门电路逻辑功能及测试实验报告

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门电路实验报告总结三篇

门电路实验报告总结三篇

门电路实验报告总结三篇篇一:电路实验心得体会经过了一个学期的电路实验课的学习,学到了很多的新东西,发现了自己在电路理论知识上面的不足,让自己能够真正的把点亮学通学透。

电路实验,作为一门实实在在的实验学科,是电路知识的基础和依据。

它可以帮助我们进一步理解巩固电路学的知识,激发我们对电路的学习兴趣。

首先,在对所学的电路理论课而言,实验给了我们一个很好的把理论应用到实践的平台,让我们能够很好的把书本知识转化到实际能力,提高了对于理论知识的理解,认识和掌握。

其次,对于个人能力而言,实验很好的解决了我们实践能力不足且得不到很好锻炼机会的矛盾,通过实验,提高了自身的实践能力和思考能力,并且能够通过实验很好解决自己对于理论的学习中存在的一些知识盲点。

对于团队协作与待人处事方面,实验让我们懂得了团队协作的重要性,教导我们以谦虚严谨的态度对待生活中的人与事,以认真负责的态度对待队友,提高了班级的凝聚力和战斗力,通过实验的积极的讨论,理性的争辩,可以让我们更加接近真理。

实验中应注意的有几点。

这样在做实验,才能做到心中有数,从而把实验做好做细。

一开始,实验比较简单,可能会不注重此方面,但当实验到后期,需要思考和理解的东西增多,个人能力拓展的方面占一定比重时,如果还是没有很好的做好预习和远离学习工作,那么实验大部分会做的很不尽人意。

一定要真正的做好实验前的准备工作,把预习报告真正的学习研究过,并进行初步的实验数据的估计和实验步骤的演练,这样才能在真正实验中手到擒来,做到了然于心。

不过说实话,在做试验之前,我以为不会难做,就像以前做的实验一样,操作应该不会很难,做完实验之后两下子就将实验报告写完,直到做完几次电路实验后,我才知道其实并不容易做。

它真的不像我想象中的那么简单,天真的以为自己把平时的理论课学好就可以很顺利的完成实验,事实证明我错了。

在最后的综合实验中,我更是受益匪浅。

我和同组同学做的是甲乙类功率放大电路,因为次放大电路主要是模拟电子技术的范畴,而自己选修专业与此有很大的联系,所以在做综合实验设计的时候,本着实践性,创新性,可行性和有一意义性的原则,选择了这个实验。

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路,用于实现布尔逻辑运算和控制功能。

门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型,通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。

本实验旨在通过实际操作和测试,深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。

二、实验内容1.与门的测试:使用与门芯片(74LS08),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

2.或门的测试:使用或门芯片(74LS32),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

3.非门的测试:使用非门芯片(74LS04),接入一个输入A,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

4.异或门的测试:使用异或门芯片(74LS86),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

三、实验结果与分析1.与门测试结果分析:根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性,可以得到与门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, lohigh, low , lohigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明与门的逻辑功能正常。

2.或门测试结果分析:根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性,可以得到或门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, highigh, low , highigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明或门的逻辑功能正常。

门电路逻辑功能及测试实验报告记录(有数据)

门电路逻辑功能及测试实验报告记录(有数据)

门电路逻辑功能及测试实验报告记录(有数据)————————————————————————————————作者:————————————————————————————————日期:实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器及器件1、示波器;2、实验用元器件:74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS20 四输入端双与非门 1 片 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析实验前检查实验箱电源是否正常。

然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v ,地线实验箱上备有)。

实验中改动接线须先断开电源,接好后再通电实验。

1、测试门电路逻辑功能⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。

⑵ 将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

表 1.1A 表1.1B 表1.1 A B C D LV A (V) V B (V) V C (V) V D (V) V L (V) A B C DL 0 X X X 1 0.024 5.020 5.020 5.020 4.163 0 1 1 1 1 X 0 X X 1 5.020 0.010 5.020 5.020 4.163 1 0 1 1 1 X X 0 X 1 5.020 5.020 0.001 5.020 4.163 1 1 0 1 1 X X X 0 1 5.020 5.020 5.020 0.009 4.163 1 1 1 0 1 1 1 1 1 05.0205.0205.0205.0200.18411 1 1将逻辑电平开关按表1.1A 要求加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.1B 所示,转换为真值表如表1.1。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的与要求熟悉门电路逻辑功能,并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。

