元器件降额测试方法
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元器件STRESS 测试方法
所谓元器件STRESS 是指检查待测组件在特定的工作条件下各参数与其规格比较,还有多少余量(Derating), 元器件STRESS 包括四部份: 温度STRESS,电压STRESS,电流STRESS,功率STRESS,下面分别进行讨论. 一. 温度STRESS 1. 定义:
温度STRESS=%
100⨯最大額定結溫度工作結溫度
结温度(junction temperature, Tj)是半导体内部接合面处的温度,但是我们所量测到的
温度都是零件表面(CASE)的温度(Tc), 传统的做法是通过零件规格中给出的热阻θ进行近似
的计算得出结温度Tj:
d
ja a j P T T ⨯+=θ 或
d
jc c j P T T ⨯+=θ或
Pd
T T jL L j ⨯+=θ
Tj: 计算所得到的结温度.
Ta: 零件周围的环境温度(零件周围的具体位置在零件规格中有规定 ) Tc: 所测量到的零件表面的温度.
:L T 零件引脚的温度
:ja θ 环境到结点的热阻. :
jc θ 零件表面到结点的热阻
:d P 实际损耗功率
d
P 的计算方法: A. 二极管:
I
V P F d ⨯= (F V 可从规格中查到, I 是实际测量值) 注意: 整流桥之 I
V P F d ⨯=2
B. MOSFET: 附录A
2. 需检查之零件
(1) 电阻: 大于等于2W 的高压功率电阻,热敏电阻 (2) 晶体管: 除SMD 以外之所有晶体管
(3) 二极管: 塑封二极管以及额定电流大于等于1A 的其它二极管 (4) 半导体闸流管: 所有半导体闸流管 (5) 电容: 所有电解电容 (6) IC: 所有IC (7) 电感: 所有电感 3. 测试条件:
(1) 输入电压: 高压/低压
(2) 负载条件: 全重载(包括+5VH,+12VH,+3.3VH)和standby mode ( standby max load) (3) 环境温度: 25℃/50℃ 4. 点温注意事项:
(1) 遵循原则: 背风面, 靠近热源, 紧贴所点位置.
(2)制作点温线接合点端不能有绞线现象, 且长度最好控制在5mm以内.
(3)各种零件所点位置:
A.IC: 点在本体或引脚上(若点在引脚上需进行绝缘)
B.变压器: 取掉胶布, 点在最外层线圈上
C.直接点在线圈上, 若能接触到铁芯, 最好与铁芯及线圈同时接触.
D.电容: 直接点在电容顶部或本体中点(点在中点时需将电容外皮去掉)
E.电阻: 电阻靠近PWB且没有打KINK时,点在靠近PWB处之本体上,有打KINK就直
接点在本体中点上.
具体如图所示:
5. Derating
零件类型Derating Factor 零件类型Derating Factor
绕线电阻,功率电
阻, VR PWB-10℃
晶闸管,
SCR, TRIACS
90%
热敏电阻
最高温度-30℃(若量
测温度大于PWB最高
温度时,需考虑PWB之
温度)
电解电容90%
贴片电阻90% IC 90%
二. 电压 STRESS
1.定义:
电压STRESS=
%
100
最大額定電壓
量測電壓
2. 需检查之零件
(1)电阻: 大于等于2W的高压功率电阻,热敏电阻
(2)晶体管: 除SMD以外之所有晶体管
(3)半导体闸流管: 所有半导体闸流管
(4)二极管: 塑封二极管以及额定电流大于等于1A的其它二极管
(5)电容: 所有电解电容
(6)MOSFET: 所有
3. 测试条件:
(1)输入电压: 高压
(2)输出负载: 重载/轻载
(3)环境温度: 25℃
(4)工作状态:稳定状态和瞬间状态
瞬间状态包括以下几点:
A:重复开关机(AC ON/OFF)
B:某组输出短路后.,再重复开关机(应对每一组输出都分别短路,然后找出最差
的状况)
C:开机后,重复短路某一组输出(应对每一组输出都分别短路,然后找出最差的状
况)
4.数据测量方式:
总的来说,测量电压时除了电阻是测量其电压之RMS值以外,其它都是测量其电压之MAX值.在测试过程中应将MIN值同时显示出来,在MAX与MIN值中取绝对值最大的一个.
注意: 在量测瞬间状态波形时,必须将触发电平调到可触发范围内的最高点.否则,结果会相差很大.如附录C所示.
5.各零件之电压量测点
(1)MOSFET: 漏极-源极
(2)三极管: 集电极-发射极
(3)二极管: 反向电压或(A to K正向电压)
注意:
测量电压时.,示波器探棒黑色夹子必须夹地.不能夹在低电位但不是地的位置,那样可能会引起无输出或者大电流烧坏示波器探棒.若待测点都不是地,那必须用两信道相减.
6.Derating
零件类别
Derating Factor
稳定状态瞬间状态
电阻90% 90%
二极管(schottky除外) 90% 95%
Schottky Diode 90% 100%
晶体管90% 95%
MOSFET 90% 100%
晶闸管,SCR,TRIACS (关
断状态)
90% 90%
电容
(bulk电容,钽电容除
外)
90% 90%
bulk电容,X电容100%
钽电容80%
IC 90% 95%
7. Avalanche
当MOSFET之电压DS
V超过规格值时,要对测量结果进一步计算,当其Avalanche Energy未超过规格值时,那么该电压视为可接受电压. 具体计算如.附录B
三. 电流 STRESS
1.定义: