设计要求进行对比，评估样品的质量和一致性3.常见问题解答3.1仪器故障排除3.1.1仪器无法启动或无法连接到电脑3.1.2干涉图像模糊或变形3.1.3数据处理出现错误或异常3.2测量误差分析3.2.1测量环境的干扰因素分析与处理方法3.2.2探测器的噪声和非线性对测量结果的影响3.3数据处理技巧3.3.1如何选择合适的滤波算法和参数3.3.2数据拟合的方法和准确性评估4.仪器维护与保养4.1保持仪器环境的清洁和稳定4.2定期对仪器进行校准和维护4.3避免仪器受到物理损坏或电磁干扰5.应用案例分享5.1光学元件的形状和表面质量测量5.2大型镜面的检测和修正5.3精密器件的尺寸和形状测量5.4光学薄膜的厚度和折射率测量5.5表面粗糙度的测量和评估总结：。
ZYGO干涉仪GPI-XP-D常用命令中文注解
MTF Profile传函图
Zernikes泽尼克多项式
Intensity亮度
ISO 10110-5ISO-10110窗口
SynthFringe合成的条纹
Environment Test环境测试
Measure Attr测量属性
Analyze Attr分析属性
Process方法
Report报告
Delete删除
Pick选取
PickAll选取所有
BG Exc去掉背景
Auto inc自动包括
Fringes条纹
Acq默认
Test测试
Ref查询
Define定义
Show显示
Undef撤销定义
Width宽度
Height高度
Fiducials基准
Surface/warfront map表面/波前图
Zernike terms泽尼克项
Removed远离
Auto aperture自动孔径
Aperture size孔径大小
Trimmed裁边
Trim mode调整方式
Filter滤光镜
Type类型
Window size窗口大小
Freq频率
Print Panel打印标准
Destination目的地
White白色
File文件
Color颜色
Zernike sample泽尼克取样
Fr RMST均方根
Radius（nominal）半径（标称）
Radius（measured）半径（实测）
Select results选择结果
Wavelength波长
Part diameter零件直径——有效口径
优可测白光干涉仪操作手册
优可测白光干涉仪操作手册（实用版）目录1.优可测白光干涉仪概述2.优可测白光干涉仪的参数3.优可测白光干涉仪的扫描原理4.优可测白光干涉仪的扫描范围5.优可测白光干涉仪的被测物反射率6.优可测白光干涉仪的显示分辨率7.白光干涉仪的优点正文一、优可测白光干涉仪概述优可测白光干涉仪是一种高精度的测量仪器，它采用白光干涉原理，可以实现对物体的表面形貌、厚度、折射率等参数的精确测量。
该仪器具有操作简单、测量精度高、稳定性好等特点，广泛应用于精密制造、航空航天、光学薄膜等领域。
二、优可测白光干涉仪的参数优可测白光干涉仪的主要参数包括：1.产品型号：NA5002.像素：500 万3.扫描原理：白光干涉4.扫描范围：100um5.被测物反射率：0.02%~100%6.显示分辨率：0.001nm三、优可测白光干涉仪的扫描原理优可测白光干涉仪采用白光干涉原理进行测量。
白光干涉仪的干涉条纹可见度大，容易辨别 o 度条纹，而且干涉长度较短，可以实现高精度的测量。
四、优可测白光干涉仪的扫描范围优可测白光干涉仪的扫描范围为 100um，可以满足大部分测量需求。
五、优可测白光干涉仪的被测物反射率优可测白光干涉仪适用于 0.02%~100% 的被测物反射率范围，可以满足不同材料的测量需求。
六、优可测白光干涉仪的显示分辨率优可测白光干涉仪的显示分辨率为 0.001nm，可以实现高精度的测量结果显示。
七、白光干涉仪的优点白光干涉仪具有以下优点：1.测量精度高：采用白光干涉原理，可以实现对物体表面形貌、厚度、折射率等参数的精确测量。
2.稳定性好：白光干涉仪的干涉条纹可见度大，容易辨别，可以实现稳定的测量结果。
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零件号
序列号
如果测量的是球面还需要在ISO10110窗口中输入曲率半径标称值、实测值、测试波长、零件有效口径。
标称半径
实测半径
波长
有效口径
9.6.3掩膜去除
去除自动掩膜在analysis control窗口中将 auto aperture栏中的ON改成
去除手动掩膜在mask窗口中选择pick然后选中需要去除的掩膜，点击
有掩膜都被清除。
测量
点击measure按钮或者控制盒上的measure按钮或按下键盘上“F1”键开始测量。
10.0 特殊测量：透过波前
10.1平面的透过波前
将干涉仪，待测平片，反射镜按光轴方向依次放置。
如果是棱镜，则将反射镜放置到与出射光垂直的位置。