熟悉RXS-1B数字电路实验箱。

二、方法、步骤1. 实验仪器及材料1) RXS-1B数字电路实验箱 2) 万用表 3) 器件74LS00 四2输入与非门1片 74LS86 四2输入异或门1片2. 预习要求1) 阅读数字电子技术实验指南,懂得数字电子技术实验要求和实验方法。

2) 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

3) 熟悉所用集成电路的外引线排列图,了解各引出脚的功能。

4) 学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。

3. 说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。

常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。

非逻辑关系:Y=A 与逻辑关系:Y=AB 或逻辑关系:Y=AB 与非逻辑关系:Y=AB 或非逻辑关系:Y=AB 与或非逻辑关系:Y=ABCD 异或逻辑关系:Y=AB三、实验过程及内容任务一:异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路,逻辑关系式为1Y=1A⊕1B,2Y=2A⊕2B,3Y=3A⊕3B,4Y=4A⊕4B,其外引线排列图如图1.3.1所示。

它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B,3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y,7号引脚为地,14号引脚为电源+5V。

(1)将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

(2)按图1.3.2接线测试其逻辑功能。

芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔,输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。

14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的'“+5V”插孔,7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。

门电路逻辑功能及其测试实验报告

门电路逻辑功能及其测试实验报告

门电路逻辑功能及其测试实验报告一、实验目的1、掌握门电路的逻辑功能。

2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。

3、深入理解逻辑运算的基本原理和应用。

二、实验设备1、数字电路实验箱。

2、示波器。

3、集成电路芯片:74LS00(四 2 输入与非门)、74LS04(六反相器)、74LS08(四 2 输入与门)、74LS32(四 2 输入或门)等。

4、若干导线。

三、实验原理门电路是数字电路的基本单元,具有实现逻辑运算的功能。

常见的门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。

与门的逻辑功能是:当且仅当所有输入都为高电平时,输出才为高电平;否则,输出为低电平。

或门的逻辑功能是:只要有一个输入为高电平,输出就为高电平;只有当所有输入都为低电平时,输出才为低电平。

非门的逻辑功能是:输入为高电平时,输出为低电平;输入为低电平时,输出为高电平。

与非门的逻辑功能是:先进行与运算,然后将结果取反。

或非门的逻辑功能是:先进行或运算,然后将结果取反。

四、实验内容及步骤1、测试与门(74LS08)的逻辑功能将 74LS08 芯片插入实验箱的插座中。

用导线将两个输入引脚分别连接到逻辑电平开关,输出引脚连接到逻辑电平指示灯。

改变输入电平的组合(00、01、10、11),观察并记录输出电平的状态。

2、测试或门(74LS32)的逻辑功能按照与测试与门相同的方法,将 74LS32 芯片插入插座并连接好线路。

改变输入电平,记录输出电平。

3、测试非门(74LS04)的逻辑功能插入 74LS04 芯片,连接线路。

改变输入电平,观察输出。

4、测试与非门(74LS00)的逻辑功能重复上述步骤,测试 74LS00 的逻辑功能。

5、用示波器观察门电路的输入输出波形将示波器的探头分别连接到门电路的输入和输出引脚。

改变输入信号的频率和幅度,观察输入输出波形的变化。

五、实验数据及分析1、与门(74LS08)|输入 A |输入 B |输出 Y |||||| 0 | 0 | 0 || 0 | 1 | 0 || 1 | 0 | 0 || 1 | 1 | 1 |从数据可以看出,与门只有在两个输入都为 1 时,输出才为 1,符合与门的逻辑功能。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告实验目的:1、理解门电路逻辑功能的基本知识和实现方法;2、掌握门电路逻辑功能测试实验的方法和步骤;3、培养实验操作能力和实验数据处理能力。

实验原理:门电路是逻辑电路的基础,其逻辑功能有常用的与门、或门、非门等。

门电路具有输入端和输出端,输入端接受信号,输出端输出运算结果。

门电路由电子器件组成,一般常用的是晶体管。

门电路的测试方法主要是通过检测输入和输出的电平状态,以及关键节点其它信号状态变化。

可以通过观察电压电流示波图、结合实测数据进行逻辑功能的验证。

实验器材和连接图:1、集成电路芯片:7400 门电路。

2、直流电源。

3、万用表。

4、示波器。

5、面包板、电缆、电阻等辅助器材。

实验步骤:1、按照连接图搭建门电路实验线路;2、开启直流电源,测试电路各个节点的电压、电流值,并记录数据;3、输入不同的高低电平信号,观察输出端的电平状态变化;4、观察电压电流示波图,验证门电路的逻辑功能;5、根据实测数据,分析电路中可能出现的故障原因和处理办法。

