HDMI高频性能不良或异常分析方案

2009/6/16
對間延時差 近端串音
偏大 偏大
介質不均勻 導體附著力偏小 各對延時不一致
線對屏蔽不良
發泡不均勻
切片投影檢查
绝缘和导体的附着力不好，形 成气隙，使对绞的芯线不均匀
測量附著力
線對間長度不同
直尺測量
線對間發泡度不同 屏蔽折邊
測量發百度文库度 外觀檢查
屏蔽率不夠
直尺測量
屏蔽鬆散
外觀檢查
NA
增加押出壓力,适当提高预热温度
對內延時差
偏大
線對不匹配
HDMI高頻性能不良或異常分析方案
影響因素
確認方法
補救方案
導體尺寸
用千分尺量測導體線徑或核算截面積
導體導電率
測量導體電阻及截面積,計算導電率 降級為小長度
線長度
直尺測量
两芯线长度不一致,或电阻电 测量两芯线长度，电阻，电容，线径 1）重新配对 2）调带包带张力 容不匹配
該頻率點對應波長的相關尺寸
性能
異常現象
異常原因
在低頻下降過 導體電阻偏大 快,斜率偏大
对内延迟偏大
衰減
在某一頻率點 出現尖峰
過程規律性破壞
在中高頻產生 波動,波動偏大
屏蔽不良
在中高頻下降 過快,斜率偏大
線對不匹配(skew偏大)
特性阻抗 延時
偏大
偏小
不穩定 偏大 偏小
導體間距變大 屏蔽鬆散 導體線徑變小 絕緣介電常數偏小 導體間距變小 絕緣介電常數偏大 對絞節距 屏蔽鬆散 同心度偏小 發泡度不均勻 介電常數偏大 介電常數偏小
調整放線張力 調換匹配 調整包帶過程 調整包帶過程,改用寬包帶 調整包帶張力
RD
于世攀
2009/6/16
电容一致的情况下，要保证线径的一致性
对绞对两根芯线的对绞张力不等，形成不良的对绞结果：一根芯线紧，一根芯线松，形成对内的时延差； 尤其是一根受压变形，形成对内的时延差；
RD
于世攀
2009/6/16
測量發泡度
不影響使用時可以特采
發泡度偏大
測量發泡度
不影響使用時可以特采
導體電阻不匹配
測量線對導體電阻,對比差值
絕緣線徑不匹配
測量線對絕緣線徑,對比差值
另行配對
絕緣電容不匹配
測量線對絕緣電容,對比差值
線對長度不匹配
測量線對長度,對比差值
調整放線張力
绝缘介质变形
着色使绝缘介质介电常数ε发 生变化
RD
于世攀
測量發泡度,切片投影
NA
對絞或包帶張力大
確認生產記錄,檢查絕緣變形情況 調整張力
發泡度偏小,不均勻
測量發泡度,切片投影
NA
節距不穩定,鬆散
外觀檢查
調整張力,必要時更改節距
屏蔽鬆散,包帶不完整
外觀檢查
調整張力
同心度偏小
投影儀測量
NA
在線電容不穩定,線徑不穩定 確認電容及線徑生產記錄,並測量 NA
發泡度偏小
導體電阻不匹配 絕緣線徑不匹配
測量線對導體電阻,對比差值 測量線對絕緣線徑,對比差值
另行配對
絕緣電容不匹配
測量線對絕緣電容,對比差值
線對長度不匹配
測量線對長度,對比差值
調整放線張力
對絞不緊湊,鬆散 屏蔽鬆散,包帶不完整
外觀檢查 外觀檢查
調整放線或包帶張力
導體拉細
用千分尺量測導體線徑
NA
發泡度偏大,不均勻
計算該頻率點的波長,查找過程中相關 影響部位(包括節距)
設備整改,必要時作以結構更改(包 括節距)
绝缘变形
外觀檢查
调整包带,成缆,外被的张力及各模 治具及导轮的挤压
同心度偏小
投影儀測量
考慮退扭或平行繞包,調整節距
屏蔽折邊
外觀檢查
調整包帶過程
屏蔽率不夠
直尺測量
調整包帶過程,改用寬包帶
屏蔽鬆散
外觀檢查
調整包帶張力