计量器具内校要求规范

1 目的
对公司的计量器具进行部校验，确保其准确度和适用性，保持完好。

2 围
适用于公司长度类量具（如卡尺、千分尺、高度尺）、检具、塞规、环规及电子秤的部校准。

3.职责：
校由计量室有证书资质人员实施
4 校验仪器及设备
外校合格的千分尺，外校合格的标准量块,外校合格的投影仪，外校合格的法码等。

5 环境条件
1、温度: 23 ±2 ℃
2、湿度: 50 ±20 %RH
6 校验
6.1卡尺、高度尺、深度尺
6.1.1、校检项目:
1、外观检查
2、示值误差检测
6.1.2校验仪器及设备
外校合格的卡尺、外校合格的标准块（1-100mm 38块2级）。

6.1.3校验标准
6.1.4 校验步骤：
1、外观检查：
检查尺子测量接触面是否平整、干净，无污渍、锈迹，表头的指针/游标是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。

各功能能稳定、工作可靠。

2、示值误差检测：
（1）将尺子调至零点位置，使读数归零、指针对准零点。

（2）选取一块标准量块进行测量，读取其数值。

（注意：取放标准量块时，必需戴细纱手套；测量过程卡尺要与被测量块同方向平直。

（3）用同样的方法，取3～5组不同量块进行测量。

测量点如下图
卡尺量程校准点
（4）不同量程的尺子可选用不同的基准块或其组合进行校准，对标准块量测值误差，
不能大于6.1.3项表格的允许误差。

（5）将检定结果填写在《监测设备履历卡》。

校准周期：6个月。

6.2千分尺
6.2.1、校验项目:
1、外观检查
2、示值误差检测
6.2.2校验仪器及设备
外校合格的标准块（1-100mm 38块2级）
6.2.3校验步骤
1、外观检查：千分尺刻度应清晰,测量面无损伤，测量面应无漏光，微调装置，锁定
机构应良好,
2、示值误差检测:量程围选取低、中、高三个检定点，分别选取三个相应的标准
量块，用待检千分尺对每一量块检定三次。

要求对标准块量测值误差不能大于0.005mm
3将检定结果填写在《监测设备履历卡》。

校准周期：6个月
6.3螺纹塞规
6.3.1、校验项目
外径、中径、
6.3.2校验仪器及设备
外校合格外径千分尺，外校合格螺纹千分尺，外校合格投影仪验
6.3.2校验步骤
1外径检测：千分尺归零后，量取塞规的外径
2.中径检测：据螺距选取相应一组量头，将待校螺纹牙规、牙沟的油污、铁屑擦净，
把其中一个量头插在零件的螺纹牙沟，另一个骑在牙尖上，用棘轮仔细测量。

6.3.2 量测结果判定以下表为标准：
单位：mm
将检定结果填写在《监测设备履历卡》
校准周期12个月。

6.4螺纹环规
6.4.1 校验仪器及设备：校正塞规（校通一损、校止一损）
6.4.2校验步骤
1、必须确保被检测环规与校验规、外牙沟无油污、铁屑，无碰伤
2、在校验环规通规时，用“校通一损”塞规检测，校验塞规不得旋进超过一圈，
否则表示该环规止规不合格。

3、在校验环规止规时，用“校止一损”塞规检测，校验塞规不得旋进超过一圈，
否则表示该环规止规不合格。

对于环规通规、止规任何一项不合格，则表示该环规不合格。

4、将检定结果填写在《监测设备履历卡》
校准周期12个月。

6.5检具
6.6.1 校验仪器及设备
外校合格外径千分尺，外校合格投影仪验、百分表等(皆经校验合格)等
6.6.2校验步骤
1.根据量、检具的结构形式或特点，灵活地选用校验方法(绝对测量或相对测量或其
他方法)。

2.检具的最大、最小极限尺寸,是依据工件的最大或最小实体状态,选取作为该
检具最大、最小极限尺寸时的基本尺寸(即量、检具的设计尺寸)
3.检定结果在检具要求尺寸公差为合格。

校准周期12个月
6.6电子秤
6.6.1 校验仪器及设备
1、外校合格的法码（5g-10kg)。

6.6.2校验步骤
1、察看确定电子秤各功能按键灵活正常，显示数字清晰无抖动。

2、取适当的法码（重量在台秤、电子秤量程围）在电子称上称量。

电子称量程的称重点如下表所示
3、电子称在放置10～100法码递增时，应能及时响应。

4、对有称数功能的电子称，须检验称数功能是否正常，检验方法如下：
称1kg的法码，个数设定为100个，在取样OK后，再添加500g、1Kg、2kg 法码等。

数字会依次递增50个、100个、200个等。

数字误差不得超过1%
校验周期：12个月。

7.结论
只有所有可校验项全部合格时，才能判定该计量器具合格，反之为不合格。

8.结果处理
1.校验合格计量器具须贴上校合格标。

2、校验精度退化的计量器具，但在某一个围尚可使用，则贴上限制使用标签。

3、若校验结果不在规格，则需进行调试、维修，然后再校准，仍达不到要求者需送外维修，维修后需校准合格后方可使用，仍不合格则做报废处理。