实验结果:在本次门电路测试实验中,我们按照实验步骤搭建好了门电路实验线路,开启直流电源,测试了电路各节点的电压、电流值,并记录了数据。

在输入不同的高低电平信号时,观察输出端的电平状态变化,发现门电路具有良好的逻辑功能。

通过观察电压电流示波图,验证了门电路的逻辑功能。

在实验中,我们还发现电路中可能存在的故障原因和处理办法。

实验结论:本次门电路测试实验,通过搭建门电路实验线路、开启直流电源、测试电路各节点的电压、电流值、记录数据,验证了门电路的逻辑功能。

本次实验对我们加深了对门电路逻辑功能和测试实验的认识和理解,提高了我们的实验操作能力和实验数据处理能力。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告
任务一 异或门逻辑功能测试
K3,K2,K1,K0 都设置为绿灯,A,B,Y 都为绿灯。 K3 为红灯,K2,K1,K0 都设置为绿灯,A,Y 为红灯,B 为绿灯。 K3,K2 为红灯,K1,K0 都为绿灯,A,B,Y 都为绿灯。 K3,K2,K1 为红灯,K0 为绿灯,A 为绿灯,B,Y 都为红灯。 K3,K2,K1,K0 为红灯,A,B,Y 都为绿灯。 K3,K1 都为绿灯,K2,,K0 都为红灯,A,B 为红灯,Y 为绿灯。
芯片74ls86的输入端1245号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意个电平开关的插孔输出端368分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意光二极管的插口14号引脚接至数字电路实验箱的5v电源的5v插孔7引脚接至数字电路试验箱5v电源的gnd插孔

深圳大学实验报告
课程名称:
数字逻辑与数字系统
实验项目名称:
方法、步骤:
任务一 异或门逻辑功能测试
(1) 将一片 74LS86 插入 RXS-1B 数字电路试验箱。 (2) 芯片 74LS86 的输入端 1,2,4,5 号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意 4 个电
平开关的插孔,输出端 3,6,8 分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意 3 个发光二极管的插口,14 号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的+5V 插孔,7 号引脚接至数字电路试验箱+5V 电源的 GND 插孔。 (3) 设置信号灯红 1 绿 0。
任务二 利用与非门控制输出 S 为红灯时
Y 在绿灯和红灯中反复切换。 S 为绿灯时 Y 始终为红灯
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数据处理分析:
任务一 异或门逻辑功能测试
A=(K3⊕K2)
B=(K1⊕K0)

深大实验报告(逻辑电路)门电路逻辑功能及测试

深大实验报告(逻辑电路)门电路逻辑功能及测试

深圳大学实验报告课程名称: 数字电路与逻辑设计实验项目名称: 门电路逻辑功能及测试学院: 计算机与软件学院专业: 未分****: **报告人: 薛锡增学号: ********** 班级: 8实验时间: 2014-10-17实验报告提交时间: 2014-10-24教务部制1.实验目的:2.熟悉门电路逻辑功能并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。

;3.熟悉RXB-1B数字电路实验箱及V252示波器使用方法;实验仪器及材料:1) V252双踪示波器2) RXB-1B数字电路实验箱3) 万用表4) 74LS00(四2输入与非门)1片、74LS86(四2输入异或门)1片任务一: 异或门逻辑功能测试:步骤:1)将一片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

2)按图4-13接线测试其逻辑功能。

芯片74LS86的输入端1.2.4.5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔, 输出端3.6.8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。

14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的“+5V”插孔, 7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“GND”插孔。

3)将电平开关按表4-1设置, 观察输出端A、B、Y所连接的电平显示器的发光二极管的状态, 测量输出端Y的电压值。

发光二极管为红色表示输出为高电平(1), 发光二极管为绿色表示输出为低电平(0)。

把实验结果填入表4-1中。

图4-13:表4-1:输入输出1 2 3 4 A B Y Uy(电压值)00 10 1 1 1 1 1 1 0 1 0 00 00 01 01 10 11111110.143(V)3.487(V)0.143(V)3.485(V)0.144(V)0.171(V)根据测量电压值, 写出逻辑电平0和1的电压范围:由表中数据可猜测, 当范围大约在0~0.2V之间时, 显示为逻辑“0”;当电压范围在3V或3V以上时, 显示为逻辑“1”任务二: 利用与非门控制输出步骤:选一片74LS00, 并按4-14接线。

集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告

集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告

集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的1、熟悉集成逻辑门电路的逻辑功能和特点。

2、掌握集成逻辑门电路逻辑功能的测试方法。

3、学会使用数字电路实验箱和逻辑测试仪器。

二、实验原理1、逻辑门电路逻辑门电路是数字电路中最基本的单元,它实现了基本的逻辑运算,如与、或、非、与非、或非、异或等。

常见的集成逻辑门电路有74LS00(四 2 输入与非门)、74LS04(六反相器)、74LS08(四 2 输入与门)、74LS32(四 2 输入或门)等。

2、逻辑功能测试方法通过给逻辑门电路的输入端施加不同的逻辑电平(高电平“1”或低电平“0”),然后使用逻辑测试仪器(如逻辑笔、逻辑分析仪等)测量输出端的逻辑电平,从而确定逻辑门电路的逻辑功能。

三、实验设备1、数字电路实验箱2、集成电路芯片:74LS00、74LS04、74LS08、74LS32 等3、逻辑测试仪器:逻辑笔、示波器4、直流电源5、连接导线若干四、实验内容及步骤(一)测试 74LS00 四 2 输入与非门的逻辑功能1、将 74LS00 芯片插入实验箱的集成电路插座中。

2、按照芯片引脚图,使用连接导线将芯片的电源引脚(Vcc 和GND)分别连接到实验箱的+5V 电源和地。

3、选择其中一个与非门,将两个输入端分别连接到实验箱的逻辑电平输出端,通过调节逻辑电平输出端的开关,分别设置输入端为“00”、“01”、“10”、“11”四种组合。

4、使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平,并将结果记录在表 1 中。

|输入 A |输入 B |输出 Y |||||| 0 | 0 | 1 || 0 | 1 | 1 || 1 | 0 | 1 || 1 | 1 | 0 |(二)测试 74LS04 六反相器的逻辑功能1、插入 74LS04 芯片,连接电源。

2、选择其中一个反相器,将输入端连接到逻辑电平输出端,设置输入为“0”和“1”,使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平,记录在表 2 中。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能,包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法,包括输入信号的选择、输出信号的观测等。

3. 通过实验加深对数字电路原理的理解,提高动手实践能力。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元,它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能:1. 与门(AND):当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平。

2. 或门(OR):当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号就为高电平。

3. 非门(NOT):将输入信号的逻辑值取反,即高电平变为低电平,低电平变为高电平。

4. 与非门(NAND):与门输出信号取反,即当所有输入信号都为高电平时,输出信号为低电平。

5. 或非门(NOR):或门输出信号取反,即当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号为低电平。

6. 异或门(XOR):当输入信号不同时,输出信号为高电平;当输入信号相同时,输出信号为低电平。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00(2输入端四与非门)4. 74LS32(2输入端四或门)5. 74LS20(4输入端双与非门)6. 74LS86(2输入端四异或门)7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试(1)将74LS00芯片插入实验箱,按照电路图连接好与门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。

2. 或门测试(1)将74LS32芯片插入实验箱,按照电路图连接好或门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。

3. 非门测试(1)将74LS04芯片插入实验箱,按照电路图连接好非门电路。

门电路逻辑功能及测试实验报告总结

门电路逻辑功能及测试实验报告总结

门电路逻辑功能及测试实验报告总结门电路是数字电子电路的基本组成部分,用于实现逻辑功能。

通过逻辑门的组合和连接可以实现不同的逻辑功能,并完成各种数字电路的设计。

本文将对门电路的逻辑功能及测试实验进行总结。

门电路是数字电路中最基本的元件,它接收一个或多个输入信号,并根据特定的逻辑规则产生一个输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。

这些门电路可以根据输入信号的真值表,通过逻辑运算实现不同的逻辑功能。

以与门为例,它有两个输入A和B,当A和B同时为高电平时,输出为高电平;否则输出为低电平。

与门的逻辑功能可以用以下真值表表示:A |B | 输出--|---|----0 | 0 | 00 | 1 | 01 | 0 | 01 | 1 | 1通过逻辑运算可以得到与门的逻辑表达式为:输出= A * B。

其中* 表示逻辑乘法运算。

为了验证门电路的逻辑功能,需要进行测试实验。

测试实验的目的是通过给定的输入信号,观察输出信号是否符合门电路的逻辑规则。

例如,对于与门,可以通过给定不同的输入信号组合,观察输出是否与真值表中的结果一致。

在测试实验中,可以使用开关或信号发生器来提供输入信号。

通过将输入信号连接到门电路的输入端,然后将输出端连接到示波器或数字电压表,可以观察输出信号的变化。

根据输入信号的变化和输出信号的结果,可以判断门电路的逻辑功能是否正确。

除了测试实验,还可以使用电路仿真软件进行门电路的逻辑功能验证。

电路仿真软件可以模拟门电路的运行过程,并给出相应的输出结果。

通过比较仿真结果和门电路的真值表,可以验证门电路的逻辑功能是否正确。

总结来说,门电路是数字电子电路的基本组成部分,用于实现不同的逻辑功能。

通过逻辑运算可以得到门电路的逻辑表达式,通过测试实验或电路仿真可以验证门电路的逻辑功能是否正确。

门电路的逻辑功能及测试实验对于数字电路的设计和实现具有重要意义,能够确保数字电路的正确运行。

门电路测量实验报告

门电路测量实验报告

1. 熟悉门电路的基本原理和逻辑功能。

2. 掌握使用数字电路实验箱和示波器进行门电路测量实验的方法。

3. 通过实验验证门电路的逻辑功能,并分析实验数据。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元,根据其逻辑功能的不同,可分为与门、或门、非门、异或门等。

本实验主要测量以下几种门电路的逻辑功能:1. 与门:当两个输入信号同时为高电平时,输出信号才为高电平。

2. 或门:当至少一个输入信号为高电平时,输出信号才为高电平。

3. 非门:将输入信号取反,输出信号与输入信号相反。

4. 异或门:当两个输入信号不同时,输出信号为高电平。

三、实验仪器与器材1. 数字电路实验箱2. 示波器3. 逻辑电平开关4. 接线板5. 输入信号发生器6. 输出信号显示器四、实验步骤1. 将数字电路实验箱连接好,确保电源正常。

2. 根据实验要求,将逻辑电平开关设置为不同的状态。

3. 使用示波器观察输入信号和输出信号的波形。

4. 记录输入信号和输出信号的变化情况,分析门电路的逻辑功能。

五、实验内容(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

2. 或门实验:(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

3. 非门实验:(1)将输入信号A设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

(2)将输入信号A设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

4. 异或门实验:(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

六、实验结果与分析1. 通过实验验证了与门、或门、非门和异或门的基本逻辑功能。

2. 实验结果表明,输入信号和输出信号的波形符合预期,说明实验箱和示波器工作正常。

门电路逻辑功能及测试实验

门电路逻辑功能及测试实验

门电路逻辑功能及测试实验一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1所示。

图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL和高电平输入电流I iH。

I iL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。

I iH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。

图2-4 传输特性测试电路(3)电压传输特性门的输出电压v O随输入电压v i而变化的曲线v o=f(v i) 称为门的电压传输特性。

测试电路如图2-4所示,采用逐点测试法,即调节R W,逐点测得V i及V O,然后绘成曲线。

74LS20主要电参数规范如表2-1所示参数名称和符号规范值单位测试条件直流参数通导电源电流I CCL<14 mAV CC=5V,输入端悬空,输出端空载截止电源电流I CCH<7 mAV CC=5V,输入端接地,输出端空载三、实验设备与器件1、数字电路实验箱2、数字万用表3、74LS20一块、10K电位器一个四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。

1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图2-6接线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。

门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告实验名称:逻辑门电路功能测试实验目的:通过对基本逻辑门电路的功能测试,了解逻辑门的功能特点和使用方法。

实验器材:逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。

实验原理:逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的,其功能由每个基本逻辑门的特性决定。

在实现不同功能时,需要使用不同类型的逻辑门,并通过不同的电路组合实现。

实验步骤:1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中,并连接电源。

2. 针对不同的逻辑门,根据其真值表,按照连接方法将线路连接。

3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试,检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。

4. 可通过改变输入信号的方式,观察逻辑门的输出信号变化。

实验结果:针对不同类型的逻辑门进行连接和测试,实验结果如下:1. 与门(AND)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为 1 时,输出信号才为 1。

2. 或门(OR)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为1,输出信号即为 1。

3. 非门(NOT)电路测试结果符合真值表,将输入信号取反输出。

4. 与非门(NAND)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为 0,输出信号即为 0。

5. 或非门(NOR)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为0 时,输出信号才为 1。

6. 异或门(XOR)电路测试结果符合真值表,只有输入信号不相同时,输出信号才为 1。

实验结论:通过逻辑门电路功能测试,可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能,并根据需要进行组合,实现不同的功能。

逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用,是数字电路设计的基础。

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践,掌握基本门电路(与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等)的逻辑功能及实际应用,并通过对门电路的测试,加深对数字逻辑电路的理解。

二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片(如74LS83A)4.连接线若干5.万用表6.实验程序(可选)三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分,可分为基本门电路和复合门电路。

基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等,它们分别具有相应的逻辑功能。

例如,与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平,否则输出低电平;或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平,等等。

通过这些基本门电路的不同组合,可以实现复杂的逻辑功能。

本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例,进行门电路的逻辑功能与测试。

74LS83A是一种TTL(Transistor-Transistor Logic)型四路与非门电路,其特点为功耗低、速度快、体积小等。

四个独立的与非门具有相同的输入和输出端,可单独控制。

当A、B、C和D任一输入端为0时,输出Y为1;只有当所有输入端都为1时,输出Y才为0。

四、实验步骤1.准备器材并检查完好。

2.根据实验原理,连接电源、输入和输出端口,保证电源极性正确。

3.使用万用表检查各输入端口电平状态,并记录。

4.逐个改变输入端口的状态,观察输出端口的电平变化,并记录。

5.分析实验数据,了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。

6.断电,结束实验。

五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试,我们验证了其逻辑功能。

在输入端口状态改变时,输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。

当任一输入端口为0时,输出端口为1;只有当所有输入端口都为1时,输出端口才为0。

这表明该门电路功能正常,可以用于实际应用中。

通过本次实验,我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用,并学会了如何使用万用表进行电路测试。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告门电路是数字电路中常见的一种基本逻辑电路,它能够实现逻辑运算,控制信号的传输和处理。

本实验旨在通过对门电路的逻辑功能及测试实验进行研究,深入理解门电路的工作原理和应用。

一、门电路的基本概念。

门电路是数字电路中的基本组成单元,它根据输入信号的不同组合产生相应的输出信号。

常见的门电路有与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时输出高电平,否则输出低电平;或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时输出高电平,否则输出低电平;非门的逻辑功能是对输入信号取反输出。

门电路的逻辑功能由其逻辑门电路图和真值表来描述。

二、门电路的逻辑功能测试。

1. 与门的逻辑功能测试。

通过搭建与门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

2. 或门的逻辑功能测试。

同样地,通过搭建或门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

3. 非门的逻辑功能测试。

搭建非门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,同样需要注意输入信号的稳定性和准确性。

三、门电路的测试实验报告。

通过以上逻辑功能测试,我们得出了门电路的真值表和逻辑功能描述。

与门、或门、非门均能够按照预期的逻辑功能进行工作,输出信号符合逻辑运算的规律。

在测试过程中,输入信号的稳定性和准确性对于测试结果的可靠性至关重要。

通过本实验,我们深入了解了门电路的基本概念和逻辑功能,掌握了门电路的测试方法和技巧。

门电路作为数字电路中的基本组成单元,在数字系统设计和应用中具有重要的作用。

掌握门电路的逻辑功能及测试方法对于数字电路的设计和应用具有重要的意义。

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门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]一、实验目的1.学习和掌握门电路的基本逻辑功能和特点。

2.通过实际操作,增强对数字电路的感性认识,提高实践动手能力。

3.了解和掌握基本逻辑门电路(与门、或门、非门)的功能及测试方法。

二、实验原理1.逻辑门电路:逻辑门电路是数字电路的基本组成部分,它们按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理,产生相应的输出信号。

主要的逻辑门电路有与门、或门、非门等。

2.逻辑功能:逻辑门电路具有特定的逻辑功能,可以通过对输入信号的处理得到预期的输出信号。

与门实现逻辑与运算,或门实现逻辑或运算,非门实现逻辑非运算。

3.测试方法:对于每种逻辑门电路,需要设计合适的测试方案,通过对输入信号的调整和观察输出信号的变化,验证其逻辑功能的正确性。

三、实验步骤1.准备实验材料:数字万用表、逻辑门电路实验箱、与门、或门、非门各一个,以及适当的连接线和输入输出设备。

2.设计测试方案:分别针对与门、或门、非门设计测试方案,包括输入信号的选择、预期输出结果的预测以及如何使用万用表进行实际测量。

3.进行测试:按照设计的测试方案,逐一进行实验测试,记录实际测量结果。

4.结果分析:对比预期输出结果与实际测量结果,分析差异及原因,总结各种逻辑门电路的功能及特点。

5.撰写实验报告:整理实验过程和结果,撰写实验报告。

四、实验结果及分析1.与门测试:(1)设计测试方案:给与门的输入端分别接入高电平和低电平,观察输出结果的变化。

并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。

(2)进行测试:使用万用表测量与门的输出电压,记录下不同输入情况下的输出结果。

(3)结果分析:当两个输入端都为低电平时,输出端为高电平;其他情况下,输出端为低电平。

与预期结果相符,验证了与门的正确功能。

2.或门测试:(1)设计测试方案:给或门的输入端分别接入高电平和低电平,观察输出结果的变化。

并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。

(2)进行测试:使用万用表测量或门的输出电压,记录下不同输入情况下的输出结果。

门电路逻辑功能及测试实验报告

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门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能:
门电路是现代电子学中最基本的逻辑元件。

它可以把输入信号处理成输出信号,根据不同的输入信号情况,采取不同的逻辑处理方式。

常见的门电路有与门、或门、非门、异或门、NAND门、NOR门等等,它们都是由晶体管、反相器或其它电子器件组成的一种特殊的电路。

测试实验报告:
1.实验目的:
本实验旨在验证和研究门电路的基本原理和功能,掌握用于判断门电路的正确性的方法,并掌握制作门电路的方法。

2.实验材料:
晶体管、反相器、电阻、电容、电感、继电器、电池、面包板等。

3.实验过程:
(1)绘制电路图:根据门电路的功能要求,绘制电路图,指明所用元件型号,确定输入输出端口;
(2)调试电路:根据电路图,将每个元件安装到面包板上,接好电池,接通电源,然后按照输入的控制电路,对门电路进行调试;
(3)测试电路:根据调试的情况,调整电路,使之达到所需要的功能,然后进行各种可能的输入情况下的测试,记录输入输出的结果;
(4)编写实验报告:根据实验过程,编写实验报告,描述实验过程,分析实验结果,得出结论。

4.实验结果:
实验结果表明,门电路可以按照预定的功能,在不同输入情况下,正确的输出信号,实现了预定的逻辑功能。

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解和掌握常见逻辑门电路(与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门和同或门)的逻辑功能,并通过实际测试和验证,提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。

二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门电路是实现基本逻辑运算的电子电路,包括与、或、非、与非、或非、异或和同或等。

每种逻辑门都有其特定的逻辑表达式和真值表。

2、逻辑门的符号和表达式与门:符号为“&”,表达式为 Y = A·B (A 和 B 均为输入,Y 为输出),只有当 A 和 B 都为 1 时,输出 Y 才为 1。

或门:符号为“|”,表达式为 Y = A + B ,当 A 或 B 至少有一个为 1 时,输出 Y 为 1。

非门:符号为“~”,表达式为 Y =~A ,输入为 1 时输出为 0,输入为 0 时输出为 1。

与非门:符号为“NAND”,表达式为 Y =~(A·B) ,当 A 和 B 都为 1 时,输出 Y 为 0,否则为 1。

或非门:符号为“NOR”,表达式为 Y =~(A + B) ,当 A 或 B 至少有一个为 1 时,输出 Y 为 0,否则为 1。

异或门:符号为“⊕”,表达式为 Y = A ⊕ B ,当 A 和 B 不同时,输出 Y 为 1,否则为 0。

同或门:符号为“⊙”,表达式为 Y = A ⊙ B ,当 A 和 B 相同时,输出 Y 为 1,否则为 0。

3、真值表真值表是列出逻辑门电路所有可能输入组合及其对应的输出值的表格,是分析和理解逻辑门电路功能的重要工具。

三、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱2、集成电路芯片:74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门)、74LS02(或非门)、74LS86(异或门)、74LS266(同或门)3、导线若干4、直流电源四、实验步骤1、熟悉实验箱和芯片引脚功能首先,仔细观察数字逻辑实验箱的布局和各插孔的功能,了解如何连接电路。

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深圳大学实验报告
实验课程名称:数字电路实验
实验项目名称:门电路逻辑功能及测试
学院:信息工程学院
报告人:许泽鑫学号:2015130091 班级:2班同组人:
指导教师:张志朋老师
实验时间:2016-9-27
实验报告提交时间:2016-10-11
-、实验目的
(1)熟悉门电路逻辑功能,并掌握常用的逻辑电路功能测试方法
(2)熟悉RXS-1B数字电路实验箱。

二、方法、步骤
1. 实验仪器及材料
1) RXS-1B数字电路实验箱
2)万用表
3)器件
74LS00 四2输入与非门1片
74LS86 四2输入异或门1片
2. 预习要求
1)阅读数字电子技术实验指南,懂得数字电子技术实验要求和实验方法。

2)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

3)熟悉所用集成电路的外引线排列图,了解各引出脚的功能。

4)学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。

3. 说明
用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。

常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。

非逻辑关系:Y A
与逻辑关系:Y AgB
或逻辑关系:Y= A B
与非逻辑关系:Y AgB
或非逻辑关系:Y= A B
与或非逻辑关系:Y AgB CgD
异或逻辑关系:Y= A B
三、实验过程及内容
任务一:异或门逻辑功能测试
集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路,逻辑关系式为1Y=1A ® 1B , 2Y=2A ® 2B , 3Y=3A ® 3B , 4Y=4A ® 4B ,其外引线排列图如图1.3.1所示。

它的 1、2、4、5、9、10、12、13 号引脚为输入端 1A 、1B 、2A 、2B 、3A 、 3B 、4A 、4B , 3、6、8、11号引脚为输出端1Y 、2Y 、3Y 、4Y , 7号引脚为 地,14号引脚为电源+5V 。

(1) 将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B 数字电路实验箱的任 意14引脚的IC 空插座中。

(2) 按图1.3.2接线测试其逻辑功能。

芯片74LS86的输入端1、2、4、5号 引脚分别接至数字电路实验箱的任意 4个电平开关的插孔,输出端 3、6、8 分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意 3个发光二极管的插孔。

14号 引脚+5V 接至数字电路实验箱的+5V 电源的“ +5V ”插孔,7号引脚接至数字 电路实验箱的+5V 电源的“丄”插孔。

(3) 将电平开关按表1.3.1设置,观察输出端A 、B 、丫所连接的电平显示器 的发光二极管的状态,测量输出端 丫的电压值。

发光二极管亮表示输出为高 电平(H ),发光二极管不亮表示输出为低电平 (L ) o 把实验结果填入表1.3.1 中。

图1.3.1 四2输入异或门74LS86外引线排列图
1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND
图1.3.2 异或门逻辑功能测试连接图
表1.3.1异或门逻辑功能测试的实验数据
将表中的实验结果与异或门的真值表对比,判断74LS86是否实现了异或逻辑功能。

根据测量的VZ电压值,写出逻辑电平0和1的电压范围。

任务二:利用与非门控制输出
选一片74LS00,按图1.3.3接线。

在输入端A输入1HZ连续脉冲,将S端接至数字电路实验箱的任一逻辑电平开关,3接发光二极管的插孔。

设置电平
开关,观察发光二极管。

A ——
S二——2
74LS00
图1.3.3 与非门控制输出的连接图
四、数据处理分析
任务一
表1.3.1异或门逻辑功能测试的实验数据
分析:
74LS86上123构成异或门电路,4,5,6构成异或门电路。

把3,10连接,6,9
连接,再和8也构成异或门电路。

7接GND ,14接Vcc。

异或门电路,只有在两端输入相同信号时,才会输出“ 0”输入不同信号时,输出“1” A,B,Y 也组成一个异或门电路,原理相同。

实验表明,当K2,K3相同时,A是0;不同时A是1;当K6,K7相同时B是0;不同时B是1;当A、B相同时丫是0,不同时丫是1。

经验证,结论正确。

当接入5V时,丫的电压在0.13V 左右是代表
输出为0,电压在1.5V左右时代表输出为1。

任务二
当2接入是绿灯(0)时,3亮红灯(1);
当2接入是红灯(1)时,3的灯绿红闪烁(0-1)。

S=1
S=0
五、实验结论
1. 异或门的特点是相同出0,相反出1”,在实验箱上表现为同时输入高电平或低
电平时输出低电平,否则输出高电平;
2. 与非门同时输入高电平时输出低电平,其他输入都输出高电平;
3. 与非门一端接入连续脉冲,另一端输入低电平时,输出都是高电平,接入高
电平时,输出与脉冲相反的波形。

指导教师批阅意见:
成绩评定:
指导教师签字:
年月日备注:
注:1、报告内的项目或内容设置,可根据实际情况加以调整和补充。

2、教师批改学生实验报告时间应在学生提交实验报告时间后10日内。

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